JPH0479501B2 - - Google Patents
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- JPH0479501B2 JPH0479501B2 JP62206591A JP20659187A JPH0479501B2 JP H0479501 B2 JPH0479501 B2 JP H0479501B2 JP 62206591 A JP62206591 A JP 62206591A JP 20659187 A JP20659187 A JP 20659187A JP H0479501 B2 JPH0479501 B2 JP H0479501B2
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は4相位相変復調方式におけるクロツク
再生に用いられるクロツク位相誤差検出回路に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a clock phase error detection circuit used for clock reproduction in a four-phase phase modulation/demodulation system.
従来、この種のクロツク位相誤差検出回路には
2系列の復調信号(以降IチヤネルとQチヤネル
とする)の片片を用いた零交叉検出法が行われて
きた。以下、従来のデイジタル信号処理による復
調回路を例にし、第2図におけるクロツク位相誤
差検出回路のブロツク図を参照して説明する。図
において、A/D(アナログ・デイジタル)変換
器21に加えられたアナログ信号Aは変調速度で
あるfSの2倍のクロツク信号(2fS)Bにより、k
ビツト(kは正の整数)のデイジタル信号に量子
化される。このkビツト量子化信号Cの最上位桁
ビツト(MSB)は1ビツトのD・FF(デイレイ
ドフリツプフロツプ)22aにおいてfSなる速度
でサンプリング遅延される。この場合、2fSなる
速度のクロツク信号B(fSなる基準クロツクと同
期している)は分周器23にて2分周され、クロ
ツク信号(fS)DとしてD・FF22bのクロツ
ク入力(ck)へ印加されるようになつている。
Conventionally, this type of clock phase error detection circuit has used a zero-crossing detection method using pieces of two series of demodulated signals (hereinafter referred to as an I channel and a Q channel). Hereinafter, a demodulation circuit using conventional digital signal processing will be described as an example, with reference to a block diagram of a clock phase error detection circuit in FIG. In the figure, an analog signal A applied to an A/D (analog-digital) converter 21 is converted to k by a clock signal (2f S ) B twice the modulation rate f S .
The signal is quantized into a digital signal of bits (k is a positive integer). The most significant bit (MSB) of this k-bit quantized signal C is sampled and delayed in a 1-bit D.FF (delayed flip-flop) 22a at a rate of fs . In this case, the clock signal B (synchronized with the reference clock f S ) having a speed of 2f S is divided by two by the frequency divider 23, and the clock signal (f S ) D is output as the clock input ( ck).
D・FF22aの出力信号EはD・FF22cに
おいてfSなる速度でサンプリング遅延されるとと
もに、Ex・OR(排他的論理和)回路24aに入
力される。D・FF22cの出力信号FはEx・
OR24に入力され、D・FF22aの出力信号E
との排他的論理和をとることで、kビツト量子化
信号Cの零交叉を検出し、検出した時は“1”
を、検出しないときは“0”を出力する。kビツ
トの量子化信号CのkビツトはD・FF22bに
おいて、Sなる速度でサンプリング遅延される。
ここで、fSなる速度のクロツク信号Dを反転器2
5で反転したクロツク(S)HがD・FF22b
のクロツク入力(ck)に印加している。D・FF
22bの出力信号JはD・FF22dにおいてfS
なるクロツクでサンプリング遅延される。D・
FF22dの出力信号Kはkビツト量子化信号C
の零交叉点におけるサンプル値、すなわちクロツ
ク位相誤差値である。しかし、この誤差値Jの極
性はクロツクタイミングの遅れ、進みと正しく対
応した誤差値Lとするために、極性反転回路26
においてD・FF22cの出力信号が“1”のと
き入力信号Kの極性を反転させ、D・FF22c
の出力信号が“0”のとき入力信号Kの極性を反
転させないことにより、クロツクタイミングの遅
れ、進みと極性が正しく対応したクロツク位相誤
差信号Lを出力する。 The output signal E of the D.FF 22a is delayed in sampling at a speed of f S in the D.FF 22c, and is input to an Ex.OR (exclusive OR) circuit 24a. The output signal F of D・FF22c is Ex・
Input to OR24, output signal E of D・FF22a
The zero crossing of the k-bit quantized signal C is detected by taking the exclusive OR with
When not detected, outputs "0". The k bits of the k bit quantized signal C are delayed in sampling at a rate S in the D.FF 22b.
