JPH0480632A - カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置 - Google Patents
カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置Info
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- JPH0480632A JPH0480632A JP2194333A JP19433390A JPH0480632A JP H0480632 A JPH0480632 A JP H0480632A JP 2194333 A JP2194333 A JP 2194333A JP 19433390 A JP19433390 A JP 19433390A JP H0480632 A JPH0480632 A JP H0480632A
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- optical fiber
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- carbon
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- fiber
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- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、通信用カーボンコート光ファイバのカーボン
層の膜厚を連続測定することかてきるカーボンコート光
ファイバ検査方法およびその装置に関するものである。
層の膜厚を連続測定することかてきるカーボンコート光
ファイバ検査方法およびその装置に関するものである。
カーボンコート光ファイバは、第４図に示すよウニ、フ
ァイバコア２３を有する外径が０．１２５ｍｍの通信用
石英光ファイバ２０の表面に、厚さ４００オングストロ
一ム程度のアモルファスカーボン層２１を密着被覆し、
その周囲に樹脂層２２を被覆した構造である。樹脂とし
ては、通常内側に軟質、外側に硬質のものを用い、材料
としては紫外線硬化性のウレタンや、熱硬化性のノリコ
ンとナイロンの組合せなどが一般γ］であり、被覆外径
は０．２５ｍｍから１ｍｍ程度である。かかる構造のカ
ーボンコート光ファイバは、カーボン層２１か水分およ
び水素に対して優れた遮閉性を有することから、水素雰
囲気中で用いた場合におＬｌてら伝送損失の変化かなく
、かつ水中で用いに場合においても機械的強度劣化かは
とんと観察されないなと、優れた特長を有している。こ
の特長はカーボン層２１によってもｒこらされているも
のである。
ァイバコア２３を有する外径が０．１２５ｍｍの通信用
石英光ファイバ２０の表面に、厚さ４００オングストロ
一ム程度のアモルファスカーボン層２１を密着被覆し、
その周囲に樹脂層２２を被覆した構造である。樹脂とし
ては、通常内側に軟質、外側に硬質のものを用い、材料
としては紫外線硬化性のウレタンや、熱硬化性のノリコ
ンとナイロンの組合せなどが一般γ］であり、被覆外径
は０．２５ｍｍから１ｍｍ程度である。かかる構造のカ
ーボンコート光ファイバは、カーボン層２１か水分およ
び水素に対して優れた遮閉性を有することから、水素雰
囲気中で用いた場合におＬｌてら伝送損失の変化かなく
、かつ水中で用いに場合においても機械的強度劣化かは
とんと観察されないなと、優れた特長を有している。こ
の特長はカーボン層２１によってもｒこらされているも
のである。
〔発明か解決しようとする課題〕・
ところで、上述したようなカーボンコート光ファイバの
製品検査に当たっては、カーボン層２１か光ファイバ長
手方向に途切れることなく連続して被覆されていること
を確認する必要かある。カーボン層２Ｉの被覆はＣＶＤ
（化学気相成長法）炉によって行われるか、そのＣＶＤ
炉においてカーボン層２１の原料ガスの供給か瞬間的に
途切れたり、線引き速度か変動した場合には、カーボン
層２１か途切れる愁れかある。しかし、カーボン層２に
生しｆ二水素分子か透過し得る程度こ・微少なピノホー
