JPH0481454B2 - - Google Patents
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- JPH0481454B2 JPH0481454B2 JP62217332A JP21733287A JPH0481454B2 JP H0481454 B2 JPH0481454 B2 JP H0481454B2 JP 62217332 A JP62217332 A JP 62217332A JP 21733287 A JP21733287 A JP 21733287A JP H0481454 B2 JPH0481454 B2 JP H0481454B2
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- rays
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、X線源からX線を被検体に放射して
得た透過X線をX線検出手段により検出して画像
再構成を行い、断層像を得るX線断層撮影装置に
関する。
得た透過X線をX線検出手段により検出して画像
再構成を行い、断層像を得るX線断層撮影装置に
関する。
(従来の技術)
X線断層撮影装置(以下X線CTという)はX
線によつて被検体の断層撮影を行う装置である。
そのX線CTの概略構成を第4図によつて説明す
る。図に示すX線CTは第3世代と称せられるロ
ーテート・ローテート方式のものである。図にお
いて、1はX線断層撮影を行うためのX線を放射
するX線管で、その放射X線は被検体2を透過し
てX線検出器(以下検出器という)3においてそ
のエネルギーに比例した電流に変換される。検出
器3は多数のチヤネル4で構成されている。ガン
トリ5はX線管1と検出器3を搭載し、その中心
点を中心として被検体2の周囲を回転する。
線によつて被検体の断層撮影を行う装置である。
そのX線CTの概略構成を第4図によつて説明す
る。図に示すX線CTは第3世代と称せられるロ
ーテート・ローテート方式のものである。図にお
いて、1はX線断層撮影を行うためのX線を放射
するX線管で、その放射X線は被検体2を透過し
てX線検出器(以下検出器という)3においてそ
のエネルギーに比例した電流に変換される。検出
器3は多数のチヤネル4で構成されている。ガン
トリ5はX線管1と検出器3を搭載し、その中心
点を中心として被検体2の周囲を回転する。
6は前記X線管1と検出器3とを搭載している
ガントリ5の回転を制御するガントリ制御装置、
7はX線管1に高圧電源を供給する高圧X線管制
御部で、X線発生制御装置8によつて制御され
る。操作撮影制御装置9はガントリ制御装置6及
びX線発生制御装置8を制御して、X線管に高圧
電源を供給する時期及びガントリ5を回転させる
時期を制御する。
ガントリ5の回転を制御するガントリ制御装置、
7はX線管1に高圧電源を供給する高圧X線管制
御部で、X線発生制御装置8によつて制御され
る。操作撮影制御装置9はガントリ制御装置6及
びX線発生制御装置8を制御して、X線管に高圧
電源を供給する時期及びガントリ5を回転させる
時期を制御する。
X線管1からX線を被検体2の全周に曝射し、
被検体2を透過して検出器3に到達したX線のエ
ネルギーは検出器3を構成するチヤネル4でX線
エネルギーに比例した電流量による電気信号に変
換され、データ収集装置10によつてデータとし
て採取される。得られたデータはデータ処理装置
11に送られて対数変換、X線強度補正等の処理
を施され、大容量記憶装置12に送られて蓄えら
れる。このようにしてデータを採取し、1ビユー
分のデータが揃うとデータ処理装置11は画像再
構成処理を行い、画像表示装置13に表示する。
被検体2を透過して検出器3に到達したX線のエ
ネルギーは検出器3を構成するチヤネル4でX線
エネルギーに比例した電流量による電気信号に変
換され、データ収集装置10によつてデータとし
て採取される。得られたデータはデータ処理装置
11に送られて対数変換、X線強度補正等の処理
を施され、大容量記憶装置12に送られて蓄えら
れる。このようにしてデータを採取し、1ビユー
分のデータが揃うとデータ処理装置11は画像再
構成処理を行い、画像表示装置13に表示する。
第4世代と称せられるステイシヨナリ・ローテ
イト方式のX線CT装置は検出器を円周上に全周
に亘つて配置し、検出器を固定したままX線管を
被検体を中心として回転させる方式の装置であ
る。
イト方式のX線CT装置は検出器を円周上に全周
に亘つて配置し、検出器を固定したままX線管を
被検体を中心として回転させる方式の装置であ
る。
(発明が解決しようとする問題点)
前記のように第3世代や第4世代のX線CT装
置であつても、依然として同時にX線を放射して
いるX線管1は只1つのみで、少なくとも相対峙
する検出器3から見る限り1つのX線管からしか
同時にX線が放射されない。そのため、充分なX
線のエネルギーを得るためにX線管1に要求され
