JPH0465676A - 自動分析方法および自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は検体試料の供給を試料保持用ラックで行う自動
分析装置に係り、特にラックからの試料を測定部にサン
プリングした後ラックを試料移送路を通して回収格納部
に回収することができる自動分析装置およびそれに用い
る試料処理方法に関する。

〔従来の技術〕

従来の装置は特開昭６３−２３６９６６号公報に述べら
れているように、試料容器をラックに保持して搬送する
自動分析装置において、分析の結果、再分析が必要とみ
なされた試料を持つラックに対してはラック格納部への
収納は行わずに、再検ラインを経て再び試料サンプリン
グ位置へ搬送して自動的に再分析を行わせる機能を持た
せたものである。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術では、複数回分析を行う特定の試料のため
のラックの搬送制御方法の点について配慮がされておら
ず、そのような特定試料に対して何回か分析を繰返した
い場合には、従来の方法として特定試料の一回のサンプ
リングが終わるたびにその試料を持つラックをラック供
給部にセットしなおしていたが、この場合には試料の再
セットのために時間の浪費、装置への誤操作を起こす欠
点があった。また別な従来例として特定試料を保持する
ラックをあらかじめ測定回数分用意し、これらのラック
を他の一般試料ラックと一緒にラック供給部にセットし
て一連の分析を行う方法もあるが、この時には特定試料
を保持するラックを複数個用意するため、使われる試料
の量が増えてしまっていた。

本発明の目的は、自動分析装置において同一試料に対し
て複数回分析を繰返す動作を自動的に行えるようにする
ことにある。

本発明の他の目的は、自動分析装置において自動的に基
準試料を複数回分析することにより、装置の分析精度を
把握して精度管理を行うことにある。

本発明のもう１つの目的は、一般試料の分析のだめの搬
送処理を妨げないように、特定試料を繰返しサンプリン
グするための搬送を行うことにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の自動分析装置では、試料を保持したラックを運
ぶ搬送ラインに沿ってラックが搬送ラインをはずれて待
機する待機スペースと、ラックを搬送ラインと待機スペ
ースの間で移動させるラック出し入れ装置を設けて、再
分析を行う試料を持つラックの識別番号を制御機構に登
録しておくことによって、装置が所定のタイミングで試
料を搬送ラインに送り出し再分析を行えるようにしたも
のである。

さらに、」般の試料を収めたラックとは別に、装置に分
析精度管理を行うための基準試料を収めたラックを準備
して、このラックを所定のタイミングで再分析すること
により、装置の分析精度を自動的に管理するようにした
。

〔作用〕

本発明によれば、制御装置の記憶部にラックの識別番号
を登録し、ラックを搬送ラインと待機スペースの間で出
し入れする機能を持たせることにより、搬送ライン上で
処理されていく一般試料のラックの間に所定の条件に従
い特定試料のラックを送り出してサンプリングを行い、
゛サンプリングが終った後に待機スペースに戻すことが
できる。

その後待機スペースに入ったラックに前記と同様の工程
を繰り返すことが可能になる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図を用いて説明する。

第１図は、本発明の一実施例である検体試料の供給をラ
ック方式で行う自動分析装置の全体構成を示している。

自動分析装置ｌには、試料分析を行う反応ディスク２が
設けられており、その同心円周上に反応容器３が複数個
設置されている、反応ディスク２の周囲には、ピペッテ
ィングノズルを持つ試料分注器４．試薬分注器５及び６
．撹拌器７及び８゜洗浄機構９．多波長光度計１０が配
置されており、二のように構成された測定装置の周囲に
、搬送ラインｌｌａ、ｌｌｂによってつながけられたラ
ック供給部１２．ラック格納部１３．ラックを待機させ
るスペース１４ａ、１４ｂ、１４ｃが設けられている。

また、搬送ラインｌｌａは、ラック位置９１からラック
位置９２までベルトコンベアによりラックを搬送し、ラ
ック検出器２０がラックを検出するとラック押出装置２
１が作動し、搬送ライン１１ｂ上のラック位１ｉ９３ま
でラックを移動させる。搬送ラインｌｌｂは、ラック位
置９３からラック位置９４までベルトコンベアにより搬
送した後、第２図に示したラック移動爪５４がラックを
引っかけて、位置９５まで移動する。ラック検出器２４
がラックを検出すると、ラック押出装置２５が作動し、
一般試料のラックを格納部１３に収め、再分析を行うラ
ックは搬送ラインｌｌａ上のラック位置９１まで移動さ
せる。

