JPH0473089B2 - - Google Patents
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- JPH0473089B2 JPH0473089B2 JP1854183A JP1854183A JPH0473089B2 JP H0473089 B2 JPH0473089 B2 JP H0473089B2 JP 1854183 A JP1854183 A JP 1854183A JP 1854183 A JP1854183 A JP 1854183A JP H0473089 B2 JPH0473089 B2 JP H0473089B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 27
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
- G01D1/14—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving a distribution function of a value, i.e. number of times the value comes within specified ranges of amplitude
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indicating Measured Values (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は例えば空間平面における温湿度、照度
および放射線等の物理量の分布状態を測定・把握
するための物理量分布測定装置に関する。
および放射線等の物理量の分布状態を測定・把握
するための物理量分布測定装置に関する。
一般に比較的広い空間平面における温湿度、放
射線線量、塵あい濃度、および特殊ガス濃度等の
物理量の分布状態を検出、測定する場合測定者は
測定対象の物理量に適合した検出器あるいは測定
器を持参し、かつ測定位置を認識する為のフロア
マツプ図、機器配置図さらに測定結果を記入する
データシート等を携帯して前記空間平面上を移動
しなければならない。そして移動しながら多数の
測定位置毎に物理量を測定しその測定結果を測定
場所、測定時刻等の測定条件とともに前記データ
シート上に記録する。そしてこのデータシートに
記録されたデータをもとに測定空間平面内の物理
量の分布図の作成および分布状態の把握を手作業
で行なつている。
射線線量、塵あい濃度、および特殊ガス濃度等の
物理量の分布状態を検出、測定する場合測定者は
測定対象の物理量に適合した検出器あるいは測定
器を持参し、かつ測定位置を認識する為のフロア
マツプ図、機器配置図さらに測定結果を記入する
データシート等を携帯して前記空間平面上を移動
しなければならない。そして移動しながら多数の
測定位置毎に物理量を測定しその測定結果を測定
場所、測定時刻等の測定条件とともに前記データ
シート上に記録する。そしてこのデータシートに
記録されたデータをもとに測定空間平面内の物理
量の分布図の作成および分布状態の把握を手作業
で行なつている。
しかしながらこのような方法によると、測定位
置を確認し、測定を行ない、測定結果を記入する
といつた作業を各測定位置毎に行なわなければな
らず測定対象空間が広範囲にわたる場合には多大
な時間および労力を要し、その結果測定作業が煩
雑となり作業能率も低下する恐れがある。さらに
測定対象空間が放射線場等の危険空間の場合には
測定者の被曝等を考慮すると好ましいことではな
く、また測定後のデータ処理においても迅速に行
なうことが要求されている。
置を確認し、測定を行ない、測定結果を記入する
といつた作業を各測定位置毎に行なわなければな
らず測定対象空間が広範囲にわたる場合には多大
な時間および労力を要し、その結果測定作業が煩
雑となり作業能率も低下する恐れがある。さらに
測定対象空間が放射線場等の危険空間の場合には
測定者の被曝等を考慮すると好ましいことではな
く、また測定後のデータ処理においても迅速に行
なうことが要求されている。
本発明の目的とするところは測定エリア内を移
動し物理量を測定する作業を簡単にし作業時間の
短縮、安全性および作業性の向上を図り、また測
定後のデータ処理を迅速に行なうことができる信
頼性の高い物理量分布測定装置を提供することに
ある。
動し物理量を測定する作業を簡単にし作業時間の
短縮、安全性および作業性の向上を図り、また測
定後のデータ処理を迅速に行なうことができる信
頼性の高い物理量分布測定装置を提供することに
ある。
本発明の物理量分布測定装置は、ある空間平面