Here, the clock signal D with a speed of f S is transferred to the inverter 2.
The clock ( S ) H inverted at 5 is D・FF22b
is applied to the clock input (ck) of the D・FF
The output signal J of 22b is f S at D・FF22d.
The sampling is delayed by a different clock. D.
The output signal K of FF22d is a k-bit quantized signal C.
This is the sample value at the zero crossing point of , that is, the clock phase error value. However, in order to set the polarity of this error value J to an error value L that correctly corresponds to the delay or advance of the clock timing, a polarity inverting circuit 26
When the output signal of the D.FF22c is "1", the polarity of the input signal K is inverted, and the D.FF22c
By not inverting the polarity of the input signal K when the output signal is "0", a clock phase error signal L whose polarity correctly corresponds to the delay or advance of the clock timing is output.
ここで、第3図を参照してkビツトの量子化信
号Cの極性反転方向による零交叉検出値Kの極性
とクロツクタイミングの遅れ、進みについて説明
する。第3図aは零交叉検出タイミングT1がク
ロツク位相誤差がないときのタイミングT0より
遅れていることを示す。検出値A、Bはそれぞれ
極性が負から正へ反転する時と、正から負へ反転
する時に検出されるものである。極性の反転方向
により、検出値の極性が2通りあることがわか
る。クロツクタイミングが遅れているときの検出
値の極性を負(−)とするならば、検出値Aの極
性を反転させる必要がある。同様に第3図bは、
零交叉検出タイミングT2がT0より進んでいるこ
とを示し、検出値C、Dはそれぞれ極性反転方向
が負から正へと、正から負への時に検出されるも
のである。クロツクタイミングが進んでいるとき
の検出値の極正を正(+)とすると、検出値Dの
極正を反転させる必要がある。再び第2図を参照
し、選択回路27はEx・OR24の出力信号が
“1”のとき入力信号Lを出力し、Ex・OR24
の出力信号が“0”のとき入力信号N(0)を出
力する。選択回路27の出力信号Rはクロツク位
相誤差信号であり、クロツクタイミングが正しい
ときは出力信号Rの平均値は“0”に収束する。 Here, with reference to FIG. 3, the polarity of the zero-crossing detection value K and the delay and advance of the clock timing will be explained depending on the polarity inversion direction of the k-bit quantized signal C. FIG. 3a shows that the zero-crossing detection timing T 1 is delayed from the timing T 0 when there is no clock phase error. The detected values A and B are detected when the polarity is reversed from negative to positive and when the polarity is reversed from positive to negative, respectively. It can be seen that there are two polarities of the detected value depending on the direction of polarity reversal. If the polarity of the detected value when the clock timing is delayed is to be negative (-), it is necessary to invert the polarity of the detected value A. Similarly, Fig. 3b shows
This indicates that the zero-crossing detection timing T 2 is ahead of T 0 , and the detection values C and D are detected when the polarity inversion direction is from negative to positive and from positive to negative, respectively. Assuming that the polarity of the detected value when the clock timing is advanced is positive (+), it is necessary to reverse the polarity of the detected value D. Referring again to FIG. 2, the selection circuit 27 outputs the input signal L when the output signal of Ex・OR 24 is “1”, and
When the output signal of is "0", the input signal N(0) is output. The output signal R of the selection circuit 27 is a clock phase error signal, and when the clock timing is correct, the average value of the output signal R converges to "0".
