JPH0463497B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0463497B2 JPH0463497B2 JP58102074A JP10207483A JPH0463497B2 JP H0463497 B2 JPH0463497 B2 JP H0463497B2 JP 58102074 A JP58102074 A JP 58102074A JP 10207483 A JP10207483 A JP 10207483A JP H0463497 B2 JPH0463497 B2 JP H0463497B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bulb
- photoelectric conversion
- points
- conversion camera
- optical axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、管球の良否判別方法、詳しくいえ
ば、管球のバルブ面状態を検査して、管球の外観
良否を判別する方法に関するものである。
ば、管球のバルブ面状態を検査して、管球の外観
良否を判別する方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来、管球たとえば蛍光灯などの外観良否判別
は、肉眼による目視検査によつていたので、検査
能率が悪いとともに、良否判別の信頼性が必ずし
も高くない等の欠点があつた。このような欠点を
除去するために、特開昭57−9034号公報等に示さ
れるように、光電変換カメラを応用した管球面検
査装置が提案されている。すなわち、この装置
は、光電変換カメラとバルブとを、このカメラの
光軸とバルブの軸とが垂直になるように配置し、
カメラとバルブとを結ぶ区域外に投光光源を設け
て、バルブ表面を照射し、そのバルブ面からの反
射光を光電変換カメラで検出する。レンズによつ
て集光されたバルブ面の明暗の光信号は、内部の
光電変換素子で結像され、各素子はそれぞれの明
暗の像に比例した電気信号を発生する。
は、肉眼による目視検査によつていたので、検査
能率が悪いとともに、良否判別の信頼性が必ずし
も高くない等の欠点があつた。このような欠点を
除去するために、特開昭57−9034号公報等に示さ
れるように、光電変換カメラを応用した管球面検
査装置が提案されている。すなわち、この装置
は、光電変換カメラとバルブとを、このカメラの
光軸とバルブの軸とが垂直になるように配置し、
カメラとバルブとを結ぶ区域外に投光光源を設け
て、バルブ表面を照射し、そのバルブ面からの反
射光を光電変換カメラで検出する。レンズによつ
て集光されたバルブ面の明暗の光信号は、内部の
光電変換素子で結像され、各素子はそれぞれの明
暗の像に比例した電気信号を発生する。
このような装置を用いて螢光灯の外観良否を判
別するには、良品と判別される螢光灯をセツト
し、これで得られた光レベルと、あらかじめ設定
された上限幅、下限幅の値により決定される各素
子毎の上限値、下限値とを比較し、検出信号レベ
ルが、上限値レベルより大きいか、または、下限
値レベルより小さいときに不良品信号を出力させ
る。
別するには、良品と判別される螢光灯をセツト
し、これで得られた光レベルと、あらかじめ設定
された上限幅、下限幅の値により決定される各素
子毎の上限値、下限値とを比較し、検出信号レベ
ルが、上限値レベルより大きいか、または、下限
値レベルより小さいときに不良品信号を出力させ
る。
しかしながら、この装置によれば、バルブ表面
にランプマーク等が捺印されている場合には、ラ
ンプマークの捺印位置が製造上ばらついたとき
等、ランプマークからの反射光が、あらかじめラ
ンプマークに対応づけられた各素子に確実に対応
できないために、ランプマークが捺印されたバル
ブ面を、実際上検査することができないなどの欠
点があつた。
にランプマーク等が捺印されている場合には、ラ
ンプマークの捺印位置が製造上ばらついたとき
等、ランプマークからの反射光が、あらかじめラ
ンプマークに対応づけられた各素子に確実に対応