における温湿度、照度、放射線等の物理量の分布
を測定するための測定エリアのマツプ図及び機器
配置図等を作画する抵抗シートと、この抵抗シー
トに作画された図データを2次元座標データとし
て検出し記憶する図データ記憶手段と、物理量を
検出する物理量検出手段と、測定時に抵抗シート
に作画された図上の測定位置を指示する測定位置
指示手段と、この指示手段により指示された測定
位置データを2次元座標データとして検出し物理
量検出手段により検出されている物理量データと
1組のペアデータとして記憶する測定位置物理量
記憶手段と、この測定位置物理量記憶手段及び図
データ記憶手段にそれぞれ記憶されたデータ内容
に基づいて物理量分布図等を作成する演算処理手
段とを備えたものである。
における温湿度、照度、放射線等の物理量の分布
を測定するための測定エリアのマツプ図及び機器
配置図等を作画する抵抗シートと、この抵抗シー
トに作画された図データを2次元座標データとし
て検出し記憶する図データ記憶手段と、物理量を
検出する物理量検出手段と、測定時に抵抗シート
に作画された図上の測定位置を指示する測定位置
指示手段と、この指示手段により指示された測定
位置データを2次元座標データとして検出し物理
量検出手段により検出されている物理量データと
1組のペアデータとして記憶する測定位置物理量
記憶手段と、この測定位置物理量記憶手段及び図
データ記憶手段にそれぞれ記憶されたデータ内容
に基づいて物理量分布図等を作成する演算処理手
段とを備えたものである。
従つて、予め抵抗シートに測定エリアのマツプ
図及び機器配置図等を作画すると、その図データ
が2次元座標データとして検出され記憶される。
また測定時に測定エリア内を移動し測定位置にて
物理量を測定するとともに、抵抗シートに作画さ
れた図上の測定位置を指示すると、指示された測
定位置データが2次元座標データとして検出さ
れ、物理量検出手段により検出されている物理量
データと1組のペアデータとして記憶される。し
かして、前記図データ及び測定位置データと物理
量データとのペアデータに基づいて物理量分布図
等が作成される。
図及び機器配置図等を作画すると、その図データ
が2次元座標データとして検出され記憶される。
また測定時に測定エリア内を移動し測定位置にて
物理量を測定するとともに、抵抗シートに作画さ
れた図上の測定位置を指示すると、指示された測
定位置データが2次元座標データとして検出さ
れ、物理量検出手段により検出されている物理量
データと1組のペアデータとして記憶される。し
かして、前記図データ及び測定位置データと物理
量データとのペアデータに基づいて物理量分布図
等が作成される。
本発明の一実施例を説明するに際し本実施例で
使用するところのデイジタル化回路の動作原理に
ついて第1図および第2図を参照して説明する。
デイジタル化回路はアナログ量を符号化されたデ
イジタルコードに変換する機能を有してあり、平
面状の抵抗体(以後抵抗シートと称す)を流れる
電流の比や電圧の分割比から指示した位置を検出
しxおよびyの二次元座標として求めるものであ
る。第1図にその一例を示す。図中符号1は抵抗
シートを示す。この抵抗シート1の両端には縁端
電極2がそれぞれ設けられている。そして電源3
を有する電圧ペン4により抵抗シートに駆動電圧
を加える。その時電極2を流れる電流比から電圧
ペン4により駆動電圧を加えた地点のx座標を求
める構成である。
使用するところのデイジタル化回路の動作原理に
ついて第1図および第2図を参照して説明する。
デイジタル化回路はアナログ量を符号化されたデ
イジタルコードに変換する機能を有してあり、平
面状の抵抗体(以後抵抗シートと称す)を流れる
電流の比や電圧の分割比から指示した位置を検出
しxおよびyの二次元座標として求めるものであ
る。第1図にその一例を示す。図中符号1は抵抗
シートを示す。この抵抗シート1の両端には縁端
電極2がそれぞれ設けられている。そして電源3
を有する電圧ペン4により抵抗シートに駆動電圧
を加える。その時電極2を流れる電流比から電圧
ペン4により駆動電圧を加えた地点のx座標を求
める構成である。
また別の例を第2図に示す。図中符号5は抵抗
シート示す。この抵抗シート5上には導通シート
6が載置されている。また抵抗シート5の周囲に
は多数の電極が設けられておりダイオードスイツ
チ回路7によりx軸座標を時分割で検出し、ダイ
オードスイツチ回路8でy軸座標を時分割で検出
しこれらの検出信号をもとにコード化回路9によ
り二次元座標コードを得る構成である。
シート示す。この抵抗シート5上には導通シート
6が載置されている。また抵抗シート5の周囲に
は多数の電極が設けられておりダイオードスイツ
チ回路7によりx軸座標を時分割で検出し、ダイ
