JPH0470668B2 - - Google Patents
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- JPH0470668B2 JPH0470668B2 JP62259869A JP25986987A JPH0470668B2 JP H0470668 B2 JPH0470668 B2 JP H0470668B2 JP 62259869 A JP62259869 A JP 62259869A JP 25986987 A JP25986987 A JP 25986987A JP H0470668 B2 JPH0470668 B2 JP H0470668B2
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- Japan
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- facet
- lockout
- peak
- signal
- voltage
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
- G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
- G06K7/10544—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
- G06K7/10821—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices
- G06K7/10861—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices sensing of data fields affixed to objects or articles, e.g. coded labels
- G06K7/10871—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices sensing of data fields affixed to objects or articles, e.g. coded labels randomly oriented data-fields, code-marks therefore, e.g. concentric circles-code
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/106—Scanning systems having diffraction gratings as scanning elements, e.g. holographic scanners
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ 産業上の利用分野
本発明は光学走査装置、より詳細に言えば、ロ
ツクアウト・レベルが活動中のホログロフ・フア
セツトの性質の関数として調節される光学ホログ
ラフ走査装置に関する。
ツクアウト・レベルが活動中のホログロフ・フア
セツトの性質の関数として調節される光学ホログ
ラフ走査装置に関する。
Ｂ 従来の技術
固定位置の光学走査装置は種々の目的に使われ
ている。そのような光学走査装置の代表的な使用
例はスーパーマーケツト或はフード・ストアなど
で販売されている商品に貼付されたバーコード標
識を読み取ることで最も広く知られている。ま
た、固定位置の光学走査装置の他の使用例は配送
センター、倉庫或は工場などのコンベアによつて
転送される部品や包装体に貼付されたバーコード
の読取装置に見られる。
ている。そのような光学走査装置の代表的な使用
例はスーパーマーケツト或はフード・ストアなど
で販売されている商品に貼付されたバーコード標
識を読み取ることで最も広く知られている。ま
た、固定位置の光学走査装置の他の使用例は配送
センター、倉庫或は工場などのコンベアによつて
転送される部品や包装体に貼付されたバーコード
の読取装置に見られる。
スーパーマーケツトにおいて、バーコードの情
報は一義的には、顧客へ渡すレシート用として使
われ、二義的には、この特定の商品の売れ行きを
見たり、在庫レベルの調整に使われている。配送
センター、倉庫及び工場においては、バーコード
情報は、部品及び包装品の流れを制限するのに主
として使われる。
報は一義的には、顧客へ渡すレシート用として使
われ、二義的には、この特定の商品の売れ行きを
見たり、在庫レベルの調整に使われている。配送
センター、倉庫及び工場においては、バーコード
情報は、部品及び包装品の流れを制限するのに主
として使われる。
代表的な固定位置光学走査装置はレーザと、走
行パターンを発生するため、異なつた走査ライン
に沿つてレーザービームを偏向するためのビーム
偏向手段と、走査ビームの光路中の物品から反射
された光エネルギーを感知するための光検出器
と、光検出器で発生された信号から、バーコード
情報を解読するためのプロセツサとを含んでい
る。また、走査装置は光検出器とプロセツサとの
間に介存するロツクアウト回路を含んでいる。ロ
ツクアウト回路の作用は光検出器の信号を監視し
て、検出信号のピーク対ピークで電圧が予定値を
越えたときにだけ検出信号を通過させることであ
る。光検出器の信号が基準値に合致し、又は基準
値を上廻れば、それらの信号は、通常アナログ値
からデジタル値への変換回路を通してアナログ値
