JPH0486548A - Packaged substrate appearance inspection device - Google Patents

Packaged substrate appearance inspection device

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JPH0486548A
JPH0486548A JP2202116A JP20211690A JPH0486548A JP H0486548 A JPH0486548 A JP H0486548A JP 2202116 A JP2202116 A JP 2202116A JP 20211690 A JP20211690 A JP 20211690A JP H0486548 A JPH0486548 A JP H0486548A
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circuit board
printed circuit
scanning
data
height distribution
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Takumi Sekito
脊戸 卓美
Hirokado Toba
鳥羽 広門
Kazutoshi Iketani
池谷 和俊
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enable packaging state to be judged accurately by obtaining height data corresponding to traveling position of each traveling scanning region based on scattered light which is obtained due to reflection from a packaging surface of a printed-circuit board by scanning of laser beam. CONSTITUTION:A laser beam 16 from a laser light source 15 is emitted onto a printed-circuit board 11, the packaging surface is entirely scanned, and the reflected scattered light is subjected to position detection 22 and a position signal 23 is fed to an image operation processing means 30. Then, the means 30 converts a signal 23 into height data of parts 12 which are packaged onto the printed-circuit board 11 and then outputs it to a judgment processing means 40. Then, the means 40 shifts a traveling scanning region which is stored 60 to a specified position, takes out height distribution data at a position corresponding to the position, obtains sum of height distribution data at each position, and a maximum position detection circuit detects a position with the maximum data sum and then outputs it to the judgment circuit, thus enabling the judgment circuit to compare the position information with a threshold value and accurately judges the packaging state of the parts 12 for the printed-circuit board 11.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、プリント基板上に実装された部品の形状や実
装位置等を検出して実装不良の検査を行う実装基板外観
検査装置()関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a mounted board appearance inspection apparatus () for inspecting mounting defects by detecting the shape, mounting position, etc. of components mounted on a printed board.

従来の技術 従来より、プリント基板上に実装された部品の実装不良
を検査する装置は、ライン上における実装不良の基板の
好適な検出手段として広く用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, devices for inspecting components mounted on printed circuit boards for defective mounting have been widely used as suitable means for detecting defective boards on a production line.

第6図は従来の実装基板外観検査装置の構成を示す説明
図、第7図は、従来の実装基板外観検査装置における走
査領域とプリント基板との位置関係を示す説明図である
。同図において、11はプリント基板、12はプリント
基板11上に実装された部品、703は、部品12が実
装された状態のプリント基板11の実装面の高さ分布を
測定する三次元座標計測部である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the configuration of a conventional mounted board appearance inspection apparatus, and FIG. 7 is an explanatory diagram showing the positional relationship between the scanning area and the printed circuit board in the conventional mounted board appearance inspection apparatus. In the figure, 11 is a printed circuit board, 12 is a component mounted on the printed circuit board 11, and 703 is a three-dimensional coordinate measurement unit that measures the height distribution of the mounting surface of the printed circuit board 11 with the component 12 mounted thereon. It is.

この3次元座標計測部703は、例えばレーザと受光素
子とを用い三角測量法の原理によって距離を測定する距
離センサ704と、この距離センサ704により得られ
た距離データに基づいて、部品12が実装されたプリン
ト基板11の実装面の高さ分布を算出する高さ分布計算
回路705とから概略構成されている。
This three-dimensional coordinate measurement unit 703 includes a distance sensor 704 that measures distance using the principle of triangulation using a laser and a light receiving element, and a component 12 that is mounted based on the distance data obtained by this distance sensor 704. The height distribution calculation circuit 705 calculates the height distribution of the mounted surface of the printed circuit board 11.

706は、部品12が正確に実装された状態における、
プリント基板11の実装面に関する高さ分布のデータが
格納されている基準高さ分布データ格納メモリ、707
は、三次元座標計測部703により検出されたプリント
基板11の実装面の高さ分布データと、基準高さデータ
格納メモリ706に格納されている基準高さ分布データ
との二乗誤差を算出する二乗誤差計算回路であり、減算
回路708及び二乗計算回路709とから概略構成され
ている。
706 shows the state in which the component 12 is accurately mounted.
Reference height distribution data storage memory 707 storing height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board 11
is a square error for calculating the square error between the height distribution data of the mounting surface of the printed circuit board 11 detected by the three-dimensional coordinate measuring unit 703 and the reference height distribution data stored in the reference height data storage memory 706. This is an error calculation circuit, and is roughly composed of a subtraction circuit 708 and a square calculation circuit 709.

