JPH0473947A - ウエハ移し換え方法 - Google Patents
ウエハ移し換え方法Info
- Publication number
- JPH0473947A JPH0473947A JP2188295A JP18829590A JPH0473947A JP H0473947 A JPH0473947 A JP H0473947A JP 2188295 A JP2188295 A JP 2188295A JP 18829590 A JP18829590 A JP 18829590A JP H0473947 A JPH0473947 A JP H0473947A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- wafers
- push
- chucks
- carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Collation Of Sheets And Webs (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、ウェハ移し換え方法に関する。
(従来の技術)
半導体製造工程例えばバッチ式の膜堆積熱処理工程では
、前工程の処理が終了した複数枚例えば25枚のウェハ
がキャリアにより搬送され、搬送されてきたキャリア内
のウェハは上記膜堆積処理工程に耐え得る例えば耐熱性
の石英ボートに例えば150枚移し換えられている。そ
して、石英ボートを熱処理炉内に搬入して、各種の膜堆
積処理を実施している。
、前工程の処理が終了した複数枚例えば25枚のウェハ
がキャリアにより搬送され、搬送されてきたキャリア内
のウェハは上記膜堆積処理工程に耐え得る例えば耐熱性
の石英ボートに例えば150枚移し換えられている。そ
して、石英ボートを熱処理炉内に搬入して、各種の膜堆
積処理を実施している。
上述したキャリア内のウェハを石英ボートに移し換え、
あるいは逆工程は、例えば特公昭61−4186、実開
昭81−205141.実開昭61−2244110号
公報等多数の公報に開示されている。
あるいは逆工程は、例えば特公昭61−4186、実開
昭81−205141.実開昭61−2244110号
公報等多数の公報に開示されている。
(発明が解決しようとする課題)
最大25枚収容できるキャリアには、必ずしも25枚の
ウェハが収容されるとは限らず、中抜けと称されるよう
に、キャリアのある溝にはウェハが搭載されていないこ
ともある。
ウェハが収容されるとは限らず、中抜けと称されるよう
に、キャリアのある溝にはウェハが搭載されていないこ
ともある。
二のような中抜けの状態のまま石英ボートにウェハを移
し換えた場合には、ボート上でのウェハの面間ピッチが
部分的に異なることになり、拡散やCVD等のプロセス
処理を行なう上で好ましくない。
し換えた場合には、ボート上でのウェハの面間ピッチが
部分的に異なることになり、拡散やCVD等のプロセス
処理を行なう上で好ましくない。
そこで、本発明の目的とするところは、ボートに移し換
える前に、予め押上部材上にてウェハの中抜は状態を検
出することのできるウェハ移し換え方法を提供すること
にある。
える前に、予め押上部材上にてウェハの中抜は状態を検
出することのできるウェハ移し換え方法を提供すること
にある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、キャリアに収容された複数枚のウェハを、該
ウェハの下端側を係合溝に保持して押上部材により押し
上げ、上記キャリアの上方に配置されている一対のチャ
ックにより、上記ウェハを挾持して移し換えるにあたり
、 ■ 上記押上部材の各係合溝にウェハを係合させた状態
でウェハの有無を検知し、 ■ ウェハが存在しない係合溝があった場合、蒸気押上
部材によりウェハを押し上げた状態で、対のチャックに
よりウニl\の抜けのないようにウェハを配列し、 ■ その後、押上部材に押し上げられているウェハのす
べてを上記一対のチャックにより挾持して移し換えるこ
とを特徴とする。
ウェハの下端側を係合溝に保持して押上部材により押し
上げ、上記キャリアの上方に配置されている一対のチャ
ックにより、上記ウェハを挾持して移し換えるにあたり
、 ■ 上記押上部材の各係合溝にウェハを係合させた状態
でウェハの有無を検知し、 ■ ウェハが存在しない係合溝があった場合、蒸気押上
部材によりウェハを押し上げた状態で、対のチャックに
よりウニl\の抜けのないようにウェハを配列し、 ■ その後、押上部材に押し上げられているウェハのす
べてを上記一対のチャックにより挾持して移し換えるこ
とを特徴とする。
(作 用)
工程■では、ウェハが存在していない係合溝か検出され
る。即ち、中抜けとなっている係合溝が検出される。次
に、工程■ては、ウエノ\が存在しない係合溝があった
場合、ウニl\を押上たまま中抜けがないように一対の
チャックにより並べ換えを行い、その後、工程■ては、
予め押上部材上にてウェハの中抜は状態を解消した後に
、一対のチャックによりすべてのウェハを移し換える。
る。即ち、中抜けとなっている係合溝が検出される。次
に、工程■ては、ウエノ\が存在しない係合溝があった