ルの存在の有無を非破壊で、力１つ製造時にシー７ライ
ンで検査する方法かｔ；＜、品質保証面で重大な問題と
戸っていに。
製品検査に当たっては、カーボン層２１か光ファイバ長
手方向に途切れることなく連続して被覆されていること
を確認する必要かある。カーボン層２Ｉの被覆はＣＶＤ
（化学気相成長法）炉によって行われるか、そのＣＶＤ
炉においてカーボン層２１の原料ガスの供給か瞬間的に
途切れたり、線引き速度か変動した場合には、カーボン
層２１か途切れる愁れかある。しかし、カーボン層２に
生しｆ二水素分子か透過し得る程度こ・微少なピノホー
ルの存在の有無を非破壊で、力１つ製造時にシー７ライ
ンで検査する方法かｔ；＜、品質保証面で重大な問題と
戸っていに。
本発明は、上述しに事情に鑑みてなされ、・ニしこて、
製造時にカーボン層の膜厚を連続測定４−ろ二とかでき
、これによりカーボン層に生し几微少なピンホールの存
在の有無を非破壊で、かつオンラインで検出することか
できるカーホノコート光−−イハ検査方法およびその装
置を提供オることを１的としている。
製造時にカーボン層の膜厚を連続測定４−ろ二とかでき
、これによりカーボン層に生し几微少なピンホールの存
在の有無を非破壊で、かつオンラインで検出することか
できるカーホノコート光−−イハ検査方法およびその装
置を提供オることを１的としている。
５課題を解決するための手段〕・
本発明は、光ファイバ紡糸炉から線引きさしｆ二元ファ
イバにカーボン層を被覆し、プーリて方向を変えた後、
巻き取り機へ導くカーボンコート光ファイバの製造過程
において、前記光ファイバ紡糸炉内の光ファイバ母材に
対して光信号を連続的に照射し、前記プーリよって曲げ
られに光ファイバの曲かり部からの放射光量を測定する
ことにより、前記光ファイバに被覆されたカーボン層の
膜厚を連続測定することを特徴としている。
イバにカーボン層を被覆し、プーリて方向を変えた後、
巻き取り機へ導くカーボンコート光ファイバの製造過程
において、前記光ファイバ紡糸炉内の光ファイバ母材に
対して光信号を連続的に照射し、前記プーリよって曲げ
られに光ファイバの曲かり部からの放射光量を測定する
ことにより、前記光ファイバに被覆されたカーボン層の
膜厚を連続測定することを特徴としている。
上記構成によれば、線引きされる光ファイバ母材に光信
号か連続的に入射され、これにより光ファイバ中心のコ
アの光軸に入射されｆ二元信号はファイバ長手方向に伝
送され、プーリによって光ファイバに曲がりか生した部
分から外部へ放射される。
号か連続的に入射され、これにより光ファイバ中心のコ
アの光軸に入射されｆ二元信号はファイバ長手方向に伝
送され、プーリによって光ファイバに曲がりか生した部
分から外部へ放射される。
例えば、４００オングストローム厚のカーボン層は、波
長１，３ミクロンの光に対して５ｄＢ程度の透過損失を
与える。従って、光信号を連続測定すると、カーボン層
の有無によって数ｄＢオーダーで受光パワーが変動する
ので、カーボン層の欠陥をオンラインで精度良く検出す
ることがてきる。
長１，３ミクロンの光に対して５ｄＢ程度の透過損失を
与える。従って、光信号を連続測定すると、カーボン層
の有無によって数ｄＢオーダーで受光パワーが変動する
ので、カーボン層の欠陥をオンラインで精度良く検出す
ることがてきる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例が適用されたカーボンコート
光ファイバ製造ラインの構成を示す図である。この図に
おいて、光ファイバ紡糸炉とじての電気炉３内の石英フ
ァイバ母材２から線引きされ先ファイバ２ａは、その直
下に設けられｒ二ＣＶＤ炉７および樹脂被覆装置８を通
過し、プーリ９て水平方向に曲げられた後、巻き取り機
によって十ヒレに巻き取られる。なお、ＣＶＤ炉７と樹
脂被覆装置８の間にはファイバ外径測定機や、冷却機な
とか設置される場合もめろ。Ｃ〜′Ｄ炉７は、カーボン
層２１の原料カスの供給Ｄ５と排気口６、およびノール
カスの供給口４．４を備え、線引き直後の表面温度１０
００°Ｃ程度の石英表面にアモルファスカーボンを４０
０オングストロ一ム程度の厚さて密着被覆するものであ
る。樹脂被覆装置８はウレタン樹脂なとを被覆するダイ
スと、紫外線硬化炉や軌硬化炉なとて構成され、通常は
