JPH0466741B2 - - Google Patents

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JPH0466741B2
JPH0466741B2 JP61013259A JP1325986A JPH0466741B2 JP H0466741 B2 JPH0466741 B2 JP H0466741B2 JP 61013259 A JP61013259 A JP 61013259A JP 1325986 A JP1325986 A JP 1325986A JP H0466741 B2 JPH0466741 B2 JP H0466741B2
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JP
Japan
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circuit
solenoid valve
drive circuit
solenoid
valve drive
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JP61013259A
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JPS62173366A (en
Inventor
Koji Murakami
Hideo Akima
Katsuya Myake
Isao Yamaki
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Akebono Brake Industry Co Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Akebono Brake Industry Co Ltd
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Akebono Brake Industry Co Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Akebono Brake Industry Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 マイロコンピュータを用いてブレーキ油圧を制
御し、車輪のロツクを防止するアンチスキツド装
置の電磁弁駆動回路に短かいテストパルスを印加
し、その状態変化を論理的にチエツクすることに
より、実際の動作に影響させずに電磁弁駆動回路
の障害診断を行う。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] A short test pulse is applied to the solenoid valve drive circuit of an anti-skid device that controls brake hydraulic pressure using a microcomputer to prevent wheels from locking, and its status changes are logically analyzed. By checking, failure diagnosis of the solenoid valve drive circuit can be performed without affecting the actual operation.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、自動車等の乗物において、走行中の
制動により横すべりを防止するためのアンチスキ
ツド装置に関するものであり、特にアンチスキツ
ド装置に用いられるソレノイド駆動回路の障害診
断方式に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an anti-skid device for preventing sideslips in vehicles such as automobiles by braking during running, and more particularly to a fault diagnosis method for a solenoid drive circuit used in the anti-skid device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

自動車が凍結した路上を走行している際にブレ
ーキ制動をかけると、車輪はロックされて回転を
停止するが、そのまま路面を滑走し、横すべり
(スキツド)を生じて危険な走行状態となること
がある。
If a car is driving on an icy road and the brakes are applied, the wheels will lock and stop rotating, but the wheels will continue to slide on the road and skid, creating a dangerous driving situation. be.

このような場合、制動を湯ゆるめて車輪のロツ
ク状態を一時的に解放することにより、タイヤと
路面との間に動摩擦を生じさせ、走行を安定化す
る運転方法がとられる。
In such cases, a driving method is used in which the brakes are loosened to temporarily release the locked state of the wheels, thereby creating dynamic friction between the tires and the road surface and stabilizing the vehicle.

アンチスキツド装置は、その操作を自動的に実
行するための装置である。第4図に、一般的なア
ンチスキツド装置の概略構成を示す。
An anti-skid device is a device for automatically carrying out its operations. FIG. 4 shows a schematic configuration of a general anti-skid device.

図において、1ないし4は車輪W1〜W4、5な
いし8は車輪速センサ、9ないし12はブレーキ
油圧系統の電磁弁、13はマイクロプロセツサ、
14は電磁弁駆動回路である。以下、簡単に動作
を説明する。
In the figure, 1 to 4 are wheels W 1 to W 4 , 5 to 8 are wheel speed sensors, 9 to 12 are electromagnetic valves of the brake hydraulic system, 13 is a microprocessor,
14 is a solenoid valve drive circuit. The operation will be briefly explained below.

各車輪1ないし4の回転速度は、車輪速センサ
9ないし12によつて個々に検出され、マイクロ
プロセツサ13に伝えられる。
The rotational speed of each wheel 1 to 4 is individually detected by wheel speed sensors 9 to 12 and transmitted to a microprocessor 13.

マイクロプロセツサ13は、各車輪速の平均値
と過去の値、制御特性データ等に基づいて、それ
ぞれの車輪ブレーキの制動状態をコントロールす
るため、電磁弁駆動回路14を介して、電磁弁9
ないし12の開閉を行う。
The microprocessor 13 controls the solenoid valve 9 via the solenoid valve drive circuit 14 in order to control the braking state of each wheel brake based on the average value and past value of each wheel speed, control characteristic data, etc.
Opening and closing of 1 to 12 is performed.

