JPH048328Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH048328Y2 JPH048328Y2 JP4671985U JP4671985U JPH048328Y2 JP H048328 Y2 JPH048328 Y2 JP H048328Y2 JP 4671985 U JP4671985 U JP 4671985U JP 4671985 U JP4671985 U JP 4671985U JP H048328 Y2 JPH048328 Y2 JP H048328Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- rotational speed
- motor
- optical head
- pulse signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、デイスクの面振れおよび偏心による
左右方向の振れを測定するデイスク形状測定装置
に関する。特に、デイスクの振れに追従して光学
ヘツドの位置を制御する自動制御系の制御誤差に
比例する量をモニタし、デイスクの振れ量を測定
するデイスク形状測定装置の応答性の改良に関す
る。
左右方向の振れを測定するデイスク形状測定装置
に関する。特に、デイスクの振れに追従して光学
ヘツドの位置を制御する自動制御系の制御誤差に
比例する量をモニタし、デイスクの振れ量を測定
するデイスク形状測定装置の応答性の改良に関す
る。
本考案は、デイスクの面振れおよび偏心による
左右方向の振れを測定するデイスク形状測定装置
において、 光学ヘツドの位置をデイスクの振れ量に追従し
て制御されるアクチユエータの変位量を検出して
デイスクの振れ量の測定値とする場合に、デイス
クを定格回転速度より低速度で回転させ、その低
回転速度に比例する周波数のパルス信号に従つて
上記変位量を一時蓄積し、定格回転速度に比例す
る周波数のパルス信号に従つてそのデータを読み
出すことにより、 自動制御系の応答性が十分でなくても定格回転
速度でのデイスクの振れ量を実質的に測定できる
ようにしたものである。
左右方向の振れを測定するデイスク形状測定装置
において、 光学ヘツドの位置をデイスクの振れ量に追従し
て制御されるアクチユエータの変位量を検出して
デイスクの振れ量の測定値とする場合に、デイス
クを定格回転速度より低速度で回転させ、その低
回転速度に比例する周波数のパルス信号に従つて
上記変位量を一時蓄積し、定格回転速度に比例す
る周波数のパルス信号に従つてそのデータを読み
出すことにより、 自動制御系の応答性が十分でなくても定格回転
速度でのデイスクの振れ量を実質的に測定できる
ようにしたものである。
光デイスクからの情報の読み出し、情報の書き
込みあるいは書き換えを行うには、光学ヘツドか
ら出たレーザ光が光デイスク上に正確に焦点を結
び、さらに目的のトラツクからはずれないように
トレースする必要がある。
込みあるいは書き換えを行うには、光学ヘツドか
ら出たレーザ光が光デイスク上に正確に焦点を結
び、さらに目的のトラツクからはずれないように
トレースする必要がある。
光デイスクが回転中に約500μm程度の範囲で上
下に面振れを起こすため、情報の正確な記録・再
生には、光学ヘツドの対物レンズを上下させてレ
ーザ光の焦点を常に光デイスク上に結ばせなくて
はならない。その誤差は、レンズ系の焦点深度以
下すなわち1μm程度におさえる必要がある。ま
た、デイスクの偏心によるピツト列あるいは案内
溝の左右方向への振れは最大で±100μm程度であ
り、レーザ光の光点は±0.1μm以下の誤差で目的
のトラツクを追従する必要がある。
下に面振れを起こすため、情報の正確な記録・再
生には、光学ヘツドの対物レンズを上下させてレ
ーザ光の焦点を常に光デイスク上に結ばせなくて
はならない。その誤差は、レンズ系の焦点深度以
下すなわち1μm程度におさえる必要がある。ま
た、デイスクの偏心によるピツト列あるいは案内
溝の左右方向への振れは最大で±100μm程度であ
り、レーザ光の光点は±0.1μm以下の誤差で目的
のトラツクを追従する必要がある。
このような光学ヘツドの位置を正確に制御する
ために、フオーカスエラー、トラツキングエラー
それぞれを光デイスク上から光学的に検出し、こ
れを光学ヘツドの動作にフイードバツクさせる自
動制御手段が用いられる。
ために、フオーカスエラー、トラツキングエラー
それぞれを光デイスク上から光学的に検出し、こ
れを光学ヘツドの動作にフイードバツクさせる自
動制御手段が用いられる。
一方、製造された光デイスクは上記の面振れお
よび偏心による振れの振れ量を測定して、規定値
と比較しその良否が判定される。
よび偏心による振れの振れ量を測定して、規定値