場合、ウニl\を押上たまま中抜けがないように一対の
チャックにより並べ換えを行い、その後、工程■ては、
予め押上部材上にてウェハの中抜は状態を解消した後に
、一対のチャックによりすべてのウェハを移し換える。
チャック装置によりウェハをそのまま移送することで、
ボートなどの処理容器にウェハの面間ピッチを等しくし
て移し換えすることができる。
ボートなどの処理容器にウェハの面間ピッチを等しくし
て移し換えすることができる。
(実施例)
以下、本発明を半導体ウエノ\の移し換え方法に適用し
た一実施例について、図面を参照して具体的に説明する
。
た一実施例について、図面を参照して具体的に説明する
。
本実施例のウェハ移送装置は、第2図に示すように、複
数のキャリア(カセットとも称される)20を載置する
キャリアステージ22と、ボート30が載置されたボー
トステージ32とが互いに隣接してほぼ平行に配置され
、これら各ステージ22.32に沿ってチャック装置4
0が移動する移動溝42が設けられている。
数のキャリア(カセットとも称される)20を載置する
キャリアステージ22と、ボート30が載置されたボー
トステージ32とが互いに隣接してほぼ平行に配置され
、これら各ステージ22.32に沿ってチャック装置4
0が移動する移動溝42が設けられている。
また、装置本体100の内部は、はぼ中空形状に形成さ
れ、第4図に示すようにその内部底面には前記移動溝4
2に沿って一対のレール50゜50が設けられ、このレ
ール50に沿ってスライダ52が移動するよう形成され
ている。
れ、第4図に示すようにその内部底面には前記移動溝4
2に沿って一対のレール50゜50が設けられ、このレ
ール50に沿ってスライダ52が移動するよう形成され
ている。
このスライダ52は、図示しないモータを用いてボール
ネジ54を回転駆動することによりそのスライド位置が
制御される。そして、このスライダ52上に前記チャッ
ク装置40が固定配置されている。このチャック装置4
0と隣接して、前記キャリア20の下方位置には、キャ
リア20内に収容されている半導体ウェハ例えば25枚
を1度に押し上げることができる押上装置60か配置さ
れている。この押上装置60も同様に、一対のレール6
4.64に沿って移動するスライダ66を有し、このス
ライダ66は、図示しないモータを用いてボールネジ6
8を回転駆動することによりそのスライド位置が制御さ
れる。そして、このスライダ66に上下動可能に押上板
62が支持されている。この両装置40.60を用いて
、キャリア20からウェハを取出し、ボート30へ移し
換える作業およびこの逆工程の作業が行われる。
ネジ54を回転駆動することによりそのスライド位置が
制御される。そして、このスライダ52上に前記チャッ
ク装置40が固定配置されている。このチャック装置4
0と隣接して、前記キャリア20の下方位置には、キャ
リア20内に収容されている半導体ウェハ例えば25枚
を1度に押し上げることができる押上装置60か配置さ
れている。この押上装置60も同様に、一対のレール6
4.64に沿って移動するスライダ66を有し、このス
ライダ66は、図示しないモータを用いてボールネジ6
8を回転駆動することによりそのスライド位置が制御さ
れる。そして、このスライダ66に上下動可能に押上板
62が支持されている。この両装置40.60を用いて
、キャリア20からウェハを取出し、ボート30へ移し
換える作業およびこの逆工程の作業が行われる。
前記キャリア20は、その両壁内面に、ウェハを一定間
隔で収納保持する縦溝20aが平行に形成されている。
隔で収納保持する縦溝20aが平行に形成されている。
半導体装置においては、このキャリア20に収納された
ウェハ群例えば最大25枚を1回のチャック単位として
取扱う。このため、前記収納用の溝20aは例えば31
16インチピッチ間隔で25本設けられ、最大25枚の
ウェハを1単位としてキャリア20内に収納できるよう
に形成されている。
ウェハ群例えば最大25枚を1回のチャック単位として
取扱う。このため、前記収納用の溝20aは例えば31
16インチピッチ間隔で25本設けられ、最大25枚の
ウェハを1単位としてキャリア20内に収納できるよう
に形成されている。
前記押上板62の表面には、第5図に示すように、前記
カセット20の収納溝20aのピッチ間隔に合わせて2
5本のウェハ支持溝62aが形成され、ウェハWをその
下端部を一定のピッチ間隔で支持する。このウェハ支持
溝62aは、例えば675±25μmの厚さのウェハW
に対して800μmの幅のスリット溝62bと、その上
端に60″の角度で開口するテーバ溝62cとから構成
され、押上板62上にてウェハWを垂直状態にて安定支
持できるようにしている。そして、この押上板62を上
方に移動させることにより、カセット20内に収納され
る複数枚のウェハWは押上板62によりその下端が安定
して支持された状態でカセット20から離れ上方へ移送
される。なお、本実施例では押上板24の各係合溝62
aに例えば光学式のセンサ(図示せず)が内蔵され、各
係合溝62aに関してウェハWが存在するか否かを検出
できるように構成されている。
カセット20の収納溝20aのピッチ間隔に合わせて2
5本のウェハ支持溝62aが形成され、ウェハWをその