これら装置の各部動作はインターフェース３０を介して
、コンピュータＩＳ１．記憶装置１５５゜キーボード入
力装［１５２，ＣＲＴ出力装置１５３゜プリンタ出力装
置１５４により任意に制御を行えるようになっている。

以上に示した自動分析装置において、試料を保持するラ
ックの処理手順を述べる。

（１）分析試料を第４面に宗した識別番号を持った容器
１５に入れ、さらに複数の容・１１１５を第５図に示す
識別番号を持つラック１６に保持する。

この識別番号はそのラックが一般試料を持つラックか再
分析を行う試料を持つラック試料かを区別するために、
かつ、ラックごとの個別番号も示すためにつけられてい
る。

（２）一般試料を持つラックをラック供給部１２に、複
数回の再分析を行う試料、を持っラックをラック待機ス
ペース１４ａ〜１４ｃにセットし、それら試料とラック
のデータをキーボード１５２から記憶装置１５５に入力
する。

（３）一般試料を持ったラックはラック押出装置１７に
より、搬送ラインｌｌａ上に送り出される、再分析試料
を持つラックは第２図に示したラック振り分は装［５２
ａ〜５２ｃのうち、目的のラックに対応した装置により
搬送ライン１１ｂ上に送り出された後、ラック移動爪５
４によりラック位置９５まで移動し、ラック検出器２４
がラックを検出して、押出装置２５によりラックは搬送
ラインｌｌａ上の位置９１に移される。

（４）搬送ラインｌｌａに移されたラックはサンプリン
グ位置１１０の方向にベルトコンベア（図に示されてい
ない）により搬送されていく。

（５）搬送途中で、第４図に示した試料容器１５に付け
たバーコード１００がバーコードリーダ１９によって読
み取られ、さらに、第５図に示したラック１６の穴１０
１の列を、ラックセンサ２７が開けられた穴か閉じられ
た穴かを光を透過することにより光学的に識別してラッ
クの識別番号を読み取る。

容器１５．ラック１６の識別番号が読み取られると、そ
のラック１６の試料容器１５にある試料に対する分析項
目および分析項目数が記憶装置３４から読み出され、制
御機構は、この情報に基づいて装置各部の制御を行う。

すなわち搬送ライン１１　ａ、ｌ　ｌ　ｂ、ラック格納
部１３゜ラック待機スペース１４．ラック供給部１２゜
試料分注器４等を制御する。

また制御機構は搬送ラインｌｌａ、ｌｌｂ。

ラック供給部１２．ラック格納部１３．ラック待機スペ
ース１４ａ〜１４ｃの状態、およびどの位置にとのラッ
ク、試料があるか随時監視している。

（６）ラックがサンプリング位置１１０に来るとベルト
コンベアが停止し１分注器４がピペッティングノズルに
よりラック１６の容器１５に収められた試料のサンプリ
ングを行い、その後、同一ラックの異なる容器１５の試
料をサンプリングする時は、その試料を収めた容器にピ
ペッティングノズルが入るようにベルトコンベアが動き
少しの距離だけラック１６を搬送して１分注器４を作動
させる。

（７）サンプリングが終了したラックはラック位置９２
までベルトコンベアにより運ばれ停止し、ラック検出器
２０がラックを検出してラック押出装置２１が作動して
ラックをラック位置９３に押出す。そして、搬送ライン
ｌｌｂのベルトコンベアが動きラックをラック位置９４
まで動かして停止させる。

（８）ラックがラック位置９４に来た時、コンピュータ
３１はこのラックが一般試料を収めたものか、再分析を
行う試料を収めているのかを判断し、再分析試料を収め
ている時はこのラックをラック待機スペースに収納する
。一般試料のラックの時はラックは搬送ラインｌｌｂに
沿って第２図に示したラック移動爪５４によりラック位
置９５に運ばれ停止し、ラック検出器２４がラックを検
出してラック押出装置２５によりラック格納部１３に収
納する。

