JPH047825B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は被検体を赤外線測定してコンピユー
タに取込まれた温度データに対しコンピユータ処
理を行つて被検体の応力分布を画像化する方法に
関する。

（従来の技術） 機械装置、部品、或いは、構造物等を設計する
場合、どの部位にどの程度の応力が掛つているか
を知ることが安全性の観点から重要な課題であ
る。近年、このような被検体の応力分布を非接触
で短時間に測定する方法が提案されている（特願
昭55−56691）。この方法の原理を以下簡単に説明
する。

この出願の発明者は被検体に繰り返し圧縮及び
引張り荷重を負荷すると、被検体の表面温度が荷
重負荷の周期に同期して荷重０の時の温度を中心
として上昇及び下降を繰り返すことを見出した。

例えば、第４図Ａに示すように、被検体に正弦
波的に荷重を負荷すると、正の半サイクルに対応
する圧縮荷重及び負の半サイクルに対応する引張
荷重に同期して、被検体表面温度は第４図Ｂに示
すように正弦波的に上昇及び下降を繰り返す。ま
た、圧縮荷重又は引張荷重を矩形波的に負荷した
場合にも（それぞれ第４図Ｃ及びＥに示す）、こ
れらに同期して表面温度が上昇又は下降する（第
４図Ｄ及びＦに示す）。

このような表面温度の変化量と応力変化との間
には比例関係があることがわかつているので、被
検体に繰り返し荷重を負荷して特定点での温度変
化の幅を検出すれば、その点における応力の大き
さを知ることが出来る。

このような原理に基づく応力分布の画像化方法
につき従来考えられている方法を、第５図を参照
して、簡単に説明する。

第５図に示す例は被検体の一点（一ポイント）
毎の走査で赤外線測定を行つて、応力分布を画像
化する方法である。被検体１に荷振機２により荷
重負荷を与え、各ポイント毎にスキヤナ３を停止
させて赤外線検出器４でそれぞれの温度データを
読取る。例えば正弦波的の負荷荷重の場合には、
検出されたアナログ温度データを切換器５で正の
半サイクルと負の半サイクルとで切換えてＡ／Ｄ
変換器６（６ａ及び６ｂ）に送り、そこでデジタ
ル温度データに変換した後、それぞれコンピユー
タ７内の対応するメモリ７ａ，７ｂに記憶する。
この記憶された温度データから、同一周期内の、
負荷振幅差が最大となる二つの時点における第一
及び第二温度データを個別にかつ各周期毎に読取
つて平均化回路７ｃでそれぞれ平均化する。この
例では、第一温度データを正の最大振幅時におけ
るデータとし、第二温度データを負の最大振幅時
におけるデータとし得るが、また、正負の各最大
振幅時に幅を持たせ、その時間間隔内での検出温
度データの平均化を行い、各周期毎に得られたこ
れら平均化された値の加重平均を求め、これらを
第一及び第二温度データとすることも出来る。こ
れら第一及び第二温度データの差を差演算器７ｄ
で求め、この差すなわち応力情報を含む温度情報
を例えばCRTのような表示装置８に供給し、よ
つて、被検体の応力分布を画像表示させることが
出来る。

尚、荷振機２、切換器５、Ａ／Ｄ変換器６ａ，
６ｂ、メモリ７ａ，７ｂ、平均化回路７ｃ、差演
算器７ｄのタイミングをタイミング回路９からの
タイミング信号で取る。

このポイント測定方法であると、画像全体につ
き一点毎に温度データを測定し画像化していかな
ければならないので時間がかかる。そこで、ライ
ン又は一画面走査での測定を行つて測定時間の短
縮を図る方法も考えられる。

この場合には、荷重を負荷している間、被検体
の一部分、或いは、全部を走査して検出したアナ
ルグ温度データを前述と同様にコンピユータ７の
各メモリ７ａ及び７ｂに記憶させる。この走査は
一ライン走査でも、数ライン走査でも、一フイー
ルド走査でも良い。そして、一ライン中に、例え
ば、256〜512の点を取り、一ラインを何回も高速
走査し、これら一ライン上の各点のデータの各第
一及び第二温度データを上述したメモリ７ａ，７
ｂにそれぞれ記憶した後これより読取つて平均化
回路７ｃで第一及び第二温度データの平均化値を
出し、差演算器７ｄで平均値の差演算を行つてそ
の結果を一画面メモリ（図示していない）に記憶
させる。そして、一画面当りの温度情報が記録さ
れた後、前述と同様に表示装置８にこの温度情報
を送り、応力分布の画像表示を行う。