下端部を一定のピッチ間隔で支持する。このウェハ支持
溝62aは、例えば675±25μmの厚さのウェハW
に対して800μmの幅のスリット溝62bと、その上
端に60″の角度で開口するテーバ溝62cとから構成
され、押上板62上にてウェハWを垂直状態にて安定支
持できるようにしている。そして、この押上板62を上
方に移動させることにより、カセット20内に収納され
る複数枚のウェハWは押上板62によりその下端が安定
して支持された状態でカセット20から離れ上方へ移送
される。なお、本実施例では押上板24の各係合溝62
aに例えば光学式のセンサ(図示せず)が内蔵され、各
係合溝62aに関してウェハWが存在するか否かを検出
できるように構成されている。
そして、キャリア20よりウェハWが完全に離脱される
上方所定位置まで移送された位置にてウェハWは、ウェ
ハ挾持手段として機能する前記チャック装置40を用い
て挾持され、所定の移動経路を経てウェハボート30に
向は移載される。
上方所定位置まで移送された位置にてウェハWは、ウェ
ハ挾持手段として機能する前記チャック装置40を用い
て挾持され、所定の移動経路を経てウェハボート30に
向は移載される。
前記チャック装置40は、第3図に示すように図中上下
方向へ昇降するヘッド44と、このヘッド44に水平移
動可能に支持されたスライドブロック46と、このスラ
イドブロック46の両端に取付けられ、ウェハWを挾持
するチャック部材の一例である2組の一対のチャック4
8.48とを有する。この一対のチャック48.48の
内面側には、それぞれ前記ウェハWをチャックするため
の溝が形成され、例えばキャリア2oの溝と同一ピッチ
の3/16インチピッチにて形成されている。
方向へ昇降するヘッド44と、このヘッド44に水平移
動可能に支持されたスライドブロック46と、このスラ
イドブロック46の両端に取付けられ、ウェハWを挾持
するチャック部材の一例である2組の一対のチャック4
8.48とを有する。この一対のチャック48.48の
内面側には、それぞれ前記ウェハWをチャックするため
の溝が形成され、例えばキャリア2oの溝と同一ピッチ
の3/16インチピッチにて形成されている。
また、第6図に示すように、上記2組の一対のチャック
48.48と対応して、前記押上装置60には、それぞ
れ独立して昇降可能な2組の前記押上板62.62が設
けられている。そして、一方の組と他方の組とでプロセ
スの種類により使い分けを行なうことで、プロセスクロ
スコンタミネーションを防止可能としている。
48.48と対応して、前記押上装置60には、それぞ
れ独立して昇降可能な2組の前記押上板62.62が設
けられている。そして、一方の組と他方の組とでプロセ
スの種類により使い分けを行なうことで、プロセスクロ
スコンタミネーションを防止可能としている。
次に、上記実施例装置における本発明方法の一実施例に
ついて第1図を参照して説明する。
ついて第1図を参照して説明する。
■ 工程
まず、キャリア20の上方にて開放状態にある一対のチ
ャック48.48を待機させた状態にて、このキャリア
20の下方より押上板62を押上げる。そして、第5図
に示す係合溝62aにウェハWの下端を係止した状態に
て、キャリア20より全てのウェハWを離脱させ、キャ
リア20の上方に移送する。このとき、押上板62の各
係合溝62aに内蔵されているウェハ検知センサ(図示
せず)、例えば谷溝62aに投光側、受光側を設け、こ
のフォトカプラ間にウェハの入った時と入らない時を光
電的に検出することにより、各係合溝62aに関してウ
ェハWの有無が検出される。
ャック48.48を待機させた状態にて、このキャリア
20の下方より押上板62を押上げる。そして、第5図
に示す係合溝62aにウェハWの下端を係止した状態に
て、キャリア20より全てのウェハWを離脱させ、キャ
リア20の上方に移送する。このとき、押上板62の各
係合溝62aに内蔵されているウェハ検知センサ(図示
せず)、例えば谷溝62aに投光側、受光側を設け、こ
のフォトカプラ間にウェハの入った時と入らない時を光
電的に検出することにより、各係合溝62aに関してウ
ェハWの有無が検出される。
■ 工程
次に、ウェハWが存在しない係合溝62aより最も左側
に存在する第1のウェハ群Wlを、一対のチャック48
.48の右端側の溝を用いてチャック出来るように、一
対のチャック48.48の水平位置を設定し、チャック
48.48の閉鎖駆動により第1のウェハ群W、をチャ
ックする。
に存在する第1のウェハ群Wlを、一対のチャック48
.48の右端側の溝を用いてチャック出来るように、一
対のチャック48.48の水平位置を設定し、チャック
48.48の閉鎖駆動により第1のウェハ群W、をチャ
ックする。
■ 工程
次に、第1のウェハ群w1を保持した一対のチャック4
8.48を、残りの第2.第3のウェハ群1iV 2
、 w3を支持した押上板62に対して上方に駆動し、
第1のウェハ群W、を押上板62より離脱させる。
8.48を、残りの第2.第3のウェハ群1iV 2
、 w3を支持した押上板62に対して上方に駆動し、
第1のウェハ群W、を押上板62より離脱させる。
■ 工程
第1のウェハ群w1を保持した一対のチャック48.4
8の高さ方向の位置を維持したまま、この一対のチャッ