オードスイツチ回路8でy軸座標を時分割で検出
しこれらの検出信号をもとにコード化回路9によ
り二次元座標コードを得る構成である。
さらに別の例としては抵抗シートを2枚設け指
示した点においてこの2枚の抵抗シートを直接接
触させる方式を用い、前記電圧ペン等の専用ペン
を使用しないで二次元座標コードを得る方法もあ
る。
示した点においてこの2枚の抵抗シートを直接接
触させる方式を用い、前記電圧ペン等の専用ペン
を使用しないで二次元座標コードを得る方法もあ
る。
以上説明したところのデイジタル化回路を使用
した本発明の一実施例を第3図を参照して説明す
る。第3図は本実施例による物理量分布測定装置
の構成を示す図である。図中11は操作機構を示
す。この操作機構11は入力キー操作部12、デ
イジタル化回路13、電圧ペン14およびインタ
ーフエイス15とから構成されている。上記デイ
ジタル化回路13は抵抗シート16上に確認ペー
パシート17を載置し周囲にダイオードスイツチ
回路18,19を設けた構成である。そしてダイ
オード回路18によりx軸座標を検出しダイオー
ドスイツチ回路19によりy軸座標を検出する構
成である。そして前記入力キー操作部12により
作画動作モードあるいは測定モードの設定を行な
い、例えば作画動作モードを設定した場合には前
記電圧ペン14により測定場所の状況に促した、
あるいはこれから測定する位置が適確に把握でき
るような現場のマツプ図や配置図あるいは状況図
を確認ペーパシート17を介して抵抗シート16
上に作画する。これをダイオードスイツチ回路1
8,19により2次元座標として検出する構成で
ある。また入力キー操作部12により測定モード
を設定した場合には測定者は上記作画入力の記録
が残つている確認ペーパシート17を参照しなが
ら測定する位置を電圧ペン14により指示タツチ
する。この場合にも指示された測定位置はダイオ
ードスイツチ回路18,19により2次元座標と
して検出される構成である。図中20は検出機構
を示す。この検出機構20は物理量検出センサ2
1および検出信号処理回路22から構成されてい
る。また図中23は記憶機構を示す。この記憶機
構23はデータ処理/制御回路24、記憶メモリ
回路25および端末インターフエイス26とから
構成されている。すなわち前記電圧ペン14によ
り抵抗シート16に作画された図面はダイオード
スイツチ回路18,19により2次元座標として
検出されインターフエイス15を介してデータ処
理/制御回路24に入力され所定の信号形態に変
換、編成されたのち記憶メモリ回路25に記憶さ
れる構成である(図データ記憶手段)。また測定
時電圧ペン(測定位置指示手段)14により指示
された測定位置はダイオードスイツチ回路18,
19により2次元座標として検出されインターフ
エイス15を介して検出信号処理回路22および
データ処理/制御回路24に送られる。前記物理
量検出センサ21(物理量検出手段)は常時作動
しており、検出信号処理回路22は前記イターフ
エース15からの測定位置データの入力に応動し
て前記物理量検出センサ21からの検出信号をデ
ータ処理/制御回路24に転送する。データ処
理/制御回路24はこの検出信号および測定位置
信号を所定の信号形態に変換、編成して一組のペ
アデータとして記憶メモリ回路25に送り、記憶
させる構成である(測定位置物理量記憶手段)。
したがつて測定時には測定エリア内を移動し測定
位置にて物理量を測定するとともに、電圧ペン1
4により作画した図面に従つて順次測定位置を指
示していくだけで、その測定位置の物理量が検出
されペアデータとして記憶メモリ回路25に記憶
されていく構成である。図中26は演算処理機構
を示す。この演算処理機構27は物理量分布処理
専用演算回路28、グラフイツク表示回路29お
よびI/O出力機器30とから構成されている。
そして前記記憶メモリ回路25に記憶された作画
データと物理量測定データおよび測定位置データ
からなるペアデータは前記端末インターフエイス
15を介して物理量分布処理専用演算回路28に
入力されグラフイツク表示回路29により物理量
分布の状態図としてグラフイツク表示される構成
である(演算処理手段)。さらにI/O出力機器
30により物理量分布を記録整理する構成であ
る。なお操作機構11、検出機構20および記憶
機構23は一体化およびコンパクト化された可搬
形のものであり、測定者が測定時携帯する構成で
ある。
した本発明の一実施例を第3図を参照して説明す
る。第3図は本実施例による物理量分布測定装置
の構成を示す図である。図中11は操作機構を示
す。この操作機構11は入力キー操作部12、デ
イジタル化回路13、電圧ペン14およびインタ
ーフエイス15とから構成されている。上記デイ