同様にして、一画面走査では、テレビジヨン走
査と同程度の走査速度で被検体１を走査する必要
がある点を除けば、他の点は前述のライン走査の
場合と同様に処理を行つて、応力分布の画像化を
図ることが出来る。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、この被検体に荷重をかけて圧縮とか引
張とかを行うと、応力によつて生じた温度変化以
外に、被検体の位置ずれに起因して本来の測定点
からずれた別の点の温度データを測定してしまう
ため、測定誤差の原因になる。特に、何らかの原
因によつて被検体に大きな温度勾配がある場合に
は、大きな測定温度誤差が生じてしまう。

第６図に示す被検体１の長さを、例えばｌ＝
100mmとし、これに荷重を±22Kg／mm²程度負荷し
た時の被検体１の伸びが0.2mmであるとする。一
方、被検体１の温度勾配が〜30mmの幅に対して〜
30℃程度あると仮定すると、１mmで１℃の勾配が
ある。

ところで、上述したようなデジタル化を用いた
方法では、100mm程度の長さの被検体１を走査す
る時のライン間隔は１mm程度〜0.5mm程度である
ので、この時0.2mmの位置ずれ誤差が生じている
と、温度誤差成分は0.2℃となる。この温度誤差
は信号に比べて非常に大きな誤差である。現実に
この熱弾性効果によつて生ずる温度差は上述の荷
重程度であると0.4℃となるから、上述した温度
誤差成分は熱弾性効果による温度差の50％にも達
する極めて大きな誤差となる。

従つて、このような位置ずれによる温度誤差を
補正してやらなければならない。

この補正を行うに当りどの程度の走査ライン間
隔で走査すべきかという別の問題がある。一画素
を１mmとすると、被検体が一画素単位で移動した
場合には、画素の中心点で見ると１mm移動したこ
とになる。上述と同様に、被検体の方に30℃／30
mmの温度勾配があると考えると、１mmの位置ずれ
に対する温度変化が１℃となり、このような温度
変化のあるものを１mm間隔で補正したのでは、熱
弾性効果による信号の大きさ（0.4℃程度）を考
えると、補正は十分ではなく１画素以下のオーダ
ーの補正をしなければならない。

この発明の目的は、上述した問題点の解決を図
つた、新規な被検体応力分布の画像化方法を提供
することにある。

（問題点を解決するための手段） この目的の達成を図るため、この発明の方法に
よれば、被検体に荷重を繰り返し負荷し、 該被検体を赤外線検出器を用いて走査して、荷
重の一周期毎に最大荷重振幅差を与える二つの時
間期間における該被検体の所定領域内各点の温度
を第一温度データ及び第二温度データとしてそれ
ぞれ検出し、 これら第一及び第二温度データの差演算を行つ
て、被検体の応力分布を画像化するに当り、 前記被検体の前記所定領域の表面に熱フイルタ
を付着させ、前記所定領域を赤外線検出器で走査
して、荷重の一周期毎に最大荷重振幅差を与える
二つの時間期間における前記所定領域内各点の温
度を第三温度データ及び第四温度データとしてそ
れぞれ検出する工程と、 前記第三及び第四温度データから、前記熱フイ
ルタが付着された前記所定領域内各点について、
同一点の温度が前記最大荷重振幅差を与える２つ
の時間期間で同一であるという条件で各点につい
ての位置ずれ補正データを求める工程と、 前記差演算を実施する前に、該位置ずれ補正デ
ータを用いて前記第一又は第二温度データの、位
置ずれによる誤差を補正する工程と を含むことを特徴とする。

（作用） このように構成すれば、被検体が高温となりか
つ温度勾配が大きくなつた場合でも、被検体の微
小な位置変位に起因する大きな温度データ測定誤
差を位置補正データで正確に補正することが出来
るので、被検体の応力分布の画像化をより正確に
行うことが出来る。

（実施例の説明） 以下、第１図〜第３図を参照して、この発明の
実施例につき説明する。尚、この発明の場合にお
いても、上述した第４図の荷重波形及び第５図の
回路が適用出来るが、その詳細な説明は重複する
ので省略する。

