JPH0469530B2 - - Google Patents
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- JPH0469530B2 JPH0469530B2 JP4076687A JP4076687A JPH0469530B2 JP H0469530 B2 JPH0469530 B2 JP H0469530B2 JP 4076687 A JP4076687 A JP 4076687A JP 4076687 A JP4076687 A JP 4076687A JP H0469530 B2 JPH0469530 B2 JP H0469530B2
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- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 36
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000002173 cutting fluid Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
<利用分野>
この発明は半導体装置製造の素材であるシリコ
ン等のインゴツトを回転ブレードで区分切断する
場合、もしくはインゴツトから半導体ウエハをス
ライスするときに利用される回転ブレードによる
インゴツトの切断装置に関するものである。[Detailed Description of the Invention] <Field of Application> This invention is applicable to cutting ingots of silicon or the like, which are raw materials for manufacturing semiconductor devices, into sections using a rotating blade, or when slicing semiconductor wafers from ingots. This invention relates to an ingot cutting device.
<従来技術>
半導体装置に使用されるシリコン等のインゴツ
トは材質が脆いので、一方側を把持もしくは押さ
えつけてブレードで切断すれば、その切断の最終
域において切り出し側である切断片の重量、切断
ブレードへの付着等々により切れ残り部での応力
負荷が大きくなつて、ブレードによる切断が完了
する前にいわゆる割れの状態を呈して欠けること
により切り離される現象が生じやすい。<Prior art> Silicon and other ingots used in semiconductor devices are made of brittle material, so if one side is held or pressed and cut with a blade, the weight of the cut piece on the cutting side and the cutting blade will be reduced in the final area of cutting. The stress load on the uncut portion increases due to adhesion to the blade, etc., and it is likely that the blade will break off due to a so-called cracking state and chipping before the cutting by the blade is completed.
例えば、シリコン単結晶はその引き上げ製造の
過程で成長界面を境にして部位により組織、物性
等が異なつてくるので、得ようとする半導体に対
しその最適部位を使用するにはサンプル切断、区
分切断等を行なう必要がある。しかしてインゴツ
トはコストが高いので、切断ロスは小さい方がよ
いこと自明であるが、この区分切断時等に前記の
如き欠けが生じやすく、この欠けによりその後の
ウエハスライスでは当該欠け深さだけ切り捨てる
ことになり非常に不経済となる。 For example, in the process of pulling and manufacturing silicon single crystals, the structure, physical properties, etc. differ depending on the region at the growth interface, so in order to use the optimal region for the semiconductor to be obtained, sample cutting or section cutting is required. It is necessary to do the following. However, since ingots are expensive, it is obvious that the smaller the cutting loss, the better; however, chips as described above are likely to occur when cutting into sections, and due to these chips, the subsequent wafer slices are cut by the depth of the chip. This would be extremely uneconomical.
また、インゴツトからウエハをスライスして得
る場合には、スライス厚が一般に数百ミクロンで
あることから、その切り離し最終域において切削
液による表面張力、ウエハ重量、ウエハ回収装置
による回収時作用等の影響により前記の如き欠け
が生じやすく、従つて一枚のウエハから得られる
半導体素子数が最も多くなる外周部の欠損により
その生産性を著しく低下せしめることがあつた。 In addition, when wafers are obtained by slicing them from ingots, the slice thickness is generally several hundred microns, so in the final region of slicing, the surface tension of the cutting fluid, the weight of the wafer, the effect of the wafer recovery device during recovery, etc. As a result, the above-mentioned chipping is likely to occur, and therefore, the productivity is significantly reduced due to the chipping at the outer periphery where the largest number of semiconductor elements can be obtained from a single wafer.
従つて、この不具合を可及的に防ぎ、生産性、
歩留りを向上させるために一般に次のような手段
が講じられている。 Therefore, we aim to prevent this problem as much as possible and improve productivity.
The following measures are generally taken to improve yield.