と比較しその良否が判定される。
光デイスクの面振れおよび偏心による振れの振
れ量Δは、従来機械光学系による複雑な装置を用
いて直接測定されていたが、それに代わり光学ヘ
ツドの位置制御を行う自動制御手段のアクチユエ
ータの変位量ｙから振れ量Δを算出する装置が用
いられるようになつた。
れ量Δは、従来機械光学系による複雑な装置を用
いて直接測定されていたが、それに代わり光学ヘ
ツドの位置制御を行う自動制御手段のアクチユエ
ータの変位量ｙから振れ量Δを算出する装置が用
いられるようになつた。
ところが、このような従来の光デイスク形状測
定装置による測定は、その周波数が自動制御系利
得特性の高周波漸減部分で行われるために、デイ
スクの回転速度が速くなると利得が小さくて不安
定になりやすい。また、デイスクの回転速度が速
くなると、デイスクの微細な振れに対するアクチ
ユエータの駆動信号とアクチユエータの変位量と
の間に、利得や位相のずれが大きくなり、数十Hz
以上の場合には精度良く測定することができない
問題点があつた。
定装置による測定は、その周波数が自動制御系利
得特性の高周波漸減部分で行われるために、デイ
スクの回転速度が速くなると利得が小さくて不安
定になりやすい。また、デイスクの回転速度が速
くなると、デイスクの微細な振れに対するアクチ
ユエータの駆動信号とアクチユエータの変位量と
の間に、利得や位相のずれが大きくなり、数十Hz
以上の場合には精度良く測定することができない
問題点があつた。
本考案は、このような従来の問題点を解決する
もので、光学ヘツドの位置制御を行う自動制御系
の応答性にかかわりなく、高精度の振れ量を測定
することができる光デイスク形状測定装置を提供
することを目的とする。
もので、光学ヘツドの位置制御を行う自動制御系
の応答性にかかわりなく、高精度の振れ量を測定
することができる光デイスク形状測定装置を提供
することを目的とする。
本考案は、被測定デイスクを回転駆動させるモ
ータと、被測定デイスクの一点を光学的に照射し
その反射光を検出する光学ヘツドとを備え、上記
光学ヘツドには、被測定デイスクの回転に伴い面
振れまたは偏心による左右方向の振れに追従する
ようにこの光学ヘツドの位置を制御する自動制御
手段を含み、この自動制御手段の制御誤差に比例
する量が、被測定デイスクの回転に伴うデイスク
の面振れまたは偏心による左右方向の振れの測定
値として出力される手段を備えたデイスク形状測
定装置において、上記モータを定格回転速度より
低速度で回転させる手段と、上記モータの回転速
度に比例する周波数のパルス信号を発生する回路
と、上記モータが低速度で回転するときに上記制
御誤差に比例する量をデイジタル信号として上記
パルス信号に従つて一時蓄積する手段と、上記モ
ータが定格回転速度で回転するときの上記パルス
信号に従つて上記蓄積する手段に蓄積された制御
誤差に比例する量を読み出す手段とを備えたこと
を特徴とする。
ータと、被測定デイスクの一点を光学的に照射し
その反射光を検出する光学ヘツドとを備え、上記
光学ヘツドには、被測定デイスクの回転に伴い面
振れまたは偏心による左右方向の振れに追従する
ようにこの光学ヘツドの位置を制御する自動制御
手段を含み、この自動制御手段の制御誤差に比例
する量が、被測定デイスクの回転に伴うデイスク
の面振れまたは偏心による左右方向の振れの測定
値として出力される手段を備えたデイスク形状測
定装置において、上記モータを定格回転速度より
低速度で回転させる手段と、上記モータの回転速
度に比例する周波数のパルス信号を発生する回路
と、上記モータが低速度で回転するときに上記制
御誤差に比例する量をデイジタル信号として上記
パルス信号に従つて一時蓄積する手段と、上記モ
ータが定格回転速度で回転するときの上記パルス
信号に従つて上記蓄積する手段に蓄積された制御
誤差に比例する量を読み出す手段とを備えたこと
を特徴とする。
一時蓄積する手段はシフトレジスタまたはこれ
に相当するメモリであり、モータが定格回転速度
で回転するときのパルス信号は固定周波数の発振
器から得ることが好ましい。
に相当するメモリであり、モータが定格回転速度
で回転するときのパルス信号は固定周波数の発振
器から得ることが好ましい。
デイスクの面振れおよび偏心による左右方向の
振れをデイスクの振れに追従する光学ヘツドの位
置を制御する自動制御系の制御誤差に比例する量
からその振れ量を求める。このとき本考案は、自
動制御系の応答性が確保できる遅い回転速度での
測定データを、この回転速度に比例する周波数の
パルス信号をクロツクとして一時蓄積し、次に定
格回転速度に対応する周波数のパルス信号をクロ
ツクとしてそのデータを読み出すことにより、定
格回転速度での振れ量の推定値を得る。これによ
り種々のデイスクについて種々の回転速度で測定