をデジタル値に変換した後、デコードするために
プロセツサに転送される。信号のピーク対ピーク
間の振幅が予定値に達しない信号は雑音電圧と見
做される。雑音電圧は周囲の照明が検出器に到達
した場合とか、或は走査ビームがバーコード以外
のものから反射された場合に発生する。不要な雑
音によりプロセツサが過負荷状態になるのを避け
るため、ロツクアウト回路は最小限の基準値に満
たない信号を閉め出す。
行パターンを発生するため、異なつた走査ライン
に沿つてレーザービームを偏向するためのビーム
偏向手段と、走査ビームの光路中の物品から反射
された光エネルギーを感知するための光検出器
と、光検出器で発生された信号から、バーコード
情報を解読するためのプロセツサとを含んでい
る。また、走査装置は光検出器とプロセツサとの
間に介存するロツクアウト回路を含んでいる。ロ
ツクアウト回路の作用は光検出器の信号を監視し
て、検出信号のピーク対ピークで電圧が予定値を
越えたときにだけ検出信号を通過させることであ
る。光検出器の信号が基準値に合致し、又は基準
値を上廻れば、それらの信号は、通常アナログ値
からデジタル値への変換回路を通してアナログ値
をデジタル値に変換した後、デコードするために
プロセツサに転送される。信号のピーク対ピーク
間の振幅が予定値に達しない信号は雑音電圧と見
做される。雑音電圧は周囲の照明が検出器に到達
した場合とか、或は走査ビームがバーコード以外
のものから反射された場合に発生する。不要な雑
音によりプロセツサが過負荷状態になるのを避け
るため、ロツクアウト回路は最小限の基準値に満
たない信号を閉め出す。
従来のロツクアウト回路は、光検出器によつて
発生されるピーク電圧、即ち最大電圧を追跡する
白色ピーク追跡回路を含む。白色ピーク及び黒色
ピーク（最大及び最小）信号電圧の間の充分な分
離が存在するか否かを決めるために、白色ピーク
電圧は分圧回路で低下されて、比較増幅回路にお
いて黒色ピーク電圧と比較される。若し分離が充
分に大きければ、比較増幅回路は、光検出信号を
システムのプロセツサに転送される出力信号を発
生する。
発生されるピーク電圧、即ち最大電圧を追跡する
白色ピーク追跡回路を含む。白色ピーク及び黒色
ピーク（最大及び最小）信号電圧の間の充分な分
離が存在するか否かを決めるために、白色ピーク
電圧は分圧回路で低下されて、比較増幅回路にお
いて黒色ピーク電圧と比較される。若し分離が充
分に大きければ、比較増幅回路は、光検出信号を
システムのプロセツサに転送される出力信号を発
生する。
固定位置光学走査装置の比較的最近の装置は、
レーザビームを偏向することと、集束することの
両方に対して回転ホログラフ光学素子、即ち回転
ホログラフ・デイスクを使つている。通常、ホロ
グラフ・デイスクは、ホログラフ素子、即ちホロ
グラフ・フアセツト（facat）を環状即ちリング
状に保持している透明なガラスまたはプラスチツ
クのデイスクで形成されている。各ホログラフ・
フアセツト素子、即ち各ホログラフ・フアセツト
はリングの１つのセクタを占有する。
レーザビームを偏向することと、集束することの
両方に対して回転ホログラフ光学素子、即ち回転
ホログラフ・デイスクを使つている。通常、ホロ
グラフ・デイスクは、ホログラフ素子、即ちホロ
グラフ・フアセツト（facat）を環状即ちリング
状に保持している透明なガラスまたはプラスチツ
クのデイスクで形成されている。各ホログラフ・
フアセツト素子、即ち各ホログラフ・フアセツト
はリングの１つのセクタを占有する。
各セクターは公知の非軸（off−axis）ホログ
ラフ技術を使つて発生される。或る１つのセク
タ、即ち或る１つのフアセツトを発生するのに使
われる光ビームの構成に従つて、そのフアセツト
は、特定の走査光路に沿つて入射レーザビームを
偏向して、フアセツトの表面からの離れた特定の
距離のところにレーザビームを集束する。異なつ
たフアセツトを発生するのに使われるビーム構成
を変更することによつて、ホログラフ・デイスク
を作ることが出来る。そのような装置において
は、異なる走査ビームは異なつた集束距離（集点
距離）を持つている。短い集束距離を有する走査
ビームを発生する幾つかのフアセツトと、長い集
束距離を有する走査ビームを発生する幾つかのフ
アセツトとを使うことによつて、少なくとも１つ
の走査ビームが完全に集束する距離範囲はより大
きく増加する。
ラフ技術を使つて発生される。或る１つのセク
タ、即ち或る１つのフアセツトを発生するのに使
われる光ビームの構成に従つて、そのフアセツト
は、特定の走査光路に沿つて入射レーザビームを
偏向して、フアセツトの表面からの離れた特定の
距離のところにレーザビームを集束する。異なつ
たフアセツトを発生するのに使われるビーム構成
を変更することによつて、ホログラフ・デイスク
を作ることが出来る。そのような装置において
は、異なる走査ビームは異なつた集束距離（集点
距離）を持つている。短い集束距離を有する走査
ビームを発生する幾つかのフアセツトと、長い集
束距離を有する走査ビームを発生する幾つかのフ
アセツトとを使うことによつて、少なくとも１つ
の走査ビームが完全に集束する距離範囲はより大
きく増加する。
ホログラフ・デイスクの動作範囲の深度を増加
すれば、走査装置の応用を多様化して、物品配送
所又は工場などの物品取扱いにより良く適合させ
ることが出来る。上述のような場所においては、
読み取られるべきバーコードは、ラベルが貼付さ
れた物品の構造によつて、固定位置走査装置に対