ジタル化回路13は抵抗シート16上に確認ペー
パシート17を載置し周囲にダイオードスイツチ
回路18,19を設けた構成である。そしてダイ
オード回路18によりx軸座標を検出しダイオー
ドスイツチ回路19によりy軸座標を検出する構
成である。そして前記入力キー操作部12により
作画動作モードあるいは測定モードの設定を行な
い、例えば作画動作モードを設定した場合には前
記電圧ペン14により測定場所の状況に促した、
あるいはこれから測定する位置が適確に把握でき
るような現場のマツプ図や配置図あるいは状況図
を確認ペーパシート17を介して抵抗シート16
上に作画する。これをダイオードスイツチ回路1
8,19により2次元座標として検出する構成で
ある。また入力キー操作部12により測定モード
を設定した場合には測定者は上記作画入力の記録
が残つている確認ペーパシート17を参照しなが
ら測定する位置を電圧ペン14により指示タツチ
する。この場合にも指示された測定位置はダイオ
ードスイツチ回路18,19により2次元座標と
して検出される構成である。図中20は検出機構
を示す。この検出機構20は物理量検出センサ2
1および検出信号処理回路22から構成されてい
る。また図中23は記憶機構を示す。この記憶機
構23はデータ処理/制御回路24、記憶メモリ
回路25および端末インターフエイス26とから
構成されている。すなわち前記電圧ペン14によ
り抵抗シート16に作画された図面はダイオード
スイツチ回路18,19により2次元座標として
検出されインターフエイス15を介してデータ処
理/制御回路24に入力され所定の信号形態に変
換、編成されたのち記憶メモリ回路25に記憶さ
れる構成である(図データ記憶手段)。また測定
時電圧ペン(測定位置指示手段)14により指示
された測定位置はダイオードスイツチ回路18,
19により2次元座標として検出されインターフ
エイス15を介して検出信号処理回路22および
データ処理/制御回路24に送られる。前記物理
量検出センサ21(物理量検出手段)は常時作動
しており、検出信号処理回路22は前記イターフ
エース15からの測定位置データの入力に応動し
て前記物理量検出センサ21からの検出信号をデ
ータ処理/制御回路24に転送する。データ処
理/制御回路24はこの検出信号および測定位置
信号を所定の信号形態に変換、編成して一組のペ
アデータとして記憶メモリ回路25に送り、記憶
させる構成である(測定位置物理量記憶手段)。
したがつて測定時には測定エリア内を移動し測定
位置にて物理量を測定するとともに、電圧ペン1
4により作画した図面に従つて順次測定位置を指
示していくだけで、その測定位置の物理量が検出
されペアデータとして記憶メモリ回路25に記憶
されていく構成である。図中26は演算処理機構
を示す。この演算処理機構27は物理量分布処理
専用演算回路28、グラフイツク表示回路29お
よびI/O出力機器30とから構成されている。
そして前記記憶メモリ回路25に記憶された作画
データと物理量測定データおよび測定位置データ
からなるペアデータは前記端末インターフエイス
15を介して物理量分布処理専用演算回路28に
入力されグラフイツク表示回路29により物理量
分布の状態図としてグラフイツク表示される構成
である(演算処理手段)。さらにI/O出力機器
30により物理量分布を記録整理する構成であ
る。なお操作機構11、検出機構20および記憶
機構23は一体化およびコンパクト化された可搬
形のものであり、測定者が測定時携帯する構成で
ある。
以上の構成をもとに例えばあるプラントの配管
近傍における温度分布を測定する場合について説
明する。まず入力キー操作部12によりモードを
作画動作モードに設定する。そして電圧ペン14
により配管布設状態を第3図に示すように確認ペ
ーパシート17を介して抵抗シート16上に作画
する。この作画された図はダイオードスイツチ回
路18,19により2次元座標として検出されイ
ンターフエイス15を介してデータ処理/制御回
路24に送られ、そこで所定の信号形態に変換、
編成され記憶メモリ回路25に送られ記憶され
る。次に前記入力キー操作部12によりモードを
測定モードに設定する。そして測定者は測定対象
となつている配管近傍を移動して電圧ペン14に
より、確認ペーパーシート17を参照しながら測
定位置を順次指示タツチしていく。電圧ペン14
により指示された測定位置はダイオードスイツチ
回路18,19により2次元座標として検出され
インターフエイス15を介して検出信号処理回路
22およびデータ処理/制御回路24に送られ
る。検出信号処理回路22は前記インタフエース
15からの測定位置データの入力に応動して前記
物理量検出センサ21からの温度検出信号をデー
