JPH0482643A - 位置決め機構 - Google Patents
位置決め機構Info
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- JPH0482643A JPH0482643A JP2196518A JP19651890A JPH0482643A JP H0482643 A JPH0482643 A JP H0482643A JP 2196518 A JP2196518 A JP 2196518A JP 19651890 A JP19651890 A JP 19651890A JP H0482643 A JPH0482643 A JP H0482643A
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、小物ワークを所定の位置に保持するだめの位
置決め機構に関する。
置決め機構に関する。
「従来の技術」
従来の位置決め機構としては、例えば第7図↓よび第8
図に示すようなものかある。
図に示すようなものかある。
図に示すものは小物ワーつてある電子部品Wの位置を決
めて検査をするためのものであり、八字形に開くアーム
la、lbから成るチャック1の基部に歯車2a、2b
か固設され、エアシリンダ4て歯車2aを回転させてア
ームla、lbを開閉させ、電子部品Wをアームla、
lbの先端部に挾持するものである。
めて検査をするためのものであり、八字形に開くアーム
la、lbから成るチャック1の基部に歯車2a、2b
か固設され、エアシリンダ4て歯車2aを回転させてア
ームla、lbを開閉させ、電子部品Wをアームla、
lbの先端部に挾持するものである。
そして、アームla、lbの下で電子部品Wの本体にア
ース取り用の接触端子5を接触させ、また、圧縮コイル
ばね7で付勢されたピン状のフロープロa、6bをエア
シリンダ8により電子部品Wのリード線Wl、W2に押
し当てて検査用の電流を流すようになっている。
ース取り用の接触端子5を接触させ、また、圧縮コイル
ばね7で付勢されたピン状のフロープロa、6bをエア
シリンダ8により電子部品Wのリード線Wl、W2に押
し当てて検査用の電流を流すようになっている。
「発明か解決しようとする課題」
しかしながら、このような従来の技術では、電子部品W
の位置決めかチャック1のアームla。
の位置決めかチャック1のアームla。
lbて把持することによってのみなされているのて、前
後、左右、上下の全てにわたりチャックlおよび電子部
品Wを位置決め制御しなければならず、精度を上げるた
めに高価な装置となり、さもなければ電子部品Wの位置
ずれか起りやすく、動作不能の事態を招くという問題点
があった。
後、左右、上下の全てにわたりチャックlおよび電子部
品Wを位置決め制御しなければならず、精度を上げるた
めに高価な装置となり、さもなければ電子部品Wの位置
ずれか起りやすく、動作不能の事態を招くという問題点
があった。
また、電子部品Wのリード線Wl、W2にピン状のプロ
ーブ6a、6bを正面から押し当てているのて、リード
線Wl、W2か曲かっていたような場合は接触不良を起
しやすく、電子部品Wを供給するときリード線Wl、W
2の曲かりを管理する必要かあるのて能率か悪く4図示
のごとき小さな圧縮コイルばね7てプローブ6a、6b
を付勢しているのて付勢力の管理がしにくく、強すぎる
とリード線Wl、W2か曲がり、弱すぎると接触不良か
起りやすいという問題点かあった。
ーブ6a、6bを正面から押し当てているのて、リード
線Wl、W2か曲かっていたような場合は接触不良を起
しやすく、電子部品Wを供給するときリード線Wl、W
2の曲かりを管理する必要かあるのて能率か悪く4図示
のごとき小さな圧縮コイルばね7てプローブ6a、6b
を付勢しているのて付勢力の管理がしにくく、強すぎる
とリード線Wl、W2か曲がり、弱すぎると接触不良か
起りやすいという問題点かあった。
本発明は、このような従来の問題点に着目してなされた
ものて、小物ワークの位置決めか容易てあり、リード線
