JPH0471540A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0471540A JPH0471540A JP2182768A JP18276890A JPH0471540A JP H0471540 A JPH0471540 A JP H0471540A JP 2182768 A JP2182768 A JP 2182768A JP 18276890 A JP18276890 A JP 18276890A JP H0471540 A JPH0471540 A JP H0471540A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的コ
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体にＸ線を照射して得られる被検体のＸ
線吸収係数に関するデータを基にして被検体の断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置に係り、特にスキャン時に被検
体を体軸方向に移動させるいわゆるヘリカルスキャンを
行うＸｌＩＣＴ装置に関する。
線吸収係数に関するデータを基にして被検体の断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置に係り、特にスキャン時に被検
体を体軸方向に移動させるいわゆるヘリカルスキャンを
行うＸｌＩＣＴ装置に関する。
（従来の技術）
最近Ｘ線ＣＴ装置として、例えば第１１図に示すように
、Ｘ線管１０１及び検出器１０２を被検体Ｐの回りに回
転させるとともに、被検体Ｐを体軸方向（Ｘ線管１０１
及び検出器１０２が描く円に対して垂直な方向）に移動
させるいわゆるヘリカルスキャンを行うものが提案され
ている。この場合には第１２図に示すように、Ｘ線管１
０１の被検体Ｐに対する相対的な軌跡１０３はらせん形
状を描き、画像の再構成を行う際には、例えば軌跡１０
３の点ａから点すに至る部分に対応するデータを用いて
、これを点ａと点すとでつながった１回転分のデータと
みなして画像の再構成を行い、被検体Ｐの断層像を得る
。このようなヘリカルスキャンには、短時間で被検体Ｐ
の３次元的な情報を得ることができるという長所がある
。
、Ｘ線管１０１及び検出器１０２を被検体Ｐの回りに回
転させるとともに、被検体Ｐを体軸方向（Ｘ線管１０１
及び検出器１０２が描く円に対して垂直な方向）に移動
させるいわゆるヘリカルスキャンを行うものが提案され
ている。この場合には第１２図に示すように、Ｘ線管１
０１の被検体Ｐに対する相対的な軌跡１０３はらせん形
状を描き、画像の再構成を行う際には、例えば軌跡１０
３の点ａから点すに至る部分に対応するデータを用いて
、これを点ａと点すとでつながった１回転分のデータと
みなして画像の再構成を行い、被検体Ｐの断層像を得る
。このようなヘリカルスキャンには、短時間で被検体Ｐ
の３次元的な情報を得ることができるという長所がある
。
また、Ｘ線管１０１及び検出器１０２を回転させずに被
検体Ｐのみを体軸方向に移動させて撮影を行えば、被検
体Ｐの透視像（スキャノグラム）を得ることもできる。
検体Ｐのみを体軸方向に移動させて撮影を行えば、被検
体Ｐの透視像（スキャノグラム）を得ることもできる。
（発明が解決しようとする課題）
しかしながら上記した従来技術の場合には、スキャノグ
ラムを作成するためにはヘリカルスキャンとは別にスキ
ャノグラムを得るための撮影を行わなければならないの
で、手間がかかるという欠点があった。また、１方向か
らの透視像しか得ることができないという欠点もあった
。
ラムを作成するためにはヘリカルスキャンとは別にスキ
ャノグラムを得るための撮影を行わなければならないの
で、手間がかかるという欠点があった。また、１方向か
らの透視像しか得ることができないという欠点もあった
。
本発明は上記した従来技術の課題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、ヘリカルスキャ
ンにより簡単に、任意の方向からの透視像を得る二とが
てきるＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、ヘリカルスキャ
ンにより簡単に、任意の方向からの透視像を得る二とが
てきるＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明にあっては、被検体
にＸ線を照射するＸ線管及び被検体を透過したＸ線を検
出する検出器の被検体に対する相対的な軌跡がらせん形
状を描くようなヘリカルスキャンを行い、該ヘリカルス
キャンにより得られたデータを基にして画像の再構成を
行うＸ線ＣＴ装置において、 前記ヘリカルスキャンにより得られるデータのうち同一