して比較的近い場所にあるかあるいは、固定位置
走査装置から可成り離れている場所にある。然し
ながら距離が遠い場所のバーコードを走査するた
めの能力に関して問題がないわけでわない。光学
信号の強度は光源と光検出器間の距離の２乗に反
比例することは良く知られている。例えば、第１
の走査装置が光源から１メートルの所に設置され
ており、第２の走査装置は同じ光源から４メート
ルの所に設置されているとすれば、第２の走査装
置に到達する光エネルギは、第１の走査装置に到
達する光エネルギの４の２乗分の１、即ち16分の
１になる。その結果、長い集束距離を有するフア
セツトにより読み取られるバーコードに対するピ
ーク対ピークの差異は短い集束距離のフアセツト
により読み取られるバーコードのピーク対ピーク
の相異よりも可成り小さくなる。
すれば、走査装置の応用を多様化して、物品配送
所又は工場などの物品取扱いにより良く適合させ
ることが出来る。上述のような場所においては、
読み取られるべきバーコードは、ラベルが貼付さ
れた物品の構造によつて、固定位置走査装置に対
して比較的近い場所にあるかあるいは、固定位置
走査装置から可成り離れている場所にある。然し
ながら距離が遠い場所のバーコードを走査するた
めの能力に関して問題がないわけでわない。光学
信号の強度は光源と光検出器間の距離の２乗に反
比例することは良く知られている。例えば、第１
の走査装置が光源から１メートルの所に設置され
ており、第２の走査装置は同じ光源から４メート
ルの所に設置されているとすれば、第２の走査装
置に到達する光エネルギは、第１の走査装置に到
達する光エネルギの４の２乗分の１、即ち16分の
１になる。その結果、長い集束距離を有するフア
セツトにより読み取られるバーコードに対するピ
ーク対ピークの差異は短い集束距離のフアセツト
により読み取られるバーコードのピーク対ピーク
の相異よりも可成り小さくなる。
白色面を短い集束長さを持つビームで走査した
ときに生ずるノイズ電圧は「ペーパ・ノイズ」電
圧によつて、標準値よりも幾分高いけれども、光
学走査装置のノイズ電圧のレベルは現在活動中の
フアセツトの集束距離大きく左右される。それら
の電圧はランダムな電圧値をもつており、バーコ
ードの用紙に比較して相対的に小さな断面を有す
るビームによつて、用紙表面が走査されるときに
発生される。用紙の繊維はビームをランダムに散
乱させ、相対的に大きいノイズを有する信号を発
生する。
ときに生ずるノイズ電圧は「ペーパ・ノイズ」電
圧によつて、標準値よりも幾分高いけれども、光
学走査装置のノイズ電圧のレベルは現在活動中の
フアセツトの集束距離大きく左右される。それら
の電圧はランダムな電圧値をもつており、バーコ
ードの用紙に比較して相対的に小さな断面を有す
るビームによつて、用紙表面が走査されるときに
発生される。用紙の繊維はビームをランダムに散
乱させ、相対的に大きいノイズを有する信号を発
生する。
Ｃ 発明が解決しようとする問題点
上述したような型式の従来のロツクアウト回路
は、走査装置が大きな深度の動作範囲を有する場
合には、充分に動作しない。短い集束距離を持つ
フアセツトの走査により生ずる相対的に高い「ペ
ーパ・ノイズ」を閉め出すために、若しロツクア
ウトのレベルを高く設定したとすれば、その高い
ロツクアウト・レベルは長い集束距離を持つフア
セツトの走査により生ずる小さなデータ信号を閉
め出すことになる。他方、長い集束距離のフアセ
ツトによる走査から発生する相対的に小さなデー
タ信号に適合するように、ロツクアウト・レベル
を低くしたとすれば、その低ロツクアウト・レベ
ルは「ペーパ・ノイズ」信号の通過を禁止するこ
とが出来ない。
は、走査装置が大きな深度の動作範囲を有する場
合には、充分に動作しない。短い集束距離を持つ
フアセツトの走査により生ずる相対的に高い「ペ
ーパ・ノイズ」を閉め出すために、若しロツクア
ウトのレベルを高く設定したとすれば、その高い
ロツクアウト・レベルは長い集束距離を持つフア
セツトの走査により生ずる小さなデータ信号を閉
め出すことになる。他方、長い集束距離のフアセ
ツトによる走査から発生する相対的に小さなデー
タ信号に適合するように、ロツクアウト・レベル
を低くしたとすれば、その低ロツクアウト・レベ
ルは「ペーパ・ノイズ」信号の通過を禁止するこ
とが出来ない。
返還記号の強度の変化は、ホログラフ光学素子
の個々のフアセツトの角度幅を調節することによ
つて或る程度補償することが出来る。或る制限以
内で、与えられたフアセツトの角度幅はフアセツ
トの集束距離の関数として変更することが出来
る。大きなフアセツトは、短い集束距離を有する
走査ラインと関連する狭いフアセツトよりも、目
的物からより多くの反射光線を集める。
の個々のフアセツトの角度幅を調節することによ
つて或る程度補償することが出来る。或る制限以
内で、与えられたフアセツトの角度幅はフアセツ
トの集束距離の関数として変更することが出来
る。大きなフアセツトは、短い集束距離を有する
走査ラインと関連する狭いフアセツトよりも、目
的物からより多くの反射光線を集める。
異つた角度幅を有するフアセツトを使用する
と、従来のロツクアウト回路の持つ問題を減少す
る返還光学エネルギのレベルの変化を減少するこ
とが出来る。然しながら、フアセツトの角度幅は
或る範囲内だけでしか変化出来ないから、角度幅
の異なるフアセツトの使用は完全な補償を与える
ことが出来ない。各フアセツトは与えられた長さ
の走査線を発生するために、予定された最小限の
幅を有していなければならない。