へのプローブの接触が確実にてきる位置決め機構を提供
することを目的としている。
ものて、小物ワークの位置決めか容易てあり、リード線
へのプローブの接触が確実にてきる位置決め機構を提供
することを目的としている。
[課題を解決するための手段]
かかる目的を達成するための本発明の要旨とするところ
は、 l 小物ワークを所定の位置に保持するための位置決め
機構てあって、 テーブルに小物ワークか嵌り込む保持孔を開設し、テー
ブル面に対し斜めに変位し、小物ワークに斜め上から当
接する弾撥的に変位可能な押え部材を設け、該押え部材
を押え位置と開放位置とに変位させる位置決め駆動手段
を設けたことを特徴とする位置決め機構。
は、 l 小物ワークを所定の位置に保持するための位置決め
機構てあって、 テーブルに小物ワークか嵌り込む保持孔を開設し、テー
ブル面に対し斜めに変位し、小物ワークに斜め上から当
接する弾撥的に変位可能な押え部材を設け、該押え部材
を押え位置と開放位置とに変位させる位置決め駆動手段
を設けたことを特徴とする位置決め機構。
2 電子部品である小物ワークを所定の位置に保持して
検査するための位置決め機構であって、テーブルに、電
子部品が嵌り込むとともに下方に該電子部品のリード線
か突出する保持孔を開設し、テーブル面に対し斜めに変
位し、小物ワークに斜め上から当接する弾撥的に変位可
能な押え部材を設け、該押え部材を押え位置と開放位置
とに変位させる位置決め駆動手段を設け、 前記保持孔の下に突出したリード線を臨みプローブ機構
を配設し、 該プローブ機構は、細長い板ばねより成り、先端にリー
ド線に直交する直線状の接触端か折曲形成されたプロー
ブプレートおよび、該プローブプレートの下部の背面に
重なる付勢プレートを有するプローブユニットと、該プ
ローブユニットをリード線に横から近接させて該プロー
ブプレートの接触端を弾撥的に該リード線に当接させる
接触駆動手段とより成ることを特徴とする位置決め機構
。
検査するための位置決め機構であって、テーブルに、電
子部品が嵌り込むとともに下方に該電子部品のリード線
か突出する保持孔を開設し、テーブル面に対し斜めに変
位し、小物ワークに斜め上から当接する弾撥的に変位可
能な押え部材を設け、該押え部材を押え位置と開放位置
とに変位させる位置決め駆動手段を設け、 前記保持孔の下に突出したリード線を臨みプローブ機構
を配設し、 該プローブ機構は、細長い板ばねより成り、先端にリー
ド線に直交する直線状の接触端か折曲形成されたプロー
ブプレートおよび、該プローブプレートの下部の背面に
重なる付勢プレートを有するプローブユニットと、該プ
ローブユニットをリード線に横から近接させて該プロー
ブプレートの接触端を弾撥的に該リード線に当接させる
接触駆動手段とより成ることを特徴とする位置決め機構
。
3 押え部材はアース取り用の接触端子である1項また
は2項記載の位置決め機構。
は2項記載の位置決め機構。
4 プローブプレートに重畳して、先端にリード線への
接触端か折曲形成されたサブプローブプレートを設けた
ことを特徴とする2項または3項記載の位置決め機構に
存する。
接触端か折曲形成されたサブプローブプレートを設けた
ことを特徴とする2項または3項記載の位置決め機構に
存する。
「作用」
小物ワークを供給するときは、押え部材は邪魔にならな
いよう開放位置に保持しておく、小物ワークはテーブル
の保持孔に嵌め込むよう供給される。供給された状態で
は小物ワークは単に載置されているたけて、大まかには
位置決めされているか、厳密にはまた位置ずれがある。
いよう開放位置に保持しておく、小物ワークはテーブル
の保持孔に嵌め込むよう供給される。供給された状態で
は小物ワークは単に載置されているたけて、大まかには
位置決めされているか、厳密にはまた位置ずれがある。
そごて位置決め駆動手段を動作させ、押え部材をテーブ
ル面に対し斜めに下降するよう変位させ、小物ワークに
斜め上から当接させる。当接して押え位置になったとき
、押え部材は弾撥的に変位し、小物ワークは無理なく弾