回転位相のファンビームまたは同一方向の互いに平行な
ビームにより得られるデータを基にしてスキャノグラム
を作成するスキャノグラム作成手段が設けられて成るこ
とを特徴とする。
にＸ線を照射するＸ線管及び被検体を透過したＸ線を検
出する検出器の被検体に対する相対的な軌跡がらせん形
状を描くようなヘリカルスキャンを行い、該ヘリカルス
キャンにより得られたデータを基にして画像の再構成を
行うＸ線ＣＴ装置において、 前記ヘリカルスキャンにより得られるデータのうち同一
回転位相のファンビームまたは同一方向の互いに平行な
ビームにより得られるデータを基にしてスキャノグラム
を作成するスキャノグラム作成手段が設けられて成るこ
とを特徴とする。
（作用）
上記構成を有する本発明のＸ線ＣＴ装置においては、ヘ
リカルスキャンにより得られたデータを用いて上記スキ
ャノグラム作成手段によりスキャノグラムが作成される
ので、スキャノグラムを得るための撮影を別に行う必要
がなく手間がかからない。また、上記スキャノグラム作
成手段でスキャノグラムを作成する際に用いるデータを
与えるファンビームの回転位相または平行ビームの方向
を適宜選択することにより、被検体に対する任意の方向
からの透視像を得ることができる。
リカルスキャンにより得られたデータを用いて上記スキ
ャノグラム作成手段によりスキャノグラムが作成される
ので、スキャノグラムを得るための撮影を別に行う必要
がなく手間がかからない。また、上記スキャノグラム作
成手段でスキャノグラムを作成する際に用いるデータを
与えるファンビームの回転位相または平行ビームの方向
を適宜選択することにより、被検体に対する任意の方向
からの透視像を得ることができる。
（実施例）
以下に、本発明の実施例を図に基づいて説明する。第１
図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を示すブロ
ック図である。
図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を示すブロ
ック図である。
このＸ線ＣＴ装置においては、撮影時には架台１内に設
置されたＸ線管２と検出器３が被検体Ｐの回りを回転す
るとともに、被検体Ｐを載置した寝台天板４が寝台駆動
回路５によって、被検体Ｐの体軸方向（Ｘ線管２及び検
出器３が描く円に対して垂直な方向）に駆動される。す
なわち、Ｘ線管２及び検出器３の被検体Ｐに対する相対
的な軌跡がらせん形状を描くヘリカルスキャンを行う。
置されたＸ線管２と検出器３が被検体Ｐの回りを回転す
るとともに、被検体Ｐを載置した寝台天板４が寝台駆動
回路５によって、被検体Ｐの体軸方向（Ｘ線管２及び検
出器３が描く円に対して垂直な方向）に駆動される。す
なわち、Ｘ線管２及び検出器３の被検体Ｐに対する相対
的な軌跡がらせん形状を描くヘリカルスキャンを行う。
このときＸ線管２は高電圧発生回路６により電力を供給
されて被検体ＰにＸ線を照射し、検出器３が被検体Ｐを
透過したＸ線を検出する。
されて被検体ＰにＸ線を照射し、検出器３が被検体Ｐを
透過したＸ線を検出する。
検出器３で検出された被検体ＰのＸ線吸収係数に関する
データは電気信号としてデータ収集回路７に送られ、こ
こで信号処理が行われた後前処理回路８に送られる。前
処理回路８はこの信号に対数変換等の処理を行って得ら
れる投影データを磁気ディスク９に送り、磁気ディスク
９に上記ヘリカルスキャンにより得られた全データが保
存される。画像再構成部１０は磁気ディスク９から投影
データを読出し、これらのデータに演算処理を行って画
像を再構成する。この再構成画像は画像メモリ回路１１
を介して磁気ディスク９に保存される一方、表示モニタ
１２の画面上に被検体Ｐの断層像として表示される。
データは電気信号としてデータ収集回路７に送られ、こ
こで信号処理が行われた後前処理回路８に送られる。前
処理回路８はこの信号に対数変換等の処理を行って得ら
れる投影データを磁気ディスク９に送り、磁気ディスク
９に上記ヘリカルスキャンにより得られた全データが保
存される。画像再構成部１０は磁気ディスク９から投影
データを読出し、これらのデータに演算処理を行って画
像を再構成する。この再構成画像は画像メモリ回路１１
を介して磁気ディスク９に保存される一方、表示モニタ
１２の画面上に被検体Ｐの断層像として表示される。
また、上記前処理回路８て得られた投影データはスキャ
ノグラム作成手段としてのデータ並べ替え回路１３にも
送られ、このデータ並べ替え回路１３で被検体Ｐの透視
像であるスキャノグラムを作成することができる。この
スキャノグラム作成動作については後述する。作成され
たスキャノグラムは画像メモリ回路１１を介して磁気デ
ィスク９に保存される一方、表示モニタ１２の画面上に
表示される。なお、図中１４は装置各部の制御（システ
ム制御）を行うＣＰＵを示す。