軟質と硬質の２層の樹脂を被覆するよう連続して設置さ
れる。なお、第１図ては省略してダイスをＩ（１のみ示
した。
光ファイバ製造ラインの構成を示す図である。この図に
おいて、光ファイバ紡糸炉とじての電気炉３内の石英フ
ァイバ母材２から線引きされ先ファイバ２ａは、その直
下に設けられｒ二ＣＶＤ炉７および樹脂被覆装置８を通
過し、プーリ９て水平方向に曲げられた後、巻き取り機
によって十ヒレに巻き取られる。なお、ＣＶＤ炉７と樹
脂被覆装置８の間にはファイバ外径測定機や、冷却機な
とか設置される場合もめろ。Ｃ〜′Ｄ炉７は、カーボン
層２１の原料カスの供給Ｄ５と排気口６、およびノール
カスの供給口４．４を備え、線引き直後の表面温度１０
００°Ｃ程度の石英表面にアモルファスカーボンを４０
０オングストロ一ム程度の厚さて密着被覆するものであ
る。樹脂被覆装置８はウレタン樹脂なとを被覆するダイ
スと、紫外線硬化炉や軌硬化炉なとて構成され、通常は
軟質と硬質の２層の樹脂を被覆するよう連続して設置さ
れる。なお、第１図ては省略してダイスをＩ（１のみ示
した。
さて、本実施例ではファイバ母材２の中心軸に光軸を合
わせて光源１が設置されている。具体的には、ファイバ
母材２を固定し、昇降機能を有する母材クラップ１２の
中心に光信号用の貫通穴１２ａを形成し、その上方に光
源ｌか設置されている。この光源１の波長は特に限定す
る乙のではないか、光ファイバ２ａの伝送損失の低い波
長を選定するのか有利である。通常の通信用石英ファイ
バの伝送波長はｌ ３もしくは１５５ミクロンであり、
光源ｌとしては、この波長のＬＥＤ（発光ダイオード）
、ＬＤ（レーザダイオード）や、高山カフ）ＹＡＧリン
グレーザを用いることかできる。
わせて光源１が設置されている。具体的には、ファイバ
母材２を固定し、昇降機能を有する母材クラップ１２の
中心に光信号用の貫通穴１２ａを形成し、その上方に光
源ｌか設置されている。この光源１の波長は特に限定す
る乙のではないか、光ファイバ２ａの伝送損失の低い波
長を選定するのか有利である。通常の通信用石英ファイ
バの伝送波長はｌ ３もしくは１５５ミクロンであり、
光源ｌとしては、この波長のＬＥＤ（発光ダイオード）
、ＬＤ（レーザダイオード）や、高山カフ）ＹＡＧリン
グレーザを用いることかできる。
なお、漏洩光を目視て確認しｊ二い場合には可視光のヘ
リウムネオンレーザを用いても良い。
リウムネオンレーザを用いても良い。
一方、ＣＶ Ｄ炉７の下方には、受光器１０か設置され
、曲げ法によって漏洩光パワーを連続測定するようにな
っている。本実施例では一例として光ファイバ２ａに曲
がりを与える方法としてプーリ９を用いた。この場合、
プーリ９の直径は小さいほと光ファイバ２ａから放射さ
れる光パワーは大きくなる。受光器１０としてはＧｅ（
ケルマニウム）やＳｉ（ノリフン）のフォトグイオート
ｔとを用いる。樹脂層２２の厚さによっては放射される
光パワーの減衰か大きい場合があり、この場合にはフォ
トノカウンタや積分球を用いて受光感度を向上してもよ
い。また、プーリ９と受光器ｌＯを覆う暗箱１１は外乱
光の影響を除去するためのしのであり、必要に応して用
いる。
、曲げ法によって漏洩光パワーを連続測定するようにな
っている。本実施例では一例として光ファイバ２ａに曲
がりを与える方法としてプーリ９を用いた。この場合、
プーリ９の直径は小さいほと光ファイバ２ａから放射さ
れる光パワーは大きくなる。受光器１０としてはＧｅ（
ケルマニウム）やＳｉ（ノリフン）のフォトグイオート
ｔとを用いる。樹脂層２２の厚さによっては放射される
光パワーの減衰か大きい場合があり、この場合にはフォ
トノカウンタや積分球を用いて受光感度を向上してもよ
い。また、プーリ９と受光器ｌＯを覆う暗箱１１は外乱
光の影響を除去するためのしのであり、必要に応して用
いる。
二こで、第２図にカーボン膜のみを透過する際の光の減
衰量の測定結果を示す。二の図において横軸はカーホノ
膜厚、縦軸はカーボン膜を透過する際の減衰量である。
衰量の測定結果を示す。二の図において横軸はカーホノ
膜厚、縦軸はカーボン膜を透過する際の減衰量である。
また、用いｆ口先ファイバは波長１３ミクロン用と、１
．５５ミク０ノ用のノングルモート光ファイバであり、
それぞれアモルファスカーボンを被覆したものである。
