JPH0467860B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0467860B2 JPH0467860B2 JP62288734A JP28873487A JPH0467860B2 JP H0467860 B2 JPH0467860 B2 JP H0467860B2 JP 62288734 A JP62288734 A JP 62288734A JP 28873487 A JP28873487 A JP 28873487A JP H0467860 B2 JPH0467860 B2 JP H0467860B2
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- JP
- Japan
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- excitation pulse
- magnetic field
- magnetic resonance
- slice
- selective excitation
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 32
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、磁気共鳴（MR：magnetic
resonance）現象を利用して被検者のスライス像
等の医用診断に供することができる診断情報を得
る磁気共鳴診断装置に関し、特にスキヤン時間の
短縮を実現しつつ最適なスライス特性を得るよう
にした磁気共鳴診断装置に関する。
resonance）現象を利用して被検者のスライス像
等の医用診断に供することができる診断情報を得
る磁気共鳴診断装置に関し、特にスキヤン時間の
短縮を実現しつつ最適なスライス特性を得るよう
にした磁気共鳴診断装置に関する。
（従来の技術）
磁気共鳴現象は、静磁場中に置かれた零でない
スピン及び磁気モーメントを持つ原子核が特定の
周波数の電磁波のみを共鳴的に吸収・放出する現
象であり、γを原子核の種類に固有の磁気回転
比、また、H0を静磁場強度とすると、この原子
核は下記式に示す角周波数ω0で共鳴する。
スピン及び磁気モーメントを持つ原子核が特定の
周波数の電磁波のみを共鳴的に吸収・放出する現
象であり、γを原子核の種類に固有の磁気回転
比、また、H0を静磁場強度とすると、この原子
核は下記式に示す角周波数ω0で共鳴する。
ω0＝γH0
以上の原理を利用して生体診断を行う方法は、
上述の共鳴吸収の後に誘起される上記と同じ周波
数の電磁波を信号処理して例えば被検体の断層像
等を得るようにしている。
上述の共鳴吸収の後に誘起される上記と同じ周波
数の電磁波を信号処理して例えば被検体の断層像
等を得るようにしている。
この場合、磁気共鳴による診断情報の収集は、
静磁場中に配置した被検体の全部位を励起し且つ
信号収集することができるものであるが、装置構
成上の制約やイメージング像の臨床上の要請か
ら、実際は特定のスライス面に対する励起とその
信号収集を行うようにしている。
静磁場中に配置した被検体の全部位を励起し且つ
信号収集することができるものであるが、装置構
成上の制約やイメージング像の臨床上の要請か
ら、実際は特定のスライス面に対する励起とその
信号収集を行うようにしている。
ここで、イメージング法として望まれる条件
は、スキヤン時間の短縮化を実現するために同一
の傾斜磁場強度にてTE（エコー時間）が短いこ
と、さらに、例えば、ギヤツプレスマルチスライ
スイメージングを実現するためには矩形波状スラ
イス特性を有すること、である。一般に選択励起
パルス波（SEP波）としては、±4πのSinc関数や
±2πのSinc関数等が用いられる。
は、スキヤン時間の短縮化を実現するために同一
の傾斜磁場強度にてTE（エコー時間）が短いこ
と、さらに、例えば、ギヤツプレスマルチスライ
スイメージングを実現するためには矩形波状スラ
イス特性を有すること、である。一般に選択励起
パルス波（SEP波）としては、±4πのSinc関数や
±2πのSinc関数等が用いられる。
（発明が解決しようとする問題点）
上述において、±4πのSinc関数を用いた選択励
起パルス波によれば、矩形波状に近い波形となる
のでスライス特性は良く高画質のギヤプレスマル
チスライスを行うことができるが、同一の傾斜磁
場強度にてTEが長くなり、問題がある。一方、±
2πのSinc関数を用いた選択励起パルス波を用い
れば、同一の傾斜磁場強度にて短いTE（エコー時
間）が実現されるが、スライス特性は良くなく、
ギヤプレスマルチスライスを行うことができな
い、という問題点があつた。
起パルス波によれば、矩形波状に近い波形となる
のでスライス特性は良く高画質のギヤプレスマル
チスライスを行うことができるが、同一の傾斜磁
場強度にてTEが長くなり、問題がある。一方、±
2πのSinc関数を用いた選択励起パルス波を用い
れば、同一の傾斜磁場強度にて短いTE（エコー時
間）が実現されるが、スライス特性は良くなく、