できないために、ランプマークが捺印されたバル
ブ面を、実際上検査することができないなどの欠
点があつた。
発明の目的
本発明は、このような欠点を除去するためにな
されたもので、良否判別の信頼性を一層向上する
ことができる管球の良否判別方法を提供するもの
である。
されたもので、良否判別の信頼性を一層向上する
ことができる管球の良否判別方法を提供するもの
である。
発明の構成
本発明の管球の良否判別方法は、投光光源と光
電変換カメラとの間に、検査すべき円筒状のバル
ブを配置させ、前記投光光源からの光を前記バル
ブに投光し、このバルブを周方向に回転させて、
前記バルブからの透過光によるバルブ面の明暗像
を光電変換カメラによつて検出し、この光電変換
カメラからバルブ面状態に対応したレベルの電気
信号を発生することにより、その面状態を検出す
る方法であつて、前記光電変換カメラのレンズの
光軸に対して、バルブ軸が直角方向になるように
前記バルブを位置させ、前記バルブ軸に対して垂
直な断面円形のバルブ平面のうち、前記光軸と垂
直になる関係の直径を有するバルブ平面におい
て、前記直径のそれぞれの半径上であつて、それ
ぞれの半径の端から半径の長さの1/5の長さだけ
隔たつたそれぞれの点から、前記レンズ側に前記
光軸に平行に延長した4本の線分が、前記円と交
わる点を順次、第1、第2、第3および第4の点
としたとき、前記第1および第2の点同士間、前
記第3および第4の点同士間の2つの円弧領域の
うち、少なくとも一方を前記光電変換カメラの検
出範囲としたものである。
電変換カメラとの間に、検査すべき円筒状のバル
ブを配置させ、前記投光光源からの光を前記バル
ブに投光し、このバルブを周方向に回転させて、
前記バルブからの透過光によるバルブ面の明暗像
を光電変換カメラによつて検出し、この光電変換
カメラからバルブ面状態に対応したレベルの電気
信号を発生することにより、その面状態を検出す
る方法であつて、前記光電変換カメラのレンズの
光軸に対して、バルブ軸が直角方向になるように
前記バルブを位置させ、前記バルブ軸に対して垂
直な断面円形のバルブ平面のうち、前記光軸と垂
直になる関係の直径を有するバルブ平面におい
て、前記直径のそれぞれの半径上であつて、それ
ぞれの半径の端から半径の長さの1/5の長さだけ
隔たつたそれぞれの点から、前記レンズ側に前記
光軸に平行に延長した4本の線分が、前記円と交
わる点を順次、第1、第2、第3および第4の点
としたとき、前記第1および第2の点同士間、前
記第3および第4の点同士間の2つの円弧領域の
うち、少なくとも一方を前記光電変換カメラの検
出範囲としたものである。
実施例の説明
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
第1図において、1は管球、たとえば円筒状バ
ルブ内面に螢光体被膜が形成された螢光灯で、こ
のバルブ表面を投光光源2で投光し、このバルブ
からの透過光を光電変換カメラ3によつて検出す
る。この光電変換カメラ3は、レンズと複数個に
分割された光電変換素子列、いわゆるイメージセ
ンサとを具備しているものである。レンズによつ
て集光されたバルブ面の明暗像の光信号は、内部
の光電変換素子上に結像され、各光電変換素子
は、明暗の像に比例した電気信号を発生する。な
お、光電変換カメラ3の設置台数は、検査すべき
螢光灯の長さに比例して増減するが、40ワツト螢
光灯の場合には、2台必要である。光電変換カメ
ラ3から出力される電気信号は、コンパレータ6
に直接入力されるとともに、増幅回路4を介して
積分回路5で積分信号に変換されてコンパレータ
6に入力される。コンパレータ6において、電気
信号と積分信号とが比較される。コンパレータ6
の出力は論理記憶回路7に入力される。
ルブ内面に螢光体被膜が形成された螢光灯で、こ
のバルブ表面を投光光源2で投光し、このバルブ
からの透過光を光電変換カメラ3によつて検出す
る。この光電変換カメラ3は、レンズと複数個に
分割された光電変換素子列、いわゆるイメージセ
ンサとを具備しているものである。レンズによつ
て集光されたバルブ面の明暗像の光信号は、内部
の光電変換素子上に結像され、各光電変換素子