第１図はこの発明に用いる主としてコンピユー
タ７（第５図に示した）の機能ブロツクを示し、
第２図は熱フイルタを貼付た被検体を示し、第３
図はこの発明の温度データの補正の説明に供する
線図である。

第１図において、第５図と同一の構成要素には
同一符号が与えられている。第１図の装置が第５
図の装置と異なるのは、平均化回路７ｃと差演算
回路７ｄとの間に補正回路７ｊが挿入されている
こと、メモリ７ａ，７ｂ及び平均化回路７ｃとは
別個にもう一組のメモリ７ｅ，７ｆ及び平均化回
路７ｇを設けたこと、メモリ７ｅ，７ｆからのデ
ータに基づいて画像を構成する各画像について
ΔV，ΔHを決定するΔV，ΔH決定回路７ｈ及び
求めたΔV，ΔHを記憶すると共に前記補正回路
７ｊへ送出するΔV，ΔH記憶回路７ｉを設けた
ことである。

まず、位置補正について説明する。第５図の従
来例と同様に、メモリ７ａに正の最大振幅時の第
一温度データが記憶され、メモリ７ｂに負の最大
振幅時の第二温度データが記憶されているものと
する。第７図Ａは第一温度データとしてメモリ７
ａに記憶されている正の最大振幅時の被検体の温
度分布画像を示し、第７図Ｂは第二温度データと
してメモリ７ｂに記憶されている負の最大振幅時
の被検体の温度分布画像を示す。荷重方向の違い
により、ＡとＢでは被検体が違う方向に変形して
おり、このまま差の画像を求めたのでは、正確な
応力画像が得られないことがわかる。例えば、正
の最大振幅時の画像Ａにおける点（ｊ，ｉ）に相
当する被検体上の点は、負の最大振幅時の画像Ｂ
においては、変形による位置ずれによつて点Ｐに
移動してしまつている。

この点Ｐは測定点ではないので、温度値は未知
であるが、もし、この位置ずれ先の点Ｐの温度デ
ータDji′が分ればそのDji′を点（ｊ，ｉ）データ
とした新たな補正データ（第７図B′）を作成で
きる。この補正データは、第７図B′から分かる
ように、正の最大振幅時の形状（状態）に合うよ
うに負の最大振幅時の形状を補正したものとな
る。従つて、画像Ａと画像B′の差画像を求めれ
ば、正の最大振幅時の形状での応力分布像が正確
に得られる。

上述した位置ずれ先の温度データDji′は、本発
明では周囲の点の温度データを用いて補間法に基
づいて以下のようにして求めている。すなわち、
正の最大振幅時の点（ｊ，ｉ）が隣り合つた測定
点間の間隔を１として、負の最大振幅時には水平
方向にΔH、垂直方向にΔV移動し、第３図にお
ける点Pjiに移動してしまつているとすると、点
Pjiの温度データDji′は、Pjiの周囲の４点（ｊ，
ｉ）、（ｊ，ｉ＋１）（ｊ＋１，ｉ）（ｊ＋１，ｉ＋
１）の温度データDji，Dji＋１，Dj＋1i，Dj＋1i
＋１を用いて補間法に基づいて下式で求められ
る。

Dji′＝Dji×（１−ΔH）×（１−ΔV）＋Dji＋１×
（ΔH）×（１−ΔV）＋Dj＋1i＋１×（ΔH）×（ΔV）
＋Dj＋1i×（１−ΔH）×（ΔV）… (1) ところ、ΔH，ΔVは第一温度データ及び第二
温度データからは不明である。本発明は、熱フイ
ルタを被検体の表面に貼付した状態での測定を付
加し、その測定で得られた第三及び第四温度デー
タからこのΔH，ΔVを求めることを特徴として
いる。

この付加測定においては、第２図に示すよう
に、被検体１の表面に熱フイルタ１０を付着す
る。この熱フイルタ１０として被検体１の温度分
布と同程度の温度となつて被検体の温度勾配は表
面に出てくるが、荷重負荷によつて生じた応力に
起因した温度変化は伝達せず、しかも、被検体の
圧縮及び引張に応じて伸縮するものを用いる。こ
の熱フイルタ１０として、例えば、接着テープと
か、ビニールテープとか、その他上述の条件を満
足するものなら材料、大きさ、厚さを問わず、何
でも使用することが出来る。また、この熱フイル
タ１０の貼付箇所も任意に選定することが出来
る。