ギヤプレスマルチスライスを行うことができな
い、という問題点があつた。
そこで本発明の目的は、スライス特性の向上と
スキヤン時間の短縮化を実現し得る磁気共鳴診断
装置を提供することにある。
スキヤン時間の短縮化を実現し得る磁気共鳴診断
装置を提供することにある。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明は上記問題点を解決し且つ目的を達成す
るために次のような手段を講じたことを特徴とし
ている。すなわち、本発明は、静磁場中に置いた
被検者に対して選択励起パルス波と共に傾斜磁場
を印加して前記被検者の特定スライス面の部位に
磁気共鳴による励起を生じせしめ該部位から誘起
した磁気共鳴信号を収集して診断情報を得るよう
にした磁気共鳴診断装置において、±2πのSinc関
数で表わされ且つ当該関数の振幅及び周波数を規
定するパラメータでその波形特性が決定される選
択励起パルス波を保持する保持手段と、この保持
手段の選択励起パルス波を用いてスライス特性測
定用シーケンスを実行する手段と、この手段の実
行により得たスライス特性の実測値と予め定めら
れた理想値との誤差を算出する手段と、この手段
によつて求めた誤差値が最小値となるように前記
選択励起パルス波の振幅及び周波数を決定するパ
ラメータを変更する手段と、この手段によつて得
た変更パラメータによつて選択励起パルスを算出
し前記保持手段に保持する手段とを備え、前記各
手段による一連の処理を少なくとも１回行う構成
としたことを特徴とする。
るために次のような手段を講じたことを特徴とし
ている。すなわち、本発明は、静磁場中に置いた
被検者に対して選択励起パルス波と共に傾斜磁場
を印加して前記被検者の特定スライス面の部位に
磁気共鳴による励起を生じせしめ該部位から誘起
した磁気共鳴信号を収集して診断情報を得るよう
にした磁気共鳴診断装置において、±2πのSinc関
数で表わされ且つ当該関数の振幅及び周波数を規
定するパラメータでその波形特性が決定される選
択励起パルス波を保持する保持手段と、この保持
手段の選択励起パルス波を用いてスライス特性測
定用シーケンスを実行する手段と、この手段の実
行により得たスライス特性の実測値と予め定めら
れた理想値との誤差を算出する手段と、この手段
によつて求めた誤差値が最小値となるように前記
選択励起パルス波の振幅及び周波数を決定するパ
ラメータを変更する手段と、この手段によつて得
た変更パラメータによつて選択励起パルスを算出
し前記保持手段に保持する手段とを備え、前記各
手段による一連の処理を少なくとも１回行う構成
としたことを特徴とする。
（作用）
このような構成によれば、±2πのSinc関数を変
形することで選択励起パルス波を理想的な波形
（矩形波）とすることができるようになり、この
選択励起パルス波を用いて画像収集シーケンスを
実行することにより、短時間TEによるスキヤン
時間の短縮化を実現しつつ高画質のギヤツプレス
マルチスライス像を得ることができるようにな
る。
形することで選択励起パルス波を理想的な波形
（矩形波）とすることができるようになり、この
選択励起パルス波を用いて画像収集シーケンスを
実行することにより、短時間TEによるスキヤン
時間の短縮化を実現しつつ高画質のギヤツプレス
マルチスライス像を得ることができるようにな
る。
（実施例）
以下本発明にかかる磁気共鳴診断装置の一実施
例を図面に参照して説明する。
例を図面に参照して説明する。
第１図は本実施例の磁気共鳴診断装置の構成を
示している。第１図に示すように、被検者Ｐをそ
の内部に収容するマグネツトアセンブリMAは、
被検者Ｐに対して作用させる高強度静磁場を発生
する例えば超電導方式又は常電導方式の静磁場コ
イル１と、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向に沿う傾斜磁場を発
生する３つの傾斜磁場コイル２と、励起と信号収
集を行うための例えば送信と受信とを兼用した送
受信コイル３とを備えている。
示している。第１図に示すように、被検者Ｐをそ
の内部に収容するマグネツトアセンブリMAは、
被検者Ｐに対して作用させる高強度静磁場を発生
する例えば超電導方式又は常電導方式の静磁場コ
イル１と、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向に沿う傾斜磁場を発
生する３つの傾斜磁場コイル２と、励起と信号収
集を行うための例えば送信と受信とを兼用した送
受信コイル３とを備えている。
また、静磁場コイル１の励磁制御や冷媒供給制
御を行う静磁場制御系４を有している。Ｘ、Ｙ、
Ｚ軸傾斜磁場コイル２はＸ、Ｙ、Ｚ軸傾斜磁場電
源５，６，７により励磁制御されるようになつて
いる。送受信コイル３はその送信（励起）に際し
ては送信器８により駆動され、受信（信号収集）
に際しては受信器９により駆動されるようになつ
ている。
御を行う静磁場制御系４を有している。Ｘ、Ｙ、
Ｚ軸傾斜磁場コイル２はＸ、Ｙ、Ｚ軸傾斜磁場電
源５，６，７により励磁制御されるようになつて