即ち、その一はスライスベースの添設である。
インゴツトの側面の一部にその長手方向にわたつ
てカーボンなどからなる捨て材(以下、スライス
ベースという)を接着等により添設し、切断はこ
のスライスベースと対向する側から行ない、スラ
イスベースを最後に切断するようにしているので
ある(例えば特開昭61−65749号参照)。 That is, one of them is slice-based attachment.
A waste material made of carbon or the like (hereinafter referred to as the slice base) is attached to a part of the side surface of the ingot in the longitudinal direction by gluing or the like, and cutting is performed from the side facing the slice base, and the slice base is cut at the end. (For example, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-65749).
これによれば、インゴツト、ウエハの損失とい
う不具合は一応解消されるものの、スライスベー
スの予めの準備、添設、また切断後のウエハから
の除去、等々の作業が必要であり、またブレード
の刃先に対し、悪影響を与えない材質を選択する
必要がある。 According to this method, the problem of loss of ingots and wafers is temporarily resolved, but it requires work such as preparing the slice base in advance, attaching it, and removing it from the wafer after cutting. Therefore, it is necessary to select materials that do not have any negative effects.
従つて、スライスベースの添設は、インゴツ
ト、ウエハの損失を防ぐ点において利するところ
も存するが、最終的には廃棄されるスライスベー
スの存在はその点において改良が望まれているも
のであつた。 Therefore, although the attachment of slice bases has some advantages in preventing loss of ingots and wafers, the presence of slice bases that are ultimately discarded is something that needs improvement in this respect. Ta.
次に前記手段の二としては、ブレードの回転の
ほか特にウエハスライスに関してインゴツトの回
転がある(例えば特開昭58−147312号参照)。イ
ンゴツトを回転させるとその周囲から中心に向か
つて切断していくのであるから、生産性のよい外
周部での損失はなく、またスライスベースを必要
としないなど、その点において有利なものである
が、装置の性能面からは一層の高精度、高機能が
求められることになる。 Next, as the second means, in addition to the rotation of the blade, there is also rotation of the ingot, especially regarding wafer slicing (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 147312/1983). When the ingot is rotated, it is cut from the periphery toward the center, so there is no loss at the outer periphery, where productivity is high, and there is no need for a slicing base, which is an advantage. In terms of device performance, even higher precision and functionality will be required.
即ち、スライスしたウエハを回収する場合に、
前述のスライスベースを添設した場合は該ベース
切断の段階でウエハを把持もしくはバキユームチ
ヤツクで吸着保持すればよいが、インゴツト回転
の場合には少なくとも切断完了直前にはウエハを
把持もしくは吸着する必要があり、そうするとそ
の吸着等によるウエハの振れ、ねじれ等で中心部
分に欠けを生ずることがあり、これらを解決する
為に例えば把持もしくは吸着機構の同期及び同心
回転並びにウエハへの巧みな当接等をはかるよう
にすることが必要であるが、特に初回切断の場合
のようにインゴツト端面の平坦度、械転軸心に対
する直角度等の形状不具合があるときにはチヤツ
ク側(面)との同心的回転が困難であり、この点
からも装置全体として精度、機能の実現、維持に
困難を伴なうものであつた。又、このインゴツト
回転の場合には、ウエハ中心部が欠けない状態に
おいてはいわゆる“へそ”としての突起部が生じ
やすく、この場合にはその除去の為の後処理加工
が煩雑なものであつた。 That is, when recovering sliced wafers,
When the above-mentioned slicing base is attached, the wafer may be gripped or held by suction with a vacuum chuck at the stage of cutting the base, but in the case of ingot rotation, the wafer must be gripped or suctioned at least immediately before the cutting is completed. If this happens, the wafer may shake or twist due to the suction, etc., resulting in a chip in the center.To solve these problems, for example, synchronization and concentric rotation of the gripping or suction mechanism, and skillful contact with the wafer. It is necessary to measure the concentricity with the chuck side (face), especially when there is a shape defect such as the flatness of the ingot end face or the perpendicularity to the machine rotation axis, as in the case of the first cutting. It is difficult to rotate, and from this point of view, it is difficult to realize and maintain accuracy and functionality of the device as a whole. In addition, in the case of this ingot rotation, a so-called "belly button" protrusion is likely to occur unless the center of the wafer is chipped, and in this case, post-processing to remove it is complicated. .
