JPH0473876U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0473876U JPH0473876U JP11683290U JP11683290U JPH0473876U JP H0473876 U JPH0473876 U JP H0473876U JP 11683290 U JP11683290 U JP 11683290U JP 11683290 U JP11683290 U JP 11683290U JP H0473876 U JPH0473876 U JP H0473876U
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- JP
- Japan
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- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図Ａは本考案の一実施例のＩＣテストクリ
ツプを示す正面図、第１図Ｂは第１図Ａ側面図、
第２図は第１図ＡのＩＣテストクリツプを分解し
て示した正面図、第３図Ａは第２図のユニツトの
結合前の状態を示す断面図、第３図Ｂは第２図の
ユニツトの結合後の状態を示す断面図である。 １，１２……２ピンユニツト、２，１１……６
ピンユニツト、３，４，１３，１４……エンドユ
ニツト、５……チエツクピン、６……押えスプリ
ング、７……くわえ口、１７，１８……結合部。
ツプを示す正面図、第１図Ｂは第１図Ａ側面図、
第２図は第１図ＡのＩＣテストクリツプを分解し
て示した正面図、第３図Ａは第２図のユニツトの
結合前の状態を示す断面図、第３図Ｂは第２図の
ユニツトの結合後の状態を示す断面図である。 １，１２……２ピンユニツト、２，１１……６
ピンユニツト、３，４，１３，１４……エンドユ
ニツト、５……チエツクピン、６……押えスプリ
ング、７……くわえ口、１７，１８……結合部。
Claims (1)
- 第１の多ピンユニツトと第２の多ピンユニツト
とが着脱可能な結合部で連結されてなることを特
徴とするＩＣテストクリツプ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11683290U JPH0473876U (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11683290U JPH0473876U (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0473876U true JPH0473876U (ja) | 1992-06-29 |
Family
ID=31864678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11683290U Pending JPH0473876U (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0473876U (ja) |
-
1990
- 1990-11-07 JP JP11683290U patent/JPH0473876U/ja active Pending