JPH0482037A - 記録及び/又は再生を行なう装置および方法 - Google Patents
記録及び/又は再生を行なう装置および方法Info
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- JPH0482037A JPH0482037A JP2194825A JP19482590A JPH0482037A JP H0482037 A JPH0482037 A JP H0482037A JP 2194825 A JP2194825 A JP 2194825A JP 19482590 A JP19482590 A JP 19482590A JP H0482037 A JPH0482037 A JP H0482037A
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- recording
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- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
- G11B9/1418—Disposition or mounting of heads or record carriers
- G11B9/1427—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement
- G11B9/1436—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S977/88—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with arrangement, process, or apparatus for testing
- Y10S977/881—Microscopy or spectroscopy, e.g. sem, tem
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は走査型トンネル顕微鏡等の技術を応用した記録
及び/又は再生を行なう装置および方法に関する。
及び/又は再生を行なう装置および方法に関する。
[従来の技術]
近年、メモリ材料の用途は、コンピュータおよびその関
連機器、ビデオディスク、ディジタルオーディオディス
ク等のエレクトロニクス産業の中核をなすものであり、
その材料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に
要求される性能は用途により異なるが、−殻内には、■
高密度で記録容量が大きい、■記録再生の応答速度が早
い、■消費電力が少ない、■生産性が高く価格が安い、
等が挙げられる。
連機器、ビデオディスク、ディジタルオーディオディス
ク等のエレクトロニクス産業の中核をなすものであり、
その材料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に
要求される性能は用途により異なるが、−殻内には、■
高密度で記録容量が大きい、■記録再生の応答速度が早
い、■消費電力が少ない、■生産性が高く価格が安い、
等が挙げられる。
従来は磁性体や半導体を素材とした半導体メモリや磁気
メモリが主であったが、近年レーザ技術の進展に伴ない
、有機色素、フォトポリマ等の有機薄膜を用いた光メモ
リによる安価で高密度な記録媒体が登場してきた。
メモリが主であったが、近年レーザ技術の進展に伴ない
、有機色素、フォトポリマ等の有機薄膜を用いた光メモ
リによる安価で高密度な記録媒体が登場してきた。
一方、最近、導体の表面面原子の電子構造を直接観察で
きる走査型トンネルB微鏡(以後、STMと略す)が開
発され[G、B1nn1g et al、 Phys。
きる走査型トンネルB微鏡(以後、STMと略す)が開
発され[G、B1nn1g et al、 Phys。
Rev、 Lett、 49.57(HfB2)] 、
単結晶、非晶質を問わず実空間像の高い分解能の測定が
できるようになった。しかもSTMは試料に対し電流に
よる損傷を与えずに低電力で観測できる利点も有し、さ
らに大気中でも動作し、種々の材料に対して用いること
ができるため、広範囲な応用が期待されている。
単結晶、非晶質を問わず実空間像の高い分解能の測定が
できるようになった。しかもSTMは試料に対し電流に
よる損傷を与えずに低電力で観測できる利点も有し、さ
らに大気中でも動作し、種々の材料に対して用いること
ができるため、広範囲な応用が期待されている。
STMは金属の探針(プローブ電極)と導電性物質間に
バイアス電圧を加えてlnm程度の距離まて近付けると
トンネル電流が流れることを利用している。この電流は
両者の距離変化に非常に敏感である。トンネル電流を一
定に保つように探針を走査することにより実空間の全電
子雲に関する種々の情報をも読み取ることができる。こ
の際、面内方向の分解能は0.1nm程度である。
バイアス電圧を加えてlnm程度の距離まて近付けると
トンネル電流が流れることを利用している。この電流は
両者の距離変化に非常に敏感である。トンネル電流を一
定に保つように探針を走査することにより実空間の全電
子雲に関する種々の情報をも読み取ることができる。こ
の際、面内方向の分解能は0.1nm程度である。
したがって、STMの原理を応用すれば充分に原子オー
ダー(サブ・ナノメートル)での高密度記録再生を行な
うことが可能である。例えは、特開昭61−80536
号に開示されている記録再生装置では、電子ビーム等に
よって媒体表面に吸着した原子粒子を取り除いて書込み
を行ない、STMによりこのデータを再生している。さ
らに、記録層として電圧電流のスイッチング特性に対し
てメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機化合物や
カルコゲン化合物類の薄膜層を用いて、記録・再生をS
TMで行なう方法が提案されている(特開昭63−16
1552号公報、特開昭63−161553号公報)。
ダー(サブ・ナノメートル)での高密度記録再生を行な