タ処理/制御回路24に送る。データ処理/制御
回路24はこの温度検出信号と測定位置信号を所
定の信号形態に変換、編成し1組のペアデータと
して記憶メモリ回路25に送る。したがつて記憶
メモリ回路25には前記配管布設状態を示す作画
データと測定位置データおよび温度検出データと
からなるペアデータが記憶されることになる。そ
してこの記憶メモリ回路25に記憶されたデータ
は物理量分布処理専用演算装置28に入力され演
算処理されグラフイツク表示回路29に送られ
る。そしてグラフイツク表示回路29により第4
図に示すようなグラフイツク表示がなされこれに
よつて配管近傍における温度分布状態を把握する
ことができる。第4図中符号31,32は作画さ
れた配管を示し、符号33は配管32に介挿され
た弁を示す。また記入された数字は指示された測
定位置における温度を示す。そしてこのようにし
て得られた配管近傍の温度分布はI/O出力機器
30により記録、フアイルされる。
近傍における温度分布を測定する場合について説
明する。まず入力キー操作部12によりモードを
作画動作モードに設定する。そして電圧ペン14
により配管布設状態を第3図に示すように確認ペ
ーパシート17を介して抵抗シート16上に作画
する。この作画された図はダイオードスイツチ回
路18,19により2次元座標として検出されイ
ンターフエイス15を介してデータ処理/制御回
路24に送られ、そこで所定の信号形態に変換、
編成され記憶メモリ回路25に送られ記憶され
る。次に前記入力キー操作部12によりモードを
測定モードに設定する。そして測定者は測定対象
となつている配管近傍を移動して電圧ペン14に
より、確認ペーパーシート17を参照しながら測
定位置を順次指示タツチしていく。電圧ペン14
により指示された測定位置はダイオードスイツチ
回路18,19により2次元座標として検出され
インターフエイス15を介して検出信号処理回路
22およびデータ処理/制御回路24に送られ
る。検出信号処理回路22は前記インタフエース
15からの測定位置データの入力に応動して前記
物理量検出センサ21からの温度検出信号をデー
タ処理/制御回路24に送る。データ処理/制御
回路24はこの温度検出信号と測定位置信号を所
定の信号形態に変換、編成し1組のペアデータと
して記憶メモリ回路25に送る。したがつて記憶
メモリ回路25には前記配管布設状態を示す作画
データと測定位置データおよび温度検出データと
からなるペアデータが記憶されることになる。そ
してこの記憶メモリ回路25に記憶されたデータ
は物理量分布処理専用演算装置28に入力され演
算処理されグラフイツク表示回路29に送られ
る。そしてグラフイツク表示回路29により第4
図に示すようなグラフイツク表示がなされこれに
よつて配管近傍における温度分布状態を把握する
ことができる。第4図中符号31,32は作画さ
れた配管を示し、符号33は配管32に介挿され
た弁を示す。また記入された数字は指示された測
定位置における温度を示す。そしてこのようにし
て得られた配管近傍の温度分布はI/O出力機器
30により記録、フアイルされる。
以上のように本実施による物理量分布測定装置
によると、電圧ペン14により測定対象である配
管の布設状態を抵抗シート16上に作画し作画デ
ータとして記憶メモリ回路25に記憶させておけ
ば、測定時に測定エリア内を移動し測定位置にて
物理量を測定するとともに、電圧ペン14により
測定位置を指示するだけで、その測定位置におけ
る温度を検出してペアデータとして記憶メモリ回
路25に順次記憶させることができるので測定作
業が簡単となり作業性も向上する。そして作業時
間も大巾に短縮されるので放射線場等の危険区域
で測定を行なう場合測定員の被曝低減を図ること
ができ安全性を大いに向上させることができる。
また測定位置を把握する為の図面等を実際の現場
の状況に応じて簡単に作画入力でき、その作画入
力した図と同一座標系にて測定位置を認識指定で
きるので測定位置の入力が画一化されまたその作
画入力した図上において分布を示すことができる
ので信頼性の高いデータを得ることができる。そ
して従来のように測定者が測定器からその都度デ
ータを読み取りデータシートに記憶するといつた
作業は不要となるので測定者の読み取り違いとい
つたことはなく正確なデータを得ることができ
る。さらに分布状態を的確に把握する為に必要な
温度等の物理量の絶対値、測定位置および測定対
象空間の周辺の状況をコンピユータ等の演算処理
に適応した信号形態で得ることができるのでデー
タ処理が容易となりまた処理時間も短縮される。
によると、電圧ペン14により測定対象である配
管の布設状態を抵抗シート16上に作画し作画デ
ータとして記憶メモリ回路25に記憶させておけ