<本発明の目的>
以上の如き従来の問題点に鑑して本発明が提供
されたもので、インゴツト切断に際し、インゴツ
トの基体部のほか切り出し側をその切断開始前に
予め不動に把持し、これによりインゴツトの切断
最終域で切断部が揺動し欠落分断するのを防い
て、即ち欠けの発前を防止することでスライスベ
ースを不要とし、もつて経済性、品質性を向上せ
しめることを目的とするものである。<Objective of the present invention> The present invention has been provided in view of the above-mentioned conventional problems.When cutting an ingot, in addition to the base portion of the ingot, the cutting side is held immovably in advance before the start of cutting. This prevents the cutting part from swinging and breaking in the final cutting area of the ingot, which prevents chipping from occurring, thereby eliminating the need for a slicing base and improving economical efficiency and quality. This is the purpose.
<実施例>
以下、本発明の好適な実施例を図面に基づき説
明する。<Example> Hereinafter, preferred examples of the present invention will be described based on the drawings.
第1図はインゴツトを区分切断する場合の本発
明の模式的構成図であり、インゴツト切断装置本
体のスライド可能なワークテーブル1上にスペー
サ2を介してワーク材であるインゴツトWが載設
され、該インゴツトはこの本体部(基体部)を適
宜のクランパ3で不動に固定されている。図例の
クランパはインゴツトWを締め付け固定する形式
を示しているが、インゴツトの一端側を把持、挟
持する形式など既知の手段が利用できる。4は図
示しない円筒型スピンドルに張設された内周刃式
ブレードであり、ドーナツ状薄円板の内周縁にダ
イヤモンド砥粒等からなる切断刃が形成されてい
る公知のものである。前記円筒型スピンドルは内
周刃式ブレードを備えたスライシング装置等で知
られているものである。また、図例のブレード4
は断面上半部を略示しており、実際にはドーナツ
形であるから断面図的には適宜間隔でテーブル1
の下方に上記上半部と対称的にブレード下半部が
存在することになる。 FIG. 1 is a schematic diagram of the present invention for cutting ingots into sections, in which an ingot W, which is a work material, is placed on a slidable work table 1 of an ingot cutting device main body via a spacer 2. The main body (base part) of the ingot is immovably fixed by a suitable clamper 3. Although the clamper shown in the figure is of a type that clamps and fixes the ingot W, other known means such as a type of clamper that grips or clamps one end of the ingot can be used. Reference numeral 4 designates an inner peripheral blade type blade which is stretched over a cylindrical spindle (not shown), and is a known blade having a cutting blade made of diamond abrasive grains or the like formed on the inner peripheral edge of a donut-shaped thin disk. The cylindrical spindle is known from slicing devices equipped with internal blades. Also, blade 4 in the example
1 schematically shows the upper half of the cross section, and since it is actually doughnut-shaped, the cross-sectional view is shown at appropriate intervals in Table 1.
Below the blade, there is a lower half of the blade, symmetrical to the upper half.
10は本案に係るインゴツトの切り出し側とな
る切断端部を把持するバキユームホルダ装置であ
り、装置本体11は外形を円筒形となし、その先
端側開口周縁にゴム質等比較的柔軟なリツプ11
aが一体的に設けられている。この本体11の上
記開口寸法は、後述するようにインゴツトWの吸
着把持する部分の寸法に対応させるものであり、
図例のようにインゴツトの先細形状となつた端部
を吸着把持する場合は当該部に応じた口径に形成
しているものである。また、11bはホルダ装置
本体11の内空部を所要時減圧すべく図示しない
バキユームポンプに連絡する通気孔である。バキ
ユームホルダ装置本体11は、その支持基台Bに
支持されてテーブル1上を手動または自動でスラ
イドするものであり、該支持基台Bは一般既知の
手段により任意の位置で固定できるようにしてい
る。 Reference numeral 10 denotes a vacuum holder device for gripping the cut end of the ingot according to the present invention, which is the cutting side.The main body 11 of the device has a cylindrical outer shape, and a relatively flexible lip 11 made of rubber or the like is attached to the periphery of the opening on the tip side.