と、従来のロツクアウト回路の持つ問題を減少す
る返還光学エネルギのレベルの変化を減少するこ
とが出来る。然しながら、フアセツトの角度幅は
或る範囲内だけでしか変化出来ないから、角度幅
の異なるフアセツトの使用は完全な補償を与える
ことが出来ない。各フアセツトは与えられた長さ
の走査線を発生するために、予定された最小限の
幅を有していなければならない。
Ｄ 問題を解決するための手段
本発明は、コヒーレントな光ビーム源を有する
型の光学走査装置と、所定の走査ラインに沿つて
コヒーレント光ビームを偏向するための多面フア
セツト式回転ホログラフ素子と、データ信号を発
生するための光検出器と、データ信号のピーク対
ピークの差異が所定の大きさを越えない場合に、
データ信号の転送を禁止するためのロツクアウト
電圧を発生する手段とを使つている。本発明の走
査装置は、多面フアセツト式回転ホログラフ素子
の現在活動中のフアセツトの属性の関数として、
ロツクアウト電圧を調整することによつて改良さ
れている。現在活動中のフアセツトが相対的に長
い集束（集点）距離を持つ場合には、ロツクアウ
ト電圧は相対的に低いレベルに設定される。反対
に現在活動中のフアセツトが相対的に短い集束距
離を持つ場合には、ロツクアウト電圧は相対的に
高いレベルに設定される。
型の光学走査装置と、所定の走査ラインに沿つて
コヒーレント光ビームを偏向するための多面フア
セツト式回転ホログラフ素子と、データ信号を発
生するための光検出器と、データ信号のピーク対
ピークの差異が所定の大きさを越えない場合に、
データ信号の転送を禁止するためのロツクアウト
電圧を発生する手段とを使つている。本発明の走
査装置は、多面フアセツト式回転ホログラフ素子
の現在活動中のフアセツトの属性の関数として、
ロツクアウト電圧を調整することによつて改良さ
れている。現在活動中のフアセツトが相対的に長
い集束（集点）距離を持つ場合には、ロツクアウ
ト電圧は相対的に低いレベルに設定される。反対
に現在活動中のフアセツトが相対的に短い集束距
離を持つ場合には、ロツクアウト電圧は相対的に
高いレベルに設定される。
Ｅ 実施例
第１図は、レーザ光の光学系１２によつて発生
されたレーザビーム１０が、ホログラフ・デイス
クの下面に向けて小さなミラー１４によつて反射
されている光学走査装置を非常に単純化して示す
模式図である。レーザ光の光学系１２は標準的な
ものであつて、レーザ及びビーム拡大器のような
光学素子を含んでいる。ホログラフ・デイスク１
６は、フアセツト２０Ａ，２０Ｂ等々のホログラ
フ・フアセツトをリング状、即ち環状に保持する
ためのガラス、又はプラスチツク製の基体１８を
含んでいる。ホログラフ・デイスク１６は電気モ
ータ（図示せず）により一定速度で回転してい
る。デイスク１６が回転すると、レーザビーム１
０に関して各フアセツト２０Ａ，２０Ｂ等の回転
はビーム１０を弧状に偏向させる。また、それら
のフアセツトはデイスク面から離隔した或る距離
のところに偏向ビーム、即ち走査ビームを集束す
る。第１図にはただ一本の走査ビーム２２しか表
されていない。実際は、一組のビーム折り曲げミ
ラー（図示せず）が走査ビーム２２の光路中に置
かれている。ビーム折り曲げミラーは多方向に走
査パターンを発生するために、ビームを再方向付
けし、それは、円筒形の物品収容体２６に貼付さ
れたラベル２４のような、準ランダムな方向に向
けられたバーコード・ラベルを読み取るよう、装
置の能力を向上する。
されたレーザビーム１０が、ホログラフ・デイス
クの下面に向けて小さなミラー１４によつて反射
されている光学走査装置を非常に単純化して示す
模式図である。レーザ光の光学系１２は標準的な
ものであつて、レーザ及びビーム拡大器のような
光学素子を含んでいる。ホログラフ・デイスク１
６は、フアセツト２０Ａ，２０Ｂ等々のホログラ
フ・フアセツトをリング状、即ち環状に保持する
ためのガラス、又はプラスチツク製の基体１８を
含んでいる。ホログラフ・デイスク１６は電気モ
ータ（図示せず）により一定速度で回転してい
る。デイスク１６が回転すると、レーザビーム１
０に関して各フアセツト２０Ａ，２０Ｂ等の回転
はビーム１０を弧状に偏向させる。また、それら
のフアセツトはデイスク面から離隔した或る距離
のところに偏向ビーム、即ち走査ビームを集束す
る。第１図にはただ一本の走査ビーム２２しか表
されていない。実際は、一組のビーム折り曲げミ
ラー（図示せず）が走査ビーム２２の光路中に置
かれている。ビーム折り曲げミラーは多方向に走
査パターンを発生するために、ビームを再方向付
けし、それは、円筒形の物品収容体２６に貼付さ
れたラベル２４のような、準ランダムな方向に向
けられたバーコード・ラベルを読み取るよう、装
置の能力を向上する。
バーコード・ラベル２４（又は、走査ビーム２
２の光路中にあるすべてのもの）から反射された
光はビーム２２の光路に沿つてホログラフ・デイ
スク１６の方へ反射し戻される。デイスク１６は
光路２８に沿つて戻つてきた光ビーム、即ち返還
光ビームを偏向、即ち折り曲げる。殆どの返還光
ビームはミラー１４を通り抜けて、レンズ３０に
より光検出器３２に集束される。光検出器３２
は、ビーム２２によつて走査された目的物の瞬間
的な反射率の関数として変化する瞬時値をもつア
ナログ電気信号へ、返還された光エネルギを変換
する。入力ライン３３上のアナログ信号はアナロ
グ信号からデジタル信号への変換回路３４及びロ
ツクアウト回路３６に印加される。アナログ／デ
ジタル変換回路３４はアナログ信号を周期的にサ