るX線の集中度は極めて大きく、回転陽極が瞬時
であつても止まれば電子衝撃による発熱で直ちに
溶解してしまうような使い方をされている。
置であつても、依然として同時にX線を放射して
いるX線管1は只1つのみで、少なくとも相対峙
する検出器3から見る限り1つのX線管からしか
同時にX線が放射されない。そのため、充分なX
線のエネルギーを得るためにX線管1に要求され
るX線の集中度は極めて大きく、回転陽極が瞬時
であつても止まれば電子衝撃による発熱で直ちに
溶解してしまうような使い方をされている。
全周にX線管1、検出器3の何れもが見掛け上
機械的に制止している第5世代と称せられるステ
イシヨナリ・ステイシヨナリ方式のX線CT装置
でも、上記の“同時に1つの点状X線”という原
則は守られていて、X線管1に対するX線の集中
度の大きさの点では全く同じである。
機械的に制止している第5世代と称せられるステ
イシヨナリ・ステイシヨナリ方式のX線CT装置
でも、上記の“同時に1つの点状X線”という原
則は守られていて、X線管1に対するX線の集中
度の大きさの点では全く同じである。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、単一のX線源によるデータ採取ではな
く、複数のX線源からの放射エネルギーを単一の
検出器で検出する形式のX線CTを実現すること
である。
の目的は、単一のX線源によるデータ採取ではな
く、複数のX線源からの放射エネルギーを単一の
検出器で検出する形式のX線CTを実現すること
である。
更に他の目的は、データ採取時間を長くして瞬
時強度が短くてすむようなX線CT装置を実現す
ることにある。
時強度が短くてすむようなX線CT装置を実現す
ることにある。
(問題点を解決するための手段)
前記の問題点を解決する本発明は、X線源から
X線を被検体に放射して得た透過X線をX線検出
手段により検出して画像再構成を行い、断層像を
得るX線断層撮影装置において、複数のX線放射
部で構成されるX線発生手段と、X線発生手段を
構成するX線放射部のそれぞれに、擬似乱数に基
づいて変調されたX線放射を行わせる制御手段
と、X線検出手段において検出された透過X線デ
ータに対してX線放射の際に用いたと同一な擬似
乱数による相互相関演算によつて複数のX線放射
部からのそれぞれのX線放射に基づく透過X線デ
ータを分離抽出し、分離抽出された透過X線デー
タに基づいて画像再構成を行うデータ処理手段と
を備えたことを特徴とするものである。
X線を被検体に放射して得た透過X線をX線検出
手段により検出して画像再構成を行い、断層像を
得るX線断層撮影装置において、複数のX線放射
部で構成されるX線発生手段と、X線発生手段を
構成するX線放射部のそれぞれに、擬似乱数に基
づいて変調されたX線放射を行わせる制御手段
と、X線検出手段において検出された透過X線デ
ータに対してX線放射の際に用いたと同一な擬似
乱数による相互相関演算によつて複数のX線放射
部からのそれぞれのX線放射に基づく透過X線デ
ータを分離抽出し、分離抽出された透過X線デー
タに基づいて画像再構成を行うデータ処理手段と
を備えたことを特徴とするものである。
(作 用)
制御手段は、予めプログラムされた一定のコー
ドの数列に従つて複数のX線放射部を有するX線
源を制御して、各X線放射部を前記一定のコード
に基づき同時に動作させてX線を放射させ、X線
検出手段によりコード化された各X線放射手段か
らのX線データが検出される。演算手段は前記X
線データに対し相互相関値を求める演算を行い、
画像再構成演算手段は前記相関値に基づき画像再
構成演算を行い、画像表示させる。
ドの数列に従つて複数のX線放射部を有するX線
源を制御して、各X線放射部を前記一定のコード
に基づき同時に動作させてX線を放射させ、X線
検出手段によりコード化された各X線放射手段か
らのX線データが検出される。演算手段は前記X
線データに対し相互相関値を求める演算を行い、
画像再構成演算手段は前記相関値に基づき画像再
構成演算を行い、画像表示させる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の一実施例の概略構成図であ
る。図において、第4図と同等部分には同じ符号
が付してあり、説明を省略する。図中、21はS
1からSkまでのk個のX線管で構成されている
X線源である。
る。図において、第4図と同等部分には同じ符号
が付してあり、説明を省略する。図中、21はS
1からSkまでのk個のX線管で構成されている
X線源である。
次に、上記のように構成された実施例の動作を
第2図を参照して説明する。第2図において、第
1図と同等の部分には同じ符号に付してある。図
に示すようにX線源21のX線管S〜Skから放
射されたX線が被検体2を透過して検出器3のチ
ヤネルDiに到達した場合について考えると(他
の検出器3のチヤネルD1〜Di-1,Di+1〜Dnにも
到達しているがチヤネルDiについてのみ考察す