うことが可能である。例えは、特開昭61−80536
号に開示されている記録再生装置では、電子ビーム等に
よって媒体表面に吸着した原子粒子を取り除いて書込み
を行ない、STMによりこのデータを再生している。さ
らに、記録層として電圧電流のスイッチング特性に対し
てメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機化合物や
カルコゲン化合物類の薄膜層を用いて、記録・再生をS
TMで行なう方法が提案されている(特開昭63−16
1552号公報、特開昭63−161553号公報)。
この方法によれは、記録のヒツトサイズをionmとし
て10”bit/ c m 2もの大容量記録再生が可
能である。
て10”bit/ c m 2もの大容量記録再生が可
能である。
これらの記録再生方法におけるプローブ電極と記録媒体
間の距離制御方式に関しては、プローブ電流が一定とな
るように距離制御しながら記録・再生を行なう方式や、
電流が記録の有無により変化するのを平均化させた電流
平均値を基準とし、その基準値が得られるように距離制
御する方式や、記録時に、記録のために電流を強める前
の時点における電流の平均値を基準として保持しておき
、その基準値が得られるように距離制御する方式が提案
されている。
間の距離制御方式に関しては、プローブ電流が一定とな
るように距離制御しながら記録・再生を行なう方式や、
電流が記録の有無により変化するのを平均化させた電流
平均値を基準とし、その基準値が得られるように距離制
御する方式や、記録時に、記録のために電流を強める前
の時点における電流の平均値を基準として保持しておき
、その基準値が得られるように距離制御する方式が提案
されている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来例において、記録時にプローブ
電流が一定となるように距離制御を行なう方法では、’
83図(a)および′M5図(a)に示すように、記録
媒体102あるいは導電性記録媒体402に対して記録
を行なうために印加電圧■を増大させる過程でプローブ
電極104と記録媒体102あるいは402間の距離が
増大し、その分、電界および電位が減少するため、効率
良く電圧が印加されないという問題点や、その距離の増
大に対応して印加電圧が広い範囲に加わるため、記録ビ
ット径が大きくなるという問題点があった。
電流が一定となるように距離制御を行なう方法では、’
83図(a)および′M5図(a)に示すように、記録
媒体102あるいは導電性記録媒体402に対して記録
を行なうために印加電圧■を増大させる過程でプローブ
電極104と記録媒体102あるいは402間の距離が
増大し、その分、電界および電位が減少するため、効率
良く電圧が印加されないという問題点や、その距離の増
大に対応して印加電圧が広い範囲に加わるため、記録ビ
ット径が大きくなるという問題点があった。
また、記録時に、記録前の位置を保持するように制御を
行なう方法では、第3図(b)および第5図(b)に示
すように、記録部分の抵抗値や表面形状が変化したとき
、大電流が流れることによるプローブ先端や記録部分の
媒体の損傷が起こるという問題点かあフた。
行なう方法では、第3図(b)および第5図(b)に示
すように、記録部分の抵抗値や表面形状が変化したとき
、大電流が流れることによるプローブ先端や記録部分の
媒体の損傷が起こるという問題点かあフた。
本発明の目的は、このような従来技術の問題点に鑑み、
プローブ先端や記録媒体の損傷の恐れがなく効率的に記
録や再生が行なえる記録再生装置および方法を提供する
ことにある。
プローブ先端や記録媒体の損傷の恐れがなく効率的に記
録や再生が行なえる記録再生装置および方法を提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため本発明の記録及び/又は再生装
置は、記録媒体に対向して配置されるプローブと、記録
媒体とプローブとの間に電圧を印加する電圧印加手段と
、記録媒体とプローブ間に流わる電流を検知する電流検
知手段と、プローブと記録媒体との距餌を調整すべくプ
ローブを駆動するプローブ駆動手段と、前記電流検知手
段が検知した電流に基づき前記プローブ駆動手段を制御
するだめの信号を出力する信号出力手段と、前記電圧印
加手段の印加電圧の変化による前記信号の変動を補正す
る補正手段とを備えるようにしている。
置は、記録媒体に対向して配置されるプローブと、記録
媒体とプローブとの間に電圧を印加する電圧印加手段と
、記録媒体とプローブ間に流わる電流を検知する電流検
知手段と、プローブと記録媒体との距餌を調整すべくプ
ローブを駆動するプローブ駆動手段と、前記電流検知手
段が検知した電流に基づき前記プローブ駆動手段を制御
するだめの信号を出力する信号出力手段と、前記電圧印
加手段の印加電圧の変化による前記信号の変動を補正す
る補正手段とを備えるようにしている。
また、記録媒体に対向してプローブを配置し、記録媒体
とプローブとの間に電圧を印加するとともに、記録媒体
とプローブ間に流れる電流を検知し、この検知電流に基
づいてプローブ、記録媒体間距離制御のための信号を発
生してプローブと記録媒体との距離を調整する記録及び
/又は再生方法において、前記印加電圧の変化による前
記信号の変動を補正するようにしている。
とプローブとの間に電圧を印加するとともに、記録媒体
とプローブ間に流れる電流を検知し、この検知電流に基
づいてプローブ、記録媒体間距離制御のための信号を発
生してプローブと記録媒体との距離を調整する記録及び
/又は再生方法において、前記印加電圧の変化による前
記信号の変動を補正するようにしている。
[作用]
例えは後述する実施例の構成において、記録媒体がメモ
リ効果を生ずる所定の閾値レベル以上の電圧信号が印加
されるとその記録媒体部分に電気的特性の変化や物理化
学的な変化が生じ、これによりその部分に情報が記録さ
れる。このメモリ効果が生ずる前は、プローブ電極と記
録媒体間の距離を一定とした場合に印加電圧に対して流
れる電流値と等しくなるような電流がプローブ電極と記
録媒体間に流れるようにプローブ電極と記録媒体間の距
離を制御するようにしているため、プローブ電極と記録