ンプルして、プロセツサ３８中でより容易に処理
しうるようなデジタル値に、これらのアナログ信
号を変換する。アナログ／デジタル変換回路３４
で与えられたデジタル化された信号はアンドゲー
ト４０に印加される。
２の光路中にあるすべてのもの）から反射された
光はビーム２２の光路に沿つてホログラフ・デイ
スク１６の方へ反射し戻される。デイスク１６は
光路２８に沿つて戻つてきた光ビーム、即ち返還
光ビームを偏向、即ち折り曲げる。殆どの返還光
ビームはミラー１４を通り抜けて、レンズ３０に
より光検出器３２に集束される。光検出器３２
は、ビーム２２によつて走査された目的物の瞬間
的な反射率の関数として変化する瞬時値をもつア
ナログ電気信号へ、返還された光エネルギを変換
する。入力ライン３３上のアナログ信号はアナロ
グ信号からデジタル信号への変換回路３４及びロ
ツクアウト回路３６に印加される。アナログ／デ
ジタル変換回路３４はアナログ信号を周期的にサ
ンプルして、プロセツサ３８中でより容易に処理
しうるようなデジタル値に、これらのアナログ信
号を変換する。アナログ／デジタル変換回路３４
で与えられたデジタル化された信号はアンドゲー
ト４０に印加される。
光検出器３２により与えられたアナログ信号が
或る閾値レベルに達したときだけに、アンドゲー
トを付勢することの出来るロツクアウト回路の出
力がアンゲート４０の第２入力に印加される。ロ
ツクアウト回路３６の詳細は後述する。デイスク
位置センサ４２は、ホログラフ・デイスク１６の
位置を監視し、良好な実施例においては、ホログ
ラフ・デイスク１６の各フアセツト２０Ａ，２０
Ｂ等の先端部におけるフアセツト・エツジ信号を
発生する。フアセツト・エツジ信号はプロセツサ
３８へ送られる。詳細を後述するように、プロセ
ツサ３８は、これらの信号を受け取り、ライン４
４を介してロツクアウト回路３６へ印加されるロ
ツクアウト調節電圧を発生する。一般的に言う
と、ロツクアウト調節電圧は現在活動中のフアセ
ツトの集束距離（集点距離）に反比例して変化す
る。
或る閾値レベルに達したときだけに、アンドゲー
トを付勢することの出来るロツクアウト回路の出
力がアンゲート４０の第２入力に印加される。ロ
ツクアウト回路３６の詳細は後述する。デイスク
位置センサ４２は、ホログラフ・デイスク１６の
位置を監視し、良好な実施例においては、ホログ
ラフ・デイスク１６の各フアセツト２０Ａ，２０
Ｂ等の先端部におけるフアセツト・エツジ信号を
発生する。フアセツト・エツジ信号はプロセツサ
３８へ送られる。詳細を後述するように、プロセ
ツサ３８は、これらの信号を受け取り、ライン４
４を介してロツクアウト回路３６へ印加されるロ
ツクアウト調節電圧を発生する。一般的に言う
と、ロツクアウト調節電圧は現在活動中のフアセ
ツトの集束距離（集点距離）に反比例して変化す
る。
第２図はロツクアウト回路３６と、プロセツサ
３８の或る１つの素子に関する細部を示してい
る。ロツクアウト回路３６は、アナログ入力ライ
ン３３上に生ずる黒色ピーク電圧、即ち最小電圧
を追跡する、ゆつくりと変化する直流電圧信号を
与える黒色ピーク追跡回路４６を含んでいる。同
様に、閾値回路３６は、アナログ入力ライン３３
上の白色ピーク電圧、即ち最大電圧を追跡する、
ゆつくりと変化する直流電圧を与える白色ピーク
追跡回路４８を含んでいる。黒色ピーク追跡回路
４６の出力は比較増幅回路５０の一方の入力に直
接に印加される。
３８の或る１つの素子に関する細部を示してい
る。ロツクアウト回路３６は、アナログ入力ライ
ン３３上に生ずる黒色ピーク電圧、即ち最小電圧
を追跡する、ゆつくりと変化する直流電圧信号を
与える黒色ピーク追跡回路４６を含んでいる。同
様に、閾値回路３６は、アナログ入力ライン３３
上の白色ピーク電圧、即ち最大電圧を追跡する、
ゆつくりと変化する直流電圧を与える白色ピーク
追跡回路４８を含んでいる。黒色ピーク追跡回路
４６の出力は比較増幅回路５０の一方の入力に直
接に印加される。
白色ピーク追跡回路４８の出力は抵抗５４及び
５６を含む分圧器５２に印加される。比較増幅回
路５０の第２入力はこれら２つの抵抗の接続点に
接続される。また、抵抗５６は負の基準電位源６
０に接続されている。分圧器５２の機能は回路４
８により与えられる白色ピーク信号を減少し、又
は測定することにある。測定された白色ピーク信
号は比較増幅回路によつて黒色ピーク信号と比較
される。若し、白色ピーク信号と黒色ピーク信号
との差異が充分に大きければ、白色ピーク信号の
測定された表示値は黒色ピーク信号を凌駕してい
る。この条件下において、比較増幅回路５０は、
アンドゲート４０を経てプロセツサ３８へ、アナ
ログ／デジタル変換器３４の出力を通過させるア
ンド・ゲート４０の一方の入力端子に付勢信号を
与える。
５６を含む分圧器５２に印加される。比較増幅回
路５０の第２入力はこれら２つの抵抗の接続点に
接続される。また、抵抗５６は負の基準電位源６
０に接続されている。分圧器５２の機能は回路４
８により与えられる白色ピーク信号を減少し、又
は測定することにある。測定された白色ピーク信
号は比較増幅回路によつて黒色ピーク信号と比較
される。若し、白色ピーク信号と黒色ピーク信号
との差異が充分に大きければ、白色ピーク信号の
測定された表示値は黒色ピーク信号を凌駕してい
る。この条件下において、比較増幅回路５０は、
アンドゲート４０を経てプロセツサ３８へ、アナ
ログ／デジタル変換器３４の出力を通過させるア
ンド・ゲート４０の一方の入力端子に付勢信号を
与える。
本発明の装置はフアセツトの集束距離の関数と