る)X線管S1〜Skのすべてが直流的にX線を
放射した場合は、そのビユーにおいて、各X線管
S1〜Skから被検体2の異なつた場所を通過し
たデータが同一の検出器3のチヤネルDiに入射
されるので被検体2のX線に透過された各部分の
区別をつけることができない。ところが、X線管
S1〜Skからの放射がコード化されていれば、
チヤネルDiで検出されたデータが、X線管S1
〜SkのどのX線管から放射されたX線であるか
の分離抽出ができる。また個々のX線管S1〜
Skは同じ放射エネルギーを出力するのに長時間
かけて放射することができ、又、同時に放射した
X線のエネルギーの全量を従来装置と略同量にす
ることができる。
第2図を参照して説明する。第2図において、第
1図と同等の部分には同じ符号に付してある。図
に示すようにX線源21のX線管S〜Skから放
射されたX線が被検体2を透過して検出器3のチ
ヤネルDiに到達した場合について考えると(他
の検出器3のチヤネルD1〜Di-1,Di+1〜Dnにも
到達しているがチヤネルDiについてのみ考察す
る)X線管S1〜Skのすべてが直流的にX線を
放射した場合は、そのビユーにおいて、各X線管
S1〜Skから被検体2の異なつた場所を通過し
たデータが同一の検出器3のチヤネルDiに入射
されるので被検体2のX線に透過された各部分の
区別をつけることができない。ところが、X線管
S1〜Skからの放射がコード化されていれば、
チヤネルDiで検出されたデータが、X線管S1
〜SkのどのX線管から放射されたX線であるか
の分離抽出ができる。また個々のX線管S1〜
Skは同じ放射エネルギーを出力するのに長時間
かけて放射することができ、又、同時に放射した
X線のエネルギーの全量を従来装置と略同量にす
ることができる。
上記のように各X線管S1〜Skから放射する
X線をコード化するためには正負に亘る振動波形
を出すことが好ましいが、負の放射を行うことは
できない。しかし、データ処理の段階でX線放射
波形の直流平均値を差し引いて処理すれば、正負
の放射をしたのと同様な結果を得ることができ
る。直流平均値を差し引いて演算するためには、
X線管S1〜Skを同一レベルでX線を放射させ
た場合、放射と非放射とを1と0で表現すれば、
1と0の出現割合が1:1であることが必要であ
る。
X線をコード化するためには正負に亘る振動波形
を出すことが好ましいが、負の放射を行うことは
できない。しかし、データ処理の段階でX線放射
波形の直流平均値を差し引いて処理すれば、正負
の放射をしたのと同様な結果を得ることができ
る。直流平均値を差し引いて演算するためには、
X線管S1〜Skを同一レベルでX線を放射させ
た場合、放射と非放射とを1と0で表現すれば、
1と0の出現割合が1:1であることが必要であ
る。
上記の条件を満足するコードとしてM系列があ
り、これを採用した場合の本発明の原理を説明す
る。
り、これを採用した場合の本発明の原理を説明す
る。
M系列とは最大周期系列擬似乱数のことであ
り、コードシーケンスの自己相関が原点以外はお
しなべて大変低い値になるものである。すなわ
ち、m段のシフト・レジスタを用いて、オール
「0」の状態を除く2m−1個の状態をすべて経由
して元に戻る数列の系列をいう。従つて、m個の
フリツプフロツプと適当な位置に設けた排他的論
理和回路を用いたM系列においては、その数列を
構成する数は2m−1となる。第3図は第2図の原
理説明図をガントリ5上に配置された図に書き直
した図である。図において、第1図と同等の部分
には同一の番号を付してある。X線源21をガン
トリ5の回転中心から見たX線源21の両端のX
線管S1とSkの中心間の角度をΔθとする。Δθの
範囲にあるX線源21から放射され、被検体2を
透過したX線はすべて検出器3で検出されるもの
とする。又、ガントリ5を回転させるステツプは
X線源21を構成しているX線管の間隔に等しい
ものとする。即ち、ガントリ5の1ステツプの回
転角度はΔθ/kである。従つて、X線管S1〜
Skはk回のビユーデータの採取に相当する回転
角上にある。この配置を検出器3の1つのチヤネ
ル4から見ると、ガントリ5の回転ステツプ毎に
ビユー番号の異なるデータに対応する筈の同じ視
線を介してX線源21の各X線管S1〜Skから
順に照射X線が入射される。このとき、X線源2
1の構成X線管S1から見たチヤネル4もその番
号がD1からDnまで順次に1つずつずれてゆく。
り、コードシーケンスの自己相関が原点以外はお
しなべて大変低い値になるものである。すなわ
ち、m段のシフト・レジスタを用いて、オール
「0」の状態を除く2m−1個の状態をすべて経由
して元に戻る数列の系列をいう。従つて、m個の
フリツプフロツプと適当な位置に設けた排他的論
理和回路を用いたM系列においては、その数列を
構成する数は2m−1となる。第3図は第2図の原
理説明図をガントリ5上に配置された図に書き直
した図である。図において、第1図と同等の部分
には同一の番号を付してある。X線源21をガン