（９）制御機構は試料の再分析を行うインタバル条件を
随時監視しており、その分析時期がくると搬送ラインｌ
ｌｂ上を流れるラックはラック位置９４で止められ、そ
の間に待機スペース１４ａ〜１４ｃ内に収納されている
目的のラックを搬送ラインｌｌｂ上に送り出す。′送り
出された再分析試料を収めたラックはラック位置９５ま
で運ばれ停止し、ラック押出装置２５によってラック位
置９１まで移動する。そしてラックは搬送ラインｌｌａ
上をサンプリング位置１１０方向に搬送されていき再分
析が行われる。ラック位置９４で止められていたラック
は再分析試料のラックが搬送ラインｌｌａ上を動き始め
た後に再び搬送される。

実施例の自動分析装置１の待機スペース近辺におけるラ
ックの移動を第２図を用いて詳細に説明する。

ラックが搬送ラインｌｌｂ上のラック位！！９４に到達
すると、制御装置がこのラックが再分析試料を持つラッ
クかどうか判断し、持っている場合には以下に示した操
作を行う。

制御装置がラック待機スペース１４　ａ　”　ｌ　４　
ｃの中からラックが入っていない場所を特定する。

ラック移動爪５４が位置９４にあるラックの場所まで移
動して、ラックの低部に爪を引っかけて待機スペース１
４ａ、１４ｂ、１４ｃのうちラックの入っていないスペ
ースの前までラックを移動させる。そしてラック移動爪
５４は爪をはずしラック位置９４に戻る。ラックはその
後ラック振り分は装置５３ａ〜、５３ｃのうちラックの
位置する場所にある装置が作動して、特定の待機スペー
スに収められる。

また、待機スペースに収めた特定のラックに対し、再分
析を行うタイミングがきた時には、搬送ラインｌｌｂ上
を運ばれてきた他のラックを、位置９４のところで停止
させる。ラック振り分は装置５２ａ〜５２ｃのうち再分
析を行うラックが収められた待機スペースの装置を作動
させ、ラックを搬送ラインｌｌｂ上に送り出す。このラ
ックが出された位置までラック移動爪−５４が移動して
ラックを引っかけ位置９５まで運んでいく。ラック移動
爪５４はラック位置９４まで戻り、ラックはラック検畠
器によって検出されてラック押出装置によって搬送ライ
ンｌｌａの位置９１に移される。

その後、サンプリング位置１１０まで搬送されていき再
分析が行われる。

一方、位置９４にて停止していたラックは、再分析試料
を持ったラックが搬送された後に、ラック移動爪５４に
よって搬送ラインｌｌｂ上を運ばれていく。

第３図にラック振り分は装置５２ａ〜５２Ｃ９５３ａ＾
５３ｃの一実施例を示す。

コンピュータ３１に制御されるステップモータ５６によ
りベルト５８が回転し、これにより支持体６０に乗った
台車６２が移動して台車６２につながれたラック押出し
用板５２を、矢印６３および矢印６４の方向に任意に動
かすことができる。

これにより制御機構の処理に従ってラックを搬送ライン
ｌｌｂと待機スペース１４ａ〜１４ｃの間で出し入れす
ることが可能になる。

第４図に試料容器１５の外観を示す。

ひとつひとつの試料容器１５にはそれぞれその容器を識
別するバーコードが印字されたバーコードラベル１００
がはりつけられている。そして、この試料容器１５はラ
ック１６に複数個、例えば５個セットされて搬送ライン
上を運ばれていく。

その時、搬送ラインｌｌａに沿って設置されたバーコー
ドリーダ１９がバーコードラベル１−ｏＯに印字された
バーコードを読み取り、そのデータが制御装置に送られ
る。これにより複数の試料容器１５に対する個々の識別
が可能になる。