ノグラム作成手段としてのデータ並べ替え回路１３にも
送られ、このデータ並べ替え回路１３で被検体Ｐの透視
像であるスキャノグラムを作成することができる。この
スキャノグラム作成動作については後述する。作成され
たスキャノグラムは画像メモリ回路１１を介して磁気デ
ィスク９に保存される一方、表示モニタ１２の画面上に
表示される。なお、図中１４は装置各部の制御（システ
ム制御）を行うＣＰＵを示す。
次に、データ並べ替え回路１３におけるスキャノグラム
作成動作について詳しく説明する。
作成動作について詳しく説明する。
■ファンビームによる透視像を作成する場合まず、ヘリ
カルスキャンにより得られるデータのうち第２図に示す
ような同一回転位相のファンビーム２０ ａ 、 ２
０ ｂ 、 ２０ ｃ 、 ２０ ｄ ・−・によ
り得られるデータのみを取出し被検体Ｐに対する位置の
順に並べて配置する。第３図は例えばファンビーム２０
ａを第２図における上方から見た図である。また、第２
図及び第３図における２１はＸ線焦点位置を示す。上記
したようにデータを並べると、第４図に示すような被検
体Ｐの透視像であるスキャノグラム２２が作成される。
カルスキャンにより得られるデータのうち第２図に示す
ような同一回転位相のファンビーム２０ ａ 、 ２
０ ｂ 、 ２０ ｃ 、 ２０ ｄ ・−・によ
り得られるデータのみを取出し被検体Ｐに対する位置の
順に並べて配置する。第３図は例えばファンビーム２０
ａを第２図における上方から見た図である。また、第２
図及び第３図における２１はＸ線焦点位置を示す。上記
したようにデータを並べると、第４図に示すような被検
体Ｐの透視像であるスキャノグラム２２が作成される。
第４図中実線部分は並べられたデータ部分を示す。
ところで、第５図に示すように、Ｘ線管２が位置Ａにあ
るときと位置Ｂにあるときには、同図に点線で示す同一
のＸ線パスを観察するチャンネルがあり、このように同
一通路を通る対向するＸ線ビームを対向ビームと呼んで
いる。上記スキャノグラム２２にこのような対向ビーム
により得られるデータを付加して並べると第６図（ａ）
に示すようになり（図中点線２３が付加データ部分を示
す）、これにさらに補間処理を行うと同図（ｂ）に示す
ようなスキャノグラム２４が得られる。図中鎖線２５が
補間データ部分である。このスキャノグラム２４の中央
部分では空間分解能が上記スキャノグラム２２のほぼ２
倍となる。
るときと位置Ｂにあるときには、同図に点線で示す同一
のＸ線パスを観察するチャンネルがあり、このように同
一通路を通る対向するＸ線ビームを対向ビームと呼んで
いる。上記スキャノグラム２２にこのような対向ビーム
により得られるデータを付加して並べると第６図（ａ）
に示すようになり（図中点線２３が付加データ部分を示
す）、これにさらに補間処理を行うと同図（ｂ）に示す
ようなスキャノグラム２４が得られる。図中鎖線２５が
補間データ部分である。このスキャノグラム２４の中央
部分では空間分解能が上記スキャノグラム２２のほぼ２
倍となる。
■平行ビームによる透視像を作成する場合まず、ヘリカ
ルスキャンにより得られるデータのうち第７図に示すよ
うな同一方向の互いに平行なビーム２６ ａ 、 ２
６ ｂ ・−、２７ａ 、 ２７ ｂ ・−２８ｇ、
２８ｂ・＝、２９ａ、２９ｂ−・・により得られるデー
タを、Ｘ線焦点位置３０の軌跡３１に沿って並べて配置
する。第８図は例えば上記平行ビーム２６ａ、２６ｂ・
・・を第７図における上方から見た図である。このよう
にデータを並べると第９図（ａ）に示すようになり、並
べたデータ間の補間処理を行うと同図（ｂ）に示すよう
なスキャノグラム３２が得られる。
ルスキャンにより得られるデータのうち第７図に示すよ
うな同一方向の互いに平行なビーム２６ ａ 、 ２
６ ｂ ・−、２７ａ 、 ２７ ｂ ・−２８ｇ、
２８ｂ・＝、２９ａ、２９ｂ−・・により得られるデー
タを、Ｘ線焦点位置３０の軌跡３１に沿って並べて配置
する。第８図は例えば上記平行ビーム２６ａ、２６ｂ・
・・を第７図における上方から見た図である。このよう
にデータを並べると第９図（ａ）に示すようになり、並
べたデータ間の補間処理を行うと同図（ｂ）に示すよう
なスキャノグラム３２が得られる。
さらに、上記■の場合と同様に、第９図（ａ）示すスキ
ャノグラムに、対向ビーム、すなわち上記平行ビームと
は反対向きで平行なビームにより得られるデータを付加
して並べると第１０図（ａ）に示すようになり（図中鎖
線３３が付加データ部分を示す）、これにさらに補間処
理を行うと同図（ｂ）に示すような、中央部の空間分解
能が上記スキャノグラム３２のほぼ２倍のスキャノグラ
ム３４が得られる。
ャノグラムに、対向ビーム、すなわち上記平行ビームと
は反対向きで平行なビームにより得られるデータを付加
して並べると第１０図（ａ）に示すようになり（図中鎖