ば、測定時に測定エリア内を移動し測定位置にて
物理量を測定するとともに、電圧ペン14により
測定位置を指示するだけで、その測定位置におけ
る温度を検出してペアデータとして記憶メモリ回
路25に順次記憶させることができるので測定作
業が簡単となり作業性も向上する。そして作業時
間も大巾に短縮されるので放射線場等の危険区域
で測定を行なう場合測定員の被曝低減を図ること
ができ安全性を大いに向上させることができる。
また測定位置を把握する為の図面等を実際の現場
の状況に応じて簡単に作画入力でき、その作画入
力した図と同一座標系にて測定位置を認識指定で
きるので測定位置の入力が画一化されまたその作
画入力した図上において分布を示すことができる
ので信頼性の高いデータを得ることができる。そ
して従来のように測定者が測定器からその都度デ
ータを読み取りデータシートに記憶するといつた
作業は不要となるので測定者の読み取り違いとい
つたことはなく正確なデータを得ることができ
る。さらに分布状態を的確に把握する為に必要な
温度等の物理量の絶対値、測定位置および測定対
象空間の周辺の状況をコンピユータ等の演算処理
に適応した信号形態で得ることができるのでデー
タ処理が容易となりまた処理時間も短縮される。
なお前記実施例ではデイジタル化回路13とし
て電圧ペン14、抵抗シート16およびダイオー
ドスイツチ回路18,19からなる構成のものを
使用したこれに限つたことではなく例えばマトリ
クス状の接点スイツチ式のもの、ライトペンとマ
トリクス状に配置された光検出素子の組合せによ
るもの、電流あるいは電圧の比から求めるもの、
静電容量から求めるものなどがあり、これらのも
のを使用しても同様の効果を奏することができ
る。また測定する物理量としては温度だけではな
く湿度、照度、放射線線量、塵あい濃度、特定ガ
ス濃度等測定値が電気信号として取り扱えるもの
であればよい。
て電圧ペン14、抵抗シート16およびダイオー
ドスイツチ回路18,19からなる構成のものを
使用したこれに限つたことではなく例えばマトリ
クス状の接点スイツチ式のもの、ライトペンとマ
トリクス状に配置された光検出素子の組合せによ
るもの、電流あるいは電圧の比から求めるもの、
静電容量から求めるものなどがあり、これらのも
のを使用しても同様の効果を奏することができ
る。また測定する物理量としては温度だけではな
く湿度、照度、放射線線量、塵あい濃度、特定ガ
ス濃度等測定値が電気信号として取り扱えるもの
であればよい。
以上詳述したように本発明によれば、予め抵抗
シートに測定エリアのマツプ図及び機器配置図等
を作画すると、その図データが2次元座標データ
として検出されて記憶される。また測定時に測定
エリア内を移動し測定位置にて物理量を測定する
とともに、抵抗シートに作画された図上の測定位
置を指示すると、指示された測定位置データが2
次元座標データとして検出され物理量検出手段に
より検出されている物理量データと1組のペアデ
ータとして記憶される。しかして、前記図データ
及び測定位置データと物理量データとのペアデー
タに基づいて物理量分布図等が作成される。
シートに測定エリアのマツプ図及び機器配置図等
を作画すると、その図データが2次元座標データ
として検出されて記憶される。また測定時に測定
エリア内を移動し測定位置にて物理量を測定する
とともに、抵抗シートに作画された図上の測定位
置を指示すると、指示された測定位置データが2
次元座標データとして検出され物理量検出手段に
より検出されている物理量データと1組のペアデ
ータとして記憶される。しかして、前記図データ
及び測定位置データと物理量データとのペアデー
タに基づいて物理量分布図等が作成される。
したがつて従来のように測定位置毎に測定デー
タを測定器から読み取りかつ測定位置を携帯して
いる図面等から判断してデータシートに記入する
といつた作業が不要となり、測定エリア内を移動
物理量を測定する作業の簡略化、作業時間の短
縮、作業性の向上を図ることができる。そして測
定位置を把握する為のマツプ図等を測定場所の状
況に応じて簡単に作成、入力することができ、こ
の作成、入力した図面上で測定位置を簡単かつ正
確に認識指定することができるので測定位置の入
力が画一化され信頼性の高いデータを得ることが
できる。また作業時間の短縮により例えば測定対
象空間が放射線場等の危険空間の場合には測定員
の被曝低減を図ることができる等安全性を大いに
向上させることができる等その効果は大である。
タを測定器から読み取りかつ測定位置を携帯して
いる図面等から判断してデータシートに記入する
といつた作業が不要となり、測定エリア内を移動
物理量を測定する作業の簡略化、作業時間の短
縮、作業性の向上を図ることができる。そして測