第５図Ａ、第５（ｉ！Ｈにラック１６の外観を示す。

ラック１６には個々の識別を可能にするために、側面に
穴１０１が５個を一列として４列設けられている。この
穴１０１はふさぐことができるようになっており、ふさ
がれていない穴１０１を２進数の０．ふさがれた穴を１
に対応させている。この列が４列あるために１つのラッ
ク１６に４つの２進数４ビツトの数を割り合でることが
可能になる。これによりラックの個々の識別が可能にな
る。

ラック１６はサンプリング位置１１０に搬送されていく
途中で、搬送ラインｌｌａに沿って設置されたラック識
別装置２７が、穴１’Ｏ１が開いているか閉じられてい
るかを光を透過することによつ七−列とと゛に識別して
数値データに換算して、４列の数値を取り込み制御装置
にデータを送る、これにより制御筒装置は個々のラック
を識別することが可能になる。

また、ラック１６の下部にはラック移動爪５４が引っか
かるようにく０れ１２０があり、このへこんだ部分に移
動爪５４が入ってラック１６を押して移動させる。

次に実施□例の自動分析装置において、入力装置を用い
て制御御機構に繰返し分析を行う試料を保持するラック
を登録し、さらに分析を行うタイミングの設定方法につ
いて説明する。

第６図はＣＲＴ出力装置１５３において、特定ラックの
再分析を行うための条件設定画面を示している。まず、
繰返し分析を行う試料を保持しているラックの識別番号
をキーボード入力装置１５２から設定欄３５に入力する
。また、どのようなタイミングでラックを待機スペース
から搬送ラインに送り出し分析を行うかについては、下
記に示す設定方法により装置が一連の動作を行う。

（ａ）　　分析された試料数に従った繰返し分析法。

測定装置によって分析される試料数を基準に、特定試料
の繰返し分析を行う、このため設定欄８０にキーボード
１５２から試料数を入力し、この試料数が□′記憶装置
１５５に登録される。装置の分析工程においては、ラッ
クがサンプリング位置１１０に送り出されていく、ラッ
ク上の試料容器の識別番号をバーコードリーダ１９が読
み取り。

ラックの識別番号をラック識別装置２７が検出して、そ
れらの信号を制御装置に送る。制御装置はそれらラック
、試料容器の持つ試料数を記憶装置１５５から引き呂す
。制御装置は一連の試料数を数えて記憶装置１１５５の
設定値と比へて、設定値に達した時に特定試料の分析が
行えるように、その試料を持つラックを待機スペースか
ら搬送ラインに送り出して測定装置へ運ぶ。

（ｂ）　　分析項目ごとの分析された試料数に従った繰
返し分析法。

測定装置によって特定の分析項目について分析される試
料数を基準に、特定試料数の繰返し分析を行う。このた
め設定４Ｉｌ！８１にキーボード１５２から試料数を入
力し、この試料数が記憶装置１５５に登録される。装、
置の分析工程において、サンプリング位置１１０に送り
出されていく、ラック上の試料容器の識別番号をバーコ
ードリーダ１９が読み取り、ラックの識別番号をラック
識別装置２７が検出して、それらの信号を制御装置に送
る。

サンプリング位置にラックが来た時、そのラック。

容器に応じた分析項目が記憶装置１５５から引き出され
てそれに応じて試料が分析される。制御装置は分析項目
ごとの分析した試料の数をカウントして、記憶装置１５
５の設定値とを比べて設定値に達した時に特定試料の分
析が行えるように、その試料を持つラックを待機スペー
スから搬送ラインに送り出す。

（Ｃ）　　分析経過時間に従った繰返し分析法。

測定装置が分析を行った経過時間を基準に、特定試料の
繰返し分析を行う、このため設定Ｉｌ！φ２にキーボー
ド１５２から経過時間を入力し、この時間数が記憶装置
１５５に登録される。装置の分析工程において、測定装
置は分析を始めた時に信号を制御装置に送る。制御装置
はその時からの経過時間を計って、記憶装置１５５の設
定値と比べて設定値に達した時に特定試料の分析が行え
るように、その試料を持つラックを待機スペースから搬
送ラインに送り出す。