撥的に保持孔に押し付けられ、位置か定まる。
ル面に対し斜めに下降するよう変位させ、小物ワークに
斜め上から当接させる。当接して押え位置になったとき
、押え部材は弾撥的に変位し、小物ワークは無理なく弾
撥的に保持孔に押し付けられ、位置か定まる。
小物ワークを移送するときは、位置決め駆動手段により
押え部材を斜めに上昇させて開放位置にする。小物ワー
クは押えるものかなくなり、つまんで取り出すことかて
きる。
押え部材を斜めに上昇させて開放位置にする。小物ワー
クは押えるものかなくなり、つまんで取り出すことかて
きる。
小物ワークが電子部品てあってそれを検査する場合、テ
ーブルの保持孔に電子部品を嵌め込むと下方に電子部品
のり一ト線が突出する。位置決めかなされるまてプロー
ブはリード線から離れた位置に保持されている。
ーブルの保持孔に電子部品を嵌め込むと下方に電子部品
のり一ト線が突出する。位置決めかなされるまてプロー
ブはリード線から離れた位置に保持されている。
押え部材で電子部品を押えて位置決めしてからプローブ
機構を動作させて、突出したリード線にプローブを接触
させる。
機構を動作させて、突出したリード線にプローブを接触
させる。
プローブ機構の接触駆動手段を動作させるとプローブは
電子部品のリード線に横から近接し、プローブプレート
の接触端かリード線に当接する。接触端はリード線に直
交する直線状をしているので巾かあり、リード線か多少
曲かつていても支障なく当接する。
電子部品のリード線に横から近接し、プローブプレート
の接触端かリード線に当接する。接触端はリード線に直
交する直線状をしているので巾かあり、リード線か多少
曲かつていても支障なく当接する。
プローブプレートの接触端か丁度リード線に当接した位
置から少しプローブを進めると、細長い板ばねであるプ
ローブプレートの先端か弾撥的に変位し、背面に重なっ
た付勢プレートかプローブプレートの下部を弾撥的に押
して補助し、付勢プレートとプローブプレートとの付勢
力により接触端か程よい強さてリード線に横から弾接す
る。
置から少しプローブを進めると、細長い板ばねであるプ
ローブプレートの先端か弾撥的に変位し、背面に重なっ
た付勢プレートかプローブプレートの下部を弾撥的に押
して補助し、付勢プレートとプローブプレートとの付勢
力により接触端か程よい強さてリード線に横から弾接す
る。
サブブローフプレートを設けた場合、プローブプレート
とともにサフブローブプレートもリード線に近接してそ
の接触端か重ねてリード線に当接し、プローブとり一ト
線との確実な電気的接触がなされる。
とともにサフブローブプレートもリード線に近接してそ
の接触端か重ねてリード線に当接し、プローブとり一ト
線との確実な電気的接触がなされる。
そこてプローブに電流を流し電圧をかけて電子部品を検
査する。電子部品のケーシングからアースを取る場合は
、押え部材を接触端子として弾撥的に当接させてアース
とする。
査する。電子部品のケーシングからアースを取る場合は
、押え部材を接触端子として弾撥的に当接させてアース
とする。
「実施例」
以下1図面に基づき本発明の一実施例を説明する。
第1図〜第6図は本発明の一実施例を示している。
第5図8よび第6図は位置決め機構を備えた検査装置1
0の概要を示しており、小物ワークであってレーザー発
光素子である電子部品Wを所定の位置に保持して検査す
るためのものである。
0の概要を示しており、小物ワークであってレーザー発
光素子である電子部品Wを所定の位置に保持して検査す
るためのものである。
検査装置lOは、ベース11に枢軸12を介してテーブ
ル20か図示省略した送り機構により所定角度ピッチて
回転させて保持可能に枢支され、テーブル20の周縁を
臨み各種工程に応じて電子部品Wを保持する位置決め機
構30.30−・・か配設され、さらに位置決め機構3
0に対応してプローブ機構40がベースll上に配設さ
れている。
ル20か図示省略した送り機構により所定角度ピッチて
回転させて保持可能に枢支され、テーブル20の周縁を
臨み各種工程に応じて電子部品Wを保持する位置決め機