媒体間の距離は前記閾値レベル以下の電圧変動があって
も一定に保たれる。そして、メモリ効果が生ずると、そ
れによる電気的特性の変化や物理化学的な変化により、
プローブ電極と記録媒体間の抵抗値が減少し、上記のよ
うな制御下においては、その減少分を補う分たけプロー
ブ電極と記録媒体間の距離が大きくなる。
リ効果を生ずる所定の閾値レベル以上の電圧信号が印加
されるとその記録媒体部分に電気的特性の変化や物理化
学的な変化が生じ、これによりその部分に情報が記録さ
れる。このメモリ効果が生ずる前は、プローブ電極と記
録媒体間の距離を一定とした場合に印加電圧に対して流
れる電流値と等しくなるような電流がプローブ電極と記
録媒体間に流れるようにプローブ電極と記録媒体間の距
離を制御するようにしているため、プローブ電極と記録
媒体間の距離は前記閾値レベル以下の電圧変動があって
も一定に保たれる。そして、メモリ効果が生ずると、そ
れによる電気的特性の変化や物理化学的な変化により、
プローブ電極と記録媒体間の抵抗値が減少し、上記のよ
うな制御下においては、その減少分を補う分たけプロー
ブ電極と記録媒体間の距離が大きくなる。
方、閾値レベル以下の一定の印加電圧下においても、プ
ローブ電極と記録媒体間の距離が上記制御下において一
定に保持されるが、記録媒体上の情報記録部分がプロー
ブ電極下に来ると、上述と同様に、プローブ電極と記録
媒体間の抵抗値が減少し、その減少分を補う分だけプロ
ーブN極と記録媒体間の距離が大ぎくなるように、制御
される。すなわち、この制御量が、記録されている情報
を示し、これによって再生が行なわれる。
ローブ電極と記録媒体間の距離が上記制御下において一
定に保持されるが、記録媒体上の情報記録部分がプロー
ブ電極下に来ると、上述と同様に、プローブ電極と記録
媒体間の抵抗値が減少し、その減少分を補う分だけプロ
ーブN極と記録媒体間の距離が大ぎくなるように、制御
される。すなわち、この制御量が、記録されている情報
を示し、これによって再生が行なわれる。
そして、記録・再生いずれの場合においても、上述の制
御によって、プローブ電極と記録媒体間の距離が、記録
情報部分を除き、十分近付けて一定に保たれ、プローブ
電極と記録媒体間の電界が安定に保たれるために、安定
した電界により効率よく、かつ小さな記録ビット径でも
って、高いS/Nで誤り率の低い記録・再生が行なわれ
る。また、記録情報部分においては、プローブ電極と記
録媒体間の距離が大きくなるように制御されるため、プ
ローブ電極と記録媒体間の過大な電流によるこれらの損
傷なく記録・再生が行なわれる。
御によって、プローブ電極と記録媒体間の距離が、記録
情報部分を除き、十分近付けて一定に保たれ、プローブ
電極と記録媒体間の電界が安定に保たれるために、安定
した電界により効率よく、かつ小さな記録ビット径でも
って、高いS/Nで誤り率の低い記録・再生が行なわれ
る。また、記録情報部分においては、プローブ電極と記
録媒体間の距離が大きくなるように制御されるため、プ
ローブ電極と記録媒体間の過大な電流によるこれらの損
傷なく記録・再生が行なわれる。
[実施例]
第1図は本発明の好ましい一実施例に係る記録再生装置
を示す図である。
を示す図である。
同図に示すように、この記録再生装置は、記録媒体10
2の表面に先端を近付けて配置されるプローブ電極10
4と、記録媒体102の裏面に配置した電極101とプ
ローブ電極104との間に電圧を印加する手段であるバ
イアス電源105、記録/消去信号発生器108および
これらの出力を加算する加算器114と、記録媒体10
2とプローブ電極104間に流れる電流を検知するプロ
ーブ電流検出器106と、プローブ電極104と記録媒
体102間の距離を変動させるためにプローブ電極を駆
動する縦方向駆動機構103と、前記電圧印加手段によ
る印加電圧とプローブ電流検出器106が検知した電流
に基づき、プローブ電極104と記録媒体102間の距
離を一定とした場合に該印加電圧に対して流れる電流値
と等しくなるような電流がプローブ電極104と記録媒
体102間に流れるように縦方向駆動機構103を駆動
するための制御信号を出力するサーボ回路107とを具
備する。記録媒体102および基板電極101は、粗動
機構113上に保持されておリ、マイクロコンピュータ
111が粗動駆動回路112を介して粗動機構113を
駆動することによって記録媒体102はプローブを極1
04に対し相対的に移動されるように構成されている。
2の表面に先端を近付けて配置されるプローブ電極10
4と、記録媒体102の裏面に配置した電極101とプ
ローブ電極104との間に電圧を印加する手段であるバ
イアス電源105、記録/消去信号発生器108および
これらの出力を加算する加算器114と、記録媒体10
2とプローブ電極104間に流れる電流を検知するプロ
ーブ電流検出器106と、プローブ電極104と記録媒
体102間の距離を変動させるためにプローブ電極を駆
動する縦方向駆動機構103と、前記電圧印加手段によ
る印加電圧とプローブ電流検出器106が検知した電流
に基づき、プローブ電極104と記録媒体102間の距
離を一定とした場合に該印加電圧に対して流れる電流値
と等しくなるような電流がプローブ電極104と記録媒
体102間に流れるように縦方向駆動機構103を駆動
するための制御信号を出力するサーボ回路107とを具
備する。記録媒体102および基板電極101は、粗動
機構113上に保持されておリ、マイクロコンピュータ
111が粗動駆動回路112を介して粗動機構113を
駆動することによって記録媒体102はプローブを極1
04に対し相対的に移動されるように構成されている。
基板電極101としては、ガラスや雲母等の平坦な基板
上の金のエピタキシャル成長面やグラファイトへき開面
を用いることができる。記録媒体102は、スクアリリ
ュウムービス−6−オクチルアズレン(以下5OAZと
略す)を用い、ラングミュア・プロジェット法によって
、単分子膜2層の累積膜を基板1iFi1101表面上
に形成したものである。
上の金のエピタキシャル成長面やグラファイトへき開面
を用いることができる。記録媒体102は、スクアリリ
ュウムービス−6−オクチルアズレン(以下5OAZと