トリ5の回転中心から見たX線源21の両端のX
線管S1とSkの中心間の角度をΔθとする。Δθの
範囲にあるX線源21から放射され、被検体2を
透過したX線はすべて検出器3で検出されるもの
とする。又、ガントリ5を回転させるステツプは
X線源21を構成しているX線管の間隔に等しい
ものとする。即ち、ガントリ5の1ステツプの回
転角度はΔθ/kである。従つて、X線管S1〜
Skはk回のビユーデータの採取に相当する回転
角上にある。この配置を検出器3の1つのチヤネ
ル4から見ると、ガントリ5の回転ステツプ毎に
ビユー番号の異なるデータに対応する筈の同じ視
線を介してX線源21の各X線管S1〜Skから
順に照射X線が入射される。このとき、X線源2
1の構成X線管S1から見たチヤネル4もその番
号がD1からDnまで順次に1つずつずれてゆく。
X線管S1〜SkはX線発生制御装置8の制御
によりM系列の数列を構成する「0」、「1」に従
つて振幅(強度)変調されたX線曝射を行う。ま
た、データ処理装置11は検出器で検出したデー
タと正負の数に直したM系列の2値データとの相
互相関演算を行い、X線管S1〜Skのそれぞれ
によるデータを分離する。例を以て説明すると、
X線管S1〜Skの数をM系列の数255に対して十
分小さな数を選んで8とし、それぞれ4μs刻みで
255個のデータ時刻にm=8のM系列に従つてX
線放射をするものとすると、そのエネルギーを受
けた検出器3のエレメントDiも4μs刻みで電流信
号を出力して大容量記憶装置12に格納する。各
X線管S1〜S8に対する数列の割り当ては第5
図のように行われる。図において、30はM系列
のm=8の割合の円形に描いたM系列数列環であ
る。このM系列数列環30を図のようにX線管の
数8で等分して、8等分したそれぞれの数列の始
めの数字を8個のX線管S1〜S8に割り当てて
位相の離れたM系列として矢印の方向に数列を進
めて行く。M系列の数列によるデータの大容量記
憶装置12に格納されたデータの一連の値から直
流平均値を差し引くと見掛け上交流データになる
ので、このデータと、M系列の数列を同様に正負
に表現し直した数値との相互相関を求める。得ら
れた相関グラフから、各相関のピーク値とバツク
グラウンドノイズとが求められる。第5図に示し
た各数列のタイムシフトを図の位相のずれの最大
値以上にずらすまで相関できるようにすれば、デ
ータ列の長さは4μs×255×2=2040μs≒2msが必
要となる。得られた相関グラフから各相関のピー
ク値とバツクグラウンドノイズとを知り得る。第
6図にこの相関グラフを示す。イ図は各チヤネル
4の得たデータの相関値のグラフで、縦軸に相関
値、横軸に4μsで刻んだ時間を取つてある。31
はデータとしての主成分、32はサイドローブで
ある。主成分31は第5図の各X線管S1〜S8
の位相のずれである255/8の周期で現われる。
従つて、位相のずれ以上にずらすまで相関を求め
るためにはもう1回分の放射を行うため前記の
2msのデータ列長が必要になるものである。ロ図
はイ図における1チヤネルのデータを拡大した図
で、サイドローブ32のうち32aは検出器3の
応答遅れによる出力、32bはバツクグラウンド
ノイズ及びM系列自体により生じるサイドローブ
である。X線管Skに対応する出力は、主成分3
1とサイドローブ32のすべてを加算したもので
ある。以上のことを各X線管S1〜S8について
行う。
によりM系列の数列を構成する「0」、「1」に従
つて振幅(強度)変調されたX線曝射を行う。ま
た、データ処理装置11は検出器で検出したデー
タと正負の数に直したM系列の2値データとの相
互相関演算を行い、X線管S1〜Skのそれぞれ
によるデータを分離する。例を以て説明すると、
X線管S1〜Skの数をM系列の数255に対して十
分小さな数を選んで8とし、それぞれ4μs刻みで
255個のデータ時刻にm=8のM系列に従つてX
線放射をするものとすると、そのエネルギーを受
けた検出器3のエレメントDiも4μs刻みで電流信
号を出力して大容量記憶装置12に格納する。各
X線管S1〜S8に対する数列の割り当ては第5
図のように行われる。図において、30はM系列
のm=8の割合の円形に描いたM系列数列環であ
る。このM系列数列環30を図のようにX線管の
数8で等分して、8等分したそれぞれの数列の始
めの数字を8個のX線管S1〜S8に割り当てて
位相の離れたM系列として矢印の方向に数列を進
めて行く。M系列の数列によるデータの大容量記
憶装置12に格納されたデータの一連の値から直
流平均値を差し引くと見掛け上交流データになる
ので、このデータと、M系列の数列を同様に正負
に表現し直した数値との相互相関を求める。得ら
れた相関グラフから、各相関のピーク値とバツク
グラウンドノイズとが求められる。第5図に示し
た各数列のタイムシフトを図の位相のずれの最大
値以上にずらすまで相関できるようにすれば、デ
ータ列の長さは4μs×255×2=2040μs≒2msが必
要となる。得られた相関グラフから各相関のピー