次に、熱フイルタ１０を貼付けた被検体１に荷
重を負荷すると、被検体１の熱フイルタ１０の部
分には、被検体１自体の温度分布は現われるが、
応力による温度変化成分は現われない。この熱フ
イルタ１０を赤外線走査して第三及び第四温度デ
ータをそれぞれ検出し、これらデータを、第１図
に示すように、切換器５を経てコンピユータ７の
他のメモリ７ｅ及び７ｆにそれぞれ記憶する。

熱フイルタを表面に貼付した場合、更に述べた
ように、被検体が持つ固有の温度勾配は表面に出
てくるが、荷重負荷によつて生じた応力に起因し
た温度変化は表面まで伝達しない。従つて、熱フ
イルタの表面には、被検体本来の温度分布のみが
正の最大振幅時も負の最大振幅時も等しく出現し
ている。要するに、熱フイルタを貼付した被検体
の同じ位置の温度に着目すると、正の最大振幅時
と負の最大振幅時とで同一である。本発明では、
この特性に着目して、第三温度データ及び第四温
度データについて、例えば、正の最大振幅時の特
定点と等しい温度を持つ負の最大振幅時の点を探
すことによつて位置ずれ量ΔH，ΔVを求めてい
る。

ここで、メモリ７ｅに記憶された第三温度デー
タが正の最大振幅時のもので、メモリ７ｆに記憶
された温度データが負の最大振幅時のものである
とする。第３図に置いて、点（ｊ，ｉ），（ｊ，ｉ
＋１）（ｊ＋１，ｉ）（ｊ＋１，ｉ＋１）は各メモ
リに格納された温度分布像を構成する隣り合つた
測定点を示し、Dji，Dji＋１，Di＋1i，Dj＋1i＋
１は各測定点の温度データを示している。

熱フイルタの表面には、被検体本来の温度分布
のみが正の最大振幅時も負の最大振幅時も等しく
出現しているので、もし、被検体に荷重印加によ
る変形が存在しない場合には、メモリ７ｅ，７ｆ
に格納されている正の最大振幅時と負の最大振幅
時の温度データの同じ位置のデータ同士、例え
ば、Dji同士、Dji＋１同士、Dj＋1i同士、Dj1i＋
１同士は等しい筈である。

しかしながら、既に述べたように、実際には正
の最大振幅時と負の最大振幅時では変形により測
定点が移動する。熱フイルタを貼付して行つた測
定は、熱フイルタが貼付されていること以外は、
視野、印加荷重の強度などすべての条件が第一及
び第二温度データを取得する測定と同一であるの
で、第一及び第二温度データに出現している変形
が、第三及び第四温度データに等しく出現してい
る。

すなわち、第一及び第二温度データについて説
明したのと同じく、第三及び第四温度データにつ
いても、正の最大振幅時の点（ｊ，ｉ）が隣り合
つた測定点間の間隔を１として、負の最大振幅時
には水平方向にΔH、垂直方向にΔV移動し、第
３図における点Pjiに移動してしまつている。第
四温度データに第三温度データに対するこのよう
な位置ずれがあつたとしても、第四温度データか
ら４点（ｊ，ｉ），（ｊ，ｉ＋１）（ｊ＋１，ｉ）
（ｊ＋１，ｉ＋１）の温度データDji，Dji＋１，
Dj＋1i，Dj＋1i＋１を用いて(1)式に基づいて求め
た４点で囲まれた領域内のある点の温度Dji′第三
温度データのDjiと等しければ、その温度Dji′の
点が位置ずれ先の点であり、その時のΔH，ΔV
の値が位置ずれ量を表している。これは、先に説
明したように、熱フイルタを貼付した被検体の同
じ位置の温度に着目すると、正の最大振幅時と負
の最大振幅時とで同一であることに基づいてい
る。

このような温度Dji′の点を、４点（ｊ，ｉ），
（ｊ，ｉ＋１）（ｊ＋１，ｉ）（ｊ＋１，ｉ＋１）
で囲まれた領域の中から探すには、上記(1)式に
ΔH及びΔVをそれぞれ０〜１の範囲で例えば100
分の１ステツプで変化させて与えることにより、
点Pjiの位置を点（ｊ，ｉ），（ｊ，ｉ＋１）（ｊ＋
１，ｉ）（ｊ＋１，ｉ＋１）で囲まれる領域の中
で100×100＝10000点設定し、各点の(1)式に基づ
く計算値をメモリ７ｅに記憶された点（ｊ，ｉ）
の温度データDjiと比較し、計算値Djiと一致する
点を求めれば良い。この計算値がDjiと一致した
時のΔH，ΔVを点（ｊ，ｉ）についての、正の
最大振幅時に対する負の最大振幅時の位置ずれ量
として決定する。