以上の設定に従って、繰返し分析する試料を持つラック
はサンプリング位置１１０に運ばれ分析された後、再び
待機スペースに戻される。

実施例の自動分析装置において装置の分析精度を保つ方
法を以下に述べる。

自動分析装置を用いての種々の検体試料の成分分析にお
いては、まず、成分濃度が既知の検体試料（標準液）の
吸光度を測定し、これをもとに吸光度値と成分濃度との
対応関係を表す検量線を作成しなければならない。この
作業をキャリブレーションと呼ぶ。その後、一般の被分
析検体試料に対して吸光度測定を行い、得られた吸光度
値を、前もって作成した検量線に照らしあわせることに
よって、検体試料中の任意の成分濃度を算出する。

しかし、被分析検体試料数が非常に多くて分析時間が長
くなってくると、実際の成分濃度と吸光度と”の対応関
係が、最初に作成した検量線上からずれてきてしまう。

そうなった場合でもひきつづき最初に作成した検量線を
用いて成分濃度を算呂していくと、正確な成分分析値が
得られなくなり、装置の信頼性が落ちてしまう、しかし
、実施例の自動分析装置をキャリブレーション作業に適
、用すれば、このよ・うな問題を解決することが可能で
ある。つ′まり、標準液に対して定期的に吸光度測定を
繰返して行い、その都度、検量線を新しく作成し直し、
その後の一般検体の成分濃度は、この新しく作成し直し
た検量線をもとに算呂を行い、常に正確な成分分析値が
得られるようにする。このことについて、以下、第７図
、第８図を用いて説明をする。

第７図は、ＣＲ，Ｔ出カ装ｗ１５３におけるサイクリッ
クにキャリブレーションを行わせるために必要な分析情
報を設定する画面を示している。その情報の入力は、外
部入出力装置を通して行われる。まず、検量線を作成し
たい分析項目を入力欄３７に入力する。ひきつづき、キ
ャリブレーション法を入力４１１１３８に、使用する標
準、液の数を入力欄３９に、標準液の濃度及びそれがセ
ットされているラックの識別番号、ラック内の試料のポ
ジションを入力ａ４０に、そして、キャリブレーション
の結果のプリンター出力装置１５４への印字有無を入力
欄４１にそれぞれ入力する。また、前述の第６図に示す
、サイクリック分析を行うための情報を設定する画面に
おいて、入力欄３５には。

サイクリックキャリブレーションを行うために入力欄４
ｏに設定し九ラック識別番号と同じ番号を設定し、また
、入力欄８０〜８２には、サイクリック都ヤリプレニジ
ョンの再分析条件を設定する。

そして、以上の設定が終了した後、入力欄４０で指定し
た標準液がセットされているラックを、ラック退避スペ
ース１４ａ〜１４ｃにセットして、分析を開始する。そ
れにより、前述に示した分析動作工程に従って、指定ラ
ック内にセットされている標準液に対してのみ、設定し
た再分析条件毎に試料の吸光度が測定さ朴、その都度、
入力１［３７で設定した分析項目に対する検量線が、新
規作成される。そして、検、量線が新規作成される度に
、それ以降の一般検体の成分濃度値は、その新規の検量
線に従って算出される為、常に゛正確な分析値″□を得
ることができる。また、入力欄４１で、キャリブレーシ
ョン結果を印゛字するように設定しておけば、標準液に
対する嵯光度が新しく測定される度に、その吸光度”値
をプリンタ１５４から印字出力させることができる。ま
た、第８図には、キャリブレーションによって作成した
検量線を表示したい時に、その条件を設定する画面であ
り、入力ｌｍ４２に検量線表示をさせたい分析項目を、
入力欄４３に表示範囲値を、それぞれ入力すると、まず
、一番最初に作成した検量線とその時刻が表示される。

次に、新しく作成していった検量線を順次表示させるこ
とができる。また入力欄４４で、プリンタ１５４への出
力の指定をすることができる。これらの操作により、検
量線の時間的変化を視覚的にとらえることも出来る。以
上の方法により実施例の自動分析装置において、適宜に
キャリブレーションを行うことが可能になる。

また、自動分析装置の分析精度を管理するために、成分
構成比がはっきり決まっている安定したコントロール検
体と呼ばれる検体試料が使われる。

通常は、このコントロール検体を保持するラックを、一
般検体用のラックの間に、複数個分散させて置いておく
のであるが、このコントロール検体に対しても、本発明
を適用すれば、検体試料の節減、及び、自動的に精度管
理が図れる。以下、第９図、第１０図、第１１図を用い
て具体的に説明をする。