ク値とバツクグラウンドノイズとを知り得る。第
6図にこの相関グラフを示す。イ図は各チヤネル
4の得たデータの相関値のグラフで、縦軸に相関
値、横軸に4μsで刻んだ時間を取つてある。31
はデータとしての主成分、32はサイドローブで
ある。主成分31は第5図の各X線管S1〜S8
の位相のずれである255/8の周期で現われる。
従つて、位相のずれ以上にずらすまで相関を求め
るためにはもう1回分の放射を行うため前記の
2msのデータ列長が必要になるものである。ロ図
はイ図における1チヤネルのデータを拡大した図
で、サイドローブ32のうち32aは検出器3の
応答遅れによる出力、32bはバツクグラウンド
ノイズ及びM系列自体により生じるサイドローブ
である。X線管Skに対応する出力は、主成分3
1とサイドローブ32のすべてを加算したもので
ある。以上のことを各X線管S1〜S8について
行う。
以上の原理に基づき、第1図のX線CT装置は
動作する。X線源21の構成X線管S1〜Skは
操作撮影制御装置9により制御されたX線発生制
御装置8の指令に基づき第5図に示すように割り
当てられたM系列の数列に従つて被検体2を曝射
し、検出器3が電流値に変換した透過X線データ
はデータ収集装置10、データ処理装置11を経
て大容量記憶装置12に格納される。次に4μs後
にX線源21と検出器3の位置は被検体2に関し
てX線管S1〜SkのX線管1個分だけずれて再
び被検体2を曝射する。ここで、M系列の2値デ
ータを用いた相互相関演算を行い、S1〜S8の
それぞれのデータを分離する。このようにして従
来の1ビユー分の作業時間でk個のスライス面の
データが取れる。これをk回繰り返して同じ視線
のデータ同志を加算すると、SN比が改善されて
従来方式のものと同等となり、放射エネルギーは
k回分が加算されるので、1回の放射では1/k
の放射量で良いことになる。
動作する。X線源21の構成X線管S1〜Skは
操作撮影制御装置9により制御されたX線発生制
御装置8の指令に基づき第5図に示すように割り
当てられたM系列の数列に従つて被検体2を曝射
し、検出器3が電流値に変換した透過X線データ
はデータ収集装置10、データ処理装置11を経
て大容量記憶装置12に格納される。次に4μs後
にX線源21と検出器3の位置は被検体2に関し
てX線管S1〜SkのX線管1個分だけずれて再
び被検体2を曝射する。ここで、M系列の2値デ
ータを用いた相互相関演算を行い、S1〜S8の
それぞれのデータを分離する。このようにして従
来の1ビユー分の作業時間でk個のスライス面の
データが取れる。これをk回繰り返して同じ視線
のデータ同志を加算すると、SN比が改善されて
従来方式のものと同等となり、放射エネルギーは
k回分が加算されるので、1回の放射では1/k
の放射量で良いことになる。
次に、他の実施例を説明する。前記の実施例で
はサイドローブを十分小さくするためにM系列に
おいて、m=8、系列長255の数列に対してその
内十分小さなk種類(先の実施例ではk=8m
−1=255)しか照射しなかつたが、サイドロー
ブの出ない系列を用いると時間軸上の刻み目がk
に等しい数列か、その数倍程度の数列にまで減ら
すことができる。即ち、前記の例のような255の
系列でなく、8〜32程度の数列にまで減らし得
る。サイドローブの無い数列としてM系列に換え
てゴーレイコードを用いると良い。このゴーレイ
コードとは、相補系列と呼ばれるものの一つであ
り、M系列と同様に自己相関が原点以外は大変低
いコードであり、バーカーコードと呼ばれるもの
の中から選ばれた一対のコードである。このゴー
レイコードは、原点は同符号であるが、原点以外
は御互いに等大逆相で、それらを足すと原点の値
は倍増するが他の部分(サイドローブ)は相殺さ
れて零となるような系列である。但し、ゴーレイ
コードはM系列と異なり1、0で表わすと1、0
が等分に現われないため平均値が50%にならない
ので、数列の1を10に、0を01に置き換えて倍の
周波数にしてパルス位置変調(以下PPMという)
したものを用いて平均値を50%にする。第3図の
ガントリにおいて、前記の実施例の場合と同様に
X線管S1〜S8(k=8とする)は順々にゴー
レイコードの数列に従つてX線を放射する。この
数列の例を第7図に示す。図において、イ図は8
ビツトのゴーレイコードA,Bを1を10、0を01
に置き換えて書き直した数列のX線管動作数列を
示したものである。ロはX線源21のX線放射を
終端なく継続して行わせるためX線管動作数列を
円周上に書いて示したものである。先ず、X線管
S1の動作を説明すると、始めに1010の数列に従
つて放射(1)と非放射0)を行い、この4ビツトの
単位を崩さないようにして第7図ロのS2の位置
にタイムシフトを行い、0101の数列に従つて放射
する。S2〜S8も同様な方法で放射する。
はサイドローブを十分小さくするためにM系列に
おいて、m=8、系列長255の数列に対してその
内十分小さなk種類(先の実施例ではk=8m