略す)を用い、ラングミュア・プロジェット法によって
、単分子膜2層の累積膜を基板1iFi1101表面上
に形成したものである。
プローブ電極104としては、タングステン線等を電界
研摩したものや、白金線等を機械的切断したもので、先
端が尖鋭(曲率半径く1μm)で導電性のあるものが使
用できる。
研摩したものや、白金線等を機械的切断したもので、先
端が尖鋭(曲率半径く1μm)で導電性のあるものが使
用できる。
縦方向駆動機構103には、PZT素子等を用い、バイ
アス電源105によって基板電極101とプローブ電極
104の間に1V程度のバイアス電圧を印加し、両者の
間に流れるプローブ電流をプローブ電流検出器106に
よって検出する。
アス電源105によって基板電極101とプローブ電極
104の間に1V程度のバイアス電圧を印加し、両者の
間に流れるプローブ電流をプローブ電流検出器106に
よって検出する。
第8図はサーボ回路107のブロック図である。
同図において、801は印加バイアス電圧値■および距
離設定値Z0に対する設定電流値I。を算出する設定電
流値算出回路である。この算出方法は、プローブ電極1
04と基板電極101間の電流−電圧特性によって異な
り、例えば、トンネル電流特性、電界放射電流特性を示
すとぎは、それぞれ ■。−9°xp (−BZo)V (トンネル電流特性
)V 2 −Dz。
離設定値Z0に対する設定電流値I。を算出する設定電
流値算出回路である。この算出方法は、プローブ電極1
04と基板電極101間の電流−電圧特性によって異な
り、例えば、トンネル電流特性、電界放射電流特性を示
すとぎは、それぞれ ■。−9°xp (−BZo)V (トンネル電流特性
)V 2 −Dz。
1o−C() exp ()
zOv
(電界放射電流特性)
の式に従りて算出すればよい。ただし、A、B、C,D
は、電極や記録媒体を構成する物質によって決まる定数
である。より一般的には、プローブ電極と基板電極の間
隔・を2とするとき、電流(I)−電圧(V)特性がI
=f (V、Z)て表わされるときは、 IO=f (V、 Zo ) の式に従って算出すればよい。
は、電極や記録媒体を構成する物質によって決まる定数
である。より一般的には、プローブ電極と基板電極の間
隔・を2とするとき、電流(I)−電圧(V)特性がI
=f (V、Z)て表わされるときは、 IO=f (V、 Zo ) の式に従って算出すればよい。
802および803は検出プローブ電流値Iおよび設定
電流値I。をそれぞれ例えば対数変換して信号1ogI
およびlogl、を得る関数変換回路、804はこの両
信号の差1oHI −1ogI oを算出して出力する
減算器、805は減算器804の出力に対するフィルタ
および増幅器(ゲインG)である、増幅器806が出力
する信号G(logI −1ogI o )は縦方向駆
動機構制御手段103に出力される。増幅器806によ
るゲインGの符号は、I > I oのとき基板電極1
01に対してプローブ電極104を遠ざける方向に、I
<IOのときはこの逆に近付ける方向に駆動するように
選ばれる。これにより、プローブ電流値Iが常に印加バ
イアス電圧Vに対する設定電流値になるように制御され
る。このような制御を行なうことにより、印加バイアス
電圧Vを変化させてもプローブ電極104と基板電極1
01の間の距離を一定に保つことができる。
電流値I。をそれぞれ例えば対数変換して信号1ogI
およびlogl、を得る関数変換回路、804はこの両
信号の差1oHI −1ogI oを算出して出力する
減算器、805は減算器804の出力に対するフィルタ
および増幅器(ゲインG)である、増幅器806が出力
する信号G(logI −1ogI o )は縦方向駆
動機構制御手段103に出力される。増幅器806によ
るゲインGの符号は、I > I oのとき基板電極1
01に対してプローブ電極104を遠ざける方向に、I
<IOのときはこの逆に近付ける方向に駆動するように
選ばれる。これにより、プローブ電流値Iが常に印加バ
イアス電圧Vに対する設定電流値になるように制御され
る。このような制御を行なうことにより、印加バイアス
電圧Vを変化させてもプローブ電極104と基板電極1
01の間の距離を一定に保つことができる。
プローブ電極104によるトラッキングの制御は、プロ
ーブ電流検出器106の出力に基づきマイクロコンピュ
ータittがxy走査駆動回路110を介してプローブ
電極104を駆動することによって行なう。また、バイ
アス電源105の制御もマイクロコンピュータ111が
行なう。
ーブ電流検出器106の出力に基づきマイクロコンピュ
ータittがxy走査駆動回路110を介してプローブ
電極104を駆動することによって行なう。また、バイ
アス電源105の制御もマイクロコンピュータ111が
行なう。
次に記8/消去時の動作について説明する。
まず、縦方向駆動機構103によって、プローブ電&1
04を記録媒体102の所望の位置に対して、サブ・ナ
ノメートル程度の距離まで近接させる。次に、記録/消
去信号発生器108からの信号を加算器114を通して
基板電極101とプローブ電極104の間に加え、プロ
ーブ電極104先端に近接した記録媒体102の所望の
位置で記録/消去を行なう。再生についても同様に、バ
イアス電源105によって読取り用バイアス電圧を基板
電極101とプローブ電極104の間に加え、プローブ
電極104先端に近接した記録媒体102の所望の位置
で再生を行なう。
04を記録媒体102の所望の位置に対して、サブ・ナ
ノメートル程度の距離まで近接させる。次に、記録/消
去信号発生器108からの信号を加算器114を通して
基板電極101とプローブ電極104の間に加え、プロ
ーブ電極104先端に近接した記録媒体102の所望の
位置で記録/消去を行なう。再生についても同様に、バ
イアス電源105によって読取り用バイアス電圧を基板
電極101とプローブ電極104の間に加え、プローブ
電極104先端に近接した記録媒体102の所望の位置
で再生を行なう。
具体的には、プローブ電極104と基板電極101との
間に、電気メモリ効果を生じる閾値電圧を越えていない
電圧であるIVの読取り用電圧を印加して電流値を測定
したところ、10−”A以下でオフ状態を示した。次に