ク48.48を右側に移動させ、第1のウェハ群w1の
最も右側のウェハが、第2のウェハ群w2の左側に位置
する係合溝62aの上方に設定する。
8の高さ方向の位置を維持したまま、この一対のチャッ
ク48.48を右側に移動させ、第1のウェハ群w1の
最も右側のウェハが、第2のウェハ群w2の左側に位置
する係合溝62aの上方に設定する。
■ 工程
第1のウェハ群w1を保持した一対のチャック48.4
8の水平方向の位置を維持したまま、この一対のチャッ
ク48.48を下降移動させる。
8の水平方向の位置を維持したまま、この一対のチャッ
ク48.48を下降移動させる。
そして、押上板62の係合溝62aの第1のウェハ群w
、が支持された後に、一対のチャック48゜48を開放
する。この結果、第1.第2のウェハ群wl、w2の間
に中抜けのない状態が実現される。
、が支持された後に、一対のチャック48゜48を開放
する。この結果、第1.第2のウェハ群wl、w2の間
に中抜けのない状態が実現される。
■ 工程
次に、第1.第2のウェハ群’W 1. W 2 Lつ
いて、上述した■〜■工程を実施する。即ち、第1゜第
2のウェハ群W+、W7を、上記各工程での第1のウェ
ハ群w1と同様に取り扱うことで、第1図の■に示すよ
うなウェハの並べ換え状態、即ち、押上板62上にて右
詰めの配列状態を実現できる。
いて、上述した■〜■工程を実施する。即ち、第1゜第
2のウェハ群W+、W7を、上記各工程での第1のウェ
ハ群w1と同様に取り扱うことで、第1図の■に示すよ
うなウェハの並べ換え状態、即ち、押上板62上にて右
詰めの配列状態を実現できる。
このように、押上板62の水平位置とは独立して、一対
のチャック48.48の水平位置を任意に設定可能とす
ることで、押上板62上にてウェハWの中抜けのない並
べ換えを実現できる。ウェハWを左詰めする場合にも、
同様にして実現可能である。上記したウェハの移し換え
は、熱処理用石英ボートに収容され、石英管内での熱処
理を全てのウェハについて均一にできる効果がある。す
なわちウェハの間欠部があると、その部分で処理ガス流
に変化が生ずるためである。
のチャック48.48の水平位置を任意に設定可能とす
ることで、押上板62上にてウェハWの中抜けのない並
べ換えを実現できる。ウェハWを左詰めする場合にも、
同様にして実現可能である。上記したウェハの移し換え
は、熱処理用石英ボートに収容され、石英管内での熱処
理を全てのウェハについて均一にできる効果がある。す
なわちウェハの間欠部があると、その部分で処理ガス流
に変化が生ずるためである。
このような効果ばかりでなく、−度に多数枚の処理を実
行できる効果がある。
行できる効果がある。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
例えば、押上部材上にてウェハの中抜けが無いか否かの
検出は、必ずしも押上部材片に内蔵したセンサによらず
に、他の手段により検出することもできる。
検出は、必ずしも押上部材片に内蔵したセンサによらず
に、他の手段により検出することもできる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、押上部材上にてウ
ェハの中抜けのない状態に並べ換えることができ、その
後熱処理用容器にそのままウェハを移し換えることで、
ウェハの面間ピッチを等しくできるので、処理の均一性
を確保できる。
ェハの中抜けのない状態に並べ換えることができ、その
後熱処理用容器にそのままウェハを移し換えることで、
ウェハの面間ピッチを等しくできるので、処理の均一性
を確保できる。
第1図は、本発明方法の一実施例を説明するための工程
説明図、 第2図は、ウェハ移送装置の概略斜視図、第3図は、一
対のチャック装置の概略斜視図、第4図は、一対のチャ
ック、キャリア及び押上装置の位置関係を説明するため
の側面図、第5図は、押上板の係合溝の拡大図、 第6図は、2組の一対のチャック及び2j/Iiの押上
板の関係を示す概略説明図である。 W・・・ウェハ、 20・・・キャリア、 48・・・チャック60・・・
押上装置、 62・・・押上板62a・・・係合溝。 第5図 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第6図
説明図、 第2図は、ウェハ移送装置の概略斜視図、第3図は、一
対のチャック装置の概略斜視図、第4図は、一対のチャ
ック、キャリア及び押上装置の位置関係を説明するため
の側面図、第5図は、押上板の係合溝の拡大図、 第6図は、2組の一対のチャック及び2j/Iiの押上
板の関係を示す概略説明図である。 W・・・ウェハ、 20・・・キャリア、 48・・・チャック60・・・
押上装置、 62・・・押上板62a・・・係合溝。 第5図 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第6図
Claims (1)
- (1)キャリアに収容された複数枚のウェハを、該ウェ
ハの下端側を係合溝に保持して押上部材により押し上げ
、上記キャリアの上方に配置されている一対のチャック
により、上記ウェハを挾持して移し換えるにあたり、 上記押上部材の各係合溝にウェハを係合させた状態でウ