第5図に、従来の電磁弁駆動回路14の内部構
成を簡略化して示す。
FIG. 5 shows a simplified internal configuration of a conventional electromagnetic valve drive circuit 14. As shown in FIG.

図において、15は制御回路、16および17
はスイツチング素子Q1およびQo,18および1
9は電磁弁内のソレノイドコイルを表す。
In the figure, 15 is a control circuit, 16 and 17
are switching elements Q 1 and Q o , 18 and 1
9 represents a solenoid coil within the solenoid valve.

電磁弁駆動回路14内の制御回路15は、主に
論理ゲートで構成されており、マイクロプロセツ
サ13から各電磁弁ごとに与えられる指令にした
がつて、所定をタイミングとパルス幅をもつ駆動
信号を生成し、該当する電磁弁を作動するソレノ
イドコイル(たとえば18,19)を駆動するス
イツチング素子(たとえば16,17)のベース
に印加する。
The control circuit 15 in the solenoid valve drive circuit 14 is mainly composed of logic gates, and generates a drive signal having a predetermined timing and pulse width in accordance with commands given to each solenoid valve from the microprocessor 13. is applied to the base of a switching element (eg 16, 17) which drives a solenoid coil (eg 18, 19) which operates the corresponding solenoid valve.

スイツチング素子16,17はそれぞれのベー
スに駆動信号を印加されている一定の期間導通
(オン)状態となり、対応するソネレノイドコイ
ル18,19に駆動電流を流す。そして駆動信号
がなくなると、スイツチング素子は非導通(オ
フ)状態に戻り、ソレノイドコイルを流れる駆動
電流を遮断する。これらは比較的高速に行われ
る。
The switching elements 16 and 17 are in a conductive (on) state for a certain period of time when a drive signal is applied to their respective bases, and cause a drive current to flow through the corresponding solenoid coils 18 and 19. When the drive signal disappears, the switching element returns to a non-conducting (off) state, cutting off the drive current flowing through the solenoid coil. These are done relatively quickly.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のアンチスキツド装置では、電磁弁駆動回
路からソレノイドへの駆動電流供給ラインが断線
状態となつたり、スイツチング素子が破壊されて
短路あるいは切断状態となるなどの障害が発生し
た場合に対処する手段をもたず、安全性を低下さ
せるおそれがあつた。
Conventional anti-skid devices also have measures to deal with failures such as the drive current supply line from the solenoid valve drive circuit to the solenoid being disconnected, or the switching element being destroyed resulting in a short circuit or disconnection. However, there was a risk that safety would be reduced.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、電磁弁駆動回路の動作状態を各電磁
弁ごとにチエツクする診断回路を設けることによ
り、障害発生をシステム作動前に検出し、対応可
能にするものである。
The present invention provides a diagnostic circuit that checks the operating state of the electromagnetic valve drive circuit for each electromagnetic valve, thereby detecting the occurrence of a failure before the system is activated, and making it possible to take appropriate measures.

このための本発明の構成は、自動車等の乗物の
各車輪のブレーキ油圧を制御するための電磁弁を
駆動する電磁弁駆動回路14を有するアンチスキ
ツド装置において、 前記電磁弁駆動回路14は、各電磁弁内のソレ
ノイドコイル18,19に対する駆動電流をオ
ン、オフにするためのスイツチング素子16,1
7をオン、オフするための制御回路15と、電磁
弁駆動回路14の障害の有無を調べる診断回路2
0とをそなえ、 前記診断回路20は、通常の駆動信号よりもパ
ルス幅の短い一連のテスト信号を発生して前記制
御回路15に供給し、スイツチング素子16,1
7を動作させて、該ソレノイドコイル18,19
に対して、過渡特性から時間的に通常の動作レベ
ルには達しないような駆動電流を供給するととも
に、その結果の状態を検出し、検出された状態と
供給した一連のテスト信号との間に予め定められ
ている論理関係が成立するか否かを検出すること
により、障害の有無を判定することを特徴とす
る。
For this purpose, the structure of the present invention is an anti-skid device having a solenoid valve drive circuit 14 for driving a solenoid valve for controlling the brake oil pressure of each wheel of a vehicle such as an automobile. Switching elements 16 and 1 for turning on and off the drive current for the solenoid coils 18 and 19 in the valve
A control circuit 15 for turning on and off 7 and a diagnostic circuit 2 for checking whether there is a failure in the solenoid valve drive circuit 14.
0, the diagnostic circuit 20 generates a series of test signals having a shorter pulse width than a normal drive signal, supplies them to the control circuit 15, and controls the switching elements 16, 1.
7 to operate the solenoid coils 18, 19.
is supplied with a drive current that does not reach the normal operating level in time due to its transient characteristics, the resulting state is detected, and the relationship between the detected state and the supplied test signal is It is characterized in that the presence or absence of a failure is determined by detecting whether a predetermined logical relationship holds true.