第９図は、ＣＲＴｆｆｌ力装置１１５３においてサイク
リックに精度管理を行うために必要な情報を設定する画
面である。まず、精度管理用として分析を行いたい分析
項目を入力欄４５に入力する。ひきつづき、使用するコ
ントロール検体の種類とそれがセットされているラック
の識別番号及びラツ前述の第６−に示す画面において、
入力欄３５に、サイクリックな精度管理を行うため入力
欄４６に設゛□定したラヅク貰別蕃号と同じ番号を袷定
し、また入力欄８０〜８２にはサイクリック精度管理の
インタバル条件を設定する。そして１以上の設定が終了
した後、入力欄４６で指定したコントロール検体がセッ
トされているラックを、ラック退避スペース１４ａ〜１
４ｃにセットして、分析を開始する。すると、やはり前
述した分析動作工程に従って、入力欄８０〜８２で設定
したコントロール検体分析インタバル条件にもとづく分
析開始タイミングがくると、ラック退避スペース１４ａ
〜１４、ｃにセットされていたコントロール検体用ラッ
クが搬送ラインｌｌｂ上に送り出され、一連の分析工程
を開始する。その後は、このコントロール・検体用ラッ
ク内のコントロール検体に対して、入力欄８０〜８２で
設定したインタバル条件ごとに分析が行われ、成分濃度
が算出される。このようにして、自動分析装置の精度管
理を、自動的に行うことができる。第１０図は、ＣＲＴ
出力装置１５３においてこうして得られた精度管理用の
測定データの一覧表を示した画面であり、入力欄４７に
測定データを見たいコントロール検体の種類を入力する
ことにより、そのコントロール検体を用いてサイクリッ
クに測定された分析項目に対する種々の精度管理データ
を、表として得ることができる。また、入力欄 ４８でプリンタ印字の指定をすれば、この−覧表をプリ
ンタ１５４から印字出力させることもできる。また、第
１１図は、ＣＲＴ出力装置１５３において、サイクリッ
クに測定した精度管理用データの時間的変化を示した画
面であり、対象の分析項目名及びコントロール検体の種
類を、入力欄４９及び入力欄５０にそれぞれ入力するこ
とにより、それに対する測定データの推移を、グラフと
して得ることができる。このグラフの変動を監視するこ
とにより、装置の精度管理を視覚的に行うことができる
。また、入力＠５１でプリンタ印字の指定をすれば、こ
のグラフをプリンタ１５４から印□字出力させることも
できる。このようにして、コントロール検体に対して分
析を行うことにより、測定□によって得られた成分濃度
値の、実際の成分濃度値からのずれを、監視することが
でき、装置の精度管理能力が向上する。また、コントロ
ール検体用のラックは１つだけラック退避スペース１４
ａ〜１４ｃにセットしておけば、あとは、このラック内
のコントロール検体に対しサイクリックに何回も膚分析
が行われるので、このラック内にコントロール検体を十
分に用意しときさえすれば、□従来の”ように何個もコ
ントロール検体用ラックを用意する必要がなくなり、検
体試料の節減も図れる。以上のように実施例の自動分析
装置において適宜に精度管理を行うことが可能になる。

この他にも、成分構成比が時間と共に徐々に変わってし
まうような不安定な試料に対し、本発明による再分析を
行えば、その試料の安定度を把握することも可能である
。

〔発明の効果〕

本発明の自動分析装置によれば、自動的に特定の試料の
分析を繰り返すことができるので、少数の基準試料を保
持したラックを使用することによって、装置の分析精度
を自動的に管理することが可能になる。

