JPH0476426B2 - - Google Patents

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JPH0476426B2
JPH0476426B2 JP14766585A JP14766585A JPH0476426B2 JP H0476426 B2 JPH0476426 B2 JP H0476426B2 JP 14766585 A JP14766585 A JP 14766585A JP 14766585 A JP14766585 A JP 14766585A JP H0476426 B2 JPH0476426 B2 JP H0476426B2
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JP
Japan
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measured
brightness
reflection
diffuse reflection
measuring
Prior art date
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Application number
JP14766585A
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English (en)
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JPS629256A (ja
Inventor
Hirotaka Kubota
Yoshihiko Nakano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication of JPS629256A publication Critical patent/JPS629256A/ja
Publication of JPH0476426B2 publication Critical patent/JPH0476426B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明の物体の光学的反射特性としての拡散反
射輝度を測定する方法に関する。
(従来の技術) 従来、反射光量の測定に関しては、JIS
Z8722、JIS Z8741に開示された方法があるが、
これらは物体色の測定方法及び鏡面光沢度測定方
法に係るもので、拡散反射輝度の測定に関するも
のは特にみあたらない。
拡散反射輝度の測定では、如何にして正反射成
分を除去し、拡散反射成分のみを抽出するかが問
題となるが、従来、これを行うためには、照明及
び受光に関する細かい幾何学的条件(例えば、
JIS Z8722の4、3、1項等)を満足させること
で正反射成分が輝度測定器の受光系に混入しない
ようにしていた。
なお、本明細書において、拡散反射とは、拡散
性の反射面において、巨視的にみて反射の法則と
無関係に多くの方向に光を拡散する反射を言い、
また正反射とは、拡散性の反射面において、巨視
的にみて反射の法則に従う光の反射を言う。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記従来の方法では、細かい幾
何学的条件が制約となり被測定物体及び測定器、
照明器具等の設定に困難があつた。
本発明は、このような従来技術の問題点を解決
するためになされたものであつて、正反射成分を
除去または極小にし、容易にかつ正確に被測定物
体の拡散反射輝度を測定する方法を提供すること
を目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は実質的にあらゆる方向から物体の被測
定面を均等に照射し、被測定面における拡散反射
による輝度を輝度測定手段により測定する拡散反
射輝度測定方法に係るもので、前記従来技術の問
題点を解決するため、被測定面を反射面としたと
きに輝度測定手段の受光系に正反射成分を与える
方向に正反射成分を除去する手段を設けて測定を
行なうようにしたものである。正反射成分を除去
する手段としては、入射してくる光を全て吸収す
る物質、物体が理想であるが、実際には測定精度
に影響を与えない程度の反射率を有する物質、物
体が使用される。
(作用) 正反射成分を除去する手段は輝度測定手段の受
光系に入る正反射成分を除去もしくは極小にする
ので、測定すべき拡散反射成分のみが効果的に抽
出され、これを輝度測定手段が被測定面の法線方
向を除くあらゆる角度から測定できるようにな
る。したがつて細かな幾何学的条件の制約をとら
われずに容易にかつ精度良く拡散反射輝度の測定
を行なうことができる。
(実施例) 以下、本発明の測定方法を第1図に基づき詳細
に説明する。同図において1は被測定面、2は輝
度測定器、3は正反射成分を除去もしくは極小に
押えるために配備する黒い物体(以下ブラツクボ
ードと呼ぶ)である。一点鎖線は被測定面1の法
線を示し、αは輝度測定器2の光軸と法線との成
す角度、θはブラツクボード3と法線との成すお
およその角度を示す。また、照明はあらゆる方向
から均等に被測定面1を照明するようにし、輝度
測定器2あるいはブラツクボード3により被測定
面1上に影を作らないようにする。
各要素の設置条件としては、輝度測定器2の光
軸、被測定面1の法線及びブラツクボード3は同
一平面内にあることとする。更に、ブラツクボー
ド3の設置位置は、その設置目的が巨視的に反射
の法則に従う正反射成分を取り除くまたは極小に
することにあるため、θ=α(≠0°)となるよう
な位置に設置することが絶対条件となる。
また、ブラツクボード3の大きさは、被測定面
1上へのブラツクボード3自身の投影像が輝度測
定器2の測定視野を充分に内包するような大きさ
であることが要求される。従つて、ブラツクボー
ド3の大きさはブラツクボード3と被測定面1と
の設置距離にも依存して決定される。
また、ブラツクボード3は、入射する光を全て
吸収するような物質または物体を理想とし、その
ような物体としてはキルヒホツフの暗箱等が考え
られるが、一般には測定精度に影響を与えない程
度の黒さ(反射率)の物体にする。ブラツクボー
ド3として用いる物体の反射率は、正反射を除去
するという意味で直接測定精度に影響を与えるた
め、測定の要求精度及び被測定面1の反射特性を
充分考慮し測定精度への影響を最小とするような
配慮が必要である。特に被測定面1の反射におけ
る正反射成分の割合が大きいほど測定精度への影
響が大きくなるため、そのような物体の測定にお
いては反射率の低い物体をブラツクボード3とし
て用いることが測定精度を上げる上で重要とな
る。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、
正反射成分除去手段(ブラツクボード)により正
反射成分を除去することとしたので、被測定面の
法線上を除きあらゆる角度から容易に拡散反射輝
度の測定が可能となり、形状、大きさ、重量等の
関係で被測定物体の移動、設置に困難を伴うよう
な場合にも比較的柔軟に対処でき、測定が容易と
なる。本発明は例えば、ブラウン管面やCRTデ
イスプレイモニタに取り付ける画面フイルタ等の
見易さの尺度としての拡散反射輝度、あるいは輝
度率(同一条件で照明及び観測した物体の輝度と
完全拡散反射面の輝度との比)等を測定する上で
有効となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による拡散反射輝度測定方法を
説明するための図である。 1……被測定面、2……輝度検出器、3……正
反射成分除去手段(ブラツクボード)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 実質的にあらゆる方向から物体の被測定面を
    均等に照射し、被測定面における拡散反射による
    輝度を輝度測定手段により測定する拡散反射輝度
    測定方法において、 被測定面を反射面としたときに輝度測定手段の
    受光系に正反射成分を与える方向に正反射成分を
    除去する手段を設けて測定を行なうことを特徴と
    する拡散反射輝度測定方法。
JP14766585A 1985-07-06 1985-07-06 拡散反射輝度測定方法 Granted JPS629256A (ja)

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JPS629256A JPS629256A (ja) 1987-01-17
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JPS629256A (ja) 1987-01-17

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