第1図に、本発明の原理的構成を示す。 FIG. 1 shows the basic configuration of the present invention.

図において、14は電磁弁駆動回路、15は制
御回路、16はスイツチング素子Q1、17はス
イツチング素子Qo,18および19は電磁弁の
ソレノイドコイル、20は診断回路である。21
および22は分離(アイソレーシヨン)用ダイオ
ードであつて、図示の例ではトランジスタで構成
されているスイツチング素子16,17の動作レ
ベルを、コレクタ電位によりそれぞれ検出し、状
態信号として診断回路20に通知する。
In the figure, 14 is a solenoid valve driving circuit, 15 is a control circuit, 16 is a switching element Q 1 , 17 is a switching element Q o , 18 and 19 are solenoid coils of the solenoid valve, and 20 is a diagnostic circuit. 21
and 22 are isolation diodes, which detect the operating levels of the switching elements 16 and 17, which are transistors in the illustrated example, based on their collector potentials, and notify the diagnostic circuit 20 as a status signal. do.

診断回路20は、テスト信号を発生し、制御回
路15を介してスイツチング素子16,17を動
作させるとともに、その結果のスイツチング素子
の状態を、ダイオード21,22を介して状態信
号により検出し、テスト信号と比較することによ
り、正常/異常を判定する。
The diagnostic circuit 20 generates a test signal, operates the switching elements 16 and 17 via the control circuit 15, and detects the resulting state of the switching element using a status signal via diodes 21 and 22, and performs the test. Normality/abnormality is determined by comparing with the signal.

テスト信号は、通常の駆動信号よりもパルス幅
を短くされており、スイツチング素子16,17
をオン動作させることはできるが、ソレノイドコ
イル18,19を流れる駆動電流は、ソレノイド
コイルの過渡特性により、時間的に動作レベルに
まで達することができないようにする。
The test signal has a shorter pulse width than a normal drive signal, and the pulse width of the test signal is shorter than that of a normal drive signal.
However, the drive current flowing through the solenoid coils 18 and 19 cannot reach the operating level over time due to the transient characteristics of the solenoid coils.

〔作用〕[Effect]

第1図に示された構成において、電磁弁駆動回
路14の正常状態では、テスト信号がスイツチン
グ素子16,17をオンにする値をもつとき、ス
イツチング素子のコレクタ電位はぼぼ接地電位
(Lレベルとする)となり、またテスト信号がス
イツチング素子をオフにする値をもつとき、スイ
ツチング素子のコレクタ電位は電磁電位(Hレベ
ルとする)となる。
In the configuration shown in FIG. 1, in the normal state of the solenoid valve drive circuit 14, when the test signal has a value that turns on the switching elements 16 and 17, the collector potential of the switching element is almost at the ground potential (L level). ), and when the test signal has a value that turns off the switching element, the collector potential of the switching element becomes an electromagnetic potential (high level).

ダイオード21,22は、対応するスイツチン
グ素子16,17がオフ状態にあれば、診断回路
20にHレベルの状態信号を伝える。
The diodes 21 and 22 transmit an H level state signal to the diagnostic circuit 20 when the corresponding switching elements 16 and 17 are in the off state.

診断回路20は、各スイツチング素子に与えた
テスト信号の値に対して、各スイツチング素子が
正しく応答したか否かを結果の状態信号から判定
する。
The diagnostic circuit 20 determines whether each switching element correctly responded to the value of the test signal applied to each switching element from the resulting status signal.

次に、本発明に適用可能な診断論理の1例を説
明する。
Next, an example of diagnostic logic applicable to the present invention will be explained.