構30.30−・・か配設され、さらに位置決め機構3
0に対応してプローブ機構40がベースll上に配設さ
れている。
以下、第1図および第2図により位置決め機構30を詳
細に説明する。
細に説明する。
電子部品Wは、底からリード線Wl、W2か延設され、
頭部W3の基部に鍔W4を有し、鍔W4には切欠W5が
設けられて成る。
頭部W3の基部に鍔W4を有し、鍔W4には切欠W5が
設けられて成る。
テーブル20の表面から底に貫通して小物ワークである
電子部品Wか嵌り込む保持孔21゜21・・・か穿設さ
れている。
電子部品Wか嵌り込む保持孔21゜21・・・か穿設さ
れている。
保持孔21は、電子部品Wの鍔W4は通さない程度の内
径で、保持孔21の外周に座面板22が固設され、座面
板22には鍔W4か嵌り込む陥入率22aか形成され、
電子部品Wの切欠W5に嵌合する位置決めピン23か陥
入率22aに突出するよう座面板22にねし23aによ
り固定されている。
径で、保持孔21の外周に座面板22が固設され、座面
板22には鍔W4か嵌り込む陥入率22aか形成され、
電子部品Wの切欠W5に嵌合する位置決めピン23か陥
入率22aに突出するよう座面板22にねし23aによ
り固定されている。
テーブル20の厚さ乃至保持孔21の深さは。
切欠W5か陥入率22aに着座して電子部品Wが保持孔
21に嵌り込んたときリード線Wl。
21に嵌り込んたときリード線Wl。
W2か保持孔21の下方に突出する程度に設定されてい
る。
る。
位置決め機構30は、ベース11に立設した支柱枢軸1
2の上端に保持されたエアシリンダである位置決め駆動
手段31と、位置決め駆動手段31により駆動される押
え部材35とにより構成されている。
2の上端に保持されたエアシリンダである位置決め駆動
手段31と、位置決め駆動手段31により駆動される押
え部材35とにより構成されている。
位置決め駆動手段31は押え部材35を第2図実線に示
す押え位置と想像線に示す開放位置とに変位させるもの
て、シリンダ32か枢軸12に固定して支持され、テー
ブル20面に対し略45度程度の斜めの方向に直線的に
変位するピストンロッド33を有している。
す押え位置と想像線に示す開放位置とに変位させるもの
て、シリンダ32か枢軸12に固定して支持され、テー
ブル20面に対し略45度程度の斜めの方向に直線的に
変位するピストンロッド33を有している。
押え部材35はばね線材で形成され、ピストンロッド3
3の先端に設けられた割溝33aに基部36を挿通し、
締めねし34て割溝33aを狭めることによりピストン
ロット33の先端に固着されている。
3の先端に設けられた割溝33aに基部36を挿通し、
締めねし34て割溝33aを狭めることによりピストン
ロット33の先端に固着されている。
押え部材35の先端部は屈曲してテーブル20面に平行
な押え部37か形成されている。押え部37は、ピスト
ンロット33か引つ込んたとき、電子部品Wの頭部W3
と鍔W4とのコーナーに斜め上から当接して弾撥的に変
位可能なよう配設されている。
な押え部37か形成されている。押え部37は、ピスト
ンロット33か引つ込んたとき、電子部品Wの頭部W3
と鍔W4とのコーナーに斜め上から当接して弾撥的に変
位可能なよう配設されている。
押え部材35は電子部品Wのケーシングに弾接して電気
的に導通するアース取り用の接触端子を兼ねている。
的に導通するアース取り用の接触端子を兼ねている。
プローブ機構40は位置決め機構30に対応し、保持孔
21の下に突出したリード線Wl。
21の下に突出したリード線Wl。
W2を臨んて配設されている。
第3図および第4図に示すように、プローブ機構40は
、ベース11に固設された支持ブラダ・ント40aに固
定されたエアシリンダである接触駆動手段41にプロー
ブユニット45.45を支持して成る。
、ベース11に固設された支持ブラダ・ント40aに固
定されたエアシリンダである接触駆動手段41にプロー
ブユニット45.45を支持して成る。
接触駆動手段41は対象的に平行移動するハント42.