いる。送受信コイル３はその送信（励起）に際し
ては送信器８により駆動され、受信（信号収集）
に際しては受信器９により駆動されるようになつ
ている。
また、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸傾斜磁場電源５，６，７や
送信器８、受信器９による傾斜磁場及び送受信信
号の発生シーケンスを制御するシーケンサ１０
と、このシーケンサ１０及び寝台等の付属機器を
含む全システムを統括制御及び信号処理するコン
ピユータシステム１１、生成像を表示する表示系
１２とを備えている。
送信器８、受信器９による傾斜磁場及び送受信信
号の発生シーケンスを制御するシーケンサ１０
と、このシーケンサ１０及び寝台等の付属機器を
含む全システムを統括制御及び信号処理するコン
ピユータシステム１１、生成像を表示する表示系
１２とを備えている。
また、±2πのSinc関数を変形することで理想的
な矩形波に近付けて理想的な選択励起パルス波を
算出する最適SEP算出部１３を備えている。この
最適SEP算出部１３は選択励起パルス波を保持し
ておき、この保持した選択励起パルス波を用いて
スライス特性測定用シーケンスを実行し、この実
行により得たスライス特性の実測値と予め定めら
れた理想値との誤差を算出し、これによつて求め
た誤差値が最小値となるように前記選択励起パル
スを決定するパラメータを変更し、これにより得
た変更パラメータによつて新たな選択励起パルス
を求め、この一連の処理を少なくとも１回を行う
ことにより、理想的な矩形波とするものである。
な矩形波に近付けて理想的な選択励起パルス波を
算出する最適SEP算出部１３を備えている。この
最適SEP算出部１３は選択励起パルス波を保持し
ておき、この保持した選択励起パルス波を用いて
スライス特性測定用シーケンスを実行し、この実
行により得たスライス特性の実測値と予め定めら
れた理想値との誤差を算出し、これによつて求め
た誤差値が最小値となるように前記選択励起パル
スを決定するパラメータを変更し、これにより得
た変更パラメータによつて新たな選択励起パルス
を求め、この一連の処理を少なくとも１回を行う
ことにより、理想的な矩形波とするものである。
以下、この最適SEP算出部１３を第２図を参照
して詳細に説明する。すなわち、最適SEP波算出
部１３は図示しないRAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）を有しており、このRAM内には図
示しない波形発生器により発生した選択励起パル
ス波が格納されている（ステツプS1）。
して詳細に説明する。すなわち、最適SEP波算出
部１３は図示しないRAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）を有しており、このRAM内には図
示しない波形発生器により発生した選択励起パル
ス波が格納されている（ステツプS1）。
ステツプS2では、RAMから選択励起パルス波
を取出して90゜SEP波、180゜SEP波を得、これと
共にスライス用傾斜磁場、エンコード用傾斜磁
場、リード用傾斜磁場を同一方向（図示ではＺ軸
方向）に印加するべくこれらを組合わせて図示右
に示すスライス特性測定用シーケンスを生成し、
第１図のシーケンス１０に与える。
を取出して90゜SEP波、180゜SEP波を得、これと
共にスライス用傾斜磁場、エンコード用傾斜磁
場、リード用傾斜磁場を同一方向（図示ではＺ軸
方向）に印加するべくこれらを組合わせて図示右
に示すスライス特性測定用シーケンスを生成し、
第１図のシーケンス１０に与える。
ステツプS3としてシーケンサ１０はスライス
特性測定用シーケンスを実行し、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸傾
斜磁場コイル２によりスライス用傾斜磁場、エン
コード用傾斜磁場、リード用傾斜磁場を共にＺ軸
方向に発生し、さらに送受信コイル３により
90゜SEP波、180゜SEP波を発生し、被検者Ｐの特
定部位に磁気共鳴現象を生じせしめ、これによつ
て生じる磁気共鳴信号を同送受信コイル３により
収集して受信器９を介してコンピユータシステム
１１に取込んで１次元フーリエ変換処理を行つて
実測値を得、表示系１２にて表示を行う。ここ
で、ステツプS4として第２図の図示右に示すよ
うにステツプS3によるスライス特性実測値と矩
形波を用いた場合のスライス特性理想値との誤差
Ｅを、０〜10％の立上り、10〜90％の立上り、90
〜100％の立上りの３種類に別けて計算を行なう。
特性測定用シーケンスを実行し、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸傾
斜磁場コイル２によりスライス用傾斜磁場、エン
コード用傾斜磁場、リード用傾斜磁場を共にＺ軸
方向に発生し、さらに送受信コイル３により
90゜SEP波、180゜SEP波を発生し、被検者Ｐの特
定部位に磁気共鳴現象を生じせしめ、これによつ
て生じる磁気共鳴信号を同送受信コイル３により