例えば、垂直方向に引つ張つた場合を考える
と、ΔH＝０となつて、(1)式が単純化されるの
で、求める作業を簡単化できる。すなわち、メモ
リ７ｅ及び７ｆに取込まれた第三及び第四温度デ
ータを平均化回路７ｇで平均化（積算）した後、
ΔV，ΔH決定回路７ｈにおいて、メモリ７ｆか
ら任意のデータDji及びDj＋1iを読出し、ΔVを
0.01、0.02、0.03、…、0.99、1.00と1/100ステツ
プで100通りに変えて(1)式に基づいてDji′を100通
り計算し、その100通りのDji′をメモリ７ｅから
読み出したDjiと比較して、Dji＝Dji′となる
Dji′を求める。この様にして求めたDji′を与えた
ΔH，ΔVが点（ｊ，ｉ）に関する位置ずれ量と
して決定される。

ΔH、ΔV決定回路７ｈは、このような作業を
画像を構成するすべての画素（温度データ）につ
いて実施する。その結果、画像を構成するすべて
の画素についてΔH、ΔV求められる。ΔV、ΔH
記憶回路７ｉは、決定回路７ｈで求められたすべ
ての画素についてのΔH、ΔVを記憶する。

このようにして、補正用のΔH、ΔVが求めら
れた後、補正回路７ｊは以下のようにして補正を
行う。すなわち、補正回路７ｊは、点（ｊ，ｉ）
の補正に当り、メモリ７ｂに記憶されている第二
温度データから４点（ｊ，ｉ），（ｊ，ｉ＋１），
（ｊ＋１，ｉ），（ｊ＋１，ｉ＋１）のデータDji，
Dji＋１，Dj＋1i，Dj＋1i＋１を読出し、この４
点のデータ及び記憶回路７ｉから読出した点
（ｊ，ｉ）における位置ずれ量ΔH、ΔVを(1)式に
代入し、補正値Dji′を求める。求めたDji′は、補
正された第二温度データの点（ｊ，ｉ）のデータ
として補正回路７ｊ内のメモリに記憶される。

補正回路７ｊは、以下、全く同様にして、他の
すべての点についても、メモリ７ｂに記憶されて
いる第二温度データからその周囲の４点の温度デ
ータを読み出すと共に、その点についてのΔH、
ΔVを記憶回路７ｉから読み出して(1)式に基づい
て補正値を求めてメモリに記憶する。そして、こ
の様にしてすべての温度データについて補正され
た第二温度データ（第７図B′参照）が求まつた
ら、補正回路７ｊは全く補正を受けなかつた第一
温度データと補正された第二温度データを差演算
回路７ｄへ送る。その差演算の結果を応力情報と
して表示装置（第５図に８で示す）に供給すれ
ば、その表示画面には、位置ずれによる悪影響の
ない応力画像が表示されることになる。

尚、上記実施例では正の最大振幅時のデータ
（第三温度データ）を基準にして負の最大振幅時
の温度データ（第四温度データ）の位置ずれ量
ΔH、ΔVを求めたため、補正の際も、負の最大
振幅時の温度データ（第二温度データ）に対して
補正を行つた。逆に、負の最大振幅時の温度デー
タ（第四温度データ）を基準にして正の最大振幅
時の温度データ（第三温度データ）の位置ずれ量
を求めた場合には、補正に当り正の最大振幅時の
データ（第一温度データ）に対して補正を行わね
ばならないことは言うまでもない。