．５５ミク０ノ用のノングルモート光ファイバであり、
それぞれアモルファスカーボンを被覆したものである。
このファイバのコアに光信号を入射し、曲げ直径１４ｍ
ｍに曲げに部分からの漏洩光パワーを測定した。実線で
示し１ニ２本の線は、ばらつきの幅を示している。
ｍに曲げに部分からの漏洩光パワーを測定した。実線で
示し１ニ２本の線は、ばらつきの幅を示している。
第２図から判るように、−例として４００オングストロ
ームのカーボン膜の場合、５から８ｄＢの透過損失が生
じる。従って、第１図の測定系で受光器ｌＯのパワーを
連続測定すると、カーボン層２１か被覆された部分と被
覆不良の部分て、受光パワーか変化し、被覆不良部分を
感変良く感知てきる。
ームのカーボン膜の場合、５から８ｄＢの透過損失が生
じる。従って、第１図の測定系で受光器ｌＯのパワーを
連続測定すると、カーボン層２１か被覆された部分と被
覆不良の部分て、受光パワーか変化し、被覆不良部分を
感変良く感知てきる。
次に、第３図に上述した一実施例の測定系による測定結
果を示す。この場合、光源１として出力３５ｍＷのＹＡ
Ｇリングレーザ−（波長１．３２ミクロン）を用い、ま
た長さ５０センチメートルの３ミクロン用の先ファイバ
母材２に厚さ４００オングストロームのカーボン膜を被
覆しつつ、受光器ＩＯとしてＧｅダイオードを用いたパ
ワーメータで受光パワーメータを連続測定し、さらに、
線引き速度は毎分１２０メートルで行った。同図に示す
点Ａは、１秒間意図的にカーボン層２＋の原料ガスの供
給を停止した場所であり、この場所で、２ｄＢの受光パ
ワーの変化を検出した。したかって、本検査法の有効性
を確認することかできた。
果を示す。この場合、光源１として出力３５ｍＷのＹＡ
Ｇリングレーザ−（波長１．３２ミクロン）を用い、ま
た長さ５０センチメートルの３ミクロン用の先ファイバ
母材２に厚さ４００オングストロームのカーボン膜を被
覆しつつ、受光器ＩＯとしてＧｅダイオードを用いたパ
ワーメータで受光パワーメータを連続測定し、さらに、
線引き速度は毎分１２０メートルで行った。同図に示す
点Ａは、１秒間意図的にカーボン層２＋の原料ガスの供
給を停止した場所であり、この場所で、２ｄＢの受光パ
ワーの変化を検出した。したかって、本検査法の有効性
を確認することかできた。
なお、上述した一実施例においては、プーリ９と受光器
ｌＯとを１個ずつ配設した例を示しているが、ピンホー
ルのようなカーボン膜の被覆不良に対しては円周方向い
ずれの場所にあるピンホールも検出てきるように、プー
リ９と受光器１０とを複数個ずつ配設すればよい。
ｌＯとを１個ずつ配設した例を示しているが、ピンホー
ルのようなカーボン膜の被覆不良に対しては円周方向い
ずれの場所にあるピンホールも検出てきるように、プー
リ９と受光器１０とを複数個ずつ配設すればよい。
以上述べた通り、本発明によれば、カーボンコート光フ
ァイバの製造時にカーボン層に生した微少なピノホール
の存在の有無を、非破壊で、かつ製造時にオノラインで
連続して検査することができ、シにかって、カーボンコ
ート光ファイバの品質保証面で優れた効果か得られる。
ァイバの製造時にカーボン層に生した微少なピノホール
の存在の有無を、非破壊で、かつ製造時にオノラインで
連続して検査することができ、シにかって、カーボンコ
ート光ファイバの品質保証面で優れた効果か得られる。
第１図は本発明の一実施例が適用されｆ二カーボンコー
ト光ファイバ製造ラインの構成を示す図、第２図はカー
ホノ層透過時の光パワー減衰量を示すグラフ、 第３図は本発明の一実施例による測定結果を示すグラフ
、 第４図はカーボンコート光ファイバの構成を示す断面図
である。 ｌ・・−・・光源、 光ファイバ母材、 光ファイバ ・・・電気炉、 ・・ＣＶＤ炉、 プーリ、 受光器、 ・光ファイバ カーボン層。 ２ ・ ・ ａ １ Ｏ・ ２ ｌ ・ 第１図
ト光ファイバ製造ラインの構成を示す図、第２図はカー
ホノ層透過時の光パワー減衰量を示すグラフ、 第３図は本発明の一実施例による測定結果を示すグラフ
、 第４図はカーボンコート光ファイバの構成を示す断面図
である。 ｌ・・−・・光源、 光ファイバ母材、 光ファイバ ・・・電気炉、 ・・ＣＶＤ炉、 プーリ、 受光器、 ・光ファイバ カーボン層。 ２ ・ ・ ａ １ Ｏ・ ２ ｌ ・ 第１図
