JPH047828B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH047828B2
JPH047828B2 JP10698484A JP10698484A JPH047828B2 JP H047828 B2 JPH047828 B2 JP H047828B2 JP 10698484 A JP10698484 A JP 10698484A JP 10698484 A JP10698484 A JP 10698484A JP H047828 B2 JPH047828 B2 JP H047828B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
slit
light source
optical cell
slits
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP10698484A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60250230A (ja
Inventor
Mitsuo Kitaoka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP10698484A priority Critical patent/JPS60250230A/ja
Publication of JPS60250230A publication Critical patent/JPS60250230A/ja
Publication of JPH047828B2 publication Critical patent/JPH047828B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 目的 (産業上の利用分野) 本発明は液体クロマトグラフの検出器などにお
いて、透明な液体間に生じる屈折率の差を光学的
に検出する装置に関するものである。
(従来の技術) 高速液体クロマトグラフの検出器として示差屈
折計検出器が用いられるが、その用途としては微
量分析用の高感度示差屈折計と、分取用の低感度
示差屈折計がある。これらは通常別個の製品とし
て製品化されている。
また、光学セルの2個の容器を分離する隔壁に
対する光の入射角度の大きさにより感度が変化す
るところから、隔壁の角度の異なる光学セルに交
換することにより用途に応じた感度を得るように
する場合もある。
(発明が解決しようとする問題点) 用途に応じて感度を変えるために、光学セルを
交換し、調整したりすることは、厄介な作業であ
る。
本発明は、1個の装置で、しかも簡単な切替え
操作により感度とリニアリテイレンジの範囲を同
時に増減させ、高感度な微量分析用と、低感度な
分取用の2つの用途に使える示差屈折計を提供す
ることを目的とするものである。
(ロ) 構成 (問題点を解決するための手段) 本発明は光の入射方向に対し傾斜した隔壁で分
離された2個の容器を有する光学セルに光を入射
し、両容器内の液体の屈折率差に対応した透過光
の変位を測定する示差屈折計において、 スリツト幅の異なる2種類のスリツトと、 光学セルへ入射される光の光源の光量を制御す
る手段と、を備え、 スリツトの切替えと同時に光源の光量をスリツ
ト幅に反比例するように変化させるようにした示
差屈折計である。
(作用) 第2図に示される光センサ2が測定光の変位方
向に2個の部分に分けられているとする。一方を
S側2−1、他方をR側2−2とする。光学セル
の2個の容器の液体に屈折率差がないときには2
個の光センサ2−1,2−2の中央にd×aの面
積のスリツト像の光が入射する。dはスリツト幅
に対応し、aはスリツトの長さに対応する。 次
に2個の容器の液体間の屈折率がΔnだけ変化し
たとすると、その屈折率差Δnに応じて光センサ
2上のスリツトの像がΔdだけ変位し、この変位
量は l・Δn/n に比例する。lは光学セルと光センサ2との距
離、nは溶媒の屈折率である。
光センサ2上の光強度をIとすると、S側光セ
ンサ2−1、R側光センサ2−2のそれぞれに現
れる信号is,irは、それぞれ 〔(d/2)+Δd〕Ia ……(1) 〔(d/2)−Δd〕Ia ……(2) に比例する。
本発明において、スリツト幅をM倍とし、光源
の光量を1/Mとすると、d→Md,I→I/M
となるため、(1),(2)式において、Δdを含まない
定常項は不変であるが、屈折率差Δnに対応する
変位Δdによる信号、すなわち感度はΔd・Ia/M
となり、1/Mに低下する。
また、リニアリテイレンジは、dがM倍となる
ことからM倍大きくなる。
そして、スリツトの切替えによつても信号処理
系は変更する必要はない。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例を表わす。
4は光源、6はレンズ、8はスリツト用円板で
あり、円板8には長さが同じで、スリツト幅がd
の高感度分析用スリツト8−1と、スリツト幅が
その10倍の10dの分取用スリツト8−2とが設け
られており、モータ10の回転により両スリツト
8−1,8−2が切り替えられるようになつてい
る。12は試料液と対照液とをそれぞれ通液ある
いは収容する2個の容器を有する光学セルであ
り、2個の容器は隔壁14により分離されてお
り、スリツト8−1又は8−2を通過した光がレ
ンズ16を経てこの光学セルに入射し、隔壁16
を透過するときに両容器内の液体の屈折率差Δn
により変位される。18は反射ミラーで、光学セ
ル12の透過光を再びその光学セル12に入射さ
せて変位を増幅させるためのものである。
反射ミラー18による反射光は再び光学セル1
2、レンズ16を経て第2図に示されるように光
センサ2上にスリツト8−1又は8−2の像を結
像する。光センサ2上でのスリツト像の光強度
は、スリツト8−1,8−2のいずれの場合でも
一様になるように、光学系が設計されている。
第1図に戻つて、20,22はそれぞれ光セン
サのS側2−1、R側2−2の検出信号を電流値
として受け取り電圧値に変換するi−V変換器で
あり、それぞれの出力信号Vs,Vrは前述の(1),
(2)式に比例する。
24は両検出信号の和(Vs+Vr)を算出する
和算素子、26は差(Vs−Vr)を算出する引算
素子である。28は光量変動を補正する為の除算
素子であり、和算素子24と引算素子26とから
信号を入力して、(Vs−Vr)/(Vs+Vr)を算
出し、記録計へ信号を送出する。
30はスリツト8−1,8−2の切替えと、光
源4の光量を切り替えるための切替えスイツチで
あり、32はこの切替えスイツチ30の出力信号
によりモータ10を回転させてスリツトを切り替
えるモータ駆動回路、34はスリツトが切に替え
られたとき、和算素子24の出力信号(Vs+
Vr)が一定になるように光源4の光量を制御す
る光源用電源回路であるる。
いま、微量分析を行なうために、第1図のよう
に幅の狭い高感度用スリツト8−1が設定されて
いるとする。まず、光学セル12の両容器内の溶
液の屈折率に差がないとき、光センサ2上のスリ
ツト像が正しく中央にくるように、光学的にゼロ
位置を調整しておく。
次に光学セル12の両容器に試料液と対照液と
を通液して、その屈折率差がΔnであつたとする
と、光センサ2上の変位Δdは、 Δd=2l・Δn/n ……(3) となる。このとき、スリツト8−1の像の幅をd1
とする。
光センサ2のS側2−1、R側2−2のそれぞ
れの検出信号をI−V変換器20,22に入力
し、和算素子24、引算素子26を経て、除算素
子28により出力される信号は、 Δd/d1 ……(4) に比例したものとなる。
次に、切替えイツチ30によりモータ駆動回路
32を経てモータ10を作動させてスリツト用円
板8を180度回転させ、スリツトを分取用の幅の
広い低感度用スリツト8−2に切り替えたとす
る。このとき光センサ2上のスリツト像の幅dが
スリツト切替え前の10倍に増大する。光源用電源
回路34は和算素子20の出力信号がスリツト切
替え前後で変化しないように光源4の光量を変化
させ、1/10に減少させる。そして、除算素子28
の出力信号は、Δd/d1と1/10となり、すなわち
感度が1/10により、リニアリテイレンジはスリツ
ト幅に比例して10倍広くなる。
以上の実施例では、スリツトの切替えに伴なう
光源の光量制御を行なうために、和算素子24の
出力信号(Vs+Vr)が一定になるように光源用
電源回路34にフイードバツクをかけているの
で、正確な光量制御が達成されるが、スリツトの
切替えと同時に、スリツト幅に反比例するよう予
め設定された光量に切り替えるようにしてもよ
い。
また、スリツト8−1と8−2の切替え機構と
しては、上記実施例のようにスリツト用円板8を
回転させて行なうものの他、例えば、スライド方
式により切り替えるなど、種々の機構を採用する
ことができる。
そして、スリツトと光源光量の切替えを切替え
スイツチの1個のボタン操作のみで全て自動的に
行なわれるようにしておけば便利である。
(ハ) 発明の効果 本発明の示差屈折計によれば、1台の装置で微
量分析用の高感度示差屈折計と、分取用の低感度
示差屈折計との両用途に使用することができ、し
かもその切替え操作は極めて簡単である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2
図は光センサでの検出方法を示す図である。 2……光センサ、4……光源、8−1,8−2
……スリツト、12……光学セル、30……切替
えスイツチ、32……モータ駆動回路、34……
光源用電源回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光の入射方向に対し傾斜した隔壁で分離され
    た2個の容器を有する光学セルに光を入射し、両
    容器内の液体の屈折率差に対応した透過光の変位
    を測定する示差屈折計において、 スリツト幅の異なる2種類のスリツトと、 光学セルへ入射される光の光源の光量を制御す
    る手段と、を備え、 スリツトの切替えと同時に光源の光量をスリツ
    ト幅に反比例するように変化させることを特徴と
    する示差屈折計。
JP10698484A 1984-05-26 1984-05-26 示差屈折計 Granted JPS60250230A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10698484A JPS60250230A (ja) 1984-05-26 1984-05-26 示差屈折計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10698484A JPS60250230A (ja) 1984-05-26 1984-05-26 示差屈折計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60250230A JPS60250230A (ja) 1985-12-10
JPH047828B2 true JPH047828B2 (ja) 1992-02-13