オン状態を生じる閾値電圧■。以上の三角波パルス電圧
を印加した後、再生のため再び1■の電圧を印加して電
流を測定したところ10−’A程度の電流が流れオン状
態となっていたことを示した。すなわちオン状態が記録
された。次にオン状態からオフ状態へ変化する閾値以上
の逆三角波パルス電圧を印加した後、再生のため再びI
Vを印加したところ、この時の電流値は1O−11A以
下であり、オフ状態に戻ることが確認された。
間に、電気メモリ効果を生じる閾値電圧を越えていない
電圧であるIVの読取り用電圧を印加して電流値を測定
したところ、10−”A以下でオフ状態を示した。次に
オン状態を生じる閾値電圧■。以上の三角波パルス電圧
を印加した後、再生のため再び1■の電圧を印加して電
流を測定したところ10−’A程度の電流が流れオン状
態となっていたことを示した。すなわちオン状態が記録
された。次にオン状態からオフ状態へ変化する閾値以上
の逆三角波パルス電圧を印加した後、再生のため再びI
Vを印加したところ、この時の電流値は1O−11A以
下であり、オフ状態に戻ることが確認された。
次に、記録/再生におけるプローブ電極の縦方向位置制
御について、第2区〜第7図を用いて説明する。
御について、第2区〜第7図を用いて説明する。
第2図は、記録時におけるプローブ電極104の縦方向
位置制御方法の説明図である。記録を行なうために、印
加電圧VをV。から増大させる過程(V < V th
)では、プローブ電極104と基板電極101の間隔
はサーボ回路107による縮方向駆動機構103の制御
により一定に保たれる。
位置制御方法の説明図である。記録を行なうために、印
加電圧VをV。から増大させる過程(V < V th
)では、プローブ電極104と基板電極101の間隔
はサーボ回路107による縮方向駆動機構103の制御
により一定に保たれる。
これにより、記録媒体102に対して電界および電位が
効果的に加えられるため、従来のプローブ電流Iを一定
にする制御では避けられなかった、印加電圧Vの増大に
伴なう、プローブ電8i104と基板電極101の間隔
の増大による電界および電位の損失なく、より低い印加
電圧(例えは閾値電圧V th)で電気メモリ効果を生
じさせることが可能である。また、プローブ電1104
と基板電極101の間隔が増大しない分、記録ビット径
も小さくなる。
効果的に加えられるため、従来のプローブ電流Iを一定
にする制御では避けられなかった、印加電圧Vの増大に
伴なう、プローブ電8i104と基板電極101の間隔
の増大による電界および電位の損失なく、より低い印加
電圧(例えは閾値電圧V th)で電気メモリ効果を生
じさせることが可能である。また、プローブ電1104
と基板電極101の間隔が増大しない分、記録ビット径
も小さくなる。
そして、閾値電圧Vthを越えた印加電圧(V>Vth
)により記録か行なわわ、記録部分115のオフ状態に
おける抵抗値R8,Fかオン状態における抵抗値R0N
に変化(減少)すると、プローブ電極104と基板室g
1101間の間隙抵抗値RかRON +RT (=R
OFF )となるところまで、プローブ電極104と基
板電極101の間隔が増大する。ことにより、プローブ
電極104と基板電極101間に大電流が流れることな
く記録が行なわれ、プローブ電極104先端および記録
部分201の媒体の破損を防ぐことができる。
)により記録か行なわわ、記録部分115のオフ状態に
おける抵抗値R8,Fかオン状態における抵抗値R0N
に変化(減少)すると、プローブ電極104と基板室g
1101間の間隙抵抗値RかRON +RT (=R
OFF )となるところまで、プローブ電極104と基
板電極101の間隔が増大する。ことにより、プローブ
電極104と基板電極101間に大電流が流れることな
く記録が行なわれ、プローブ電極104先端および記録
部分201の媒体の破損を防ぐことができる。
第6図は、再生時におけるプローブ電極の縦方向位置制
御方法の説明図である。ただし、基板電極101は導電
性結晶へき開面の原子配列等、表面に周期構造を有し、
バイアス電源105においては、基板電極101上の記
録媒体102の記録状態をプローブ電極104を走査し
て再生する際、再生用バイアス電源604とトラッキン
グ用バイアス電源605を、再生/トラッキング切換信
号発生回路607からの切換信号に応じてバイアス電圧
切換え回路606により交互に切り換えて用いるように
なっている。すなわち、再生用バイアスによって記録状
態を再生し、トラッキング用バイアスによって基板電極
101表面の周期構造を検知してトラッキングを行なう
。このとき、前述のプローブ電流値が常に印加バイアス
電圧に対する設定電流値になるようにプローブ電極10
4の縦方向位置制御を行なうことにより、バイアス電圧
の切り換えによるプローブ電極104と基板電極101
間の間隔変化がなくなり、プローブ電極104の縦方向
位置制御量はそのまま、記録状態およびトラッキング用
周期構造を反映したものとなる。
御方法の説明図である。ただし、基板電極101は導電
性結晶へき開面の原子配列等、表面に周期構造を有し、
バイアス電源105においては、基板電極101上の記
録媒体102の記録状態をプローブ電極104を走査し
て再生する際、再生用バイアス電源604とトラッキン
グ用バイアス電源605を、再生/トラッキング切換信
号発生回路607からの切換信号に応じてバイアス電圧
切換え回路606により交互に切り換えて用いるように
なっている。すなわち、再生用バイアスによって記録状
態を再生し、トラッキング用バイアスによって基板電極
101表面の周期構造を検知してトラッキングを行なう
。このとき、前述のプローブ電流値が常に印加バイアス
電圧に対する設定電流値になるようにプローブ電極10
4の縦方向位置制御を行なうことにより、バイアス電圧
の切り換えによるプローブ電極104と基板電極101
間の間隔変化がなくなり、プローブ電極104の縦方向
位置制御量はそのまま、記録状態およびトラッキング用
周期構造を反映したものとなる。
第7図は、再生時におけるプローブ電極の縦方向位置制
御方法の他の実施例の説明図である。ここでは、再生用
バイアスとして、直流バイアス電源704による直流バ