a is integrally provided. The opening size of the main body 11 corresponds to the size of the portion of the ingot W to be gripped by suction, as will be described later.
When a tapered end of an ingot is to be gripped by suction as shown in the figure, the diameter of the ingot is formed to match that part. Further, reference numeral 11b is a vent hole that communicates with a vacuum pump (not shown) to reduce the pressure in the inner space of the holder device main body 11 when necessary. The vacuum holder device main body 11 is supported by its support base B and slides manually or automatically on the table 1, and the support base B can be fixed at any position by generally known means. .
12は、ホルダ装置本体11に内包されるよう
に適宜複数本配設された押さえピンであり、軸方
向に進退自在として所要時インゴツトの切断端部
WAに当接し、その当接部(把持部)形状に沿つ
て各ピンが個別に進退調整されるようにしてい
る。また、各ピンは後述するようにその進退位置
で固定可能としている。 Reference numeral 12 denotes a plurality of presser pins, which are appropriately disposed so as to be included in the holder device main body 11, and which are movable in the axial direction and can be used to cut the ingot when necessary.
Each pin contacts the WA and is individually adjusted to advance or retreat along the shape of the contact portion (grip portion). Furthermore, each pin can be fixed in its advanced and retracted positions, as will be described later.
第2図は押さえピンの配設状態をその正面方向
から概観した図であるが、ホルダ装置本体内で例
えば同心円状にして、当接する切断端部WAの切
断形状(円形)に対し均等に散在するような配置
としている。図例では内円・外円の仮想二重円線
上に三本ずつ60度の位相をもつて配設している。 Fig. 2 is a general view of the arrangement of the holding pins viewed from the front. They are arranged concentrically within the holder device main body, and are evenly scattered relative to the cut shape (circle) of the cut end WA that comes into contact with them. The layout is such that In the example shown, three wires are arranged on the virtual double circle line of the inner and outer circles with a phase angle of 60 degrees.
第3図はバキユームホルダ装置10の具体的構
成例を示したものである。図における押さえピン
12は第2図の如き配置を基にしており、前記仮
想二重円線上の各一本を図示している。 FIG. 3 shows a specific example of the configuration of the vacuum holder device 10. The holding pins 12 in the figure are based on the arrangement as shown in FIG. 2, and each pin on the virtual double circle line is shown.
しかして押さえピン12はその巻装されたスプ
リング12aで図上左方向への進出方向に常時付
勢されており、所要時はその軸面方向に出没する
ロツク球13により任意の進退位置で固定される
ようにしている。14は上記ロツク球13の出没
に作用するロツク機構部であり、手動または自動
による電気制御で駆動するモータ、シリンダ等で
なる駆動源15に接続された送り軸15a(図例
ではモータ連結のねじ軸としている)と、該軸に
より送り制御され、前記ロツク球13を出没制御
するロツク動作子16aを該ロツク球のそれぞれ
に対応させて設けているロツク動作体16とから
構成されている。従つて、ロツク球13とロツク
機構部14でロツク装置を構成しているのである
が、ロツク球をピン形状としたり、またロツク動
作体16を押さえピン12に直接作用するレバー
構成(例えばクランク形状)とするなどロツク装
置としては各種の形態・構成が利用できる。 Therefore, the holding pin 12 is always urged in the advancing direction to the left in the figure by the spring 12a wound around it, and is fixed at any forward or backward position by the locking ball 13 that protrudes and retracts in the axial direction when necessary. I'm trying to make it happen. Reference numeral 14 denotes a locking mechanism section that acts on the protrusion and retraction of the locking ball 13, and is connected to a feed shaft 15a (in the illustrated example, a screw connecting the motor A locking body 16 is provided with a locking element 16a corresponding to each of the locking balls 13. Therefore, the locking ball 13 and the locking mechanism part 14 constitute a locking device, and the locking ball is shaped like a pin, and the locking body 16 is shaped like a lever that acts directly on the holding pin 12 (for example, shaped like a crank). ) Various forms and configurations can be used as the locking device.