してロツクアウト電圧を調節する。入力４３を介
してデイスク位置センサ４２によりプロセツサへ
与えられる信号は、ホログラフ・デイスク１６上
のどのフアセツト２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ等々が
次の活動フアセツトであるかを決定するフアセツ
ト・カウンタ６２に印加される。次の活動フアセ
ツトが判別されたとき、その情報はプロセツサの
メモリ中のロツクアウト・テーブル、即ちロツク
アウト表６４をアドレスするのに用いられる。ロ
ツクアウト表６４は、その判別されたフアセツト
に適当であると考えられるロツクアウト電圧のデ
ジタル表示値を記憶している。ロツクアウト表６
４から検索されたデジタル表示値は、閾値回路６
６の一部であるデジタルからアナログ変換回路６
６へ印加される。返還されたアナログ電圧は、抵
抗５８を介して分圧器５２の接続点５８へ印加さ
れ、分圧器の接続点を高電位、又は低電位に偏倚
する。
してロツクアウト電圧を調節する。入力４３を介
してデイスク位置センサ４２によりプロセツサへ
与えられる信号は、ホログラフ・デイスク１６上
のどのフアセツト２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ等々が
次の活動フアセツトであるかを決定するフアセツ
ト・カウンタ６２に印加される。次の活動フアセ
ツトが判別されたとき、その情報はプロセツサの
メモリ中のロツクアウト・テーブル、即ちロツク
アウト表６４をアドレスするのに用いられる。ロ
ツクアウト表６４は、その判別されたフアセツト
に適当であると考えられるロツクアウト電圧のデ
ジタル表示値を記憶している。ロツクアウト表６
４から検索されたデジタル表示値は、閾値回路６
６の一部であるデジタルからアナログ変換回路６
６へ印加される。返還されたアナログ電圧は、抵
抗５８を介して分圧器５２の接続点５８へ印加さ
れ、分圧器の接続点を高電位、又は低電位に偏倚
する。
ロツクアウト表６４かわ検索されたロツクアウ
ト電圧の値はホログラフ・デイスク１６上の関連
したフアセツトの集束距離に依存している。第３
図は集束距離の関数としてのロツクアウト電圧の
全体の変化を示している。
ト電圧の値はホログラフ・デイスク１６上の関連
したフアセツトの集束距離に依存している。第３
図は集束距離の関数としてのロツクアウト電圧の
全体の変化を示している。
Ｆ 発明の効果
本発明の光学走査装置とバーコードを有する目
的物品との距離が大きく変化しても、雑音の少な
いバーコードの変換信号を発生することが出来
る。
的物品との距離が大きく変化しても、雑音の少な
いバーコードの変換信号を発生することが出来
る。
第１図は本発明が適用される固定位置のホログ
ラフ走査装置の単純化した構成図、第２図は本発
明を実施するのに必要な素子の細部を説明するた
めの模式図、第３図はフアセツトの集束距離の関
数としてロツクアウト電圧の適合値を示すグラフ
である。 １０，２２……レーザビーム、１６……ホログ
ラフ・デイスク、２０Ａ，２０Ｂ……フアセツ
ト、２４……バーコード・ラベル、３２……光検
出器、３４……アナログ／デジタル変換回路、３
６……ロツクアウト回路、３８……プロセツサ、
４６……黒色ピーク追跡回路、４８……白色ピー
ク追跡回路、５０……比較増幅回路、５２……分
圧器、６４……ロツクアウト表。
ラフ走査装置の単純化した構成図、第２図は本発
明を実施するのに必要な素子の細部を説明するた
めの模式図、第３図はフアセツトの集束距離の関
数としてロツクアウト電圧の適合値を示すグラフ
である。 １０，２２……レーザビーム、１６……ホログ
ラフ・デイスク、２０Ａ，２０Ｂ……フアセツ
ト、２４……バーコード・ラベル、３２……光検
出器、３４……アナログ／デジタル変換回路、３
６……ロツクアウト回路、３８……プロセツサ、
４６……黒色ピーク追跡回路、４８……白色ピー
ク追跡回路、５０……比較増幅回路、５２……分
圧器、６４……ロツクアウト表。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ コヒーレントな光ビームの光源と、予定の走
査ラインに沿つて上記コヒーレントな光ビームを
偏向するための多面フアセツト式回転ホログラフ
光学素子と、データ信号を発生するための光検出
器と、上記光検出器によつて発生されたデータ信
号の最大値及び最小値に依存して第１及び第２の
ピーク電圧を発生するためのピーク・ホロワ回路
と、予定値だけ第２のピーク電圧を越えた信号の
みの出力を可能にするロツクアウト回路とを有す
る型の光学走査装置に於ける上記ロツクアウト回
路は、 ホログラフ光学素子の現在活動中のフアセツト
を同定するための信号を発生する手段と、 上記信号発生手段によつて同定されたフアセツ
トの性質に依存する要因によつて第１のピーク電
圧を調整する手段と、 上記調整手段の出力を第２のピーク電圧と比較
する手段と、 調整手段の出力が第２のピーク電圧よりも大き
かつたときはデーター信号の出力を出せるよう
に、上記比較手段の出力に応答する手段と、 を含むことを特徴とする光学ホログラフ走査装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/938,929 US4728789A (en) | 1986-12-08 | 1986-12-08 | System for adjusting holographic scanner lockout voltage |