イアスにバイアス変調回路705によって変調を加えた
ものを用い、得られる再生プローブ電流信号■2のうち
、変調成分のみを同期検波回路706で取り出す。この
ような方法によって、再生信号におけるノイズの低減化
や分光的手法(dlp/dV信号から電子状態に関する
情報が得られる)による記録状態の検出を行なう。
御方法の他の実施例の説明図である。ここでは、再生用
バイアスとして、直流バイアス電源704による直流バ
イアスにバイアス変調回路705によって変調を加えた
ものを用い、得られる再生プローブ電流信号■2のうち
、変調成分のみを同期検波回路706で取り出す。この
ような方法によって、再生信号におけるノイズの低減化
や分光的手法(dlp/dV信号から電子状態に関する
情報が得られる)による記録状態の検出を行なう。
この場合も上述のように、プローブ電極N流値I2が常
に印加バイアス電圧Vに対する設定電流値になるように
プローブ電極104の縦方向位置制御が行なわれるため
、バイアス電圧の変調によるプローブ電極104と基板
τ極101間の間隔の変調がなく、プローブ電極101
の縦方向位置制御量はそのまま記録状態を反映したもの
となる。
に印加バイアス電圧Vに対する設定電流値になるように
プローブ電極104の縦方向位置制御が行なわれるため
、バイアス電圧の変調によるプローブ電極104と基板
τ極101間の間隔の変調がなく、プローブ電極101
の縦方向位置制御量はそのまま記録状態を反映したもの
となる。
なお、上述においては本発明に従ったプローブ電極10
4の縦方向位置制御の具体例として、トラツキ〉グのた
めのバイアス変化、ノイズの低減化、分光的手法による
記録状態の検出の例を挙げたか、本発明の概念はこねに
限定されるものでなく、広く、バイアスの変化に対し、
プローブ電極と基板電極間の間隔を一定に保つことにあ
る。
4の縦方向位置制御の具体例として、トラツキ〉グのた
めのバイアス変化、ノイズの低減化、分光的手法による
記録状態の検出の例を挙げたか、本発明の概念はこねに
限定されるものでなく、広く、バイアスの変化に対し、
プローブ電極と基板電極間の間隔を一定に保つことにあ
る。
また、上述においては、記録媒体および記録方式として
、有機薄膜の電気メモリ効果を例に挙げたが、本発明の
概念は、これに限定されるものではなく、他に第4図に
示すように平坦な面を有する導電性記録媒体402に、
ある閾値以上の電圧を印加して、その表面形状を局所的
に溶融、蒸発、分解、化合、または配向方向の変化によ
り凹凸状しこ変化させるものでもよい。例えは、表面に
凹凸を形成し記録するものではHOP G (High
ly−Oriented−Pyrolytic−Gra
phite) !開基板、Siウェハ、真空蒸着または
エピタキシャル成長させたAu、Ag、Pt、Mo、C
u等の金属薄膜、Rh 25Z r 75、CO3ST
b G5等のガラス金属が挙げられる。表面の電子状
態により記録するものではアモルファスSi、yr電子
系有機化合物やカルコゲン化合物類の蒲@眉等が挙げら
れる。
、有機薄膜の電気メモリ効果を例に挙げたが、本発明の
概念は、これに限定されるものではなく、他に第4図に
示すように平坦な面を有する導電性記録媒体402に、
ある閾値以上の電圧を印加して、その表面形状を局所的
に溶融、蒸発、分解、化合、または配向方向の変化によ
り凹凸状しこ変化させるものでもよい。例えは、表面に
凹凸を形成し記録するものではHOP G (High
ly−Oriented−Pyrolytic−Gra
phite) !開基板、Siウェハ、真空蒸着または
エピタキシャル成長させたAu、Ag、Pt、Mo、C
u等の金属薄膜、Rh 25Z r 75、CO3ST
b G5等のガラス金属が挙げられる。表面の電子状
態により記録するものではアモルファスSi、yr電子
系有機化合物やカルコゲン化合物類の蒲@眉等が挙げら
れる。
また、上述した実施例は記録または再生のいすねかのみ
を行なう装置であってもよいことは言うまでもない。
を行なう装置であってもよいことは言うまでもない。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれは、印加電圧を変化さ
せてもプローブ、記録媒体間の距離を調整できるので、
■記録信号を効率良く印加することができ、■記録ビッ
ト径を小さくすることかてぎ、■記録時におけるプロー
ブ先端や記録部分の媒体の損傷を防止することかでき、
干して■トラッキングやS/N向上、分光的手法等バイ
アスに変調を加える種々の再生方法が安定に実現できる
という効果がある。
せてもプローブ、記録媒体間の距離を調整できるので、
■記録信号を効率良く印加することができ、■記録ビッ
ト径を小さくすることかてぎ、■記録時におけるプロー
ブ先端や記録部分の媒体の損傷を防止することかでき、
干して■トラッキングやS/N向上、分光的手法等バイ
アスに変調を加える種々の再生方法が安定に実現できる
という効果がある。
第1図は、本発明の一実施例に係る記録再生装置の構成
を示すブロック図、 第2図は、第1図の装置における記録時のプローブ電極
の制御法を示す説明図、 第3図および第5図は、従来例における記録時のプロー
ブ電極の制御法を示す説明図、第4図は、本発明におけ
る記録時のプローブ電極の制御法の他の例を示す説明図
、 第6図は、第1図の装置における再生時のプローブ電極
の制御法を示す説明図、 第7図は、本発明における再生時のプローブ電極の制御
法の他の例を示す説明図、そして第8図は、第1図にお
けるサーボ回路の詳細を示すブロック図である。 :M方向駆動機構、104 プローブ電極、105:
バイアス電源、106・プローブ電流検出器、107・
サーボ回路、108;記録/消去信号発生器、109:
xy走査駆動機構、110:xy走査駆動回路、11ト
マイクロコンピュータ、112:粗動駆動回路、113
:粗動機構、114:加算器、201.記録部分、40
2.導電性記録媒体、403:記録部分、604:再生
用バイアス電源、605ニドラツキング用バイアス電源
、606・バイアス電圧切り換え回路、607:再生/
トラッキング切換信号、704 直流バイアス電源、7
05、バイアス変調回路、706・同期検波回路、80