42を有しており、ハント42.42にそれぞれ、プロ
ーブ支持ブラケット43かねし43a、43aて固定さ
れ、プローブユニット45の基部を保持する押えプレー
ト44か設けられている。
42を有しており、ハント42.42にそれぞれ、プロ
ーブ支持ブラケット43かねし43a、43aて固定さ
れ、プローブユニット45の基部を保持する押えプレー
ト44か設けられている。
プローブユニット45は、先端にリード線Wl、W2に
直交する直線状の端縁を有する接触端46aか折曲形成
された細長い板ばねより成るプローブプレート46と、
プローブプレート46に重畳して、先端にリード線Wl
、W2への接触端47aか折曲形成されたサブプローブ
プレート47と、プローブプレート46の下部の背面に
重なる付勢プレート48と、付勢プレート48の背後を
支える補助プレート49とより成る。
直交する直線状の端縁を有する接触端46aか折曲形成
された細長い板ばねより成るプローブプレート46と、
プローブプレート46に重畳して、先端にリード線Wl
、W2への接触端47aか折曲形成されたサブプローブ
プレート47と、プローブプレート46の下部の背面に
重なる付勢プレート48と、付勢プレート48の背後を
支える補助プレート49とより成る。
サブプローブプレート47.付勢プレート48、補助プ
レート49はいずれも板ばねより成り、それらの基部と
プローブプレート46の基部とを重ねて押えプレート4
4て押え、ねじ44a、44aによりプローブ支持ブラ
ケット43に固定されている。接触駆動手段41は、ハ
ンド42.42がプローブユニット45のプローブプレ
ート46.47接触端46a、47aをソート線Wl、
W2に横から近接させて弾撥的に当接させるよう配設さ
れている。
レート49はいずれも板ばねより成り、それらの基部と
プローブプレート46の基部とを重ねて押えプレート4
4て押え、ねじ44a、44aによりプローブ支持ブラ
ケット43に固定されている。接触駆動手段41は、ハ
ンド42.42がプローブユニット45のプローブプレ
ート46.47接触端46a、47aをソート線Wl、
W2に横から近接させて弾撥的に当接させるよう配設さ
れている。
次に作用を説明する。
小物ワーつてある電子部品Wを供給するとき、位置決め
駆動手段31のピストンロット33をシリンダ32から
突き出し、押え部材35を邪魔にならないよう開放位置
に保持しておく、電子部品Wは図示省略した供給機構に
よりテーブル20の保持孔21に所定の姿勢て嵌め込ん
て座面板22に供給される。
駆動手段31のピストンロット33をシリンダ32から
突き出し、押え部材35を邪魔にならないよう開放位置
に保持しておく、電子部品Wは図示省略した供給機構に
よりテーブル20の保持孔21に所定の姿勢て嵌め込ん
て座面板22に供給される。
供給されたとき、鍔W4か陥入座22aに嵌り込んて座
面板22上に電子部品Wか載置され、切欠W5に位置決
めピン23か嵌合し、リード線Wl、W2は保持孔21
から下方に突出している。この状態では電子部品Wは単
に載置されているたけで、大まかには位置決めされてい
るか、厳密にはまた位置ずれかある。
面板22上に電子部品Wか載置され、切欠W5に位置決
めピン23か嵌合し、リード線Wl、W2は保持孔21
から下方に突出している。この状態では電子部品Wは単
に載置されているたけで、大まかには位置決めされてい
るか、厳密にはまた位置ずれかある。
次に、位置決め駆動手段31を動作させ、ピストンロッ
ド33を引っ込み方向に変位させる。押え部材35はテ
ーブル20面に対し斜めに下降するよう変位し、押え部
37か頭部W3と鍔W4とのコーナーに押し当てられ、
電子部品Wに斜め上から当接する。当接してから少し進
んだ押え位置になったとき、押え部材35は弾撥的に変
位し電子部品Wは無理なく弾撥的に保持孔21に押し付
けられ、位置か定まって保持される。
ド33を引っ込み方向に変位させる。押え部材35はテ
ーブル20面に対し斜めに下降するよう変位し、押え部
37か頭部W3と鍔W4とのコーナーに押し当てられ、
電子部品Wに斜め上から当接する。当接してから少し進
んだ押え位置になったとき、押え部材35は弾撥的に変