以上の如き構成にて、インゴツトWを切断する
場合、まずインゴツトWをテーブル1上に載置
し、クランパ3で該インゴツト基体側を不動に固
定する。 When cutting the ingot W with the above-described structure, the ingot W is first placed on the table 1, and the clamper 3 fixes the ingot base side immovably.
次いでバキユームホルダ装置10をスライドさ
せ、インゴツトWの切り出し側となる切断端部
WAの端面(図例では先細形状)にホルダ装置本
体11のリツプ11aを当接させる。リツプ11
aは柔軟な材質であるので、インゴツトの当接面
に若干のうねり状凹凸が生じていても、当該凹凸
に倣つて密接することができる。 Next, slide the vacuum holder device 10 to cut the cut end of the ingot W.
The lip 11a of the holder device main body 11 is brought into contact with the end surface of the WA (in the illustrated example, it has a tapered shape). Lip 11
Since a is made of a flexible material, even if the abutment surface of the ingot has slight undulations and depressions, it can be brought into close contact with the ingot by following the unevenness.
しかしてホルダ装置本体11がインゴツト切断
端部WAに当接した際には、該装置本体11が内
包している押さえピン12のそれぞれが切断端部
WA形状に沿つて当初の突出状態から後退し、そ
れぞれの移動量で位置することになる(第1図、
第3図状態)。 Therefore, when the holder device main body 11 comes into contact with the cut end WA of the ingot, each of the holding pins 12 included in the device main body 11 presses the cut end WA.
It will retreat from the initial protruding state along the WA shape and will be positioned at the respective movement distance (Fig. 1,
Fig. 3 state).
上記の如く当接設定した後は、まず装置本体1
1を支持する支持基台Bを図示しないクランプ機
構でテーブル1上に不動に固定する。次いでロツ
ク機構14を作動させてロツク球13により押さ
えピン12をその位置で不動に固定する。この
後、図示しないバキユームポンプを作動させ、通
気孔11bからホルダ装置本体11内を減圧させ
れば、開口側をリツプ11aが塞がれている該本
体内は次第に低圧となり、所定圧で安定する。 After setting the contact as described above, first
1 is immovably fixed on the table 1 by a clamp mechanism (not shown). Next, the locking mechanism 14 is activated to immovably fix the presser pin 12 at that position by the locking ball 13. After that, if a vacuum pump (not shown) is operated to reduce the pressure inside the holder device main body 11 from the ventilation hole 11b, the pressure inside the main body, whose opening side is closed by the lip 11a, gradually becomes low and stabilizes at a predetermined pressure. do.
押さえピン12はインゴツトの切断端部WAに
当接しているだけの状態であるが、ホルダ装置本
体11が吸着しているので、押さえピン12と協
動してあたかも該端部WAを把持固定しているよ
うな作用を呈しせしめ、即ち該端部を不動に固定
する。従つて、次にテーブルをスライドさせて対
応位置でブレード4により切断を開始しても、そ
の際に生じる応力負荷はインゴツト基体Wからテ
ーブル1側へ、及び切断端部WAからホルダ装置
10を介してテーブル1側へそれぞれ伝達吸収さ
れることになり、切断最終域でも該切断端部WA
等が揺動することはなく、従来のように欠けるよ
うな事態には至らない。 The holding pin 12 is only in contact with the cut end WA of the ingot, but since the holder device main body 11 is adsorbed, it cooperates with the holding pin 12 to grip and fix the end WA as if it were held. ie, the end is fixed immovably. Therefore, even if the table is then slid and cutting is started with the blade 4 at the corresponding position, the stress load generated at that time is transferred from the ingot base W to the table 1 side and from the cut end WA through the holder device 10. are transmitted and absorbed to the table 1 side, and even in the final cutting area, the cutting edge WA
etc. will not sway, and the situation of chipping as in the conventional case will not occur.