一般に電磁弁がn個あり、それぞれのソレノイ
ドコイルを駆動するスイツチング素子をQ1〜Qo
で表した場合、まずスイツチング素子のいずれか
に、オンになることができない切断(オープン)
障害が発生しているか否かを調べるため、全ての
スイツチング素子Q1〜Qoに、オン駆動するテス
ト信号を印加する。
Generally, there are n solenoid valves, and the switching elements that drive each solenoid coil are Q 1 to Q o
If expressed as
In order to check whether a fault has occurred, a test signal for turning on is applied to all switching elements Q 1 to Q o .

このとき、いずれか1つのスイツチング素子に
でも、切断状態が発生していれば、その障害は、
そのスイツチング素子のコレクタから取出される
状態信号がHレベルを示すことによつて検出され
る。すなわち、全ての状態信号がLレベルであれ
ば正常と判定する。
At this time, if any one switching element is disconnected, the fault is
It is detected when the state signal taken out from the collector of the switching element shows an H level. That is, if all the status signals are at L level, it is determined to be normal.

切断障害が発生していない場合には、次に、あ
る1つのスイツチング素子を除外し、他を全てオ
ン駆動し、その除外されたスイツチング素子の状
態信号がHレベルであれば正常、そしてLレベル
であれば、スイツチング素子の短絡あるいは駆動
電流供給ラインの切断による短絡障害が発生して
いるものと判定する。上記のオン駆動を除外する
スイツチング素子を順次取換えることにより、全
てのスイツチング素子について短絡障害の有無を
判定することができる。
If no disconnection failure has occurred, next, remove one switching element and turn on all the others.If the status signal of the excluded switching element is at H level, it is normal, and then at L level. If so, it is determined that a short circuit failure has occurred due to a short circuit in the switching element or a disconnection of the drive current supply line. By sequentially replacing the switching elements that exclude the above-mentioned on-drive, it is possible to determine whether or not there is a short-circuit fault in all of the switching elements.

第2図は、以上の診断論理をないしのスラ
ツプからなるフローで示したものである。
FIG. 2 shows the above diagnostic logic in a flow consisting of slaps.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、本発明の詳細を実施例にしたがつて説
明する。
The details of the present invention will be explained below with reference to Examples.

第3は、本発明の1実施例の構成図であり、第
1図に示されている原理的構成のうち、診断回路
20を具体化した例について内部構成を示してあ
る。したがつて、第1図の全体的構成は共通に用
いられ、その参照番号もそのまま緩用される。
The third is a configuration diagram of one embodiment of the present invention, and shows the internal configuration of an example embodying the diagnostic circuit 20 out of the basic configuration shown in FIG. Accordingly, the general structure of FIG. 1 will be commonly used, and its reference numerals will also be used loosely.

また、本実施例における診断論理は第2図のフ
ローに示されているものが適用されている。第3
図中に新たに示されている診断回路20内の構成
は、次の通りである。
Furthermore, the diagnostic logic in this embodiment is that shown in the flowchart of FIG. 2. Third
The configuration inside the diagnostic circuit 20 newly shown in the figure is as follows.

23はテスト信号発生回路であり、各電磁弁に
対する1連のテスト信号を発生する。
A test signal generating circuit 23 generates a series of test signals for each electromagnetic valve.

24はセレクタであり、通常の制御状態(制御
モードという)でマイクロプロセツサから供給さ
れる駆動回路と、診断状態(診断モードという)
でテスト信号発生回路23から供給されるテスト
信号とを、モード制御信号に基づいて切換え、制
御回路15へ出力する。
24 is a selector which selects between the drive circuit supplied from the microprocessor in the normal control state (referred to as control mode) and the drive circuit supplied from the microprocessor in the diagnostic state (referred to as diagnostic mode).
The test signal supplied from the test signal generation circuit 23 is switched based on the mode control signal and output to the control circuit 15.

25は判定回路であり、診断モード時に、スイ
ツチング素子16,17等に印加されるテスト信
号と、その応答結果を示す状態信号とに基づい
て、電磁弁駆動回路の機能の正常/異常を判定
し、異常と判定した場合には、マイクロプロセツ
サに割込みを行う。
25 is a determination circuit that determines whether the function of the solenoid valve drive circuit is normal or abnormal based on the test signal applied to the switching elements 16, 17, etc. and the status signal indicating the response result in the diagnosis mode. If it is determined that there is an abnormality, an interrupt is issued to the microprocessor.

25ないし33の各回路要素は、正常/異常の
判定論理をハード的に実現する論理素子であり、
26,27,28はAND回路、29はOR回路、
30,31はラツチ、32,33は反転回路を表
す。
Each of the circuit elements 25 to 33 is a logic element that implements normal/abnormal judgment logic in hardware,
26, 27, 28 are AND circuits, 29 is an OR circuit,
30 and 31 represent latches, and 32 and 33 represent inverting circuits.

次に動作を説明する。 Next, the operation will be explained.

テスト信号発生回路23は、制御対象の4つの
電磁弁の各々に1ビツトずつ対応づけた各A,
B,C,Dで表される4ビツトのテスト信号を発
生する。
The test signal generation circuit 23 has each A, one bit associated with each of the four solenoid valves to be controlled.
A 4-bit test signal represented by B, C, and D is generated.

テスト信号は、第2図の診断論理に基づく次の
ないしで示す5つのパターンで構成され、こ
の順で発生される。
The test signal consists of the following five patterns based on the diagnostic logic of FIG. 2, and is generated in this order.

パターン A B C D 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 なお、各ビツトの値“1”はスイツチング素子
をオンに駆動し、“0”はオフにするものとされ
る。
Pattern A B C D 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 The value of each bit “1” drives the switching element on, and “0” turns it off. be taken as a thing.

したがつて、のパターンでは、4つのスイツ
チング素子は全てオンにされ、ないしのパタ
ーンでは、順次の1つのスイツチング素子のみが
オフで、残りをオンに駆動される。
Thus, in the pattern, all four switching elements are turned on, and in the pattern, only one switching element in sequence is turned off, and the rest are driven on.

このようなテスト信号のパターンは、正常/異
常の判定論理と密接に結びついており、この例以
外にも種々のパターンが可能である。
Such a test signal pattern is closely connected to the logic for determining normality/abnormality, and various patterns other than this example are possible.

判定回路25は、テスト信号のパターンで各
スイツチング素子の切断障害の有無を判定し、パ
ターンないしで短絡障害の有無を判定する。
The determination circuit 25 determines the presence or absence of a disconnection fault in each switching element based on the test signal pattern, and determines the presence or absence of a short circuit fault based on the pattern.

AND回路26は、パターンの発生を検出し、
AND回路27に伝える。AND回路27は、パタ
ーンが発生されたときに状態信号がHレベルで
あると、OR回路29を介してラツチ30をオン
に設定し、切断障害の発生を割込みによりマイク
ロプロセツサに通知する。
AND circuit 26 detects the occurrence of a pattern,
It is transmitted to the AND circuit 27. If the status signal is at H level when the pattern is generated, the AND circuit 27 turns on the latch 30 via the OR circuit 29, and notifies the microprocessor of the occurrence of a disconnection failure by an interrupt.

パターンで、切断障害の発生が検出されなか
ったとき、(切断障害)、反転回路32は、ラツチ
31をオンに設定してその事実を記憶する。
When the pattern does not detect the occurrence of a disconnection fault (disconnection fault), the inverting circuit 32 sets the latch 31 on and remembers that fact.

次にパターンないしが順次発生されたと
き、AND回路28は、状態信号がLレベルのま
まであるかどうかを、反転回路33を介して検出
する。もし、状態信号がLレベルのままであれ
ば、短絡障害が存在しているものと判定し、OR
回路29を介してラツチ30をオン設定し、マイ
クロプロセツサに障害発生を通知する。
Next, when the patterns are sequentially generated, the AND circuit 28 detects via the inversion circuit 33 whether the state signal remains at the L level. If the status signal remains at L level, it is determined that a short circuit fault exists and the OR
The latch 30 is set on through the circuit 29 to notify the microprocessor of the occurrence of the fault.

なお、判定回路25の機能は、ソフト的手段に
より全く同様に実現できる。
Note that the function of the determination circuit 25 can be realized in exactly the same way by software means.