上述した従来のクロツク誤差検出回路は、片系
列(片チヤネル)の復調信号の零交叉検出により
クロツク位相誤差を検出するものであるから、キ
ヤリア位相誤差がある場合は正しい零交叉検出が
できないという欠点がある。この理由について、
第4図を参照して説明する。図aは4相信号空間
ダイヤグラムであり、図bは図aに対応した復調
信号の例である。従来のクロツク位相誤差検出回
路は、例えばIチヤネルの零交叉検出のみで位相
誤差を検出するものであるから、図bの時間T1、
T2、T4、T5で位相誤差を検出することになる。
このうち、時間T1、T5で検出した位相誤差は正
しい値ではないことはこの図により明らかであ
る。すなわち、キヤリア位相誤差の影響を受けな
いでクロツク位相誤差を検出することができな
い。なお、第4図aにおいて、白丸印は搬送波位
相誤差がない場合の信号点、黒丸印は搬送波位相
誤差がある場合の信号点、αは搬送波の位相誤差
を示す。また、第4図bにおいて、破線は搬送波
位相誤差がない場合のデータ推移、実線は搬送波
位相誤差がある場合のデータ推移を示す。
The above-mentioned conventional clock error detection circuit detects a clock phase error by detecting a zero-crossing of a demodulated signal of one series (one channel), so it has the disadvantage that correct zero-crossing detection cannot be performed if there is a carrier phase error. There is. Regarding this reason,
This will be explained with reference to FIG. Figure a is a four-phase signal space diagram, and Figure b is an example of a demodulated signal corresponding to Figure a. Since the conventional clock phase error detection circuit detects the phase error only by detecting the zero crossing of the I channel, for example, the time T 1 in FIG.
The phase error will be detected at T 2 , T 4 , and T 5 .
It is clear from this figure that the phase errors detected at times T 1 and T 5 are not correct values. That is, the clock phase error cannot be detected without being affected by the carrier phase error. In FIG. 4a, white circles indicate signal points when there is no carrier phase error, black circles indicate signal points when there is a carrier phase error, and α indicates the phase error of the carrier wave. Further, in FIG. 4b, the broken line shows the data transition when there is no carrier wave phase error, and the solid line shows the data transition when there is a carrier wave phase error.
本発明によるクロツク位相誤差検出回路は、n
相位相変調信号(nは正の整数でn>2)を直交
復調して得られる2系列の復調信号列を入力と
し、該変調信号の変調速度fSの倍数の逆数TS(=
1/2fS)で前記復調列をそれぞれサンプリングし
てアナログ信号よりデイジタル信号に変換する第
1および第2のA/D変換器と、これ等第1およ
び第2のA/D変換器の出力信号を入力として奇
数番目のサンプルデータよりデイジタルデータの
零交叉を検出し、論理“1”を出力する第1およ
び第2の零交叉検出回路と、これ等第1および第
2の零交叉検出回路の論理積をとり、2系列のデ
ータ間に同時に零交叉が発生したことを検出する
論理積回路と、前記第1のA/D変換器出力信号
の偶数サンプルデータの極性を該偶数サンプルの
直前のサンプル値の極性で反転する極性反転回路
と、前記論理回路の出力信号を入力とし、論理積
が“1”のとき前記極性反転回路の出力信号を選
択し、論理積が“0”のとき誤差ゼロを示す出力
信号を選択する選択回路とにより構成されること
を特徴とする。
The clock phase error detection circuit according to the present invention has n
Two demodulated signal sequences obtained by orthogonally demodulating a phase-phase modulated signal (n is a positive integer and n>2) are input, and the reciprocal of a multiple of the modulation speed f S of the modulated signal T S (=
first and second A/D converters that sample the demodulated string at a rate of 1/2f S ) and convert the analog signal into a digital signal; and outputs of the first and second A/D converters. First and second zero-crossing detection circuits that receive a signal as input, detect zero-crossings of digital data from odd-numbered sample data, and output logic "1"; and these first and second zero-crossing detection circuits. an AND circuit that calculates the logical product of the data and detects that a zero crossing occurs simultaneously between two series of data; A polarity inverting circuit that inverts the polarity of the sample value of and the output signal of the logic circuit is input, and when the logical product is "1", the output signal of the polarity inverting circuit is selected, and when the logical product is "0", the output signal of the polarity inverting circuit is selected. A selection circuit that selects an output signal indicating zero error.