−1=255)しか照射しなかつたが、サイドロー
ブの出ない系列を用いると時間軸上の刻み目がk
に等しい数列か、その数倍程度の数列にまで減ら
すことができる。即ち、前記の例のような255の
系列でなく、8〜32程度の数列にまで減らし得
る。サイドローブの無い数列としてM系列に換え
てゴーレイコードを用いると良い。このゴーレイ
コードとは、相補系列と呼ばれるものの一つであ
り、M系列と同様に自己相関が原点以外は大変低
いコードであり、バーカーコードと呼ばれるもの
の中から選ばれた一対のコードである。このゴー
レイコードは、原点は同符号であるが、原点以外
は御互いに等大逆相で、それらを足すと原点の値
は倍増するが他の部分(サイドローブ)は相殺さ
れて零となるような系列である。但し、ゴーレイ
コードはM系列と異なり1、0で表わすと1、0
が等分に現われないため平均値が50%にならない
ので、数列の1を10に、0を01に置き換えて倍の
周波数にしてパルス位置変調(以下PPMという)
したものを用いて平均値を50%にする。第3図の
ガントリにおいて、前記の実施例の場合と同様に
X線管S1〜S8(k=8とする)は順々にゴー
レイコードの数列に従つてX線を放射する。この
数列の例を第7図に示す。図において、イ図は8
ビツトのゴーレイコードA,Bを1を10、0を01
に置き換えて書き直した数列のX線管動作数列を
示したものである。ロはX線源21のX線放射を
終端なく継続して行わせるためX線管動作数列を
円周上に書いて示したものである。先ず、X線管
S1の動作を説明すると、始めに1010の数列に従
つて放射(1)と非放射0)を行い、この4ビツトの
単位を崩さないようにして第7図ロのS2の位置
にタイムシフトを行い、0101の数列に従つて放射
する。S2〜S8も同様な方法で放射する。
このようにして得られたデータから元のコード
AとコードBをテンプレートとして用いて各々該
当位置のデータと相関させて圧縮する。それから
Aの側の圧縮結果とBの側の圧縮結果を加算する
とゴーレイコードの特質であるサイドローブのキ
ヤンセルが達成されてX線管S1〜S8相互間の
干渉が排除される。M系列の場合と同様に30μs×
32×2=1920μs≒2msでX線管S1〜S8は放射
を終る。
AとコードBをテンプレートとして用いて各々該
当位置のデータと相関させて圧縮する。それから
Aの側の圧縮結果とBの側の圧縮結果を加算する
とゴーレイコードの特質であるサイドローブのキ
ヤンセルが達成されてX線管S1〜S8相互間の
干渉が排除される。M系列の場合と同様に30μs×
32×2=1920μs≒2msでX線管S1〜S8は放射
を終る。
以上詳細に述べたように本実施例によれば、k
個のX線管からX線を放射するので、1個のX線
管に対する放射線強度の要求を減らすことができ
て、X線管の陰極からの電流密度を小さくするこ
とができ、構造上からの、X線管の温度上昇の視
点から見ても要求条件が緩和され、寿命を延ばす
ことができる。又、X線管の電流密度を現状に維
持するとすれば、より高速のデータ採取が可能に
なり、高スループツト化が実現できる。
個のX線管からX線を放射するので、1個のX線
管に対する放射線強度の要求を減らすことができ
て、X線管の陰極からの電流密度を小さくするこ
とができ、構造上からの、X線管の温度上昇の視
点から見ても要求条件が緩和され、寿命を延ばす
ことができる。又、X線管の電流密度を現状に維
持するとすれば、より高速のデータ採取が可能に
なり、高スループツト化が実現できる。
本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が考えられる。
く、種々の変形が考えられる。
例えば、上記ゴーレイコードによるPPMを更
に高い周波数にすることも可能である。例えば、
ゴーレイコードにおいて、1を10とし、0を01と
したが、これと同じ周期で1を1010とし、0を
0101とすれば、周波数が倍になり、更に、周波数
を高くすることで中心周波数に対する帯域幅、即
ち比帯域幅が狭くなつて回路処理上楽になり、
又、直流域から離れるため回路の直流応答に対す
る要求を緩和することができる。
に高い周波数にすることも可能である。例えば、
ゴーレイコードにおいて、1を10とし、0を01と
したが、これと同じ周期で1を1010とし、0を
0101とすれば、周波数が倍になり、更に、周波数
を高くすることで中心周波数に対する帯域幅、即
ち比帯域幅が狭くなつて回路処理上楽になり、
又、直流域から離れるため回路の直流応答に対す
る要求を緩和することができる。
k個のX線管の中、k−1番目までを前記コー
ドで動作させ、k番目は1/2のレベルで直流点
火(コーデイングしない)することもできる。
ドで動作させ、k番目は1/2のレベルで直流点
火(コーデイングしない)することもできる。
ガントリ5の円周上の多重化のみならず、スラ
イスの厚み方向に多重化するため、第8図のよう
な配置により行うことも可能である。図におい
て、第1図と同等の部分には同じ符号を付してあ
