JPH0461775A - Ｉｃソケット - Google Patents
ＩｃソケットInfo
- Publication number
- JPH0461775A JPH0461775A JP16855290A JP16855290A JPH0461775A JP H0461775 A JPH0461775 A JP H0461775A JP 16855290 A JP16855290 A JP 16855290A JP 16855290 A JP16855290 A JP 16855290A JP H0461775 A JPH0461775 A JP H0461775A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lid
- lead
- contact
- socket
- contact piece
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
ＩＣ試験機等に用いられるＩＣソケットに関し、接触子
とＩＣのリードとの接触不良を改善することを目的とし
、 絶縁物からなるソケット本体に接触部とばね部を有する
多数の接触子が配設され、且つ該接触子にリードを接触
させて載置したＩＣを押圧固定する蓋を有するＩＣソケ
ットにおいて、上記蓋を閉じたときに、接触子のばね部
を押圧して接触部をＩＣのリードに対して摺動させる楔
状の突起を該蓋に設けるように構成する。
とＩＣのリードとの接触不良を改善することを目的とし
、 絶縁物からなるソケット本体に接触部とばね部を有する
多数の接触子が配設され、且つ該接触子にリードを接触
させて載置したＩＣを押圧固定する蓋を有するＩＣソケ
ットにおいて、上記蓋を閉じたときに、接触子のばね部
を押圧して接触部をＩＣのリードに対して摺動させる楔
状の突起を該蓋に設けるように構成する。
本発明は、ＩＣ試験機等に用いられるＩＣソケットに関
する。
する。
第４図に従来のＩＣソケットを示す。これは０字状のば
ね部２ａと該ばね部の一端に形成された接触部２ｂとを
有する多数の接触子２が配設された絶縁物よりなるソケ
ット本体１と、該ソケット本体１にピン３で開閉自在に
取着された蓋４とにより構成されている。そしてソケッ
ト本体１の接触子２にリード５が接触するようにしてＩ
Ｃ６を載置し、蓋４を閉じることにより、該蓋４に設け
られた突起４ａによりＩＣのリード５を接触子２に押圧
するようになっている。
ね部２ａと該ばね部の一端に形成された接触部２ｂとを
有する多数の接触子２が配設された絶縁物よりなるソケ
ット本体１と、該ソケット本体１にピン３で開閉自在に
取着された蓋４とにより構成されている。そしてソケッ
ト本体１の接触子２にリード５が接触するようにしてＩ
Ｃ６を載置し、蓋４を閉じることにより、該蓋４に設け
られた突起４ａによりＩＣのリード５を接触子２に押圧
するようになっている。
上記従来のＩＣソケットでは、その接触子２とＩＣ６の
リード５との接触は、蓋４の突起４ａにより、リード５
を介して押圧された接触子２のばね部分２ａの撓みによ
る反撥力のみによって接触していた。従って接触面の自
浄作用はなく、接触面の汚れに対して接触不良が起き易
く、そのため、正確な測定を行なうためには頻繁に接触
面を洗浄する必要があるという問題があった。
リード５との接触は、蓋４の突起４ａにより、リード５
を介して押圧された接触子２のばね部分２ａの撓みによ
る反撥力のみによって接触していた。従って接触面の自
浄作用はなく、接触面の汚れに対して接触不良が起き易
く、そのため、正確な測定を行なうためには頻繁に接触
面を洗浄する必要があるという問題があった。
本発明は上記従来の問題点に鑑み、接触子とＩＣのリー
ドとの接触不良を改善したＩＣソケットを提供すること
を目的とする。
ドとの接触不良を改善したＩＣソケットを提供すること
を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために本発明のＩＣソケットでは、
絶縁物からなるソケット本体１０に接触部１１ｂとばね
部１１ａを有する多数の接触子１１が配設され、且つ該
接触子１１にリード１４を接触させて載置したＩＣｌ３
を押圧固定する蓋１３を有するＩＣソケットにおいて、
上記蓋１３を閉じたときに、接触子１１のばね部１１ａ
を押圧して接触部１１ｂをＩＣのり−ド１４に対して摺
動させる楔状の突起１６を該蓋１３に設けたことを特徴
とする。
絶縁物からなるソケット本体１０に接触部１１ｂとばね
部１１ａを有する多数の接触子１１が配設され、且つ該
接触子１１にリード１４を接触させて載置したＩＣｌ３
を押圧固定する蓋１３を有するＩＣソケットにおいて、
上記蓋１３を閉じたときに、接触子１１のばね部１１ａ
を押圧して接触部１１ｂをＩＣのり−ド１４に対して摺
動させる楔状の突起１６を該蓋１３に設けたことを特徴
とする。
ソケット本体１０にＩＣｌ３を収容し、蓋１３を閉じる
ときに該蓋１３に設けられた楔状の突起１６が接触子１
１のばね部１１ａを押圧するため、該接触子１１の接触