線３３が付加データ部分を示す）、これにさらに補間処
理を行うと同図（ｂ）に示すような、中央部の空間分解
能が上記スキャノグラム３２のほぼ２倍のスキャノグラ
ム３４が得られる。
なお、上記補間処理については、各データが画像マトリ
ックス状に並ぶ様に計算して補間を行う。
ックス状に並ぶ様に計算して補間を行う。
また、上記■の場合に用いられるデータを与えるファン
ビームの回転位相や、上記■の場合に用いられるデータ
を与える平行ビームの方向を適宜選択することにより、
被検体Ｐに対して任意の方向からのスキャノグラム（透
視像）を作成することができる。
ビームの回転位相や、上記■の場合に用いられるデータ
を与える平行ビームの方向を適宜選択することにより、
被検体Ｐに対して任意の方向からのスキャノグラム（透
視像）を作成することができる。
上述したように、本実施例においては、ヘリカルスキャ
ンとは別の撮影を行うことなく、簡単に、任意の方向か
らの透視像を得ることができる。それによって診断のた
めの情報を多く得ることができ、診断能を高めることが
できる。また、ヘリカルスキャンにより得られたスキャ
ノグラムを用いて、画像再構成を行う位置の決定を簡単
に、正確に行うこともできる。
ンとは別の撮影を行うことなく、簡単に、任意の方向か
らの透視像を得ることができる。それによって診断のた
めの情報を多く得ることができ、診断能を高めることが
できる。また、ヘリカルスキャンにより得られたスキャ
ノグラムを用いて、画像再構成を行う位置の決定を簡単
に、正確に行うこともできる。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明は上記
実施例に限定されるものではな（種々変形実施が可能で
ある。
実施例に限定されるものではな（種々変形実施が可能で
ある。
［発明の効果コ
本発明のＸ線ＣＴ装置は以上の構成及び作用を有するも
ので、ヘリカルスキャンにより簡単に、被検体に対する
任意の方向からの透視像を得ることができ、診断能を高
めることができる。
ので、ヘリカルスキャンにより簡単に、被検体に対する
任意の方向からの透視像を得ることができ、診断能を高
めることができる。
第１図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を示す
ブロック図、第２図〜第１０図は同実施例におけるスキ
ャノグラム作成動作を説明するための説明図であり、第
２図は同一回転位相のファンビームを示す図、第３図は
第２図に示す）７ンビームを上方から見た図、第４図は
第２図に示すファンビームによるデータのみから作成さ
れたスキャノグラムを示す図、第５図は対向ビームを説
明するための説明図、第６図（ａ）は第４図のスキャノ
グラムに対向ビームによるデータを付加して作成したス
キャノグラムを示す図、同図（ｂ）はこのスキャノグラ
ムに補間処理を行って得られるスキャノグラムを示す図
、第７図は同一方向の互いに平行なビームを示す図、第
８図は第７図に示す平行ビームを上方から見た図、第９
図（ａ）は第７図に示す平行ビームによるデータのみを
並べて作成したスキャノグラムを示す図、同図（ｂ）は
このスキャノグラムに補間処理を行って得られるスキャ
ノグラムを示す図、第１０図（ａ）は第９図（、ａ）の
スキャノグラムに対向ビームによるデータを付加して作
成したスキャノグラムを示す図、 同図（ｂ）はこのス
キャノグラムに補間処理を行って得られるスキャノグラ
ムを示す図、第１１図はヘリカルスキャン時のＸ線管及
び検出器の状態を示す図、第１２図はヘリカルスキャン
時のＸ線管の被検体に対する相対的な軌跡を示す図であ
る。 ２・・・Ｘ線管 ３・・・検出器 １３・・・データ並べ替え回路 成手段） １４・・・ＣＰＵ Ｐ・・・被検体 （スキャノグラム作
ブロック図、第２図〜第１０図は同実施例におけるスキ
ャノグラム作成動作を説明するための説明図であり、第
２図は同一回転位相のファンビームを示す図、第３図は
第２図に示す）７ンビームを上方から見た図、第４図は
第２図に示すファンビームによるデータのみから作成さ
れたスキャノグラムを示す図、第５図は対向ビームを説
明するための説明図、第６図（ａ）は第４図のスキャノ
グラムに対向ビームによるデータを付加して作成したス
キャノグラムを示す図、同図（ｂ）はこのスキャノグラ
ムに補間処理を行って得られるスキャノグラムを示す図
、第７図は同一方向の互いに平行なビームを示す図、第
８図は第７図に示す平行ビームを上方から見た図、第９
図（ａ）は第７図に示す平行ビームによるデータのみを
並べて作成したスキャノグラムを示す図、同図（ｂ）は
このスキャノグラムに補間処理を行って得られるスキャ
ノグラムを示す図、第１０図（ａ）は第９図（、ａ）の
スキャノグラムに対向ビームによるデータを付加して作
成したスキャノグラムを示す図、 同図（ｂ）はこのス