位し電子部品Wは無理なく弾撥的に保持孔21に押し付
けられ、位置か定まって保持される。
電子部品Wを移送するときは、位置決め駆動手段31に
より押え部材35を斜めに上昇させて開放位置にする。
より押え部材35を斜めに上昇させて開放位置にする。
電子部品Wは押えるものかなくなり、テーブル20を回
転させても干渉することかなく、また電子部品Wをつま
んて取り出すことかてきる。
転させても干渉することかなく、また電子部品Wをつま
んて取り出すことかてきる。
電子部品Wを検査する場合、テーブル20の保持孔21
から下方に電子部品Wのリード線Wl。
から下方に電子部品Wのリード線Wl。
W2か突出して位置決めかなされるまて対向して配設さ
れているプローブユニット45.45は第4図(a)に
示すようにリード線Wl、W2から離れた位置に保持さ
れている。
れているプローブユニット45.45は第4図(a)に
示すようにリード線Wl、W2から離れた位置に保持さ
れている。
押え部材35て電子部品Wを押えて位置決めかなされた
ら、プローブ機構40を動作させて、突出したリード線
Wl、W2にプローブユニット45.45を近接させる
。
ら、プローブ機構40を動作させて、突出したリード線
Wl、W2にプローブユニット45.45を近接させる
。
プローブ機構40の接触駆動手段41を動作させると、
プローブユニット45.45は電子部品Wのリード線W
l、W2に横から近接し、先頭にあるブローツブレート
46.46の接触端46a、46aか先ずリード線Wl
、W2に当接する。接触端46a、46aはリード線W
l。
プローブユニット45.45は電子部品Wのリード線W
l、W2に横から近接し、先頭にあるブローツブレート
46.46の接触端46a、46aか先ずリード線Wl
、W2に当接する。接触端46a、46aはリード線W
l。
W2に直交する直線状をしているのて巾かありリード線
Wl、W2か多少曲かっていても支障なく当接する。
Wl、W2か多少曲かっていても支障なく当接する。
プローブユニット45.45をさらに進めると、サップ
ローブプレート47.47の接触端47a、47aか同
様にリード線Wl、W2に当接する。
ローブプレート47.47の接触端47a、47aか同
様にリード線Wl、W2に当接する。
プローブプレート46.サップローブプレート47の接
触端46a、47aか丁度リード線Wl、W2に当接し
た位置から少しプローブ45を進めると、細長い板ばね
であるブローツブレート46の先端が弾撥的に変位し、
背面に重なった付勢プレート48かプローブプレート4
6の下部を弾撥的に押して補助し、付勢プレート48と
プローブプレート46およびサブブローツブレート47
との付勢力により接触端46a。
触端46a、47aか丁度リード線Wl、W2に当接し
た位置から少しプローブ45を進めると、細長い板ばね
であるブローツブレート46の先端が弾撥的に変位し、
背面に重なった付勢プレート48かプローブプレート4
6の下部を弾撥的に押して補助し、付勢プレート48と
プローブプレート46およびサブブローツブレート47
との付勢力により接触端46a。
47aか程よい強さてリード線Wl、W2に横から弾接
する。
する。
第4図(b)に示すように、プローブプレート46の接
触端46aとともにサップローブプレート47の接触端
47aもリード線Wl、W2に重ねて当接し、プローブ
ユニット45とリード線Wl、W2との確実な電気的接
触かなされる。
触端46aとともにサップローブプレート47の接触端
47aもリード線Wl、W2に重ねて当接し、プローブ
ユニット45とリード線Wl、W2との確実な電気的接
触かなされる。
プローブプレート46およびサブプローブプレート47
は上部から下部にかけてなたらかに変形するのて、繰り
返し荷重に対する疲労か少ない。
は上部から下部にかけてなたらかに変形するのて、繰り
返し荷重に対する疲労か少ない。
押え部材35は電子部品Wの外装に弾接してアース用の
接触端子として機能している。そこてプローブユニット
45に電流を流し電圧をかけて電子部品Wを検査する。
接触端子として機能している。そこてプローブユニット
45に電流を流し電圧をかけて電子部品Wを検査する。