1:設定電流値算出回路、802803;関数変換回路
、804 減算器、805・フィルタ、806:増幅器
。 101・基板電極、102:記録媒体、103■−鳩 V < Vth V > Vth 第 図 V−■。 v<vth (b) 第3 V>Vlil 図 句号 第 図
を示すブロック図、 第2図は、第1図の装置における記録時のプローブ電極
の制御法を示す説明図、 第3図および第5図は、従来例における記録時のプロー
ブ電極の制御法を示す説明図、第4図は、本発明におけ
る記録時のプローブ電極の制御法の他の例を示す説明図
、 第6図は、第1図の装置における再生時のプローブ電極
の制御法を示す説明図、 第7図は、本発明における再生時のプローブ電極の制御
法の他の例を示す説明図、そして第8図は、第1図にお
けるサーボ回路の詳細を示すブロック図である。 :M方向駆動機構、104 プローブ電極、105:
バイアス電源、106・プローブ電流検出器、107・
サーボ回路、108;記録/消去信号発生器、109:
xy走査駆動機構、110:xy走査駆動回路、11ト
マイクロコンピュータ、112:粗動駆動回路、113
:粗動機構、114:加算器、201.記録部分、40
2.導電性記録媒体、403:記録部分、604:再生
用バイアス電源、605ニドラツキング用バイアス電源
、606・バイアス電圧切り換え回路、607:再生/
トラッキング切換信号、704 直流バイアス電源、7
05、バイアス変調回路、706・同期検波回路、80
1:設定電流値算出回路、802803;関数変換回路
、804 減算器、805・フィルタ、806:増幅器
。 101・基板電極、102:記録媒体、103■−鳩 V < Vth V > Vth 第 図 V−■。 v<vth (b) 第3 V>Vlil 図 句号 第 図
Claims (2)
- (1)記録媒体に対向して配置されるプローブと、記録
媒体とプローブとの間に電圧を印加する電圧印加手段と
、記録媒体とプローブ間に流れる電流を検知する電流検
知手段と、プローブと記録媒体との距離を調整すべくプ
ローブを駆動するプローブ駆動手段と、前記電流検知手
段が検知した電流に基づき前記プローブ駆動手段を制御
するための信号を出力する信号出力手段と、前記電圧印
加手段の印加電圧の変化による前記信号の変動を補正す
る補正手段とを具備することを特徴とする記録及び/又
は再生装置。 - (2)記録媒体に対向してプローブを配置し、記録媒体
とプローブとの間に電圧を印加するとともに、記録媒体
とプローブ間に流れる電流を検知し、この検知電流に基
づいてプローブ、記録媒体間距離制御のための信号を発
生してプローブと記録媒体との距離を調整する記録及び
/又は再生方法において、前記印加電圧の変化による前
記信号の変動を補正することを特徴とする記録及び/又
は再生方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194825A JP2743213B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 記録及び/又は再生を行なう装置および方法 |
| US07/734,700 US5289455A (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Information recording and/or reproducing apparatus |
| EP91112342A EP0468456B1 (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Information recording and/or reproducing apparatus and method |
| DE69125538T DE69125538T2 (de) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Informationsaufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät und Methode |
| CA002047801A CA2047801C (en) | 1990-07-25 | 1991-07-24 | Information recording and/or reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194825A JP2743213B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 記録及び/又は再生を行なう装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0482037A true JPH0482037A (ja) | 1992-03-16 |
| JP2743213B2 JP2743213B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=16330884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2194825A Expired - Fee Related JP2743213B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 記録及び/又は再生を行なう装置および方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5289455A (ja) |
| EP (1) | EP0468456B1 (ja) |
| JP (1) | JP2743213B2 (ja) |
| CA (1) | CA2047801C (ja) |
| DE (1) | DE69125538T2 (ja) |