Family

ID=14447524

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10698484A Granted JPS60250230A (ja) 1984-05-26 1984-05-26 示差屈折計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60250230A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2504356B2 (ja) * 1992-04-09 1996-06-05 株式会社島津製作所 示差屈折計
JP4577177B2 (ja) * 2005-09-30 2010-11-10 株式会社島津製作所 示差屈折率検出器及びその調整方法
ES2887026B2 (es) * 2020-06-18 2023-12-22 Univ Cantabria Refractometro y metodo de medida del indice de refraccion de una substancia

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60250230A (ja) 1985-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3474255A (en) Means to detect amount and direction of shaft rotation
US3631526A (en) Apparatus and methods for eliminating interference effect errors in dual-beam infrared measurements
JP2504356B2 (ja) 示差屈折計
US3741661A (en) Universal polarimeter
JPS63300969A (ja) 電圧検出装置
US4223995A (en) Calibration system for spectrophotometers
GB1404944A (en) Apparatus for the production of a measurement signal or a measurement and control signal
US5483344A (en) Process and apparatus for performing differential refractive index measurements using interference of modulated light beams passing through reference and test samples
JPS60250230A (ja) 示差屈折計
US3481671A (en) Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements
US4577106A (en) Spectrophotometer
US7495754B2 (en) Differential refractometer and its adjusting method
JPH08313429A (ja) 分光光度計用セル
RU2007694C1 (ru) Поляриметр
US3490875A (en) Photoelectric measuring system including two controlled radiation attenuators
JPS5985918A (ja) 直接比率式の分光光度計
JPH0710278Y2 (ja) 屈折率測定装置
JPS61277026A (ja) 偏光角検出方法および偏光角検出装置
JP2991521B2 (ja) 赤外線式厚み・濃度計
JPS5939684B2 (ja) 光学的濃度測定方法
JP2935287B2 (ja) 示差屈折率分光スペクトル測定装置
SU1425483A1 (ru) Оптический датчик давлени
SU1397567A1 (ru) Устройство дл измерени линейной плотности волокнистого продукта
JPH08145878A (ja) 複屈折測定装置
JPH0458139A (ja) 赤外線光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees