JPH047941B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH047941B2 JPH047941B2 JP2330285A JP2330285A JPH047941B2 JP H047941 B2 JPH047941 B2 JP H047941B2 JP 2330285 A JP2330285 A JP 2330285A JP 2330285 A JP2330285 A JP 2330285A JP H047941 B2 JPH047941 B2 JP H047941B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- headlamp
- optical axis
- image
- screen
- light distribution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 48
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 22
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 19
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101100399299 Dictyostelium discoideum limG gene Proteins 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/06—Testing the alignment of vehicle headlight devices
- G01M11/064—Testing the alignment of vehicle headlight devices by using camera or other imaging system for the light analysis
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はヘツドランプの光軸検査方法及びその
装置に係り、特に、自動車のヘツドランプの光軸
の中心位置が規格値の範囲内にあるか否かを検査
するのに好適なヘツドランプの光軸検査方法及び
その装置に関する。
装置に係り、特に、自動車のヘツドランプの光軸
の中心位置が規格値の範囲内にあるか否かを検査
するのに好適なヘツドランプの光軸検査方法及び
その装置に関する。
従来、自動車の監査工場においてヘツドランプ
の光軸検査を行う場合、第7図に示されるような
ヘツドランプテスタ10が用いられていた。この
テスタ10はレンズ12の周囲に4個の受光素子
14a,14b,14c,14dを有する。そし
てこのテスタ10を用いて検査する場合、ヘツド
ランプ16からの照射光を受光し、各受光素子に
よる受光量が一定となる位置にテスタ10を移動
させ、ヘツドランプ16の照射光による光像をレ
ンズ12を介してスクリーン上に映し出し、スク
リーン上の最高照度点を光軸として検査すること
が行われていた。
の光軸検査を行う場合、第7図に示されるような
ヘツドランプテスタ10が用いられていた。この
テスタ10はレンズ12の周囲に4個の受光素子
14a,14b,14c,14dを有する。そし
てこのテスタ10を用いて検査する場合、ヘツド
ランプ16からの照射光を受光し、各受光素子に
よる受光量が一定となる位置にテスタ10を移動
させ、ヘツドランプ16の照射光による光像をレ
ンズ12を介してスクリーン上に映し出し、スク
リーン上の最高照度点を光軸として検査すること
が行われていた。
ところが、ヘツドランプ16にハロゲンヘツド
ランプを用いた場合には、第8図に示されるよう
に、最高照度点が2ケ所生じるため、光軸の位置
が最高照度点L1と最高照度点L2とを結んだ直
線L上となり、一義的に定まらないという不具合
が生じた。
ランプを用いた場合には、第8図に示されるよう
に、最高照度点が2ケ所生じるため、光軸の位置
が最高照度点L1と最高照度点L2とを結んだ直
線L上となり、一義的に定まらないという不具合
が生じた。
そこで、本願出願人は、特開昭57−179639号公
報に記載されているように、ヘツドランプの直接
光を検出することによりヘツドランプの高さ位置
を求め、このヘツドランプ高さ位置から主光軸検
査の合格範囲を示すウインドウを求め、このウイ
ンドウを表示装置に画像表示し、ついで車両の前
方に設置されたスクリーン上におけるヘツドラン
プの配光パターンから一定照度以上の等照度閉曲
線の重心位置を求め、前記表示装置に画像表示す
ると共に、前記等照度閉曲線の重心位置がウイン
ドウ内に入るようにヘツドランプの位置調整を行
うようにしたものを提案した。この方法によれ
ば、ハロゲンヘツドランプのように、最高照度点
が2ケ所生じる場合でもヘツドランプの光軸位置
を一点で画像表示することができる。
報に記載されているように、ヘツドランプの直接
光を検出することによりヘツドランプの高さ位置
を求め、このヘツドランプ高さ位置から主光軸検
査の合格範囲を示すウインドウを求め、このウイ
ンドウを表示装置に画像表示し、ついで車両の前
方に設置されたスクリーン上におけるヘツドラン
プの配光パターンから一定照度以上の等照度閉曲
線の重心位置を求め、前記表示装置に画像表示す
ると共に、前記等照度閉曲線の重心位置がウイン
ドウ内に入るようにヘツドランプの位置調整を行
うようにしたものを提案した。この方法によれ
ば、ハロゲンヘツドランプのように、最高照度点
が2ケ所生じる場合でもヘツドランプの光軸位置
を一点で画像表示することができる。
しかしながら、本願出願人が先に出願た方法で
は、ヘツドランプの光軸位置を求めるとき、配光
パターン全体の重心位置を求める方法が採用され
ていたため、第9図に示されるように、スクリー
ン18上に2つの等照度閉曲面20,22が形成
されたときには、これらの等照度閉曲面20,2
2の幾何学的中心位置、即ち重心位置が符号24
で示される位置として表示され、実際の明るい所
とは異なる位置に重心位置24が表示され、ヘツ
ドランプの光軸を正確に検査することができない
場合があつた。
は、ヘツドランプの光軸位置を求めるとき、配光
パターン全体の重心位置を求める方法が採用され
ていたため、第9図に示されるように、スクリー
ン18上に2つの等照度閉曲面20,22が形成
されたときには、これらの等照度閉曲面20,2
2の幾何学的中心位置、即ち重心位置が符号24
で示される位置として表示され、実際の明るい所
とは異なる位置に重心位置24が表示され、ヘツ
ドランプの光軸を正確に検査することができない
場合があつた。
本発明は、前記従来の課題に鑑みて為されたも
のであり、その目的は、ヘツドランプの配光パタ
ーンに複数の等照度閉曲面が形成されたときでも
ヘツドランプの光軸位置を正確に測定することが
できるヘツドランプの光軸検査方法及びその装置
を提供することにある。
のであり、その目的は、ヘツドランプの配光パタ
ーンに複数の等照度閉曲面が形成されたときでも
ヘツドランプの光軸位置を正確に測定することが
できるヘツドランプの光軸検査方法及びその装置
を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明は、第1図
に示されるように、ヘツドランプの照射光による
スクリーン上の配光パターンのうち等照度の配光
パターンを絞りの値に応じて順次撮像し(ステツ
プ200)、この撮像による画像をCRT画面上に
表示する(ステツプ202)と共に、絞りの値に
選択された各配光パターンの等照度閉曲線を抽出
し(ステツプ204)、前記ステツプ202にて
CRT表示された画像をトレースした波形で画像
表示し(ステツプ206)、続いて各等照度閉曲
線で囲まれた領域の重心位置を求め(ステツプ2
08)、ステツプ206までの処理を絞り変化さ
せつつ設定値n回繰り返し、求められたn個の重
心位置の収束値を求め(ステツプ210)、この
収束値を光軸としてCRT画面上に表示(ステツ
プ212)、ヘツドランプの光軸の合格範囲を
CRT画面上に表示し(ステツプ214)、これら
の光軸と合格範囲との表示によりヘツドランプの
光軸検査を行うようにしたものであり、さらに本
発明は、ヘツドランプの照射光による光像を映し
出すスクリーンと、スクリーン上の光像による配
光パターンのうち等照度の配光パターンを絞りの
値に応じて順次撮像するテレビカメラと、テレビ
カメラの出力による複合映像信号のうち映像信号
を画像データに変換して格納するメモリ部と、複
合映像信号を受けてCRT画面上に画像を表示す
る表示部と、ヘツドランプの光軸の合格範囲を示
す規格値を画像データで出力する規格値設定部
と、メモリ部の画像データを取り込み、この画像
データを基に、各配光パターンの等照度閉曲線を
抽出すると共に各等照度閉曲線で囲まれた領域の
重心位置を求め、さらにこれら重心位置の収束値
を求め、この収束値を軸として画像データで出力
する演算部と、前記各画像データを映像信号に変
換し、さらにこの信号を複合映像信号に変換して
出力する複合映像信号発生部と、を有する装置を
構成したものである。
に示されるように、ヘツドランプの照射光による
スクリーン上の配光パターンのうち等照度の配光
パターンを絞りの値に応じて順次撮像し(ステツ
プ200)、この撮像による画像をCRT画面上に
表示する(ステツプ202)と共に、絞りの値に
選択された各配光パターンの等照度閉曲線を抽出
し(ステツプ204)、前記ステツプ202にて
CRT表示された画像をトレースした波形で画像
表示し(ステツプ206)、続いて各等照度閉曲
線で囲まれた領域の重心位置を求め(ステツプ2
08)、ステツプ206までの処理を絞り変化さ
せつつ設定値n回繰り返し、求められたn個の重
心位置の収束値を求め(ステツプ210)、この
収束値を光軸としてCRT画面上に表示(ステツ
プ212)、ヘツドランプの光軸の合格範囲を
CRT画面上に表示し(ステツプ214)、これら
の光軸と合格範囲との表示によりヘツドランプの
光軸検査を行うようにしたものであり、さらに本
発明は、ヘツドランプの照射光による光像を映し
出すスクリーンと、スクリーン上の光像による配
光パターンのうち等照度の配光パターンを絞りの
値に応じて順次撮像するテレビカメラと、テレビ
カメラの出力による複合映像信号のうち映像信号
を画像データに変換して格納するメモリ部と、複
合映像信号を受けてCRT画面上に画像を表示す
る表示部と、ヘツドランプの光軸の合格範囲を示
す規格値を画像データで出力する規格値設定部
と、メモリ部の画像データを取り込み、この画像
データを基に、各配光パターンの等照度閉曲線を
抽出すると共に各等照度閉曲線で囲まれた領域の
重心位置を求め、さらにこれら重心位置の収束値
を求め、この収束値を軸として画像データで出力
する演算部と、前記各画像データを映像信号に変
換し、さらにこの信号を複合映像信号に変換して
出力する複合映像信号発生部と、を有する装置を
構成したものである。
以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて
説明する。
説明する。
第2図には、本発明の好適な実施例の構成が示
されている。第2図において、車両の検査ライン
上には、ヘツドランプ30の照射光による光像を
映し出す半透明のスクリーン32が移動可能に設
置されている。そしてスクリーン32を境にして
車両と反対側には検査台36が設置されており、
この検査台36上にはテレビカメラ取付台38が
水平方向に移動可能に固定されている。このテレ
ビカメラ取付台38には支持台40が昇降自在に
取付けられており、この支持台40には工業用テ
レビカメラ42が固定されている。又検査台36
上には制御装置44が固定されており、制御装置
44の表示パネル46にはCRT48、各種設定
値及び指令値を操作ボタンの操作によつて出力す
る操作部50が配設されている。
されている。第2図において、車両の検査ライン
上には、ヘツドランプ30の照射光による光像を
映し出す半透明のスクリーン32が移動可能に設
置されている。そしてスクリーン32を境にして
車両と反対側には検査台36が設置されており、
この検査台36上にはテレビカメラ取付台38が
水平方向に移動可能に固定されている。このテレ
ビカメラ取付台38には支持台40が昇降自在に
取付けられており、この支持台40には工業用テ
レビカメラ42が固定されている。又検査台36
上には制御装置44が固定されており、制御装置
44の表示パネル46にはCRT48、各種設定
値及び指令値を操作ボタンの操作によつて出力す
る操作部50が配設されている。
テレビカメラ42はスクリーン32上の配光パ
ターン52を撮像し、この撮像による複合映像信
号を制御装置44へ出力するように構成されてい
る。この配光パターンの撮像に当つては、レンズ
絞り54を調整することにより、配光パターンの
うち等照度の配光パターンを選択して撮像するこ
とができる。
ターン52を撮像し、この撮像による複合映像信
号を制御装置44へ出力するように構成されてい
る。この配光パターンの撮像に当つては、レンズ
絞り54を調整することにより、配光パターンの
うち等照度の配光パターンを選択して撮像するこ
とができる。
制御装置44は、第3図に示されるように、
CPU60、メモリ部を構成するA/D変換器6
2とフレームメモリ64、CPU60からの指令
に基づいて各種演算を行う演算部66、規格デー
タメモリ70、複合映像信号発生部を構成するビ
デオRAM72、スイツチ74、出力データコン
トローラ76、I/Oポート78、表示部を構成
するCRT48とCRTコントローラ80、レンズ
絞り54に対して絞り調整を指令する絞りコント
ローラ82などを有し、出力データコントローラ
76、フレームメモリ64、演算部66、絞りコ
ントローラ82などがバスライン84で接続され
ている。
CPU60、メモリ部を構成するA/D変換器6
2とフレームメモリ64、CPU60からの指令
に基づいて各種演算を行う演算部66、規格デー
タメモリ70、複合映像信号発生部を構成するビ
デオRAM72、スイツチ74、出力データコン
トローラ76、I/Oポート78、表示部を構成
するCRT48とCRTコントローラ80、レンズ
絞り54に対して絞り調整を指令する絞りコント
ローラ82などを有し、出力データコントローラ
76、フレームメモリ64、演算部66、絞りコ
ントローラ82などがバスライン84で接続され
ている。
テレビカメラ42の出力による複合映像信号S
1はスイツチ74を介してCRTコントローラ8
0へ供給されていると共に、A/D変換器62に
供給されている。このため、テレビカメラ42の
撮像による画像がCRT48の画面上に表示され
ると共に複合映像信号S1のうち映像信号がA/
D変換器62によりデジタル信号に変換され、フ
レームメモリ64に画像データとして格納され
る。フレームメモリ64に格納された画像データ
はCPU60からの指令により順次演算部66へ
出力されると共に2値化された画像データとして
ビデオRAM72へ出力される。
1はスイツチ74を介してCRTコントローラ8
0へ供給されていると共に、A/D変換器62に
供給されている。このため、テレビカメラ42の
撮像による画像がCRT48の画面上に表示され
ると共に複合映像信号S1のうち映像信号がA/
D変換器62によりデジタル信号に変換され、フ
レームメモリ64に画像データとして格納され
る。フレームメモリ64に格納された画像データ
はCPU60からの指令により順次演算部66へ
出力されると共に2値化された画像データとして
ビデオRAM72へ出力される。
演算部66は等照度閉曲線抽出回路90、等照
度閉曲線データメモリ92、重心演算回路94、
重心データメモリ96、収束点演算回路98、光
軸データメモリ100から構成されている。そし
て、フレームメモリ64の画像データが等照度閉
曲線検出回路90へ出力されるように構成されて
おり、等照度閉曲線抽出回路90において、画像
データを基に等照度閉曲線の抽出演算が行われ
る。この抽出演算を行うに当つては、各画像デー
タに周界積分を施して等照度閉曲線の抽出を行う
こととしており、又等照度閉曲線の抽出を行うと
きに等照度閉曲線内の面積を算出する処理も同時
に行われる。
度閉曲線データメモリ92、重心演算回路94、
重心データメモリ96、収束点演算回路98、光
軸データメモリ100から構成されている。そし
て、フレームメモリ64の画像データが等照度閉
曲線検出回路90へ出力されるように構成されて
おり、等照度閉曲線抽出回路90において、画像
データを基に等照度閉曲線の抽出演算が行われ
る。この抽出演算を行うに当つては、各画像デー
タに周界積分を施して等照度閉曲線の抽出を行う
こととしており、又等照度閉曲線の抽出を行うと
きに等照度閉曲線内の面積を算出する処理も同時
に行われる。
又、この等照度閉曲線の抽出を行うとき、その
ときのレンズ絞り54の絞りの値をkとすると、
第4図に示されるように、1つの閉曲線LNKに対
して面積SNK(N=1,2・・・)が求められる。
そして、これら等照度閉曲面(ホツトゾーン)の
値はデータとして等照度閉曲線データメモリ92
に格納されると共に重心演算回路94へ出力され
る。
ときのレンズ絞り54の絞りの値をkとすると、
第4図に示されるように、1つの閉曲線LNKに対
して面積SNK(N=1,2・・・)が求められる。
そして、これら等照度閉曲面(ホツトゾーン)の
値はデータとして等照度閉曲線データメモリ92
に格納されると共に重心演算回路94へ出力され
る。
重心演算回路94においては、等照度閉曲線デ
ータメモリ92から供給されたデータを基に、閉
曲線LNK内の位置ベクトル和を算出し、これを面
積値にSNKで除することにより、重心位置GNK(N
=1,2…)を求める。そしてこの算出値を重心
データメモリ96へ格納すると共に収束点演算回
路98へ出力する。又、重心データメモリ96に
は、レンズ絞り54の絞り値kに応じた重心演算
部が順次格納されると共に、第5図に示されるよ
うに、絞りの値kに応じた重心点列CNK(N,K
=1,2…)のデータで格納される。そして重心
点列のデータで格納されたデータは順次収束点演
算回路98へ出力される。
ータメモリ92から供給されたデータを基に、閉
曲線LNK内の位置ベクトル和を算出し、これを面
積値にSNKで除することにより、重心位置GNK(N
=1,2…)を求める。そしてこの算出値を重心
データメモリ96へ格納すると共に収束点演算回
路98へ出力する。又、重心データメモリ96に
は、レンズ絞り54の絞り値kに応じた重心演算
部が順次格納されると共に、第5図に示されるよ
うに、絞りの値kに応じた重心点列CNK(N,K
=1,2…)のデータで格納される。そして重心
点列のデータで格納されたデータは順次収束点演
算回路98へ出力される。
収束点演算回路98では、重心データメモリ9
6から供給される各重心点列のデータを基に各重
心点列の収束値GN=limGNK(N=1,2…)を求
め、この算出値を光軸データメモリ100へ出力
する。光軸データメモリ100内に格納された光
軸データは、出力データコントローラ76からの
指令によりビデオRAM72内に画像データとし
て格納される。なお等照度閉曲線データメモリ9
2内のデータも出力データコントローラ76から
の指令により画像データとしてビデオRAM72
内に格納される。即ち、刻々変化させた絞り値k
の各々に対し、フレームメモリ64に格納された
2値化画像データのトレース結果がビデオRAM
72に格納される。
6から供給される各重心点列のデータを基に各重
心点列の収束値GN=limGNK(N=1,2…)を求
め、この算出値を光軸データメモリ100へ出力
する。光軸データメモリ100内に格納された光
軸データは、出力データコントローラ76からの
指令によりビデオRAM72内に画像データとし
て格納される。なお等照度閉曲線データメモリ9
2内のデータも出力データコントローラ76から
の指令により画像データとしてビデオRAM72
内に格納される。即ち、刻々変化させた絞り値k
の各々に対し、フレームメモリ64に格納された
2値化画像データのトレース結果がビデオRAM
72に格納される。
又、ヘツドランプ30の光軸の合格範囲を示す
規格値を設定するために、規格値設定部を構成す
る操作ボタンを操作すると、この操作により規格
値データがI/Oポート78を介して規格値デー
タメモリ70に格納される。そしてこの規格値デ
ータは出力データコントローラ76からの指令に
より画像データとしてビデオRAM72に格納さ
れる。
規格値を設定するために、規格値設定部を構成す
る操作ボタンを操作すると、この操作により規格
値データがI/Oポート78を介して規格値デー
タメモリ70に格納される。そしてこの規格値デ
ータは出力データコントローラ76からの指令に
より画像データとしてビデオRAM72に格納さ
れる。
ビデオRAM72に格納された各種画像データ
は映像信号に変換され、水平同期信号及び垂直同
期信と合成される。そして複合映像信号S2とし
てスイツチ74を介してCRTコントローラ80
へ出力される。CRTコントローラ80は、映像
増幅器、同期信号分離回路、垂直偏向回路、水平
偏向回路などを有し、複合映像信号に従つて信号
をCRT48の画面上に表示することができる。
は映像信号に変換され、水平同期信号及び垂直同
期信と合成される。そして複合映像信号S2とし
てスイツチ74を介してCRTコントローラ80
へ出力される。CRTコントローラ80は、映像
増幅器、同期信号分離回路、垂直偏向回路、水平
偏向回路などを有し、複合映像信号に従つて信号
をCRT48の画面上に表示することができる。
以上の構成において、テレビカメラ42の出力
信号を直接CRTコントローラ80へ出力するよ
うにスイツチ74を操作し、スクリーン32をテ
レビカメラ42の撮像範囲から外れる位置に移動
し、さらにヘツドランプ30を消灯した状態でテ
レビカメラ42の撮像による画像をCRT画面4
8の画面上に表示する。この状態でテレビカメラ
42の原点Pがヘツドランプ30の中心Qと重な
るようにテレビカメラ42を移動させる。
信号を直接CRTコントローラ80へ出力するよ
うにスイツチ74を操作し、スクリーン32をテ
レビカメラ42の撮像範囲から外れる位置に移動
し、さらにヘツドランプ30を消灯した状態でテ
レビカメラ42の撮像による画像をCRT画面4
8の画面上に表示する。この状態でテレビカメラ
42の原点Pがヘツドランプ30の中心Qと重な
るようにテレビカメラ42を移動させる。
次に、スイツチ74を反対側に操作し、スクリ
ーン32をテレビカメラ42とヘツドランプ30
の間にセツトすると共に、ヘツドランプ30を点
灯し、スクリーン32上にヘツドランプ30の照
射光による配光パターン52を映し出す。この配
光パターン52をテレビカメラ42で撮像する
と、撮像による映像信号が順次画像データとして
フレームメモリ64に格納される。これら画像デ
ータは順次ビデオRAM72に格納され、ビデオ
RAM72の出力による映像がCRT48の画面上
に表示される。
ーン32をテレビカメラ42とヘツドランプ30
の間にセツトすると共に、ヘツドランプ30を点
灯し、スクリーン32上にヘツドランプ30の照
射光による配光パターン52を映し出す。この配
光パターン52をテレビカメラ42で撮像する
と、撮像による映像信号が順次画像データとして
フレームメモリ64に格納される。これら画像デ
ータは順次ビデオRAM72に格納され、ビデオ
RAM72の出力による映像がCRT48の画面上
に表示される。
ここで、検査者が、CRT48の画面上に表示
された2値化画像を見ながら操作ボタンの操作に
よつて絞り調整を指令すると、絞りコントローラ
82からの指令によつてカメラ絞り54が作動
し、レンズ絞り54の絞りの値kが任意の値に調
整される。この絞り調整が行われると、第6図示
されるように、CRT48の画面上には、絞りの
値kに応じた複数の配光パターン102が画像表
示されると共に、絞りの値kに応じた画像データ
がフレームメモリ64から演算部66へ出力され
る。そして演算部66において、これら画像デー
タを基に重心点列に従つた光軸の算出が行われ、
CRT48には光軸104,106が画像表示さ
れる。
された2値化画像を見ながら操作ボタンの操作に
よつて絞り調整を指令すると、絞りコントローラ
82からの指令によつてカメラ絞り54が作動
し、レンズ絞り54の絞りの値kが任意の値に調
整される。この絞り調整が行われると、第6図示
されるように、CRT48の画面上には、絞りの
値kに応じた複数の配光パターン102が画像表
示されると共に、絞りの値kに応じた画像データ
がフレームメモリ64から演算部66へ出力され
る。そして演算部66において、これら画像デー
タを基に重心点列に従つた光軸の算出が行われ、
CRT48には光軸104,106が画像表示さ
れる。
又、このとき、操作ボタンの操作によりヘツド
ランプ30の光軸の合格範囲を示す規格値を設定
すると、この規格値データがI/Oポート78を
介して規格値データメモリ70に格納され、出力
データコントローラ76の指令により画像データ
としてビデオRAM72に格納される。そしてこ
の画像データが複合映像信号に変換され、CRT
48の画面上にほぼ長方形の規格範囲108を示
す画像が表示される。このため、検査者は、光軸
104,106が規格範囲108内に表示される
か否かによりヘツドランプ30の光軸検査の合否
を判定することができる。即ち、本実施例におい
ては、ハロゲンヘツドランプのように等照度閉曲
面(ホツトゾーン)が2ケ所生じる場合でも、配
光パターン102の中心点列の収束値によつて光
軸104,106を求め、この光軸104,10
6を画像表示するようにしたため、光軸104,
106のうちいずれか一方が規格範囲100内に
表示されるか否かにより光軸検査の合否の判定を
行うことができる。又本実施例においては、配光
パターン102に複数のホツトゾーンが形成され
る場合でも、各ホツトゾーンの光軸を求めること
ができ、ヘツドランプ30の光軸を定量的に測定
することができる。
ランプ30の光軸の合格範囲を示す規格値を設定
すると、この規格値データがI/Oポート78を
介して規格値データメモリ70に格納され、出力
データコントローラ76の指令により画像データ
としてビデオRAM72に格納される。そしてこ
の画像データが複合映像信号に変換され、CRT
48の画面上にほぼ長方形の規格範囲108を示
す画像が表示される。このため、検査者は、光軸
104,106が規格範囲108内に表示される
か否かによりヘツドランプ30の光軸検査の合否
を判定することができる。即ち、本実施例におい
ては、ハロゲンヘツドランプのように等照度閉曲
面(ホツトゾーン)が2ケ所生じる場合でも、配
光パターン102の中心点列の収束値によつて光
軸104,106を求め、この光軸104,10
6を画像表示するようにしたため、光軸104,
106のうちいずれか一方が規格範囲100内に
表示されるか否かにより光軸検査の合否の判定を
行うことができる。又本実施例においては、配光
パターン102に複数のホツトゾーンが形成され
る場合でも、各ホツトゾーンの光軸を求めること
ができ、ヘツドランプ30の光軸を定量的に測定
することができる。
又、本実施例によれば、テレビカメラ1台でヘ
ツドランプ30の光軸検査を行うことができるた
め、本願出願人が先に提案したものよりも安価に
構成することができると共に簡単な操作によつて
光軸検査を行うことができる。
ツドランプ30の光軸検査を行うことができるた
め、本願出願人が先に提案したものよりも安価に
構成することができると共に簡単な操作によつて
光軸検査を行うことができる。
以上説明したように、本発明によれば、ヘツド
ランプの照射光によるスクリーン上の配光パター
ンのうち等照度の配光パターンを絞りの値に応じ
て順次撮像し、絞りの値により選択された配光パ
ターンの等照度閉曲線を抽出し、各等照度閉曲線
で囲まれた領域の重心位置を求め、さらにこれら
重心位置の収束値を求め、この収束値を光軸とし
てCRT画面上に表示するようにしたため、配光
パターンに複数のホツトゾーンが形成されたとき
でも、ヘツドランプの光軸検査を正確に行うこと
ができるという優れた効果が得られる。
ランプの照射光によるスクリーン上の配光パター
ンのうち等照度の配光パターンを絞りの値に応じ
て順次撮像し、絞りの値により選択された配光パ
ターンの等照度閉曲線を抽出し、各等照度閉曲線
で囲まれた領域の重心位置を求め、さらにこれら
重心位置の収束値を求め、この収束値を光軸とし
てCRT画面上に表示するようにしたため、配光
パターンに複数のホツトゾーンが形成されたとき
でも、ヘツドランプの光軸検査を正確に行うこと
ができるという優れた効果が得られる。
第1図は本発明を説明するためのフローチヤー
ト、第2図は本発明が適用された装置の全体構成
図、第3図は本発明に係る装置の具体的構成図、
第4図は本発明に係る装置の閉曲線算出方法を説
明するための図、第5図は本発明に係る装置の重
心点列算出方法を説明するための図、第6図は本
発明に係る装置の画像表示例を示す図、第7図は
従来のヘツドランプテスタの斜視図、第8図は従
来装置による画像表示例を示す図、第9図は従来
の他の装置による画像表示例を示す図である。 30…ヘツドランプ、32…スクリーン、42
…テレビカメラ、44…制御装置、48…CRT、
50…操作部、60…CPU、64…フレームメ
モリ、66…演算部、72…ビデオRAM、80
…CRTコントローラ。
ト、第2図は本発明が適用された装置の全体構成
図、第3図は本発明に係る装置の具体的構成図、
第4図は本発明に係る装置の閉曲線算出方法を説
明するための図、第5図は本発明に係る装置の重
心点列算出方法を説明するための図、第6図は本
発明に係る装置の画像表示例を示す図、第7図は
従来のヘツドランプテスタの斜視図、第8図は従
来装置による画像表示例を示す図、第9図は従来
の他の装置による画像表示例を示す図である。 30…ヘツドランプ、32…スクリーン、42
…テレビカメラ、44…制御装置、48…CRT、
50…操作部、60…CPU、64…フレームメ
モリ、66…演算部、72…ビデオRAM、80
…CRTコントローラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ヘツドランプの照射光によるスクリーン上の
配光パターンのうち等照度の配光パターンを絞り
の値に応じて順次撮像し、この撮像による画像を
CRT画面上に表示すると共にヘツドランプの光
軸の合格範囲をCRT画面上に表示し、かつ絞り
の値により選択された各配光パターンの等照度閉
曲線を抽出し、各等照度閉曲線で囲まれた領域の
重心位置を求め、さらにこれら重心位置の収束値
を求め、この収束値を光軸としてCRT画面上に
表示し、この光軸の表示によりヘツドランプの光
軸検査を行うことを特徴とするヘツドランプの光
軸検査方法。 2 ヘツドランプの照射光による光像を映し出す
スクリーンと、スクリーン上の光像による配光パ
ターンのうち等照度の配光パターンを絞りの値に
応じて順次撮像するテレビカメラと、テレビカメ
ラの出力による複合映像信号のうち映像信号を画
像データに変換して格納するメモリ部と、複合映
像信号を受けてCRT画面上に画像を表示する表
示部と、ヘツドランプの光軸の合格範囲を示す規
格値を画像データで出力する規格値設定部と、メ
モリ部の画像データを取り込み、この画像データ
を基に、各配光パターンの等照度閉曲線を抽出す
ると共に各等照度閉曲線で囲まれた領域の重心位
置を求め、さらにこれら重心位置の収束値を求
め、この収束値を光軸として画像データで出力す
る演算部と、前記各画像データを映像信号に変換
し、さらにこの信号を複合映像信号に変換して出
力する複合映像信号発生部と、を有することを特
徴とするヘツドランプの光軸検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2330285A JPS61182547A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | ヘツドランプの光軸検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2330285A JPS61182547A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | ヘツドランプの光軸検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61182547A JPS61182547A (ja) | 1986-08-15 |
| JPH047941B2 true JPH047941B2 (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=12106808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2330285A Granted JPS61182547A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | ヘツドランプの光軸検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61182547A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1366989B8 (de) | 2002-05-27 | 2013-09-25 | DeWiTec GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Leuchtmitteln und Lichtsignalen |
-
1985
- 1985-02-08 JP JP2330285A patent/JPS61182547A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61182547A (ja) | 1986-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3129245B2 (ja) | 撮像装置 | |
| JPS6363849B2 (ja) | ||
| US6760096B2 (en) | Lens-evaluating method and lens-evaluating apparatus | |
| JP2599431B2 (ja) | 自動車ヘッドライト照準方法及び照明パターン検査方法 | |
| WO2017014518A1 (ko) | 검사 시스템 및 검사 방법 | |
| TWI583932B (zh) | 量測鏡頭光學品質的裝置 | |
| US7909471B2 (en) | Rear projection type display apparatus | |
| CN110441326A (zh) | 缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 | |
| US4330779A (en) | Display analyzer having angular degrees of freedom | |
| KR101056393B1 (ko) | Pcb 결함검사를 위한 마이크로 비젼검사장치 | |
| JPH0814524B2 (ja) | ヘッドランプの光軸検査方法 | |
| CN100529744C (zh) | 光学检测装置和检测方法 | |
| JPH0225132B2 (ja) | ||
| JPH047939B2 (ja) | ||
| JPS61180123A (ja) | ヘツドランプの光軸検査方法及びその装置 | |
| JPS61182547A (ja) | ヘツドランプの光軸検査方法及びその装置 | |
| JPH09312859A (ja) | カラー表示装置の画質測定装置及び画質測定方法 | |
| KR970012877A (ko) | 음극선관 화면 검사 조정 장치 및 방법 | |
| JPH11258113A (ja) | 車両用ヘッドライトの測定方法 | |
| JPH06105212B2 (ja) | ヘツドライトの主光軸検査方法 | |
| JP3495570B2 (ja) | 階調特性測定装置 | |
| JPS5924232A (ja) | ヘツドライトの光軸検査方法及び装置 | |
| JP2020091182A (ja) | カラー画像処理型ヘッドライトテスター | |
| KR101056392B1 (ko) | 표면 검사방법 및 장치 | |
| JP2005024618A (ja) | 傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ。 |