収集して受信器９を介してコンピユータシステム
１１に取込んで１次元フーリエ変換処理を行つて
実測値を得、表示系１２にて表示を行う。ここ
で、ステツプS4として第２図の図示右に示すよ
うにステツプS3によるスライス特性実測値と矩
形波を用いた場合のスライス特性理想値との誤差
Ｅを、０〜10％の立上り、10〜90％の立上り、90
〜100％の立上りの３種類に別けて計算を行なう。
次にステツプS5として、誤差Ｅが最小となる
ように選択励起パルス（±2πのSinc関数を変形
したもの）を決定するパラメータを変更する。こ
こで、選択励起パルスは次の式で表わされてい
る。
ように選択励起パルス（±2πのSinc関数を変形
したもの）を決定するパラメータを変更する。こ
こで、選択励起パルスは次の式で表わされてい
る。
ｆ（ｔ）＝sin ｔ＋al cos ｔ＋a2 sin 2t＋a3 cos
2t＋a4 sin 3t＋a5 cos 3t／ｔ そして、誤差Ｅが最小となるパラメータを変更
するための一手法は次の通りである。
2t＋a4 sin 3t＋a5 cos 3t／ｔ そして、誤差Ｅが最小となるパラメータを変更
するための一手法は次の通りである。
初期値a1＝a2＝a3＝a4＝a5＝０
初期値刻みΔa1＝Δa2＝Δa3＝Δa4＝Δa5
ai←ai＋Δaiで誤差Ｅが減少したらΔai←2Δai
Δai←ai＋Δaiで誤差Ｅが増加したらΔai←−１／
2Δai ステツプS6として上述の手法によりパラメー
タを求めて、新規のSEP波を算出してステツプ
S1に戻り、RAM内に新規SEP波を格納する。
2Δai ステツプS6として上述の手法によりパラメー
タを求めて、新規のSEP波を算出してステツプ
S1に戻り、RAM内に新規SEP波を格納する。
以上のステツプS1〜S6の一連の計算を少なく
とも１回行つて、理想的な選択励起パルス波とし
て、最適SEP波算出部１３内のRAMに格納す
る。
とも１回行つて、理想的な選択励起パルス波とし
て、最適SEP波算出部１３内のRAMに格納す
る。
上述の最適SEP波を用いて通常の単一スライス
像撮影シーケンス、マルチスライス像撮影シーケ
ンス、ギヤツプレスマルチスライス像撮影シーケ
ンス等の種々の画像シーケンスを実行することが
でき、これにより被検者Ｐの各種スライス像を
得、表示系１２にて表示を行うことができるよう
になる。
像撮影シーケンス、マルチスライス像撮影シーケ
ンス、ギヤツプレスマルチスライス像撮影シーケ
ンス等の種々の画像シーケンスを実行することが
でき、これにより被検者Ｐの各種スライス像を
得、表示系１２にて表示を行うことができるよう
になる。
以上のように本実施例によれば、SEP波を最適
化することができ、短時間TEによるスキヤン時
間の短縮化を実現することができると共に高画質
のギヤツプレスマルチスライス像を得ることがで
きるようになる。また、マルチエコー法の撮影シ
ーケンスでは、第３、第４エコー像の高画質化を
実現することができるようになる。
化することができ、短時間TEによるスキヤン時
間の短縮化を実現することができると共に高画質
のギヤツプレスマルチスライス像を得ることがで
きるようになる。また、マルチエコー法の撮影シ
ーケンスでは、第３、第４エコー像の高画質化を
実現することができるようになる。
［発明の構成］
以上のように本発明によれば、±2πのSinc関数
を変形した理想的な選択励起パルス波を使用する
ことでスライス特性を理想的な波形（矩形波）と
することができるようになり、この選択励起パル
ス波を用いて画像収集シケーンスを実行すること
により、短時間TEによるスキヤン時間の短縮化
を実現しつつ高画質のギヤツプレスマルチスライ
ス像を得ることができ、よつて、スライス特性の
向上とスキヤン時間の短縮化を実現し得る磁気共
鳴診断装置を提供することができる。
を変形した理想的な選択励起パルス波を使用する
ことでスライス特性を理想的な波形（矩形波）と
することができるようになり、この選択励起パル
ス波を用いて画像収集シケーンスを実行すること
により、短時間TEによるスキヤン時間の短縮化
を実現しつつ高画質のギヤツプレスマルチスライ
ス像を得ることができ、よつて、スライス特性の
向上とスキヤン時間の短縮化を実現し得る磁気共
鳴診断装置を提供することができる。
第１図は本発明にかかる磁気共鳴診断装置の一
実施例の構成を示す図、第２図は同実施例の最適
SEP波算出部の詳細な動作を示す流れ図である。 MA……マグネツトアセンブリ、１……静磁場
磁石、２……傾斜磁場コイル、３……送受信コイ
ル、４……静磁場制御系、５……Ｘ軸傾斜磁場電
源、６……Ｙ軸傾斜磁場電源、７……Ｚ軸傾斜磁
場電源、８……送信器、９……受信器、１０……
シーケンサ、１１……コンピユータシステム、１
２……表示系、１３……最適SEP波算出部。
実施例の構成を示す図、第２図は同実施例の最適
SEP波算出部の詳細な動作を示す流れ図である。 MA……マグネツトアセンブリ、１……静磁場
磁石、２……傾斜磁場コイル、３……送受信コイ
ル、４……静磁場制御系、５……Ｘ軸傾斜磁場電
源、６……Ｙ軸傾斜磁場電源、７……Ｚ軸傾斜磁