710は、プリント基板11と同じ大きさのマスク領域
内の、プリント基板11上に実装される各部品12に対
応する位置に、複数の走査領域715.716.717
.718が設定されたマスクデータを格納しているマス
クデータ格納メモリである。
710 indicates a plurality of scanning areas 715, 716, and 717 at positions corresponding to each component 12 mounted on the printed circuit board 11 within a mask area of the same size as the printed circuit board 11.
.. 718 is a mask data storage memory storing set mask data.

この走査領域715.716.717.718は、その
外辺が各部品12の標準実装位置の外枠から位置ずれ許
容範囲寸法分だけ内方にずれて位置するように設定され
ており、許容寸法を越える部品12の位置ずれを検出す
るためのものである。
These scanning areas 715, 716, 717, and 718 are set so that their outer edges are shifted inward from the outer frame of the standard mounting position of each component 12 by the positional deviation tolerance range dimension. This is for detecting a positional shift of the component 12 exceeding .

711は、二乗誤差計算回路707により算出された二
乗誤差に、マスクデータ格納メモリ710に格納された
マスクデータによるマスクをかけて、各走査領域715
.716.717.718毎の二乗誤差を抽出すると共
に、抽出された二乗誤差を各走査領域715.716.
717.718毎に累積加算する累積加算回路である。
711 multiplies the square error calculated by the square error calculation circuit 707 with a mask using the mask data stored in the mask data storage memory 710 to calculate each scanning area 715.
.. 716.717.718, and the extracted squared errors are applied to each scanning area 715.716.716.
This is a cumulative addition circuit that performs cumulative addition every 717.718.

712は、累積加算回路711により各走査領域715
.716.717.718毎に累積加算された累積加算
値を累積加算数で割り算し、各走査領域715.716
.717.718毎の平均−乗誤差を算出する平均二乗
誤差計算回路である。
712, each scanning area 715 is
.. The cumulative addition value accumulated for every 716.717.718 is divided by the cumulative addition number, and each scanning area 715.716
.. This is a mean square error calculation circuit that calculates the mean square error for every 717.718.

713は、各走査領域715.716.717.718
毎の平均二乗誤差に対する基準しきい値が格納されてい
る基準しきい値格納メモリ、714は、上記平均二乗誤
差と基準しきい値とを比較してプリント基板11に対す
る部品12の実装状態の良否を判定する比較判定回路で
ある。
713 is each scanning area 715.716.717.718
A reference threshold storage memory 714 stores a reference threshold value for each mean square error, and compares the mean square error with the reference threshold value to determine whether the mounting state of the component 12 on the printed circuit board 11 is good or not. This is a comparison/judgment circuit that determines.

次に、上記従来例の動作について説明する。Next, the operation of the above conventional example will be explained.

まず、部品12が実装されたプリント基板11の実装面
に関する高さ分布を、三次元座標計測部703で計測す
る。
First, the three-dimensional coordinate measurement unit 703 measures the height distribution regarding the mounting surface of the printed circuit board 11 on which the component 12 is mounted.

この三次元座標計測部703による計測を具体的に説明
すると、距離センサ704からプリント基板11の実装
面までの距離、即ち、距離センサ704からプリント基
板11までの距離あるいは、距離センサ704から部品
12までの距離を距離センサ704から放射されるレー
ザにより測定し、二の測定データに基づいて高さ計算回
路7O5がプリント基板11の実装面に関する高さ分布
データを算出する。
To specifically explain the measurement by the three-dimensional coordinate measuring unit 703, the distance from the distance sensor 704 to the mounting surface of the printed circuit board 11, that is, the distance from the distance sensor 704 to the printed circuit board 11, or the distance from the distance sensor 704 to the component 12 The distance to the mounting surface of the printed circuit board 11 is measured by a laser emitted from the distance sensor 704, and the height calculation circuit 7O5 calculates height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board 11 based on the second measurement data.