Claims (2)
- （１）光ファイバ紡糸炉から線引きされた光ファイバに
カーボン層を被覆し、プーリで方向を変えた後、巻き取
り機へ導くカーボンコート光ファイバの製造過程におい
て、前記光ファイバ紡糸炉内の光ファイバ母材に対して
光信号を連続的に照射し、前記プーリよって曲げられた
光ファイバの曲がり部からの放射光量を測定することに
より、前記光ファイバに被覆されたカーボン層の膜厚を
連続測定することを特徴とするカーボンコート光ファイ
バ検査方法。 - （２）光ファイバ紡糸炉から線引きされた光ファイバに
カーボン層を被覆し、プーリで方向を変えた後、巻き取
り機へ導くカーボンコート光ファイバの製造装置におい
て、前記光ファイバ紡糸炉内の光ファイバ母材に対して
光信号を連続的に照射する光源と、前記プーリよって曲
げられた光ファイバの曲かり部からの放射光量を検出す
る光検出手段とを具備し、前記光検出手段の検出結果に
基づいて、前記光ファイバに被覆されたカーボン層の膜
厚を連続測定することを特徴とするカーボンコート光フ
ァイバ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194333A JP2893048B2 (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194333A JP2893048B2 (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0480632A true JPH0480632A (ja) | 1992-03-13 |
| JP2893048B2 JP2893048B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=16322848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2194333A Expired - Lifetime JP2893048B2 (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2893048B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04243938A (ja) * | 1991-01-25 | 1992-09-01 | Fujikura Ltd | 光ファイバの炭素被膜のモニタ方法 |
| JP2018083744A (ja) * | 2016-11-25 | 2018-05-31 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ素線の製造方法、光ファイバ素線の製造装置、及び光ファイバ素線の検査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5737541B2 (ja) | 2014-05-02 | 2015-06-17 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクター及びプロジェクターの光源の点灯方法 |
-
1990
- 1990-07-23 JP JP2194333A patent/JP2893048B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04243938A (ja) * | 1991-01-25 | 1992-09-01 | Fujikura Ltd | 光ファイバの炭素被膜のモニタ方法 |
| JP2018083744A (ja) * | 2016-11-25 | 2018-05-31 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ素線の製造方法、光ファイバ素線の製造装置、及び光ファイバ素線の検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2893048B2 (ja) | 1999-05-17 |
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