キャノグラムに補間処理を行って得られるスキャノグラ
ムを示す図、第１１図はヘリカルスキャン時のＸ線管及
び検出器の状態を示す図、第１２図はヘリカルスキャン
時のＸ線管の被検体に対する相対的な軌跡を示す図であ
る。 ２・・・Ｘ線管 ３・・・検出器 １３・・・データ並べ替え回路 成手段） １４・・・ＣＰＵ Ｐ・・・被検体 （スキャノグラム作
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被検体にＸ線を照射するＸ線管及び被検体を透過したＸ
線を検出する検出器の被検体に対する相対的な軌跡がら
せん形状を描くようなヘリカルスキャンを行い、該ヘリ
カルスキャンにより得られたデータを基にして画像の再
構成を行うＸ線ＣＴ装置において、 前記ヘリカルスキャンにより得られるデータのうち同一
回転位相のファンビームまたは同一方向の互いに平行な
ビームにより得られるデータを基にしてスキャノグラム
を作成するスキャノグラム作成手段が設けられて成るこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182768A JPH0471540A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182768A JPH0471540A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0471540A true JPH0471540A (ja) | 1992-03-06 |
Family
ID=16124083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2182768A Pending JPH0471540A (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0471540A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001218767A (ja) * | 2000-01-15 | 2001-08-14 | Koninkl Philips Electronics Nv | スキャノグラムを形成するコンピュータ断層撮影方法 |
| JP2002191595A (ja) * | 1993-11-26 | 2002-07-09 | Toshiba Medical System Co Ltd | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2008018044A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2010504160A (ja) * | 2006-09-19 | 2010-02-12 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ヘリカル・コーン・ビームデータの射線整合方式による再構成 |
| JP4843666B2 (ja) * | 2005-03-08 | 2011-12-21 | ベルナー クンストシュトフ− ウント メタルヴァーレンファブリーク ゲーエムベーハー | 汎用おろし器 |
-
1990
- 1990-07-12 JP JP2182768A patent/JPH0471540A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002191595A (ja) * | 1993-11-26 | 2002-07-09 | Toshiba Medical System Co Ltd | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2001218767A (ja) * | 2000-01-15 | 2001-08-14 | Koninkl Philips Electronics Nv | スキャノグラムを形成するコンピュータ断層撮影方法 |
| JP4843666B2 (ja) * | 2005-03-08 | 2011-12-21 | ベルナー クンストシュトフ− ウント メタルヴァーレンファブリーク ゲーエムベーハー | 汎用おろし器 |
| JP2008018044A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2010504160A (ja) * | 2006-09-19 | 2010-02-12 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ヘリカル・コーン・ビームデータの射線整合方式による再構成 |
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