三次元座標計測部703にて算出されたプリント基板1
1の実装面に関する高さ分布のデータは、二乗誤差計算
回路707に送られ、ここで、基準高さデータ格納メモ
リ706に格納されている基準高さ分布データとの二乗
誤差が算出される。
Printed circuit board 1 calculated by three-dimensional coordinate measurement unit 703
The height distribution data regarding the mounting surface of No. 1 is sent to the square error calculation circuit 707, where the square error with respect to the reference height distribution data stored in the reference height data storage memory 706 is calculated.

この二乗誤差計算回路707による二乗誤差の算出を具
体的に説明すると、三次元座標計測部703にて算出さ
れたプリント基板11の実装面に関する高さ分布データ
と、基準高さデータ格納メモリ706に格納されている
基準高さ分布データとの数値差が、減算回路708によ
り算出され、この減算回路708により算出された値が
二乗計算回路709にて二乗されて二乗誤差が算出され
る。
To specifically explain the calculation of the square error by the square error calculation circuit 707, the height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board 11 calculated by the three-dimensional coordinate measurement unit 703 and the reference height data storage memory 706 are stored. A numerical difference from the stored reference height distribution data is calculated by a subtraction circuit 708, and the value calculated by this subtraction circuit 708 is squared by a square calculation circuit 709 to calculate a squared error.

二乗誤差計算回路707にて算出された二乗誤差には、
マスクデータ格納メモリ710に格納されたマスクデー
タによるマスクがかけられ、これによって、走査領域7
15.716.717.718における二乗誤差のみが
抽出される。
The square error calculated by the square error calculation circuit 707 includes:
The scanning area 7 is masked by mask data stored in the mask data storage memory 710.
Only the squared error at 15.716.717.718 is extracted.

抽出された二乗誤差は、各走査領域715.716.7
17.718毎に分けて、累積加算回路711により各
々累積加算され、この累積加算値はさらに、平均二乗誤
差計算回路712により累積加算数で割り算されて、各
走査領域715.716.717.718毎の平均二乗
誤差が算出される。
The extracted squared error is calculated for each scanning area 715.716.7
The cumulative addition circuit 711 performs cumulative addition for each scan area of 17.718, and the cumulative addition value is further divided by the cumulative addition number by the mean square error calculation circuit 712 to obtain each scanning area 715.716.717.718. The mean squared error for each time is calculated.

さらに、各走査領域715.716.717.718毎
の平均二乗誤差は、比較判定回路714において、標準
しきい値格納メモリ713に格納されたしきい値と比較
され、これによって、プリント基板11に対する部品1
2の実装状態の良否が判定される。
Further, the mean square error for each scanning area 715, 716, 717, 718 is compared with the threshold value stored in the standard threshold storage memory 713 in the comparison/judgment circuit 714. Part 1
The quality of the mounting state of No. 2 is determined.

発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来の実装基板外装検査装置では、
基準高さ分布データ格納メモリ706に格納されている
基準高さデータと、三次元座標計測部703により得た
高さ分布データとを比較する際、例えばプリント基板1
1が反っていると、この反りによる高さ分布データの変
動を補正することができず、検査精度を向上させること
ができないという問題点があった。
Problems to be Solved by the Invention However, in the above-mentioned conventional mounted board exterior inspection apparatus,
When comparing the reference height data stored in the reference height distribution data storage memory 706 and the height distribution data obtained by the three-dimensional coordinate measurement unit 703, for example, the printed circuit board 1
1 is warped, there is a problem in that variations in height distribution data due to the warp cannot be corrected and inspection accuracy cannot be improved.

また、上記従来の実装基板外装検査装置では、部品12
の面上にのみ走査領域715.716.717.718
を設定するので、第7図に示すように、本来プリント基
板11の同図中破線で示される基準実装位置719に実
装されるべき部品12が、同図中実線で示すような回転
ずれを起こした位置?20に実装された場合、各走査領
域715.716.717.718が全て部品12の実
装位置?20上に臨むので、実装不良を検出することが
できないという問題点があった。
In addition, in the above-mentioned conventional mounted board exterior inspection device, the component 12
scan area 715.716.717.718 only on the plane of
As shown in FIG. 7, the component 12 that should originally be mounted on the standard mounting position 719 of the printed circuit board 11, indicated by the broken line in the figure, causes rotational deviation as indicated by the solid line in the figure. The position? 20, each scanning area 715, 716, 717, 718 are all the mounting positions of the component 12? 20, there was a problem in that mounting defects could not be detected.