定位置を把握する為のマツプ図等を測定場所の状
況に応じて簡単に作成、入力することができ、こ
の作成、入力した図面上で測定位置を簡単かつ正
確に認識指定することができるので測定位置の入
力が画一化され信頼性の高いデータを得ることが
できる。また作業時間の短縮により例えば測定対
象空間が放射線場等の危険空間の場合には測定員
の被曝低減を図ることができる等安全性を大いに
向上させることができる等その効果は大である。
第1図および第2図はデイジタル化回路の構成
を示す図、第3図および第4図は本発明の一実施
例を示す図で、第3図は物理量分布測定装置の構
成を示す図、第4図はグラフイツク表示の一例を
示す図である。 11……操作機構、20……検出機構、23…
…記憶機構、27……演算処理機構。
を示す図、第3図および第4図は本発明の一実施
例を示す図で、第3図は物理量分布測定装置の構
成を示す図、第4図はグラフイツク表示の一例を
示す図である。 11……操作機構、20……検出機構、23…
…記憶機構、27……演算処理機構。
Claims (1)
- 1 ある空間平面における温湿度、照度、放射線
等の物理量の分布を測定する為の測定エリアのマ
ツプ図及び機器配置図等を作画する抵抗シート
と、この抵抗シートに作画された図データを2次
元座標データとして検出し記憶する図データ記憶
手段と、前記物理量を検出する物理量検出手段
と、測定時に前記抵抗シートに作画された図上の
測定位置を指示する測定位置指示手段と、この指
示手段により指示された測定位置データを2次元
座標データとして検出し前記物理量検出手段によ
り検出されている物理量データと1組のペアデー
タとして記憶する測定位置物理量記憶手段と、こ
の測定位置物理量記憶手段及び前記図データ記憶
手段にそれぞれ記憶されたデータ内容に基づいて
物理量分布図等を作成する演算処理手段とを具備
したことを特徴とする物理量分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1854183A JPS59150313A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 物理量分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1854183A JPS59150313A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 物理量分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150313A JPS59150313A (ja) | 1984-08-28 |
| JPH0473089B2 true JPH0473089B2 (ja) | 1992-11-19 |
Family
ID=11974486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1854183A Granted JPS59150313A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 物理量分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59150313A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300314A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Toshiba Corp | 測定データ管理装置、測定データ管理方法、及び測定データ管理プログラム |
| JP6296700B2 (ja) * | 2013-05-28 | 2018-03-20 | 日置電機株式会社 | 測定結果表示装置、測定システムおよび測定結果表示用プログラム |
| JP6174547B2 (ja) * | 2014-10-30 | 2017-08-02 | 株式会社小野測器 | 分布図表示装置及び方法 |
| JP6559760B2 (ja) * | 2017-12-08 | 2019-08-14 | 日置電機株式会社 | 測定結果表示装置および測定結果表示用プログラム |
-
1983
- 1983-02-07 JP JP1854183A patent/JPS59150313A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59150313A (ja) | 1984-08-28 |
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