JPH0474940A - 測定装置 - Google Patents

測定装置

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Publication number
JPH0474940A
JPH0474940A JP18861090A JP18861090A JPH0474940A JP H0474940 A JPH0474940 A JP H0474940A JP 18861090 A JP18861090 A JP 18861090A JP 18861090 A JP18861090 A JP 18861090A JP H0474940 A JPH0474940 A JP H0474940A
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JP
Japan
Prior art keywords
receiving plate
strain
load
plate
beam part
Prior art date
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Pending
Application number
JP18861090A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Fukuyama
博 福山
Kazuaki Hama
和明 浜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bridgestone Corp
Original Assignee
Bridgestone Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は重量を測定したり、種々の力の測定に利用で
きるひずみゲージを使用した測定装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来の測定装置としては、いわゆるビーム型ロードセル
とよばれるものが知られている。これは、第7図ないし
第9図に示すような構造のものであり、基盤1と荷重板
100との間に受板101を設けである。この受板10
1の一端側は基盤1に取付けられ、他端側は荷重板10
0に取付けられている。この受板101は金属材料から
形成され第7図に示すように眼鏡型の貫通孔102を両
側面を貫通するように形成しである。この貫通孔102
の上下にひずみゲージ103を取付けである。
このような貫通孔102を形成することにより金属製の
受板101の両端及び中央部の剛性を高め剛性の低い個
所にひずみゲージ103を上下に4枚貼り付けたもので
ある。(第8図及び第9図参照)。この貫通孔102は
眼鏡型に繰り抜いである。このような測定装置において
、荷重板100に上方から荷重がかかると、受板101
に曲げが発生し、剛性の低い個所にひずみゲージ103
を通じて受板101のひずみ量を電気的な信号として取
り出すことでひずみ量を測定する。
〔解決しようとする課題〕
従来の測定装置では、受板101に対し眼鏡型の繰り抜
き加工を施して貫通孔102を形成するため、工数がか
かり受板101として薄型のものを造りにくいものであ
った。例えば、500kgの容量のものでは受板101
の厚みは10闘以上必要であった。また、このような従
来の測定装置では精度を出すためにひずみゲージが4枚
必要となり、これ以下にすると精度が劣るものであった
。
また、ひずみゲージ103を受板101の外側に貼り付
けるため防水対策がしにくいという不都合もあった。
そこで、この発明は眼鏡型の繰り抜き加工を不要とし、
薄型の受板にすることができ、ひずみゲージの数を減少
できるとともに、ひずみゲージに対する防水対策も施し
た測定装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕 上述の目的を達成するた約、この発明は、基盤から所定
の間隔を開けて一端側を基盤側に取付けた受板と、この
受板の両側面から中心に向けて上面を残して受板の底面
側も開口するように形成された切り欠きと、これら切り
欠きにより形成された受板の大略中央に位置する梁部と
、この梁部の両側面に取付けられ受板に荷重が加えられ
た時に梁部の剪断ひずみ量を検出するひずみゲージとか
らなるものである。
〔作用〕
この発明においては直接又は間接に受板に荷重がかかる
と、受板に曲げが発生するが、同時に剛性の低い梁部に
剪断ひずみが発生する。この剪断ひずみ量をひずみゲー
ジで検出し、これを電気的に増幅して検出し表示するこ
とで重量や各種の力の測定が可能となる。また、従来の
ように眼鏡型の繰り抜き加工ではなぐ底面も開口する切
り欠きを形成するので加工も容易であり、受板を薄くし
ても強度的に充分なものとなる。
〔実施例〕
以下に、この発明の好適な実施例を図面を参照にして説
明する。
第1図に示す実施例は、従来と同様に基盤1と荷重板2
との間に受板3を介在させ荷重板2に加えられた荷重を
受板3がうけるようになっている。
この受板3は、基盤1から所定の間隔をあけるために設
けられたスペーサー4を介してねじ5により基盤1にそ
の一端側が取付けてあり、他端側はスペーサー6を介し
てねじ7により荷重板2に取付けである。荷重板2の裏
面には補強用のリブ8を設けである。受板3の両側面か
ら中心に向けて上面を残して受板3の底面側も開口する
ように2つの切り欠き9.10を形成しである。これら
切り欠きにより形成された受板3の大略中央に位置して
梁部11が設けられる。受板3の両端にはねじ5,7が
挿通されるための孔5A、7Aが開けられている。切り
欠き9.10の形成により設けられる梁部11の両側面
には受板3に荷重が加えられたときに梁部11の剪断ひ
ずみ量を検出するひずみゲージ12.13を取付けであ
る。切り欠き9,10と梁部11及びひずみゲージ12
,13の詳細は第2図ないし第5図に示す通りである。
この実施例においては受板3の厚みを1’2mm、スペ
ーサー4.6の厚みを2[0111,荷重板2の厚みを
4關、補強用のリブ8の厚みを10mmとした。また、
基盤1の厚みは5mmとし、全体としての厚みを25m
mとした。荷重板2の大きさは250mmx250mm
、積載容量は500kg、精度は0.1%の直線性を得