部１１ｂはＩＣのリード１４に接触したまま摺動する。
ときに該蓋１３に設けられた楔状の突起１６が接触子１
１のばね部１１ａを押圧するため、該接触子１１の接触
部１１ｂはＩＣのリード１４に接触したまま摺動する。
この摺動によりリード１４と接触部１１ｂは摩擦して接
触部１１ｂの汚れを除去することができる。
触部１１ｂの汚れを除去することができる。
第１図は本発明の実施例を示す図である。
本実施例は同図に示すように、Ｕ字状のばね部１１ａと
該ばね部の一端に形成された接触部１１ｂとを有する多
数の接触子１１が配設された絶縁物よりなるソケット本
体１０と、該ソケット本体１０にピン１２で開閉自在に
取着され、且つ接触子１１にリード１４が接触するよう
にして載置されたＩＣｌ３のリード１４を押圧する突起
１３ａを有する蓋１３とよりなることは第４図で説明し
た従来例と同様であり、本実施例の要点は、蓋１３を閉
じたときに、接触子１１のばね部１１ａを押圧する楔状
の突起１６を設けたことである。
該ばね部の一端に形成された接触部１１ｂとを有する多
数の接触子１１が配設された絶縁物よりなるソケット本
体１０と、該ソケット本体１０にピン１２で開閉自在に
取着され、且つ接触子１１にリード１４が接触するよう
にして載置されたＩＣｌ３のリード１４を押圧する突起
１３ａを有する蓋１３とよりなることは第４図で説明し
た従来例と同様であり、本実施例の要点は、蓋１３を閉
じたときに、接触子１１のばね部１１ａを押圧する楔状
の突起１６を設けたことである。
このように構成された本実施例の作用を第２図により説
明する。同図において第１図と同一部分は同一符号を付
して示した。
明する。同図において第１図と同一部分は同一符号を付
して示した。
ａ図は接触子１１の接触部１１ｂにリード１４が接触す
るようにしてＩＣｌ３を載置して蓋１３を閉じて行き、
完全に閉じる少し前の状態を示している。
るようにしてＩＣｌ３を載置して蓋１３を閉じて行き、
完全に閉じる少し前の状態を示している。
ＩＣｌ３のリード１４は蓋１３のリード押え用の突起１
３ａと接触子１１の接触部１１ｂの間に挟まれている。
３ａと接触子１１の接触部１１ｂの間に挟まれている。
蓋１３の楔状の突起１６は接触子１１のばね部１１ａに
接触し始めるところである。
接触し始めるところである。
ａ図の状態から蓋１３を完全に閉じた状態がｂ図である
。ａ図からｂ図（蓋１３の元の位置を２点鎖線で示す。
。ａ図からｂ図（蓋１３の元の位置を２点鎖線で示す。
）に移る過程でリード１４を押圧する突起１３ａはリー
ド１４を接触子１１の接触部１１ｂに押圧する。同時に
楔状の突起１６がその斜面１６ａで接触子１１のばね部
１１ａを矢印Ａ方向に押圧する。これにより接触子１１
はそのばね部１１ａで撓み、接触部１１ｂを矢印Ａ方向
に移動させる。このときＩＣｌ３のリード１４は突起１
３ａにより接触子１１の接触部１１ｂに押圧されている
ため、接触部１１ｂはリード１４に接触しながら摺動す
る。この摺動により接触部１１ｂの接触面の汚れは除去
される。このようにしてＩＣを挿脱する毎に接触面は清
掃される。
ド１４を接触子１１の接触部１１ｂに押圧する。同時に
楔状の突起１６がその斜面１６ａで接触子１１のばね部
１１ａを矢印Ａ方向に押圧する。これにより接触子１１
はそのばね部１１ａで撓み、接触部１１ｂを矢印Ａ方向
に移動させる。このときＩＣｌ３のリード１４は突起１
３ａにより接触子１１の接触部１１ｂに押圧されている
ため、接触部１１ｂはリード１４に接触しながら摺動す
る。この摺動により接触部１１ｂの接触面の汚れは除去
される。このようにしてＩＣを挿脱する毎に接触面は清
掃される。
第３図は本発明の他の実施例を示す図である。
同図において第１図と同一部分は同一符号を付して示し
た。
た。
本実施例が前実施例と異なるところは、蓋１３に設けら
れた楔状突起１６の斜面に図の如く円弧状の突起１７を
設けたことで、他は前実施例と同様である。
れた楔状突起１６の斜面に図の如く円弧状の突起１７を
設けたことで、他は前実施例と同様である。
このように構成された本実施例は、蓋を閉じることによ
り円弧状の突起１７が接触子１１のばね部１１ａを矢印
Ａ方向に押圧し、さらに突起１７とばね部１１ａとの接
触点が円弧状の突起を乗り越えた以後は矢印Ｂ方向に戻
るため、接触子１１の接触部１１ｂは蓋１３を１回閉じ
る毎に往復動作し、清掃効果をさらに向上することがで
きる。
り円弧状の突起１７が接触子１１のばね部１１ａを矢印
Ａ方向に押圧し、さらに突起１７とばね部１１ａとの接
触点が円弧状の突起を乗り越えた以後は矢印Ｂ方向に戻
るため、接触子１１の接触部１１ｂは蓋１３を１回閉じ
る毎に往復動作し、清掃効果をさらに向上することがで
きる。
第３図は本発明の他の実施例を示す図、第４図は従来の
ＩＣソケットを示す図である。
ＩＣソケットを示す図である。
図において、
１０はコネクタ本体、 １１は接触子、１１ａはばね部
、 １１ｂは接触部、１３は蓋、 １
４はリード、１５はＩＣ，１６は楔状の突起、 １７は円弧状の突起 を示す。