また、一般試料の一連の分析を行っている間に、特定試
料を入れて分析することが自動的に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の自動分析装置の構成の概略
図、第２図は第１図の装置の待機スペース付近における
構成図、第３図はラック振り分は装置の構成図、第４図
は第１図の実施例で使われる試料容器、第５図Ａは、第
１図の実施例で使われるラツ、りの平面図、第５図Ｂは
第５図Ａのラックの側・面図、第６図は特定試料の複数
回分析を行うＣＲＴ上の条件設定画面の例、第７図およ
び第９図はＣＲＴ上で第１図の実施例の装置の精度管理
を行うＣＲＴ上の条件設定画面の例、第８図。 第１０図および第１１図は第１図の実施例の装置の精度
管理を行った結果のＣＲＴ上の出方画面の例を示す。 １・・・自動分析装置、１１　ａ、　１　ｌ　ｂ・・・
搬送ライン、１２・・・ラック供給部、１３・・・ラッ
ク格納部、１４ａ〜１４ｃ・・・ラック待機スペース、
ＩＳ・・・試料容器、１６・・・ラック、５２ａ〜５２
ｃ、５３ａ〜５３ｃ・・・ラック振り分は装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、繰返し測定をすべき試料を保持している特定のラッ
   クの識別番号を制御装置に登録しておくこと、上記特定
   のラックをサンプリング位置に位置づけて上記特定のラ
   ック上の試料を測定部にサンプリングした後、上記特定
   のラックを移送路を経て待機場所に収納すること、上記
   特定のラックが上記待機場所に置かれている間に一般試
   料を保持している一般ラックを上記サンプリング位置に
   位置づけてサンプリングし、上記一般ラックを上記移送
   路を経て回収格納部へ回収すること、一般ラック処理数
   又は経過時間が設定条件に該当したときに上記待機場所
   から上記特定のラックを取り出し上記サンプリング位置
   に位置づけて試料をサンプリングすることを特徴とする
   試料処理方法。 ２、繰返し測定をすべき試料を保持している特定のラッ
   クの識別番号を制御装置に登録しておくこと、上記特定
   のラックをサンプリング位置に位置づけて上記特定のラ
   ック上の試料を測定部にサンプリングした後、上記特定
   のラックを移送路を経て待機場所に収納すること、一般
   ラック処理数又は経過時間が設定条件に該当したときに
   上記待機場所から上記特定のラックを取り出し上記サン
   プリング位置に位置づけて試料を再度サンプリングする
   こと、再度サンプリングした試料の測定値に基づいて検
   量線を修正することを特徴とする試料処理方法。 ３、ラック供給部から供給された識別番号を持つたラッ
   クをサンプリング位置を経てラック回収格納部に移送す
   るラック移送装置と、上記サンプリング位置で上記ラッ
   クから採取された試料を反応容器内で反応させ測定する
   測定装置とを備えた自動分析装置において、繰り返し測
   定をすべき試料を保持している特定ラックの識別番号及
   びサンプリングのタイミングを記憶部および演算部を有
   する制御装置に登録せしめる入力装置と、上記移送路に
   沿つて設けられており、上記特定のラックの収納が可能
   な待機スペースと、上記サンプリング位置において試料
   をサンプリングされた上記特定のラックを上記移送路か
   ら上記待機スペースに収納すると共に上記制御装置の指
   令に基づいて、上記待機スペース内に収納されている上
   記特定のラックを再度のサンプリングのために、上記移
   送路に取り出すラック出し入れ装置とを備えたことを特
   徴とする自動分析装置。 ４、請求項第３項記載の自動分析装置において、上記特
   定のラックは基準試料を保持したものであり、上記ラッ
   ク供給部から供給されるラックは一般試料を保持したも
   のであることを特徴とする自動分析装置。 ５、請求項第３項記載の自動分析装置において、上記ラ
   ック出し入れ装置は、一般試料の測定数が所定数に達す
   るとき、又は一般試料に対する分析処理を行つた所定の
   経過時間ごとに、上記待機スペースから上記特定のラッ
   クを取り出すように動作することを特徴とする自動分析
   装置。 ６、請求項第３項記載の自動分析装置において、上記特
   定のラックは基準試料を保持したものであり、上記ラッ
   ク出し入れ装置は、上記待機スペースから上記特定のラ
   ックを取り出して上記移送路に送り出し、上記測定装置
   が上記基準試料の測定を行い、上記制御装置の演算部が
   上記基準試料の測定結果に基づいて検量線を修正するこ
   とを特徴とする自動分析装置。