尚、上記実施例はインゴツト切断端部が先細形
状となつたものについて説明したが、その機能及
び作用から明らかなように本発明装置はこれに限
らず、例えば凹凸面形状あるいはウエハスライス
のように端面が平坦面形状であつても、更には傾
斜面であつても使用できることは言うまでもな
い。第4図にウエハスライスの場合を例示してい
る。 In the above embodiment, the cut end of the ingot has a tapered shape, but as is clear from its function and operation, the present invention is not limited to this, and can be used to cut an ingot with a concave-convex shape or a wafer slice. Needless to say, the end face can be used even if it has a flat surface shape or even if it has an inclined surface shape. FIG. 4 shows an example of wafer slicing.
即ち、本発明の複数の押さえピンはそれぞれが
独立して進退し、任意の位置でロツクすることが
可能であるから、該ピンの当接するインゴツト端
面各部位の状態に応じた、換言すれば当接面に倣
つた位置でロツクすることができ、これにより該
端面を均等に当接固定することができるのであ
る。この場合、バキユームホルダ装置本体はウエ
ハスライスのような切り出し厚が薄いときにはそ
の切断端面側に吸着し、その他の厚いときには前
述実施例のうに外周部に吸着することになる。 That is, since the plurality of holding pins of the present invention can move forward and backward independently and lock at any position, the holding pins of the present invention can be adjusted according to the state of each part of the ingot end surface that the pins come into contact with. It can be locked at a position that follows the contact surface, and thereby the end surface can be evenly abutted and fixed. In this case, when the cut thickness is thin like a wafer slice, the vacuum holder device main body is attracted to the cut end face side, and when it is thicker, it is attracted to the outer periphery as in the above-mentioned embodiment.
<効果>
以上詳細に説明したように、本発明によれば、
ブレードのインゴツト切断進行に伴なう切断応力
は不動のインゴツト基体側及び切り出し側のホル
ダ装置等に伝達分散させられることになり、従つ
て切断の最終領域においてその切断完了前に切断
残部から欠けるようなことはなく、即ち歩留まり
が向上する。また、上記の通り本発明によれば欠
けの発生を防ぐことが可能であるから、欠け防止
のためだけに利用されていたスライスベースを不
要とすることができ、この点からその不要に基づ
く材料コストの削減のほか、添設から切断後の除
去、廃却までの工程も不要となり、作業性、生産
性の向上がはかれる等その経済性、品質性に著し
い効果を奏し得ることになる。更に又、本発明の
ホルダ装置は押さえピンを利用しているので、切
り出し側のピン当接面が凹凸形状であつたり傾斜
していても均等に倣つて当接することができ、バ
キユームホルダ装置本体が吸着可能なものであれ
ば把持固定部の形状を選ばない効果がある。更に
又、本発明によれば装置構成的には従来構成に本
発明の如きバキユームホルダ装置を付設すればそ
の目的を達成することができ、さほどのコスト上
昇を伴なわずに対応できるなどその実用的に優れ
て有用な装置を提供することができる。<Effect> As explained in detail above, according to the present invention,
As the blade progresses in cutting the ingot, the cutting stress is transmitted and dispersed to the immovable ingot base and the holder device on the cutting side. In other words, the yield is improved. Furthermore, as described above, according to the present invention, it is possible to prevent the occurrence of chipping, so the slicing base, which was used only for preventing chipping, can be made unnecessary. In addition to reducing costs, the processes from attachment to removal after cutting and disposal are no longer necessary, and workability and productivity can be improved, resulting in significant effects on economy and quality. Furthermore, since the holder device of the present invention uses a presser pin, even if the pin abutment surface on the cutout side is uneven or sloped, it can be contacted evenly, and the vacuum holder device body can As long as it can be sucked, the shape of the gripping and fixing part can be used regardless of the shape. Furthermore, according to the present invention, the purpose can be achieved by attaching a vacuum holder device such as the present invention to a conventional configuration, and the practicality of the device can be achieved without a significant increase in cost. It is possible to provide an excellent and useful device.