る。これによつて、断層像の厚みの方向に分離す
るに足りるデータを得ることができる。
イスの厚み方向に多重化するため、第8図のよう
な配置により行うことも可能である。図におい
て、第1図と同等の部分には同じ符号を付してあ
る。これによつて、断層像の厚みの方向に分離す
るに足りるデータを得ることができる。
更に、回転陽極型のX線管を第9図のように構
成すれば、1個のX線管で同様な効果をもたらす
ことができる。イ図は本実施例の動作説明図で、
ロ図は概略の電極配置図である。イ図において、
陰極40から放出された熱電子は加速電極41に
よつて引き出され、電子ビームとなつて集束用磁
石42により集束されて、回転陽極43に吸引さ
れる。回転陽極43に吸引された電子はその衝突
エネルギーによつて回転陽極43のX線放射部4
4からX線を放射させる。回転陽極43の斜面に
はk個のX線放射部44がそれぞれ回転陽極43
の円周上に形成して並べられている。k個のウエ
ネルト電極45はロ図の電極配置図に示すように
配置されており、それぞれ既述のようにコード化
された信号によつて電子を制御してk本の電子ビ
ームを陰極40から引き出し、回転陽極43上の
k個のX線放射部44からX線を放射させてい
る。このような構造のX線管を用いれば、k個の
X線管を用いた実施例と同様な効果が得られる。
成すれば、1個のX線管で同様な効果をもたらす
ことができる。イ図は本実施例の動作説明図で、
ロ図は概略の電極配置図である。イ図において、
陰極40から放出された熱電子は加速電極41に
よつて引き出され、電子ビームとなつて集束用磁
石42により集束されて、回転陽極43に吸引さ
れる。回転陽極43に吸引された電子はその衝突
エネルギーによつて回転陽極43のX線放射部4
4からX線を放射させる。回転陽極43の斜面に
はk個のX線放射部44がそれぞれ回転陽極43
の円周上に形成して並べられている。k個のウエ
ネルト電極45はロ図の電極配置図に示すように
配置されており、それぞれ既述のようにコード化
された信号によつて電子を制御してk本の電子ビ
ームを陰極40から引き出し、回転陽極43上の
k個のX線放射部44からX線を放射させてい
る。このような構造のX線管を用いれば、k個の
X線管を用いた実施例と同様な効果が得られる。
以上の説明ではエンコードする内容として2値
ビツト列を想定したが、これは、本発明の主旨に
従つてお互いに直交することができる信号なら何
でも目的に適うことができる。一例として、点状
X線源をすべて十分に異なる周波数の高周波によ
り点滅する点での手法も本発明の主旨の内に含ま
れる。
ビツト列を想定したが、これは、本発明の主旨に
従つてお互いに直交することができる信号なら何
でも目的に適うことができる。一例として、点状
X線源をすべて十分に異なる周波数の高周波によ
り点滅する点での手法も本発明の主旨の内に含ま
れる。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明によれば、
複数のX線源からのX線放射エネルギーを単一の
検出器で検出する形式のX線CTを実現し、併せ
てデータ採取時間を長くして、個々の単一のX線
放射部のX線放射エネルギーの瞬時強度を低くす
ることのできるX線CTを実現することができて、
実用上の効果は大きい。
複数のX線源からのX線放射エネルギーを単一の
検出器で検出する形式のX線CTを実現し、併せ
てデータ採取時間を長くして、個々の単一のX線
放射部のX線放射エネルギーの瞬時強度を低くす
ることのできるX線CTを実現することができて、
実用上の効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例のX線CTの構成図、
第2図は本発明の一実施例の多数のX線管による
データ採取の説明図、第3図は本発明の実施例の
X線管の配置の説明図、第4図は従来のX線CT
の構成図、第5図は8個のX線管に対するM系列
コードの割り当ての説明図、第6図はM系列コー
ドによる相関値のグラフ、第7図は他の実施例の
コードとそのX線管に対する割り当ての説明図、
第8図は他の実施例の構造図、第9図は更に他の
実施例の構造図である。 1…X線管、2…被検体、3…検出器、4…チ
ヤネル、5…ガントリ、6…ガントリ制御装置、
7…高圧X線管制御部、8…X線発生制御装置、
9…操作撮影制御装置、10…データ収集装置、
11…データ処理装置、12…大容量記憶装置、
13…画像表示装置、21…X線源、30…M系
列数列環、31…主成分、32…サイドローブ、
32a…検出器によるノイズ、32b…バツクグ
ラウンドノイズ及びM系列によるサイドローブ、
40…陰管、41…加速電極、42…集束用磁
石、43…回転陽極、44…X線放射部、45…
k個のウエネルト電極。
第2図は本発明の一実施例の多数のX線管による
データ採取の説明図、第3図は本発明の実施例の
X線管の配置の説明図、第4図は従来のX線CT
の構成図、第5図は8個のX線管に対するM系列