次に、本発明によるクロツク位相誤差検出回路
について実施例を挙げ、第1図のブロツク図を参
照して説明する。この図において、A/D変換器
11aおよび11bではそれぞれIおよびQチヤ
ネルのアナログ信号AおよびBが変調速度である
fSの2倍のクロツク信号(2fS)Cによりkビツト
(kは正の整数)のデイジタル信号に量子化され
る。Iチヤネルのnビツト量子化信号DのMSB
とQチヤネルのkビツトの量子化信号のMSBで
ある信号Eとは、それぞれB・FF12a,12
bにおいてfSなる速度でサンプリング遅延され
る。この場合、2fSなるクロツク信号C(fSなる基
準クロツクと同期している)を分周器13にて2
分周したクロツク信号(fS)FがD・FF12a,
12bのクロツク入力(ck)へ印加されている。
D・FF12a,12bの出力信号G、Hはそれ
ぞれD・FF22c,dにおいてfSなる速度でサ
ンプリング遅延されるとともに、信号G、Hはそ
れぞれEx・OR14a,14bに入力され、D・
FF12a,12bのそれぞれと排他的論理和を
とることで、Iチヤネル、Qチヤネルの零交叉を
検出している。
Next, an embodiment of a clock phase error detection circuit according to the present invention will be described with reference to the block diagram of FIG. In this figure, in A/D converters 11a and 11b, analog signals A and B of I and Q channels, respectively, have a modulation rate.
It is quantized into a k-bit (k is a positive integer) digital signal by a clock signal (2f S )C that is twice f S . MSB of n-bit quantized signal D of I channel
and the signal E which is the MSB of the k-bit quantized signal of the Q channel are B.FF12a, 12, respectively.
The sampling is delayed at a rate f S at b. In this case, the clock signal C of 2f S (synchronized with the reference clock of f S ) is passed through the frequency divider 13 to 2
The frequency-divided clock signal (f S ) F is D・FF12a,
12b's clock input (ck).
The output signals G and H of the D-FFs 12a and 12b are delayed by sampling at a speed of f S in the D-FFs 22c and d, respectively, and the signals G and H are input to the Ex-ORs 14a and 14b, respectively, and
By performing exclusive OR with each of the FFs 12a and 12b, zero crossings of the I channel and Q channel are detected.
Ex・OR14a,14bは、零交叉検出時には
“1”を、零交叉を検出しない時は“0”をそれ
ぞれ信号L、Mとして出力する。論理積回路15
は信号L、Mの論理積をとり、Iチヤネル、Qチ
ヤネルの復調信号の極性が同時に反転したことを
検出し、両チヤネルの極性反転(零交叉)を検出
した時は“1”を、検出しない時は“0”を出力
信号Nとして出力する回路である。Iチヤネルの
kビツトの量子化信号DのkビツトはD・FF1
2eにおいてSなる速度でサンプリング遅延され
る。ここで、fSなる速度のクロツク信号Fを反転
器16により反転したクロツク(S)RがD・
FF12eのクロツク入力(ck)に印加されてい
る。D・FF12eの出力信号SはD・FF12f
においてfSなるクロツクでサンプリング遅延され
る。D・FF22fの出力信号UはIチヤネルの
kビツト量子化信号Dの零交叉点におけるサンプ
ル値であるが、信号Uの極性はクロツクタイミン
グの遅れ、進みと正しく対応していない。 The Ex•ORs 14a and 14b output "1" as signals L and M when a zero crossing is detected, and "0" when no zero crossing is detected, respectively. AND circuit 15
takes the AND of the signals L and M, detects that the polarities of the demodulated signals of the I channel and Q channel are inverted at the same time, and detects "1" when the polarity inversion (zero crossing) of both channels is detected. If not, the circuit outputs "0" as the output signal N. The k bits of the k bit quantized signal D of the I channel are D.FF1.