検査か終了したら、開始のときとは逆方向に接触駆動手
段41を作動させ、第4図(a)に示すようにプローブ
ユニット45を退避させる。
段41を作動させ、第4図(a)に示すようにプローブ
ユニット45を退避させる。
なお、前記実施例では、押え部材の線材部分を小物ワー
クのコーナーに当てるようにしたか、そのようなコーナ
ーかない小物ワーつてあった場合は、押え部材の先に小
物ワークへの保合部を設けてもよいことはいうまてもな
い。
クのコーナーに当てるようにしたか、そのようなコーナ
ーかない小物ワーつてあった場合は、押え部材の先に小
物ワークへの保合部を設けてもよいことはいうまてもな
い。
「発明の効果」
本発明に係る位置決め機構によれば、押え部材て斜めに
小物ワークを押さえるたけて位置決めかてき、小物ワー
クか電子部品であった場合1位置決めに対応して直線状
の接触端かリード線に接触して確実に電気的に接続する
プローブ機構を設けたのて、位置決め駆動手段の単純な
動作で各方向にわたり小物ワークの位置決めをすること
かてき、リード線か曲かっていたような場合ても接触不
良を起しにくく、また、プローブを適度な弾力てリード
線に当接させることかできるのて、強すぎてリード線か
曲かったり、弱すぎて接触不良か起ったりすることかな
い、接触時のプローブプレートの変形かなたらかである
のて、プローブプレートの疲労か少なく耐久性か高い。
小物ワークを押さえるたけて位置決めかてき、小物ワー
クか電子部品であった場合1位置決めに対応して直線状
の接触端かリード線に接触して確実に電気的に接続する
プローブ機構を設けたのて、位置決め駆動手段の単純な
動作で各方向にわたり小物ワークの位置決めをすること
かてき、リード線か曲かっていたような場合ても接触不
良を起しにくく、また、プローブを適度な弾力てリード
線に当接させることかできるのて、強すぎてリード線か
曲かったり、弱すぎて接触不良か起ったりすることかな
い、接触時のプローブプレートの変形かなたらかである
のて、プローブプレートの疲労か少なく耐久性か高い。
第1図〜第6図は本発明の一実施例を示しており、第1
図は位置決め機構の分解斜視図、第2図は同じく斜視図
、第3図はプローブ機構の分解斜視図、第4図は各種動
作状態のプローブ機構の正面図、第5図は位置決め機構
を備えた検査装置の正面図、第6図は同しく平面図、第
7図および第8図は従来例を示しており、第7図は位置
決め機構およびプローブ機構の平面図、第8図は第7図
■矢視図である。 10−−・検査装置 20・・・チーフル 30−・・位置決め機構 35・・・押え部材 40・・・プローブ機構 45・・・プローブユニット 46・・・プローブプレート 47・・・サブプローブプレート 46a、47a・・・接触端 48−・・付勢プレート
ド・・ベース ト・・保持孔 1・・・位置決め駆動手段 7・・・押え部 1・・・接触駆動手段
図は位置決め機構の分解斜視図、第2図は同じく斜視図
、第3図はプローブ機構の分解斜視図、第4図は各種動
作状態のプローブ機構の正面図、第5図は位置決め機構
を備えた検査装置の正面図、第6図は同しく平面図、第
7図および第8図は従来例を示しており、第7図は位置
決め機構およびプローブ機構の平面図、第8図は第7図
■矢視図である。 10−−・検査装置 20・・・チーフル 30−・・位置決め機構 35・・・押え部材 40・・・プローブ機構 45・・・プローブユニット 46・・・プローブプレート 47・・・サブプローブプレート 46a、47a・・・接触端 48−・・付勢プレート
ド・・ベース ト・・保持孔 1・・・位置決め駆動手段 7・・・押え部 1・・・接触駆動手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 小物ワークを所定の位置に保持するための位置決め
機構であって、 テーブルに小物ワークが嵌り込む保持孔を開設し、テー
ブル面に対し斜めに変位し、小物ワークに斜め上から当
接する弾撥的に変位可能な押え部材を設け、該押え部材
を押え位置と開放位置とに変位させる位置決め駆動手段
を設けたことを特徴とする位置決め機構。 2 電子部品である小物ワークを所定の位置に保持して