上述したように、被検体に荷重を負荷したこと
により被検体が何等かの原因によつて発熱しその
温度勾配が大きくなつた場合には被検体の微小な
位置変動であつても大きな温度データ測定誤差が
生じるが、この発明によれば、この測定誤差を補
正することが出来る。そのため、この発明による
被検体温度分布の画像化方法を要約すると、 (a) 被検体表面に、熱弾性効果による温度変化は
伝えないが被検体自体の温度分布にはほぼ等し
くなりかつ被検体の伸縮に対応するような材料
の熱フイルタを、貼付け、被検体に貼付けた熱
フイルタの荷重振幅差が最大となる二つの時点
での温度データをコンピユータに取込み、コン
ピユータ処理によつて同一点の温度が前記２つ
の時点で同一であるという条件で温度データの
位置ずれ補正量を求める工程と、 (b) 熱フイルタが貼付けられていない被検体に対
して温度データをコンピユータに取込む工程と (c) (a)の工程で求めた位置ずれ補正量を用いて、
(b)で求めた熱フイルタのない被検体の温度デー
タの位置補正を、一画素以下の、例えば、一画
素の1/100程度までの補間で、コンピユータ処
理により行う工程と、 (d) 位置補正されて得られた熱フイルタが貼付け
られていない被検体の温度データでの差演算を
行つて画像化を行う工程とを有する。

尚、上述した実施例では、被検体として金属に
つき説明したが、大きな温度勾配を有する他の材
料に適用することが出来る。

さらに、この発明においても走査はポイント走
査でも、ライン走査でも、或いは、一画面走査で
も良い。

（発明の効果） 上述の説明からも明らかなように、この発明の
方法によれば、被検体に荷重を負荷したことによ
り発熱しその温度勾配が大きくなつた場合にも、
被検体の微小な位置変動に起因する大きな温度デ
ータ測定誤差を正確に補正することが出来るの
で、このような被検体の温度分布の画像化をより
正確に行うことが出来という利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の方法の一実施例の説明に供
する、コンピユータの機能ブロツク図、第２図及
び第３図はこの発明の実施例をそれぞれ説明する
ための線図、第４図Ａ〜Ｆは従来及びこの発明の
原理を説明するための、被検体部分を示す線図及
び信号波形図、第５図は従来及びこの発明の説明
に供する装置系を示す線図、第６図は従来の方法
の欠点の説明に供する線図、第７図は位置ずれの
補正の考え方を説明するための図である。 １…被検体、２…荷振機、３…スキヤナ、４…
赤外線検出器、５…切換器、６ａ，６ｂ…Ａ／Ｄ
変換器、７…コンピユータ、７ａ，７ｂ，７ｅ，
７ｆ…メモリ、７ｃ，７ｇ…平均化回路、７ｄ…
差演算器（又は差演算回路）、７ｈ…ΔV及びΔH
決定回路、７ｉ…補間データ決定回路、７ｊ…補
正回路、８…表示装置、９…タイミング回路、１
０…熱フイルタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被検体に荷重を繰り返し負荷し、 該被検体を赤外線検出器を用いて走査して、荷
   重の一周期毎に最大荷重振幅差を与える二つの時
   間期間における該被検体の所定領域内各点の温度
   を第一温度データ及び第二温度データとしてそれ
   ぞれ検出し、 これら第一及び第二温度データの差演算を行つ
   て、被検体の応力分布を画像化するに当り、 前記被検体の前記所定領域の表面に熱フイルタ
   を付着させ、前記所定領域を赤外線検出器で走査
   して、荷重の一周期毎に最大荷重振幅差を与える
   二つの時間期間における前記所定領域内各点の温
   度を第三温度データ及び第四温度データとしてそ
   れぞれ検出する工程と、 前記第三及び第四温度データから、前記熱フイ
   ルタが付着された前記所定領域内各点について、
   同一点の温度が前記最大荷重振幅差を与える２つ
   の時間期間で同一であるという条件で各点につい
   ての位置ずれ補正データを求める工程と、 前記差演算を実施する前に、該位置ずれ補正デ
   ータを用いて前記第一又は第二温度データの、位
   置ずれによる誤差を補正する工程と を含むことを特徴とする被検体応力分布の画像化
   方法。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の被検体応力分布
   の画像化方法において、前記熱フイルタの材料
   を、前記被検体の温度分布と同程度の温度となつ
   て該被検体の温度勾配は表面に出てくるが、荷重
   負荷によつて生じた応力に起因した温度変化は表
   面に伝達せず、しかも、該被検体の圧縮及び引張
   に応じて伸縮する材料とすることを特徴とする被
   検体応力分布の画像化方法。 ３ 特許請求の範囲第１項記載の被検体応力分布
   の画像化方法において、前記赤外線検出器による
   走査はポイント走査、ライン走査又は一画面走査
   のいづれかの走査で行うことを特徴とする被検体
   応力分布の画像化方法。