場電源、８……送信器、９……受信器、１０……
シーケンサ、１１……コンピユータシステム、１
２……表示系、１３……最適SEP波算出部。
Claims (1)
- １ 静磁場中に置いた被検者に対して選択励起パ
ルス波と共に傾斜磁場を印加して前記被検者の特
定スライス面の部位に磁気共鳴による励起を生じ
せしめ該部位から誘起した磁気共鳴信号を収集し
て診断情報を得るようにした磁気共鳴診断装置に
おいて、±2πのSinc関数で表わされ且つ当該関数
の振幅及び周波数を規定するパラメータでその波
形特性が決定される選択励起パルス波を保持する
保持手段と、この保持手段の選択励起パルス波を
用いてスライス特性測定用シーケンスを実行する
手段と、この手段の実行により得たスライス特性
の実測値と予め定められた理想値との誤差を算出
する手段と、この手段によつて求めた誤差値が最
小値となるように前記選択励起パルス波の振幅及
び周波数を決定するパラメータを変更する手段
と、この手段によつて得た変更パラメータによつ
て選択励起パルスを算出し前記保持手段に保持す
る手段とを備え、前記各手段による一連の処理を
少なくとも１回行う構成としたことを特徴とする
磁気共鳴診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62288734A JPH01129841A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 磁気共鳴診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62288734A JPH01129841A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 磁気共鳴診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01129841A JPH01129841A (ja) | 1989-05-23 |
| JPH0467860B2 true JPH0467860B2 (ja) | 1992-10-29 |
Family
ID=17733997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62288734A Granted JPH01129841A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 磁気共鳴診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01129841A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9028469B2 (en) | 2005-09-28 | 2015-05-12 | Candela Corporation | Method of treating cellulite |
| US9486285B2 (en) | 2006-06-14 | 2016-11-08 | Candela Corporation | Treatment of skin by spatial modulation of thermal heating |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5184049B2 (ja) * | 2007-10-30 | 2013-04-17 | 株式会社日立製作所 | 磁気共鳴検査装置及び高周波パルス波形算出方法 |
| EP2484280A4 (en) * | 2009-09-29 | 2013-06-26 | Hitachi Medical Corp | MAGNETIC RESONANCE APPARATUS AND METHOD FOR ADJUSTING AN EXCESSIVE AREA |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP62288734A patent/JPH01129841A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9028469B2 (en) | 2005-09-28 | 2015-05-12 | Candela Corporation | Method of treating cellulite |
| US9486285B2 (en) | 2006-06-14 | 2016-11-08 | Candela Corporation | Treatment of skin by spatial modulation of thermal heating |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01129841A (ja) | 1989-05-23 |
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