検査するための位置決め機構であって、テーブルに、電
子部品が嵌り込むとともに下方に該電子部品のリード線
が突出する保持孔を開設し、テーブル面に対し斜めに変
位し、小物ワークに斜め上から当接する弾撥的に変位可
能な押え部材を設け、該押え部材を押え位置と開放位置
とに変位させる位置決め駆動手段を設け、 前記保持孔の下に突出したリード線を臨みプローブ機構
を配設し、 該プローブ機構は、細長い板ばねより成り、先端にリー
ド線に直交する直線状の接触端が折曲形成されたプロー
ブプレートおよび、該プローブプレートの下部の背面に
重なる付勢プレートを有するプローブユニットと、該プ
ローブユニットをリード線に横から近接させて該プロー
ブプレートの接触端を弾撥的に該リード線に当接させる
接触駆動手段とより成ることを特徴とする位置決め機構
。 3 押え部材はアース取り用の接触端子である請求項1
または2記載の位置決め機構。 4 プローブプレートに重畳して、先端にリード線への
接触端が折曲形成されたサブプローブプレートを設けた
ことを特徴とする請求項2または3記載の位置決め機構
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2196518A JP2725880B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2196518A JP2725880B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 位置決め機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0482643A true JPH0482643A (ja) | 1992-03-16 |
| JP2725880B2 JP2725880B2 (ja) | 1998-03-11 |
Family
ID=16359075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2196518A Expired - Lifetime JP2725880B2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 位置決め機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2725880B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009145101A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Arufakusu Kk | 半導体素子の検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60137569A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-22 | Honda Motor Co Ltd | 小物材の高周波ろう付方法及びその治具 |
-
1990
- 1990-07-25 JP JP2196518A patent/JP2725880B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60137569A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-22 | Honda Motor Co Ltd | 小物材の高周波ろう付方法及びその治具 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009145101A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Arufakusu Kk | 半導体素子の検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2725880B2 (ja) | 1998-03-11 |
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