2e, the sampling is delayed at a rate of S. Here, the clock ( S )R obtained by inverting the clock signal F with a speed of fS by the inverter 16 is D.
It is applied to the clock input (ck) of FF12e. The output signal S of D・FF12e is D・FF12f
The sampling is delayed by a clock f S at . The output signal U of the D.FF 22f is a sample value at the zero crossing point of the k-bit quantized signal D of the I channel, but the polarity of the signal U does not correspond correctly to the delay or advance of the clock timing.
従来のクロツク位相誤差検出回路と同様に、ク
ロツクタイミングの進みを位相誤差検出値と正と
し、遅れを負として対応ずけるために、D・FF
12fの出力信号Uは極性反転回路17におい
て、D・FF12cの出力信号Jが“1”のとき
極性を反転し、信号Jが“0”のとき極性を反転
しない。極性反転回路17の出力信号Wはクロツ
クタイミングの遅れ、進みと正しく極性が対応し
たクロツク位相誤差信号Wとなる。選択回路18
は論理積回路15の出力が“1”(I、Qチヤネ
ル零交叉検出時)のとき信号Wを選択し、論理積
回路15の出力が“0”(I、Qチヤネル零交叉
無検出時)のとき信号X(0)を選択して出力す
る回路である。選択回路18の出力信号Yはクロ
ツク位相誤差信号である。クロツクタイミングが
正しい時は出力信号Yの平均値は0に収束する。 Similar to the conventional clock phase error detection circuit, in order to correspond to the clock timing advance as a positive phase error detection value and the delay as a negative value,
The polarity of the output signal U of the DFF 12f is inverted in the polarity inverting circuit 17 when the output signal J of the D.FF 12c is "1", and the polarity is not inverted when the signal J is "0". The output signal W of the polarity inversion circuit 17 becomes a clock phase error signal W whose polarity correctly corresponds to the delay or advance of the clock timing. Selection circuit 18
selects signal W when the output of the AND circuit 15 is "1" (when zero crossing is detected in I and Q channels), and when the output of AND circuit 15 is "0" (when no zero crossing is detected in I and Q channels) This circuit selects and outputs the signal X(0) when The output signal Y of the selection circuit 18 is a clock phase error signal. When the clock timing is correct, the average value of the output signal Y converges to zero.
上記のクロツク位相誤差検出回路によれば、2
系列の復調信号のそれぞれについて零交叉検出回
路を有し、それら零交叉検出回路の論理席をとる
ことによつて、2系列の復調信号の同時の零交叉
時のみでクロツク位相誤差検出を行うことができ
る。すなわち、第4図bにおいて、時間T2、T4
におけるクロツク位相誤差値は正しい値であるこ
とは明確である。従つて、この実施例のクロツク
位相誤差検出回路はキヤリア位相誤差の影響を受
けない。 According to the above clock phase error detection circuit, 2
A zero-crossing detection circuit is provided for each of the demodulated signals of the series, and by taking the logic seat of these zero-crossing detection circuits, clock phase errors are detected only when two series of demodulated signals simultaneously zero-cross. I can do it. That is, in FIG. 4b, times T 2 and T 4
It is clear that the clock phase error value at is the correct value. Therefore, the clock phase error detection circuit of this embodiment is not affected by carrier phase error.