は、明暗の像に比例した電気信号を発生する。な
お、光電変換カメラ3の設置台数は、検査すべき
螢光灯の長さに比例して増減するが、40ワツト螢
光灯の場合には、2台必要である。光電変換カメ
ラ3から出力される電気信号は、コンパレータ6
に直接入力されるとともに、増幅回路4を介して
積分回路5で積分信号に変換されてコンパレータ
6に入力される。コンパレータ6において、電気
信号と積分信号とが比較される。コンパレータ6
の出力は論理記憶回路7に入力される。
バルブ面に何ら欠陥がない螢光灯の場合には、
第2図a,bに示すとおり、光電変換カメラ3の
電気信号のレベルは、積分回路5の積分信号のレ
ベルより常に下回るので、同図cに示すように、
不良品信号は発生しない。
第2図a,bに示すとおり、光電変換カメラ3の
電気信号のレベルは、積分回路5の積分信号のレ
ベルより常に下回るので、同図cに示すように、
不良品信号は発生しない。
一方、バルブ面に欠陥がある螢光灯、たとえば
螢光灯被膜が脱落した螢光灯の場合には、光電変
換カメラ3の電気信号は第3図aに示すようにな
り、また積分回路5の積分信号は同図bに示すよ
うになり、光電変換カメラ3の電気信号のレベル
が一瞬、積分回路5の積分信号のレベルを上回る
ので、この時論理記憶回路7から不良品信号が同
図cに示すように発生する。実際上このような動
作は、たとえば出荷検査工程において行われ、得
られた不良品信号を記憶回路(図示せず)に入力
することによつて、任意の位置で、螢光体被膜不
良品を工程外に排除する。
螢光灯被膜が脱落した螢光灯の場合には、光電変
換カメラ3の電気信号は第3図aに示すようにな
り、また積分回路5の積分信号は同図bに示すよ
うになり、光電変換カメラ3の電気信号のレベル
が一瞬、積分回路5の積分信号のレベルを上回る
ので、この時論理記憶回路7から不良品信号が同
図cに示すように発生する。実際上このような動
作は、たとえば出荷検査工程において行われ、得
られた不良品信号を記憶回路(図示せず)に入力
することによつて、任意の位置で、螢光体被膜不
良品を工程外に排除する。
上記良否判別はバルブを周方向に回転させるこ
とによつて、バルブ全体に対して行うことができ
る。
とによつて、バルブ全体に対して行うことができ
る。
本発明の方法において、良否判別の精度を高め
るには、光電変換カメラ3に入光される被検査ラ
ンプの透過光量がランプ管軸に沿つて均一で、か
つ大きいことがきわめて重要である。
るには、光電変換カメラ3に入光される被検査ラ
ンプの透過光量がランプ管軸に沿つて均一で、か
つ大きいことがきわめて重要である。
第4図は、被検査ランプである螢光灯1のバル
ブ軸10に対して直角方向に垂直な断面円形のバ
ルブ平面のうち、光電変換カメラ3の光軸9と垂
直になる関係の直径を有するバルブ平面11にお
いて、その半径の長さを100としたときのその端
からの距離の百分率で表わしたとき、その百分率
で示される各点から光電変換カメラ3側に光軸に
平行に延長した線分が、それぞれ円と交わる円弧
上の被検査ランプの透過光量の相対値を示してい
る。同図から明らかなように、被検査ランプの透
過光の強さは0%の点、すなわち、円形のバルブ
平面の中心において光電変換カメラ側に光軸に平
行に延長した線分が円と交わる点では、第6図に
示すように、ランプ端部に封止されたステム部1
7の影になるので最低になり、60%付近ではその
影響が少なくなるために最大になる。なお、第6
図中、18はフイラメントコイル、19はフレ
ヤ、20はバルブ、21はフレヤ19とバルブ2
0との封止部をそれぞれ示す。
ブ軸10に対して直角方向に垂直な断面円形のバ
ルブ平面のうち、光電変換カメラ3の光軸9と垂
直になる関係の直径を有するバルブ平面11にお
いて、その半径の長さを100としたときのその端
からの距離の百分率で表わしたとき、その百分率
で示される各点から光電変換カメラ3側に光軸に
平行に延長した線分が、それぞれ円と交わる円弧
上の被検査ランプの透過光量の相対値を示してい
る。同図から明らかなように、被検査ランプの透
過光の強さは0%の点、すなわち、円形のバルブ