| US938929 | 1986-12-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63150776A JPS63150776A (ja) | 1988-06-23 |
| JPH0470668B2 true JPH0470668B2 (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=25472224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62259869A Granted JPS63150776A (ja) | 1986-12-08 | 1987-10-16 | 光学ホログラフ走査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4728789A (ja) |
| EP (1) | EP0270777B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63150776A (ja) |
| DE (1) | DE3780270D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4840443A (en) * | 1988-05-31 | 1989-06-20 | Eastman Kodak Company | Holographic scanner spinner |
| US4978184A (en) * | 1988-10-20 | 1990-12-18 | The Gerber Scientific Instrument Company | Laser raster scanner having passive facet tracking |
| US5296689A (en) * | 1992-02-28 | 1994-03-22 | Spectra-Physics Scanning Systems, Inc. | Aiming beam system for optical data reading device |
| US5281812A (en) * | 1992-07-31 | 1994-01-25 | Eastman Kodak Company | Light beam scanning system including piezoelectric means for correction of cross scan error |
| US5291318A (en) * | 1992-11-02 | 1994-03-01 | Xerox Corporation | Holographic member for a real-time clock in a raster output scanner |
| US6006993A (en) * | 1994-08-17 | 1999-12-28 | Metrologic Instruments, Inc. | Holographic laser scanning system for carrying out laser beam scanning operations with improved scan angle multiplication efficiency and carrying out light collection operations with improved light collection efficiency |
| US6073846A (en) * | 1994-08-17 | 2000-06-13 | Metrologic Instruments, Inc. | Holographic laser scanning system and process and apparatus and method |
| US6354505B1 (en) | 1995-12-18 | 2002-03-12 | Metrologic Instruments, Inc. | Scan data signal processor employing pass-band filter structures having frequency response characteristics dynamically switched into operation by control signals indicative of the focal zone of the laser beam during bar code symbol scanning |
| US6494377B1 (en) | 1995-12-18 | 2002-12-17 | Metrologic Instruments, Inc. | Method of and apparatus for processing analog scan data signals derived while scanning a bar code symbol using a laser beam, wherein the detected beam spot speed of said laser beam is used to dynamically switch into operation optimal pass-band filtering circuits |