また、状態信号は、任意の電磁弁の系統別にあ
るいは適当な制御単位別に論理和をとることがで
き、診断の単位もそれに応じて任意に変更可能で
ある。
Furthermore, the status signals can be logically summed for each system of arbitrary electromagnetic valves or for each appropriate control unit, and the unit of diagnosis can also be changed arbitrarily accordingly.

尚、上記診断モードは電源投入直後、及び/又
は車輌が停止中であつて、他の適当な条件を満足
した時に有効化される。
The diagnostic mode is activated immediately after the power is turned on and/or when the vehicle is stopped and other appropriate conditions are satisfied.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、アンチスキツド装置の電磁弁
駆動回路や駆動電流供給ライン上の障害を、適確
に検出して運転者に警告することができ、また適
当なフエイルセーフ機構を設けて、障害発生時に
自動的に危険状態を回避する動作をとらせること
ができ、安全性と運転性能とを改善することがで
きる。
According to the present invention, it is possible to accurately detect a failure in the solenoid valve drive circuit or drive current supply line of the anti-skid device and warn the driver, and an appropriate fail-safe mechanism is provided to prevent failures in the event of failure. Actions can be taken automatically to avoid dangerous situations, and safety and driving performance can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の原理的構成図、第2図は本発
明における診断論理の1例のフロー図、第3図は
本発明の1実施例の構成図、第4図は一般のアン
チスキツド装置の概略構成図、第5図は電磁弁駆
動回路の従来例の構成図である。 第1図中、14:電磁弁駆動回路、15:制御
回路、16,17:スイツチング素子、18,1
9:電磁弁のソレノイドコイル、20:診断回
路。
FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of the present invention, FIG. 2 is a flow diagram of an example of diagnostic logic in the present invention, FIG. 3 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a general anti-skid device. FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a conventional example of a solenoid valve drive circuit. In Fig. 1, 14: Solenoid valve drive circuit, 15: Control circuit, 16, 17: Switching element, 18, 1
9: Solenoid coil of electromagnetic valve, 20: Diagnostic circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 自動車等の乗物の各車輪のブレーキ油圧を制
御するための電磁弁を駆動する電磁弁駆動回路1
4を有するアンチスキツド装置において、 前記電磁弁駆動回路14は、各電磁弁内のソレ
ノイドコイル18,19に対する駆動電流をオ
ン、オフするためのスイツチング素子16,17
をオン、オフするための制御回路15と、電磁弁
駆動回路14の障害の有無を調べる診断回路20
とをそなえ、 前記診断回路20は、通常の駆動信号よりもパ
ルス幅の短い一連のテスト信号を発生して前記制
御回路15に供給し、スイツチング素子16,1
7を動作させて、該ソレノイドコイル18,19
に対して、過渡特性から時間的に通常の動作レベ
ルルには達しないような駆動電流を供給するとと
もに、その結果の状態を検出し、検出された状態
と供給した一連のテスト信号との間に予め定めら
れている論理関係が成立するか否かを検出するこ
とにより、障害の有無を判定することを特徴とす
るアンチスキッド装置の電磁弁駆動回路診断方
式。
[Claims] 1. Solenoid valve drive circuit 1 that drives a solenoid valve for controlling brake oil pressure of each wheel of a vehicle such as an automobile.
4, the solenoid valve drive circuit 14 includes switching elements 16 and 17 for turning on and off the drive current to the solenoid coils 18 and 19 in each solenoid valve.
a control circuit 15 for turning on and off the solenoid valve drive circuit 14, and a diagnostic circuit 20 for checking whether or not there is a failure in the solenoid valve drive circuit 14.
The diagnostic circuit 20 generates a series of test signals having a shorter pulse width than a normal drive signal and supplies them to the control circuit 15 to control the switching elements 16 and 1.
7 to operate the solenoid coils 18, 19.
is supplied with a drive current that does not reach the normal operating level in time due to its transient characteristics, the resulting state is detected, and the relationship between the detected state and the supplied test signal is A method for diagnosing a solenoid valve drive circuit for an anti-skid device, characterized in that the presence or absence of a failure is determined by detecting whether a predetermined logical relationship holds true.
JP61013259A 1986-01-24 1986-01-24 Diagnostic system for electromagnetic valve drive circuit of antiskid device Granted JPS62173366A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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