さらに、三次元座標計測部703により得た高さ分布デ
ータにノイズが含まれていた場合、第8図<a)のよう
な実装状態の部品12及びプリント基板11の高さ分布
データが第8図(b)のようになり、よって、平均二乗
誤差計算回路712により算出される平均二乗誤差が大
きくなり、本来実装状態が良と判定されるべきものが不
良と判定されることがあるという問題点があった。
Furthermore, if the height distribution data obtained by the three-dimensional coordinate measurement unit 703 contains noise, the height distribution data of the component 12 and the printed circuit board 11 in the mounted state as shown in FIG. As shown in Figure (b), the mean square error calculated by the mean square error calculation circuit 712 becomes large, and the problem is that an item whose mounting condition should originally be determined to be good may be determined to be defective. There was a point.

本発明は上記問題点を解決するものであり、高さ分布デ
ータのノイズによる検査精度の劣化がなくプリント基板
の反りによる良否判定のミスがない、プリント基板に対
する部品の実装状態の良否を正確に判定することができ
る実装基板外観検査装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems, and accurately determines the quality of the mounting state of components on a printed circuit board without degrading inspection accuracy due to noise in height distribution data and without errors in determining pass/fail due to warpage of the printed circuit board. It is an object of the present invention to provide a mounted board appearance inspection device that can make judgments.

課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、部品が実装された
プリント基板を移動させる移動手段と、レーザ光源と、
このレーザ光源からのレーザ光をプリント基板の実装面
上に走査させるレーサ光走査手段と、レーザ光の走査に
よりプリント基板の実装面から反射して得られる散乱光
の光軸を変化させる散乱光反射手段と、この散乱光反射
手段からの散乱光に基づいてプリント基板の実装面に関
する位置信号を出力する位置検出手段と、この位置信号
によりプリント基板の実装面に関する高さ分布データを
演算する画像演算処理手段と、プリント基板の部品実装
位置に対応して設定される複数の走査範囲の位置データ
を格納する走査範囲位置データ格納手段と、この各走査
範囲内を移動する移動走査領域のデータを格納する移動
走査領域データ格納手段と、各移動走査領域の移動位置
に対応する高さ分布データに基づいてプリント基板の実
装面に対する部品の実装状態の良否を判定する判定処理
手段とを備える構成とした。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present invention provides a moving means for moving a printed circuit board on which components are mounted, a laser light source,
A laser beam scanning means that scans the laser beam from this laser light source onto the mounting surface of the printed circuit board, and a scattered light reflection that changes the optical axis of the scattered light obtained by being reflected from the mounting surface of the printed circuit board by scanning the laser beam. a position detecting means for outputting a position signal regarding the mounting surface of the printed circuit board based on the scattered light from the scattered light reflecting means; and an image calculation means for calculating height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board based on the position signal. a processing means, a scanning range position data storage means for storing positional data of a plurality of scanning ranges set corresponding to the component mounting position on the printed circuit board, and a scanning range position data storage means for storing data of a moving scanning region that moves within each scanning range. and a determination processing means for determining whether the mounting state of the component on the mounting surface of the printed circuit board is good or bad based on the height distribution data corresponding to the moving position of each moving scanning region. .

作用 本発明は上記構成により、高さ分布データのノイズによ
る検査精度の劣化がなくプリント基板の反りによる良否
判定のミスが、ない、プリント基板に対する部品の実装
状態の良否を正確に判定することができる。
Effect of the Invention With the above-described configuration, the present invention is capable of accurately determining the quality of the mounting state of components on the printed circuit board without degrading the inspection accuracy due to noise in the height distribution data, without making mistakes in determining pass/fail due to warping of the printed circuit board. can.

実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は、本発明の一実施例による実装基板外観検査装置の
概略斜視図である。
Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on the drawings. 1st
FIG. 1 is a schematic perspective view of a mounted board appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

第1図において、11はプリント基板、12はプリント
基板ll上に実装された部品、13はプリント基板11
を図中の矢印14方向に移動させる搬送手段、15はレ
ーザ光源、16はレーザ光源15からのレーザ光である
In FIG. 1, 11 is a printed circuit board, 12 is a component mounted on the printed circuit board 11, and 13 is a printed circuit board 11.
15 is a laser light source, and 16 is a laser beam from the laser light source 15.