ェハの有無を検知し、 ウェハが存在しない係合溝があった場合、上記押上部材
によりウェハを押し上げた状態で、一対のチャックによ
りウェハの抜けのないようにウェハを配列し、 その後、押上部材に押し上げられているウェハの全てを
上記チャックにより挾持して移し換えることを特徴とす
るウェハ移し換え方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2188295A JPH0473947A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | ウエハ移し換え方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2188295A JPH0473947A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | ウエハ移し換え方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0473947A true JPH0473947A (ja) | 1992-03-09 |
Family
ID=16221120
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2188295A Pending JPH0473947A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | ウエハ移し換え方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0473947A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014170969A1 (ja) * | 2013-04-17 | 2017-02-16 | 株式会社島津製作所 | 基板処理システム |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP2188295A patent/JPH0473947A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014170969A1 (ja) * | 2013-04-17 | 2017-02-16 | 株式会社島津製作所 | 基板処理システム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN216288355U (zh) | 一种晶圆转移系统 | |
| US8303232B2 (en) | Substrate processing system | |
| US4806057A (en) | Automatic wafer loading method and apparatus | |
| KR20020015966A (ko) | 수직열처리장치와 수직열처리장치의 제어방법 및피처리체를 운송하는 방법 | |
| JP2009170933A (ja) | 基板ホルダ、積層ボート、半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
| JPH0159352B2 (ja) | ||
| US6158951A (en) | Wafer carrier and method for handling of wafers with minimal contact | |
| US6132160A (en) | Substrate transferring apparatus | |
| US4960298A (en) | Semiconductor wafer pick-up device | |
| JP2009099996A (ja) | 縦型熱処理装置及び被処理体移載方法 | |
| EP0496006A1 (en) | Wafer transfer apparatus | |
| JPH0473947A (ja) | ウエハ移し換え方法 | |
| JP2651858B2 (ja) | ウエハ移替え装置 | |
| US5970807A (en) | Tweezer position checker | |
| JP3912478B2 (ja) | 基板搬送装置 | |
| JP2706665B2 (ja) | 基板移載装置及び処理装置 | |
| JP4590162B2 (ja) | 基板ホルダ、積層ボート、半導体製造装置および半導体装置の製造方 | |
| JPH0473948A (ja) | 基板移載装置 | |
| JP2630366B2 (ja) | 板状体の搬入搬出方法および搬入搬出装置 | |
| JPH0271544A (ja) | 基板移載装置 | |
| JPH02184044A (ja) | ウエハ移し換え方法 | |
| JP2657187B2 (ja) | 並べ換え方法及び並べ換え装置 | |
| KR20050052350A (ko) | 카세트대 및 웨이퍼검사장치 | |
| JP2592304B2 (ja) | 半導体ウエハの移載方法 | |
| JP2550553Y2 (ja) | 表面処理装置のウエハ移替装置 |