コードの割り当ての説明図、第6図はM系列コー
ドによる相関値のグラフ、第7図は他の実施例の
コードとそのX線管に対する割り当ての説明図、
第8図は他の実施例の構造図、第9図は更に他の
実施例の構造図である。 1…X線管、2…被検体、3…検出器、4…チ
ヤネル、5…ガントリ、6…ガントリ制御装置、
7…高圧X線管制御部、8…X線発生制御装置、
9…操作撮影制御装置、10…データ収集装置、
11…データ処理装置、12…大容量記憶装置、
13…画像表示装置、21…X線源、30…M系
列数列環、31…主成分、32…サイドローブ、
32a…検出器によるノイズ、32b…バツクグ
ラウンドノイズ及びM系列によるサイドローブ、
40…陰管、41…加速電極、42…集束用磁
石、43…回転陽極、44…X線放射部、45…
k個のウエネルト電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 X線源からX線を被検体に放射して得た透過
X線をX線検出手段により検出して画像再構成を
行い、断層像を得るX線断層撮影装置において、 複数のX線放射部で構成されるX線発生手段2
1と、 X線発生手段21を構成するX線放射部のそれ
ぞれに、擬似乱数に基づいて変調されたX線放射
を行わせる制御手段8と、 X線検出手段21において検出された透過X線
データに対してX線放射の際に用いたと同一な擬
似乱数による相互相関演算によつて複数のX線放
射部からのそれぞれのX線放射に基づく透過X線
データを分離抽出し、分離抽出された透過X線デ
ータに基づいて画像再構成を行うデータ処理手段
11とを備えたことを特徴とするX線断層撮影装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62217332A JPS6462124A (en) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | X-ray tomographic imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62217332A JPS6462124A (en) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | X-ray tomographic imaging apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6462124A JPS6462124A (en) | 1989-03-08 |
| JPH0481454B2 true JPH0481454B2 (ja) | 1992-12-24 |
Family
ID=16702517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62217332A Granted JPS6462124A (en) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | X-ray tomographic imaging apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6462124A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001095791A (ja) * | 1999-09-29 | 2001-04-10 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
| US20030128801A1 (en) * | 2002-01-07 | 2003-07-10 | Multi-Dimensional Imaging, Inc. | Multi-modality apparatus for dynamic anatomical, physiological and molecular imaging |
| EP2339966A1 (en) * | 2008-09-10 | 2011-07-06 | Analogic Corporation | Ct scanning systems and methods using multi-pixel x-ray sources |
| WO2013031667A1 (ja) * | 2011-08-30 | 2013-03-07 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影方法 |
-
1987
- 1987-08-31 JP JP62217332A patent/JPS6462124A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6462124A (en) | 1989-03-08 |
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