17はポリゴンミラー 18はレーザ光16をポリゴン
ミラー17に導くための反射鏡、19は工θレンズ、2
0は反射ミラーであり、上記ポリゴンミラー17、反射
鏡18、及びfθレンズ19により、レーザ光源15か
らのレーザ光16をプリント基板11上に照射させてそ
の実装面を走査させるレーザ光走査手段Pを構成してい
る。
17 is a polygon mirror; 18 is a reflecting mirror for guiding the laser beam 16 to the polygon mirror 17; 19 is a mechanical θ lens;
Reference numeral 0 designates a reflecting mirror, and laser beam scanning means P uses the polygon mirror 17, the reflecting mirror 18, and the fθ lens 19 to irradiate a laser beam 16 from a laser light source 15 onto the printed circuit board 11 to scan the mounting surface thereof. It consists of

また、上記ポリゴンミラー17、fθレンズ19、及び
反射ミラー20により、プリント基板11の実装面に照
射されて反射したレーザ光16の散乱光の光軸を変化さ
せる散乱光反射手段Rを構成している。
Further, the polygon mirror 17, the fθ lens 19, and the reflection mirror 20 constitute a scattered light reflection means R that changes the optical axis of the scattered light of the laser beam 16 that is irradiated onto the mounting surface of the printed circuit board 11 and reflected. There is.

21は、散乱光反射手段Rにより光軸方向が変えられた
散乱光を集光する集光レンズ、22は、集光レンズ21
により集光された散乱光が入射され、これに基づいて位
置信号23を出力する位置検出素子であり、これら集光
レンズ21と位置検出素子22とにより位置検出手段T
を構成している。
21 is a condenser lens that condenses the scattered light whose optical axis direction has been changed by the scattered light reflection means R; 22 is a condenser lens 21
It is a position detection element that receives scattered light focused by the T and outputs a position signal 23 based on the incident light.
It consists of

30は、位置信号23から部品12の高さ分布データを
演算するための画像演算処理手段、4゜は、プリント基
板11上の部品12の実装状態の良否を判定する判定処
理手段である。
30 is an image calculation processing means for calculating height distribution data of the component 12 from the position signal 23, and 4° is a determination processing means for determining whether the mounting state of the component 12 on the printed circuit board 11 is good or bad.

また、5oは第3図(a)、(b)に示すように、プリ
ント基板11上の部品12の実装位置にあらかじめ設定
された走査範囲301.302.303の位置データを
格納する走査範囲位置データ格納手段、60は、上記走
査範囲301.302.303の範囲内で各々移動可能
に設定される移動走査領域307.308.309の大
きさに関するデータを格納する移動走査領域データ格納
手段である。
Further, as shown in FIGS. 3(a) and 3(b), 5o is a scanning range position in which position data of scanning ranges 301, 302, and 303 set in advance at the mounting position of the component 12 on the printed circuit board 11 is stored. The data storage means 60 is a moving scanning area data storing means for storing data regarding the sizes of the moving scanning areas 307, 308, and 309 that are each movably set within the scanning ranges 301, 302, and 303. .

上記画像演算処理手段30は第2図に示すように、位置
検出素子22から同期信号のタイミンクで出力される位
置信号23をアナロク7/デジタル変換するアナログ、
/′デジタルコンバータ31(以下、A/Dコンバータ
と記す)と、デジタル信号に変換された位置信号23に
基づいてプリント基板11の実装面に関する高さ分布デ
ータを演算する位置演算回路32と、この高さ分布デー
タを格納して判定処理手段40に出力する高さ分布デー
タ格納メモリ33とから構成されている。
As shown in FIG. 2, the image calculation processing means 30 is an analog converter that performs analog/digital conversion of the position signal 23 outputted from the position detecting element 22 at the timing of the synchronization signal.
/' A digital converter 31 (hereinafter referred to as A/D converter), a position calculation circuit 32 that calculates height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board 11 based on the position signal 23 converted to a digital signal, and The height distribution data storage memory 33 stores height distribution data and outputs it to the determination processing means 40.