以上の説明により明らかなように、本発明によ
れば、2系列の復調信号により同時に零交叉を検
出した時のみクロツク位相誤差を検出することに
より、キヤリア位相誤差がある場合でも正確なク
ロツク位相誤差を検出できる効果がある。
As is clear from the above explanation, according to the present invention, by detecting the clock phase error only when zero crossings are simultaneously detected by two series of demodulated signals, accurate clock phase error can be achieved even when there is a carrier phase error. It is effective in detecting
第1図は本発明によるクロツク位相誤差検出回
路の実施例の構成を示すブロツク図、第2図は従
来のクロツク位相誤差回路の構成例を示すブロツ
ク図、第3図はクロツクタイミングの進み、遅れ
と零交叉におけるクロツク位相誤差の検出値の極
性を説明するための図、第4図aおよびbは、そ
れぞれ復調信号の空間ダイヤグラムおよびIチヤ
ネル、Qチヤネルの復調信号の波形例を示すタイ
ムチヤートである。
図において、11a,11b,21はA/D変
換器、12a,12b,12c,12d,12
e,12f,22a,22b,22c,22dは
D・FF(D型フリツプフロツプ)、13,23は
分周器、14a,14b,24はEx・OR、15
は論理積回路、16,25は反転器、17,26
は極性反転回路、18,27は選択回路である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a clock phase error detection circuit according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of a conventional clock phase error circuit, and FIG. Figures 4a and 4b are diagrams for explaining the polarity of the detected values of clock phase errors at delays and zero crossings, and are time charts showing a space diagram of the demodulated signal and waveform examples of the demodulated signals of the I channel and Q channel, respectively. It is. In the figure, 11a, 11b, 21 are A/D converters, 12a, 12b, 12c, 12d, 12
e, 12f, 22a, 22b, 22c, 22d are D-FF (D flip-flop), 13, 23 are frequency dividers, 14a, 14b, 24 are Ex-OR, 15
is an AND circuit, 16, 25 is an inverter, 17, 26
is a polarity inversion circuit, and 18 and 27 are selection circuits.
Claims (1)
を直交復調して得られる2系列の復調信号列を入
力とし、該変調信号の変調速度fSの倍数の逆数TS
(=1/2fS)で前記復調列をそれぞれサンプリング
してアナログ信号よりデイジタル信号に変換する
第1および第2のA/D変換器と、これ等第1お
よび第2のA/D変換器の出力信号を入力として
奇数番目のサンプルデータよりデイジタルデータ
の零交叉を検出し、論理“1”を出力する第1お
よび第2の零交叉検出回路と、これ等第1および
第2の零交叉検出回路の論理積をとり、2系列の
データ間に同時に零交叉が発生したことを検出す
る論理積回路と、前記第1のA/D変換器出力信
号の偶数サンプルデータの極性を該偶数サンプル
の直前のサンプル値の極性で反転する極性反転回
路と、前記論理回路の出力信号を入力とし、論理
積が“1”のとき前記極性反転回路の出力信号を
選択し、論理積が“0”のとき誤差ゼロを示す出
力信号を選択する選択回路とにより構成されるこ
とを特徴とするクロツク位相誤差検出回路。1 n-phase phase modulation signal (n is a positive integer and n>2)
Input two demodulated signal sequences obtained by orthogonal demodulation of
(=1/2f S ), respectively, to sample the demodulation string and convert the analog signal into a digital signal; first and second zero-crossing detection circuits which detect zero-crossings of digital data from odd-numbered sample data by inputting the output signal of An AND circuit that calculates the AND of the detection circuit and detects the simultaneous occurrence of zero crossing between two series of data; A polarity inversion circuit that inverts the polarity with the polarity of the immediately previous sample value and the output signal of the logic circuit are input, and when the AND is "1", the output signal of the polarity inversion circuit is selected, and the AND is "0". 1. A clock phase error detection circuit comprising: a selection circuit for selecting an output signal indicating zero error when .
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|---|---|---|---|
| JP62206591A JPS6450653A (en) | 1987-08-21 | 1987-08-21 | Clock phase error detection circuit |
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| JP62206591A JPS6450653A (en) | 1987-08-21 | 1987-08-21 | Clock phase error detection circuit |
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|---|---|---|---|---|
| JP2753485B2 (en) * | 1991-10-14 | 1998-05-20 | 日本電信電話株式会社 | Burst mode demodulator |
| JP3908033B2 (en) * | 1999-06-04 | 2007-04-25 | 三菱電機株式会社 | Phase detecting device, timing reproducing device using the same, and demodulating device using the same |
-
1987
- 1987-08-21 JP JP62206591A patent/JPS6450653A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6450653A (en) | 1989-02-27 |
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