| US6572018B1 (en) | 1995-12-18 | 2003-06-03 | Metrologic Instruments, Inc. | Method of and apparatus for processing analog scan data signals derived by scanning bar code symbols using a laser beam, wherein a real-time bar code element detector is used to control the detection of zero-crossings occurring in the second derivative of said analog scan data signals |
| US6619550B1 (en) * | 1995-12-18 | 2003-09-16 | Metrologic Instruments, Inc. | Automated tunnel-type laser scanning system employing corner-projected orthogonal laser scanning patterns for enhanced reading of ladder and picket fence oriented bar codes on packages moving therethrough |
| US6422467B2 (en) | 1995-12-18 | 2002-07-23 | Metrologic Instruments, Inc. | Reading system a variable pass-band |
| US6830190B2 (en) | 1999-02-02 | 2004-12-14 | Metrologic Instruments, Inc. | Multipath scan data signal processor having multiple signal processing paths with different operational characteristics to enable processing of signals having increased dynamic range |
| ATE294422T1 (de) * | 1999-02-02 | 2005-05-15 | Metrologic Instr Inc | Verbesserte abtastdaten-signalprozessoren für codezeichenlesesystem mit laserabtastung |
| GB201600445D0 (en) * | 2016-01-11 | 2016-02-24 | Cairns Intellectual Property Ltd | Methods and apparatuses for temperature measurement |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3995146A (en) * | 1975-08-11 | 1976-11-30 | Rca Corporation | Detection system for spatially-distributed set of radiation beams manifesting multibit binary code |
| US4548463A (en) * | 1984-02-13 | 1985-10-22 | International Business Machines Corporation | Holographic scanner control based on monitored diffraction efficiency |
| US4591242A (en) * | 1984-02-13 | 1986-05-27 | International Business Machines Corp. | Optical scanner having multiple, simultaneous scan lines with different focal lengths |
-
1986
- 1986-12-08 US US06/938,929 patent/US4728789A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-10-16 EP EP87115181A patent/EP0270777B1/en not_active Expired
- 1987-10-16 JP JP62259869A patent/JPS63150776A/ja active Granted
- 1987-10-16 DE DE8787115181T patent/DE3780270D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3780270D1 (de) | 1992-08-13 |
| US4728789A (en) | 1988-03-01 |
| JPS63150776A (ja) | 1988-06-23 |
| EP0270777A3 (en) | 1990-04-04 |
| EP0270777A2 (en) | 1988-06-15 |
| EP0270777B1 (en) | 1992-07-08 |
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