JPH0469706U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは従来のマイクロメータの一部切
欠平面図、第２図は本考案に係る光電式変位検出
装置の斜視説明図、第３図は第２図の分解斜視説
明図、第４図は第２図の縦断説明図、第５図は測
定子移動機構の分解斜視説明図である。 ３０……光電式変位検出装置、３２……測定子
移動機構、３４……装置本体、３８……測定子、
８８……リニアエンコーダ、１３６……送りねじ
、１３８……コイルスプリング、１３９……定圧
つまみ、１４４……角ねじ、１４６……抜け止め
手段としてのストツパ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被測定物に関与する測定子を摺動自在に支
   持する装置本体を有し、前記測定子を所望の方向
   に変位させて前記被測定物の寸法等を測定する光
   電式変位検出装置において、前記装置本体は、回
   転運動させることにより、前記測定子を回転させ
   ずに直線運動させる測定子移動機構と、前記測定
   子の直線的な変位量を検出するリニアエンコーダ
   とを備えて構成されることを特徴とする光電式変
   位検出装置。 (2) 請求項１記載の光電式変位検出装置におい
   て、前記測定子移動機構は、角ねじ部が刻設され
   る送りねじと、この送りねじに外装されるコイル
   スプリングと、前記コイルスプリングを内装させ
   る定圧つまみと、前記送りねじおよび定圧つまみ
   の抜けを防止する抜け止め手段とを備えることを
   特徴とする光電式変位検出装置。