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| DE4126497A1 (de) * | 1991-08-10 | 1993-02-11 | Basf Ag | Verfahren zur gezielten modifikation von festkoerperoberflaechen im nanometerbereich durch lokale delamination sowie verwendung des verfahrens zur speicherung von informationseinheiten |
| JPH06187675A (ja) * | 1992-09-25 | 1994-07-08 | Canon Inc | 情報処理装置、及びそれを用いる情報処理方法 |
| US5418771A (en) * | 1993-02-25 | 1995-05-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus provided with surface aligning mechanism between probe head substrate and recording medium substrate |
| JPH06251435A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Canon Inc | 記録再生装置 |
| EP0615235B9 (en) * | 1993-03-09 | 2003-11-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording method and information recording apparatus |
| US5453970A (en) * | 1993-07-13 | 1995-09-26 | Rust; Thomas F. | Molecular memory medium and molecular memory disk drive for storing information using a tunnelling probe |
| JP2923190B2 (ja) * | 1993-12-16 | 1999-07-26 | シャープ株式会社 | 高密度記録媒体及びその記録再生装置 |
| US5790495A (en) * | 1994-05-06 | 1998-08-04 | Discovision Associates | Data generator assembly for retrieving stored data by comparing threshold signal with preprocessed signal having DC component |
| US5894468A (en) * | 1994-05-06 | 1999-04-13 | Discovision Associates | Data recovery with differentiation and partial integration stages to eliminate noises and DC offset level |
| US5723981A (en) * | 1994-08-29 | 1998-03-03 | Imec Vzw | Method for measuring the electrical potential in a semiconductor element |
| JP3581475B2 (ja) * | 1995-02-13 | 2004-10-27 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置 |
| JP3576644B2 (ja) * | 1995-06-19 | 2004-10-13 | キヤノン株式会社 | 情報記録装置のプローブ及び記録媒体、並びにこれらを用いた情報記録方法 |
| US5757760A (en) * | 1996-01-18 | 1998-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus and method for performing recording and/or reproduction of information by using probe |
| JP3679525B2 (ja) * | 1996-10-07 | 2005-08-03 | キヤノン株式会社 | 情報記録再生装置、および情報記録再生方法 |
| JP3827105B2 (ja) * | 1997-02-12 | 2006-09-27 | 株式会社モリタユージー | 天井裏設置型自動消火装置 |
| US7260051B1 (en) * | 1998-12-18 | 2007-08-21 | Nanochip, Inc. | Molecular memory medium and molecular memory integrated circuit |
| DE19912814C2 (de) * | 1999-03-22 | 2002-02-14 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Rastertunnelmikroskopie |
| US20020138301A1 (en) * | 2001-03-22 | 2002-09-26 | Thanos Karras | Integration of a portal into an application service provider data archive and/or web based viewer |
| WO2003046519A1 (fr) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Japan Science And Technology Agency | Appareil microscope a sonde de balayage a resolution temporelle de l'ordre de la femtoseconde a modulation du temps d'attente |
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