平面の中心において光電変換カメラ側に光軸に平
行に延長した線分が円と交わる点では、第6図に
示すように、ランプ端部に封止されたステム部1
7の影になるので最低になり、60%付近ではその
影響が少なくなるために最大になる。なお、第6
図中、18はフイラメントコイル、19はフレ
ヤ、20はバルブ、21はフレヤ19とバルブ2
0との封止部をそれぞれ示す。
一方、バルブ平面11上における被検査面積の
光電変換カメラの光軸9と垂直な線分12を含む
平面への投影面積との相対値は、これとは逆に、
0%の点で最大であり、%の増加に対し、単調減
少し100%で最小になる。実用上、高精度でバル
ブ面検査を行うためには、十分な透過光の強さが
得られ、かつバルブ平面11上における被検査面
積のカメラの光軸9と垂直な線分12を含む平面
への投影面積との相対値が、あまり小さくならな
いことがきわめて重要である。
光電変換カメラの光軸9と垂直な線分12を含む
平面への投影面積との相対値は、これとは逆に、
0%の点で最大であり、%の増加に対し、単調減
少し100%で最小になる。実用上、高精度でバル
ブ面検査を行うためには、十分な透過光の強さが
得られ、かつバルブ平面11上における被検査面
積のカメラの光軸9と垂直な線分12を含む平面
への投影面積との相対値が、あまり小さくならな
いことがきわめて重要である。
この要件をみたす領域は、実験によれば、直径
を示す線分12のそれぞれの半径上であつて、そ
れぞれの半径の端から半径の長さの1/5の長さだ
け隔たつたそれぞれの点から、前記レンズ側に前
記光軸に平行に延長した4本の線分が、前記円と
交わる点13,14,15および16のうち、1
3および14の点同士間、または、15および1
6の点同士間の円弧領域であつた。したがつて、
これらをカメラの検出範囲とすれば、従来例に比
較して、さらに、精度の高い螢光体被膜の良否検
査を行うことができる。
を示す線分12のそれぞれの半径上であつて、そ
れぞれの半径の端から半径の長さの1/5の長さだ
け隔たつたそれぞれの点から、前記レンズ側に前
記光軸に平行に延長した4本の線分が、前記円と
交わる点13,14,15および16のうち、1
3および14の点同士間、または、15および1
6の点同士間の円弧領域であつた。したがつて、
これらをカメラの検出範囲とすれば、従来例に比
較して、さらに、精度の高い螢光体被膜の良否検
査を行うことができる。
また、ランプマーク等が捺印されている場合で
も、正確な良否判別を、高い信頼度で行うことが
できるものである。
も、正確な良否判別を、高い信頼度で行うことが
できるものである。
なお、上記実施例においては、螢光灯について
良否判別を行う場合を説明したが、本発明はバル
ブに着色被膜、反射被膜等を施こした電球は、も
ちろんのこと、円筒状のバルブを備えた管球に対
して実施することができるものである。
良否判別を行う場合を説明したが、本発明はバル
ブに着色被膜、反射被膜等を施こした電球は、も
ちろんのこと、円筒状のバルブを備えた管球に対
して実施することができるものである。
発明の効果
以上説明したように、本発明は管軸に沿つての
被検査ランプの透過光を、なお一層一定化させる
ことができるために、従来に比べて検査ミスがさ
らに少なく、信頼度の高い管球の良否判別方法を
提供することができるものである。
被検査ランプの透過光を、なお一層一定化させる
ことができるために、従来に比べて検査ミスがさ
らに少なく、信頼度の高い管球の良否判別方法を
提供することができるものである。
第1図は本発明の管球の良否判別方法を実施す
るための装置の一例を示す図、第2図a,b,c
は良品の場合における同装置の各種波形図、第3
図a,b,cは不良品の場合における同装置の各
種波形図、第4図は円の中心から測つた半径上の
線分の相対的長さと透過光量の相対値との関係
図、第5図は光電変換カメラ、被検査ランプおよ
び投光光源の配列関係を示す図、第6図はランプ
端部に封止されたステム部を示す断面図である。 1……管球、2……投光光源、3……光電変換
カメラ、4……増幅回路、5……積分回路、6…
…コンパレータ、7……論理記憶回路、8……被
検査ランプの外観状態に対応する透過光の強さの