図は本発明の実施例を示すもので、第1図は本
発明の構成を模式的に示した側面図、第2図は押
さえロツドの配設状態を示すバキユームホルダ装
置の概観正面図、第3図はバキユームホルダ装置
の具体的構成例を示す側面断面図、第4図は本発
明装置の他の使用例説明図である。
1……テーブル、3……クランパ、4……ブレ
ード、10……バキユームホルダ装置、11……
ホルダ装置本体、11a……リツプ、11b……
通気孔、12……押さえピン、13……ロツク
球、14……ロツク機構部、16……ロツク動作
体、W……インゴツト。
The drawings show an embodiment of the present invention; FIG. 1 is a side view schematically showing the configuration of the present invention, FIG. The figure is a side sectional view showing a specific example of the configuration of the vacuum holder device, and FIG. 4 is a diagram illustrating another example of use of the device of the present invention. 1... table, 3... clamper, 4... blade, 10... vacuum holder device, 11...
Holder device main body, 11a... lip, 11b...
Ventilation hole, 12...Press pin, 13...Lock ball, 14...Lock mechanism section, 16...Lock operating body, W...Ingot.
Claims (1)
ンゴツトを切断するインゴツト切断装置におい
て、 前記固定されたインゴツトの切断面側の端面に
対向して進退自在に配設された複数の押えピン
と、 前記複数の押えピンをそれぞれ進退不能に固定
するロツク手段と、 前記押えピンに向かつて前記インゴツトの切断
側の端面を減圧吸引する減圧吸引手段と、 を備え、インゴツト切断時に前記押えピンに向か
つてインゴツトの端面に吸着固定するようにした
ことを特徴とするインゴツト切装置。[Scope of Claims] 1. In an ingot cutting device that rotates a blade to cut an ingot whose proximal end is fixed, a plurality of ingots are arranged so as to be movable forward and backward facing the end face of the fixed ingot on the cutting surface side. A presser pin, a locking means for fixing each of the plurality of presser pins so that they cannot move forward or backward, and a reduced pressure suction means for vacuum suctioning the cutting side end face of the ingot toward the presser pin, An ingot cutting device characterized in that the ingot is suctioned and fixed to the end face of the ingot facing the pin.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62040766A JPS63207616A (en) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | Ingot cutter |
| US07/156,748 US4903681A (en) | 1987-02-24 | 1988-02-18 | Method and apparatus for cutting a cylindrical material |
| EP19880102589 EP0280245B1 (en) | 1987-02-24 | 1988-02-22 | Method and apparatus for cutting a cylindrical material |
| DE88102589T DE3883804T2 (en) | 1987-02-24 | 1988-02-22 | Method and device for cutting a cylindrical material. |
| KR1019880001932A KR930005466B1 (en) | 1987-02-24 | 1988-02-24 | Cutting method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62040766A JPS63207616A (en) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | Ingot cutter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63207616A JPS63207616A (en) | 1988-08-29 |
| JPH0469530B2 true JPH0469530B2 (en) | 1992-11-06 |
Family
ID=12589748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62040766A Granted JPS63207616A (en) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | Ingot cutter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63207616A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5563426B2 (en) * | 2010-11-02 | 2014-07-30 | 株式会社Bbs金明 | Chuck device |
| JP7531350B2 (en) * | 2020-05-22 | 2024-08-09 | Thk株式会社 | Work holding device |
-
1987
- 1987-02-24 JP JP62040766A patent/JPS63207616A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63207616A (en) | 1988-08-29 |
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