、 １１ｂは接触部、１３は蓋、 １
４はリード、１５はＩＣ，１６は楔状の突起、 １７は円弧状の突起 を示す。
以上説明したように、本発明によれば、蓋の開閉により
接触子の接触部を摺動させることにより、ＩＣのリード
との摩擦頻度を高めることができ、接触不良の改善を図
ることができる。
接触子の接触部を摺動させることにより、ＩＣのリード
との摩擦頻度を高めることができ、接触不良の改善を図
ることができる。
第１図は本発明の実施例を示す図、
第２図は本発明の実施例の作用を説明するための図、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、絶縁物からなるソケット本体（１０）に接触部（１
１ｂ）とばね部（１１ａ）を有する多数の接触子（１１
）が配設され、且つ該接触子（１１）にリード（１４）
を接触させて載置したＩＣ（１５）を押圧固定する蓋（
１３）を有するＩＣソケットにおいて、上記蓋（１３）
を閉じたときに、接触子（１１）のばね部（１１ａ）を
押圧して接触部（１１ｂ）をＩＣのリード（１４）に対
して摺動させる楔状の突起（１６）を該蓋（１３）に設
けたことを特徴とするＩＣソケット。 ２、請求項１記載のＩＣソケットにおいて、楔状の突起
（１６）の斜面に円弧状の突起（１７）を設け接触子の
接触部（１１ｂ）を往復摺動させるようにしたことを特
徴とするＩＣソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16855290A JPH0461775A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | Ｉｃソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16855290A JPH0461775A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | Ｉｃソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0461775A true JPH0461775A (ja) | 1992-02-27 |
Family
ID=15870143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16855290A Pending JPH0461775A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | Ｉｃソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0461775A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6547608B2 (en) | 2000-06-07 | 2003-04-15 | Yazaki Corporation | Receptacle terminal and connection structure thereof with pin terminal |
| JP2010003862A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-01-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 電子部品の接続構造 |
| US10777926B2 (en) | 2017-02-22 | 2020-09-15 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Multi-contact terminal |
-
1990
- 1990-06-28 JP JP16855290A patent/JPH0461775A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6547608B2 (en) | 2000-06-07 | 2003-04-15 | Yazaki Corporation | Receptacle terminal and connection structure thereof with pin terminal |
| JP2010003862A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-01-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 電子部品の接続構造 |
| US10777926B2 (en) | 2017-02-22 | 2020-09-15 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Multi-contact terminal |
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