た。受板3の大きさは120mmx6011110、ス
テンレス板から形成し幅12mm、深さ10mm、奥行
き20闘の切り欠き9.10を切削して形成し、輻20
闘の梁部11を残した。梁部11の両側面に取付けられ
るひずみゲージ12.13は剪断型のひずみゲージを取
付けた。
このように構成された測定装置において、スペーサー6
を介して荷重板2にねじ7で取付けた側の受板3の他端
にWなる応力を加えると、梁部11に剪断力が発生する
。ここで、梁部11および基盤1の断面積をAとし、剪
断応力をτとすると、τ=W/Aとなる。
横弾件係数をGとし、剪断ひずみをTとすると、γ=τ
/Gとなる。
第5図に示すように剪断型のひずみゲージは45度の角
度をもっているためゲージに加わるひずみをεとすると
、 ε=r/(2となる。
このようなひずみゲージ12.13を第6図のように結
線すると、入力端子Eと出力電圧eの関係は、 e=4K・ε・E (Kはゲージファクター)即ち、入
力電圧と剪断ひずみに比例した出力が得られる。温度変
化が生じた場合、第6図に示すゲージ12−Aと12−
B、13−A、13−Bが相互に抵抗値の増減に対し打
ち消し合うため、温度補償がそのままで行える。力の作
用点がずれた場合の精度低下についても、曲げ成分によ
る影響は、ゲージ12−八と12−B、13−A、13
−Bが相互に抵抗値の増減に対し打ち消し合うため補償
され低下を防止できる。また、ねじれが発生した場合も
、ゲージ12−Aが延びる方向に作用したときは、ゲー
ジ13−Bが縮むため出力の変化は打ち消される。ゲー
ジ12−Aが延びる方向に作用したときは、ゲージ12
−Bは縮むが、これもゲージ13−Bが延びるため、出
力の変化は打ち消される。従って、温度変化1曲げ、ね
じれの影響はすべて補償される。
上述した実施例では、受板3の上に荷重板2を取付けた
が、受板3が直接荷重を受けるような構成にすることも
勿論可能である。なお、基盤1としては板状のものに限
る必要はなく、工場内の床自体であっても良い。
〔効果〕
以上説明したように、この発明によれば、基盤から所定
の間隔を開けて一端側を基盤に取付けた受板と、この受
板の両側面から中心に向けて上面を残して受板の底面側
も開口するように形成された切り欠きとこれら切り欠き
により形成された受板の大略中央に位置する梁部とこの
梁部の両側面に取付けられ受板に荷重が加えられたとき
に梁部の剪断ひずみ量を検出するひずみゲージとからな
るものであり、従来のような眼鏡型の繰り抜き加工が不
要となり、受板の加工工数も低減する。また、従来より
も薄型のものを製作することができ、小型化およびコス
トダウンを図ることが可能となる。また、ひずみゲージ
は切り欠きにより形成された梁部の両側面に取付けられ
るので、ひずみゲージは内側に取付けられることとなり
防水対策がし易いものとなる。また精度的にもひずみゲ
ージの数が少なくても従来以上の精度を確保できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の好適な実施例を示す断面図、第2図
は受板の平面図、第3図は第2図のA−A線断面図、第
4図は受板の底面側から見た斜視図、第5図は第4図の
梁部の個所の拡大斜視図、第6図はひずみゲージの結線
図、第7図は従来例を示す断面図、第8図は従来例にお
ける受板の平面図、第9図は第8図B−B線断面図であ
る。 1・・・基盤、       3・・・受板、9.10
・・・切り欠き、   11・・・梁部、12.13・
・・ひずみゲージ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基盤から所定の間隔をあけて一端側を基盤に取付け
    た受板と、 この受板の両側面から中心に向けて上面を残して受板の
    底面側も開口するように形成された切り欠きと、 これらの切り欠きにより形成された受板の大略中央に位
    置する梁部と、 この梁部の両側面に取付けられ受板に荷重が加えられた
    ときに梁部の剪断ひずみ量を検出するひずみゲージとか
    ら成る測定装置。
JP18861090A 1990-07-17 1990-07-17 測定装置 Pending JPH0474940A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18861090A JPH0474940A (ja) 1990-07-17 1990-07-17 測定装置

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JP18861090A JPH0474940A (ja) 1990-07-17 1990-07-17 測定装置

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Publication Number Publication Date
JPH0474940A true JPH0474940A (ja) 1992-03-10

Family

ID=16226689

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18861090A Pending JPH0474940A (ja) 1990-07-17 1990-07-17 測定装置

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JP (1) JPH0474940A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002098601A (ja) * 2000-09-26 2002-04-05 Molten Corp ずれ力測定装置
JP2009539116A (ja) * 2006-05-30 2009-11-12 ザ・ティムケン・カンパニー 変位、歪および力センサ

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JP2002098601A (ja) * 2000-09-26 2002-04-05 Molten Corp ずれ力測定装置
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