相対値、9……光軸、10……管軸、11……バ
ルブ平面、12……線分、13,14,15,1
6……点、17……ステム部、18……フイラメ
ントコイル、19……フレヤ、20……バルブ、
21……封止部。
るための装置の一例を示す図、第2図a,b,c
は良品の場合における同装置の各種波形図、第3
図a,b,cは不良品の場合における同装置の各
種波形図、第4図は円の中心から測つた半径上の
線分の相対的長さと透過光量の相対値との関係
図、第5図は光電変換カメラ、被検査ランプおよ
び投光光源の配列関係を示す図、第6図はランプ
端部に封止されたステム部を示す断面図である。 1……管球、2……投光光源、3……光電変換
カメラ、4……増幅回路、5……積分回路、6…
…コンパレータ、7……論理記憶回路、8……被
検査ランプの外観状態に対応する透過光の強さの
相対値、9……光軸、10……管軸、11……バ
ルブ平面、12……線分、13,14,15,1
6……点、17……ステム部、18……フイラメ
ントコイル、19……フレヤ、20……バルブ、
21……封止部。
Claims (1)
- 1 投光光源と光電変換カメラとの間に、検査す
べき円筒状のバルブを配置させ、前記投光光源か
らの光を前記バルブに投光し、前記バルブを周方
向に回転させて、前記バルブからの透過光による
前記バルブ面の明暗像を前記光電変換カメラによ
つて検出し、この光電変換カメラから前記バルブ
面状態に対応したレベルの電気信号を発生するこ
とにより、その面状態を検出する方法であつて、
前記光電変換カメラのレンズの光軸に対して、バ
ルブ軸が直角方向になるように、前記バルブを位
置させ、前記バルブ軸に対して垂直な断面円形の
バルブ平面のうち、前記光軸と垂直になる関係の
直径を有するバルブ平面において、前記直径のそ
れぞれの半径上であつてそれぞれの半径の端から
半径の長さの1/5の長さだけ隔たつたそれぞれの
点から、前記レンズ側に前記光軸に平行に延長し
た4本の線分が、前記円と交わる点を順次第1、
第2、第3および第4の点としたとき、前記第1
および第2の点同士間、前記第3および第4の点
同士間の2つの円弧領域のうち、少なくとも一方
を前記光電変換カメラの検出範囲とすることを特
徴とする管球の良否判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58102074A JPS59226445A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 管球の良否判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58102074A JPS59226445A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 管球の良否判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59226445A JPS59226445A (ja) | 1984-12-19 |
| JPH0463497B2 true JPH0463497B2 (ja) | 1992-10-12 |
Family
ID=14317617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58102074A Granted JPS59226445A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 管球の良否判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59226445A (ja) |
-
1983
- 1983-06-07 JP JP58102074A patent/JPS59226445A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59226445A (ja) | 1984-12-19 |
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