したデータを一律の定格回転速度の振れ量として
比較することができる。
振れをデイスクの振れに追従する光学ヘツドの位
置を制御する自動制御系の制御誤差に比例する量
からその振れ量を求める。このとき本考案は、自
動制御系の応答性が確保できる遅い回転速度での
測定データを、この回転速度に比例する周波数の
パルス信号をクロツクとして一時蓄積し、次に定
格回転速度に対応する周波数のパルス信号をクロ
ツクとしてそのデータを読み出すことにより、定
格回転速度での振れ量の推定値を得る。これによ
り種々のデイスクについて種々の回転速度で測定
したデータを一律の定格回転速度の振れ量として
比較することができる。
以下、本考案の実施例方式を図面に基づいて説
明する。
明する。
図は、本考案の一実施例を示すブロツク構成図
である。図において、参照番号１はデイスク、参
照番号２は切換スイツチ３の切り換えにより回転
速度が変化するモータである。モータ２の回転速
度に対応する周波数のパルス信号を発生するパル
スエンコーダ４がモータ２に取り付けられる。デ
イスク１の振れを検出する光学ヘツド５の出力
は、アナログ・デイジタル変換回路６を介してシ
フトレジスタ７に接続される。シフトレジスタ７
のクロツク入力は、切換スイツチ８を介してパル
スエンコーダ４の出力、あるいは固定発振器９に
接続される。シフトレジスタ７の読み出し出力
は、補正演算ブロツク１０に接続され、この出力
はデイジタル・アナログ変換回路１１を介してス
ペクトラムアナライザ１２に接続される。
である。図において、参照番号１はデイスク、参
照番号２は切換スイツチ３の切り換えにより回転
速度が変化するモータである。モータ２の回転速
度に対応する周波数のパルス信号を発生するパル
スエンコーダ４がモータ２に取り付けられる。デ
イスク１の振れを検出する光学ヘツド５の出力
は、アナログ・デイジタル変換回路６を介してシ
フトレジスタ７に接続される。シフトレジスタ７
のクロツク入力は、切換スイツチ８を介してパル
スエンコーダ４の出力、あるいは固定発振器９に
接続される。シフトレジスタ７の読み出し出力
は、補正演算ブロツク１０に接続され、この出力
はデイジタル・アナログ変換回路１１を介してス
ペクトラムアナライザ１２に接続される。
モータ２は、測定すべき定格回転速度N0（周波
数0）より遅い回転速度Nn（周波数n）で回転さ
せる。回転速度Nnは、光学ヘツド５の自動制御
系の応答性がデイスク１の振れに十分対応できる
値に選ぶ。
数0）より遅い回転速度Nn（周波数n）で回転さ
せる。回転速度Nnは、光学ヘツド５の自動制御
系の応答性がデイスク１の振れに十分対応できる
値に選ぶ。
光学ヘツド５からの信号はアナログ・デイジタ
ル変換され、モータ２の回転速度に対応するパル
スエンコーダ４の出力パルス信号をクロツクとす
るシフトレジスタ７内へ取り込まれる。シフトレ
ジスタ７の段数は、少なくともモータ２の１回転
分に相当させる。
ル変換され、モータ２の回転速度に対応するパル
スエンコーダ４の出力パルス信号をクロツクとす
るシフトレジスタ７内へ取り込まれる。シフトレ
ジスタ７の段数は、少なくともモータ２の１回転
分に相当させる。
シフトレジスタ７に蓄積されたデータは、モー
タ２を定格回転速度N0で回転させたときのパル
スエンコーダ４の出力パルス信号をクロツクとし
て読み出し、光学ヘツド５の振れ方向の位置誤
差、デイスク取り付けヘツドの傾き誤差、デイス
ク１の回転に伴う変形などの補正を補正演算ブロ
ツク１０で行う。この補正出力をデイジタル・ア
ナログ変換してスペクトラムアナライザ１２に入
力し、デイスクの振れの周波数分析を行う。
タ２を定格回転速度N0で回転させたときのパル
スエンコーダ４の出力パルス信号をクロツクとし
て読み出し、光学ヘツド５の振れ方向の位置誤
差、デイスク取り付けヘツドの傾き誤差、デイス
ク１の回転に伴う変形などの補正を補正演算ブロ
ツク１０で行う。この補正出力をデイジタル・ア
ナログ変換してスペクトラムアナライザ１２に入
力し、デイスクの振れの周波数分析を行う。
シフトレジスタ７の読み出しクロツクは、モー
タ２を定格回転速度N0で回転させたときのパル
スエンコーダ４の出力パルス信号の周波数と、同
一の周波数を生成する固定発振器９から切換スイ
ツチ８を切り換えて取り込んでもよい。
タ２を定格回転速度N0で回転させたときのパル
スエンコーダ４の出力パルス信号の周波数と、同
一の周波数を生成する固定発振器９から切換スイ
ツチ８を切り換えて取り込んでもよい。
シフトレジスタ７および補正演算ブロツク１０
は、メモリ、カウンタおよび演算処理回路をもつ
マイクロプロセツサで構成することができる。
は、メモリ、カウンタおよび演算処理回路をもつ
マイクロプロセツサで構成することができる。
本考案は、以上説明したように、デイスクの振
