JPH0471249A - 測定用コンタクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路装置（以下ＩＣと呼ぶ）の特
性測定する際に、ＩＣの一面より突出する複数のリード
と接触し、信号の授受を行う測定用コンタクタに関する
。

〔従来の技術〕

従来この種の測定用コンタクタは、図面に示さないが、
ＩＣの一面より垂直に突出するリードに対応して複数の
接触子が板部材に埋設され、接触子の先端には、スプリ
ング介して触針が挿入された構造になっていた。また、
実際にＩＣの特性を測定する際は、その測定用コンタク
タの接触子の触針をリードの先端部に押し付け、スプリ
ングの圧縮力で接触圧を得ていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の測定用コンタクタは、リードの先端のみ
を接触する構造となっているので、接触面積が小さく、
はぼ点接触に近くなっている。このため、特に接地（以
下ＧＮＤという）用のり−ドが十分に接地がとれず、他
のリードの入出力信号のふらついたり、あるいは、ノイ
ズがのりやすいという問題がある。すなわち、このこと
は、正確な試験ができないことになる。特に、ＩＣは多
ビン化の傾向であり、かつ動作スピードは高速になる傾
向があるので、この問題はより重要な課題となった。

本発明の目的は、かかる問題を解消し、確実な接触を得
て、正確な測定をし得る測定用コンタクタを提供するこ
とにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の測定用コンタクタは、−面より垂直に突出する
複数のリードをもつ半導体集積回路装置の電気特性を測
定する際に、各々の前記リードと接触して信号の授受を
行う接触子をもつ測定用コンタクタにおいて、前記接触
子がその先端側に前記リードが挿入される穴を有すると
ともに先端側の外形寸法が後端側に行くに従って減少し
、かつ、先端側より所定の長さですり割りが形成され、
前記接触子の後端側より挿入する穴をもつ板部材を備え
、この板部材の穴に挿入された前記接触子の先端側に前
記板部材を移動することによって、前記接触子の穴に挿
入された前記リードを締付けることを特徴としている。

〔実施例〕

次に本発明について図面を参照して説明する。

第１図（ａ）及び（ｂ）は本発明の一実施例を示す測定
用コンタクタの上面図と断面図である。

この測定用コンタクタは、同図に示すように、リード１
ａが挿入される穴７が先端側に形成されるとともにその
外径寸法が先端から後端に行くに従って小さくなり、か
つ、先端にすり割り６が形成される接触子２と、この接
触子２を後端より挿入する穴をもつ板部材３と、接触子
２をその後端部を埋設する基板４とで構成されている。

また、この図面では、すり割り６が２個所であるが、２
個所以上でも差し使えない。

次に、測定用コンタクタとＩＣＩのリード１ａとの接触
させる方法を説明する。まず、第１図（ｂ）に示すよう
に、板部材３を基板４側に寄せる。次に、ＩＣＩを降し
、各リード１ａを接触子２の穴７に挿入する。この穴７
の直径は、リード７ａの外径よりゆるめの大きさで形成
されるので、ＩＣをこの測定用コンタクタに乗せるだけ
で、その自重で、リード１ａは穴７に容易に挿入される
。次に、板部材３を持ち上げる。このことにより、板部
材３の穴は、接触子２の先端部の外形より小さく形成さ
れているので、この穴により、接触子２の先端部は絞ら
れ、リード１は、この接触子２に締付けられ、確実な接
触が得られる。また、取外すときは、板部材３を引き下
げ、接触子２によるリード１ａの締付けを開放する。

第２図（ａ）及び（ｂ）は本発明の測定用コン゛タクタ
の他の実施例動作順に示した断面図である。この測定用
コンタクタは、同図に示すように、板部材３ａと基板４
との間にガイドボスト８と、このガイドボスト８に挿入
されたスプリング５とを設けたことである。それ以外は
、前述の実施例と同じである。

この測定用コンタクタとＩＣのリードと接触させるとき
は、まず、第２図（ａ）に示すように、板部材３ａを押
し下げる０次に、ＩＣのリードを接触子２の穴７に挿入
して、ＩＣを乗せる。次に、第２図（ｂ）に示すように
、板部材３ａを解放すると、板部材３ａはスプリング５
の反発力で押し上げられ、接触子２はリードを挟み保持
する。

この実施例は、板部材３ａがスプリング５によって、自
動的に押し上げ、リード接触子を挟み保持するので、自
動化に際しては、前述の実施例より利点がある。また、
以上実施例で、本発明を説明したが、本発明はリードの
外周囲を挟み接触しているのでリードの先端にごみが付
着しても、確実に電気的接触が得られること、また、リ
ードの先端に不必要な力を加えることがないので、リー
ドの変形も起すことのない利点がある。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、ＩＣのリードの外周囲を
挟み接触する接触子を設けることによつて、より確実な
接触を得て、正確な測定が実施できる測定用コンタクタ
が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ＞及び（ｂ）は本発明の一実施例を示す測定
用コンタクタの正面図と断面図、第２図は本発明の他の
実施例の測定用コンタクタの動作順に示した断面図であ
る。 １・・・ＩＣ１１ａ・・・リード、２・・・接触子、３
，３ａ・・・板部材、４・・・基板、５・・・スプリン
グ、６・・・すり割り、７・・・穴、８・・・ガイドポ
スト。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　一面より垂直に突出する複数のリードをもつ半導体集
   積回路装置の電気特性を測定する際に、各々の前記リー
   ドと接触して信号の授受を行う接触子をもつ測定用コン
   タクタにおいて、前記接触子がその先端側に前記リード
   が挿入される穴を有するとともに先端側の外形寸法が後
   端側に行くに従って減少し、かつ、先端側より所定の長
   さですり割りが形成され、前記接触子の後端側より挿入
   する穴をもつ板部材を備え、この板部材の穴に挿入され
   た前記接触子の先端側に前記板部材を移動することによ
   って、前記接触子の穴に挿入された前記リードを締付け
   ることを特徴とする測定用コンタクタ。