れ量に対応するデータの収集を光学ヘツドの自動
制御系の応答性が良好な低回転速度で行い、定格
回転速度で回転するときの周波数をクロツクとし
てそのデータを読み出すので、種々の大きさのデ
イスクを種々の回転速度で計測したデータを一律
の定格回転速度の振れ量として推定し定格回転速
度の規定値と比較することができる。
れ量に対応するデータの収集を光学ヘツドの自動
制御系の応答性が良好な低回転速度で行い、定格
回転速度で回転するときの周波数をクロツクとし
てそのデータを読み出すので、種々の大きさのデ
イスクを種々の回転速度で計測したデータを一律
の定格回転速度の振れ量として推定し定格回転速
度の規定値と比較することができる。
図は本考案の一実施例を示すブロツク構成図。
１……デイスク、２……モータ、３，８……切
換スイツチ、４……パルスエンコーダ、５……光
学ヘツド、６……アナログ・デイジタル変換回
路、７……シフトレジスタ、９……固定発振器、
１０……補正演算ブロツク、１１……デイジタ
ル・アナログ変換回路、１２……スペクトラムア
ナライザ。
換スイツチ、４……パルスエンコーダ、５……光
学ヘツド、６……アナログ・デイジタル変換回
路、７……シフトレジスタ、９……固定発振器、
１０……補正演算ブロツク、１１……デイジタ
ル・アナログ変換回路、１２……スペクトラムア
ナライザ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被測定デイスクを回転駆動させるモータと、
被測定デイスクの一点を光学的に照射しその反
射光を検出する光学ヘツドと を備え、 上記光学ヘツドには、被測定デイスクの回転
に伴い面振れまたは偏心による左右方向の振れ
に追従するようにこの光学ヘツドの位置を制御
する自動制御手段を含み、 この自動制御手段の制御誤差に比例する量
が、被測定デイスクの回転に伴うデイスクの面
振れまたは偏心による左右方向の振れの測定値
として出力される手段を備えたデイスク形状測
定装置において、 上記モータを定格回転速度より低速度で回転
させる手段と、 上記モータの回転速度に比例する周波数のパ
ルス信号を発生する回路と、 上記モータが低速度で回転するときに上記制
御誤差に比例する量をデイジタル信号として上
記パルス信号に従つて一時蓄積する手段と、 上記モータが定格回転速度で回転するときの
上記パルス信号に従つて上記蓄積する手段に蓄
積された制御誤差に比例する量を読み出す手段
と を備えたことを特徴とするデイスク形状測定装
置。 (2) 一時蓄積する手段はシフトレジスタであり、
モータが定格回転速度で回転するときのパルス
信号は固定周波数の発振器から得る 実用新案登録請求の範囲第１項に記載のデイ
スク形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4671985U JPH048328Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4671985U JPH048328Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61161705U JPS61161705U (ja) | 1986-10-07 |
| JPH048328Y2 true JPH048328Y2 (ja) | 1992-03-03 |
Family
ID=30561383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4671985U Expired JPH048328Y2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH048328Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2011007415A1 (ja) * | 2009-07-14 | 2012-12-20 | パイオニア株式会社 | 補正装置及び方法、並びに光ピックアップ及び記録再生装置 |
| JP2011187102A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Jvc Kenwood Holdings Inc | 光ディスク評価方法及び光ディスク評価装置 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP4671985U patent/JPH048328Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61161705U (ja) | 1986-10-07 |
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