また、上記判定処理手段40は第2図に示すように、移
動走査領域307.308.309を走査範囲301.
302.303の範囲内で各々移動させる移動走査領域
位置決定手段41と、移動走査領域307.308.3
09の移動範囲における高さ分布データを、高さ分布デ
ータ格納メモリ33から人力されるデータの中から取り
出して加算する加算回路42とを有している。
Further, as shown in FIG. 2, the determination processing means 40 converts the moving scanning area 307, 308, 309 into the scanning range 301.
302, 303, and 307, 308, 3.
The adding circuit 42 extracts the height distribution data in the movement range of 09 from among the manually inputted data from the height distribution data storage memory 33 and adds the data.

さらに上記判定処理手段40は、加算回路42の加算結
果に基づいて移動走査領域307.308.309の移
動範囲における、高さ分布データが最大となる位置を検
出する最大位置検出回路43と、最大位置検出回路43
の検出結果に基づいて実装状態の良否を判定する判定回
路44と、この判定回路44による判定の基準となるし
きい値を記憶するしきい値記憶手段45とを有している
Further, the determination processing means 40 includes a maximum position detection circuit 43 that detects the position where the height distribution data is maximum in the movement range of the movement scanning area 307, 308, 309 based on the addition result of the addition circuit 42; Position detection circuit 43
It has a determination circuit 44 that determines whether the mounting state is good or bad based on the detection result of , and threshold storage means 45 that stores a threshold value that is a reference for determination by this determination circuit 44 .

次に、上記実施例の動作について説明する。部品12が
実装されたプリント基板11を、搬送手段13の上に固
定して矢印14方向に移動させる。そして、レーザ光源
15からのレーザ光16を、3つの反射鏡を介して回転
しているポリゴンミラー17に導き、さらに、ポリゴン
ミラー17とfθレンズ19とによりプリント基板11
上に照射させる。これにより、プリント基板11は、レ
ーザ光16により上下方向に二次元的に全面走査される
Next, the operation of the above embodiment will be explained. The printed circuit board 11 on which the component 12 is mounted is fixed on the transport means 13 and moved in the direction of the arrow 14. Then, the laser beam 16 from the laser light source 15 is guided to the rotating polygon mirror 17 via three reflecting mirrors, and is further guided to the printed circuit board 11 by the polygon mirror 17 and the fθ lens 19.
Irradiate the top. Thereby, the entire surface of the printed circuit board 11 is scanned two-dimensionally in the vertical direction by the laser beam 16.

レーザ光16の上下方向の走査によりプリント基板ll
上から反射されてくる散乱光を、プリント基板11とf
θレンズ19との間に設けた反射ミラー20により反射
させ、fθレンズ19とポリゴンミラー17とを介して
、さらに集光レンズ21を通して位置検出素子22上に
集光する。位置検出素子22から出力された位置信号2
3は、画像演算処理手段30に人力される。
The printed circuit board ll is scanned in the vertical direction by the laser beam 16.
The scattered light reflected from above is transferred to the printed circuit board 11 and f.
The light is reflected by a reflection mirror 20 provided between the θ lens 19 and is focused on the position detection element 22 via the fθ lens 19 and the polygon mirror 17, and then through the condenser lens 21. Position signal 2 output from position detection element 22
3 is manually input to the image calculation processing means 30.

画像演算処理手段30では、同期信号のタイミングで入
力された位置信号23をプリント基板11及びプリント
基板11上に実装された部品12の高さ分布データに変
換する演算を行い、実測高さ分布データを判定処理手段
40に出力し、このような動作をプリント基板11上の
全面について行う。
The image calculation processing means 30 performs calculations to convert the position signal 23 input at the timing of the synchronization signal into height distribution data of the printed circuit board 11 and the components 12 mounted on the printed circuit board 11, and converts the measured height distribution data into actual height distribution data. is output to the determination processing means 40, and such an operation is performed on the entire surface of the printed circuit board 11.

次に、画像演算処理手段30と判定処理手段40との動
作について、第2図を用いて詳説する。
Next, the operations of the image calculation processing means 30 and the determination processing means 40 will be explained in detail using FIG. 2.

画像演算処理手段30は、位置検出素子22からの位置
信号23をA/Dコンバータ31でデジタル信号に変換
し、このデジタル信号を位置演算回路32に入力する。
The image calculation processing means 30 converts the position signal 23 from the position detection element 22 into a digital signal using the A/D converter 31, and inputs this digital signal to the position calculation circuit 32.

本実施例では、位置検出素子22としてPSD(Po5
ition−8ensitive Detectors
 ;半導体装置検出素子)を用いており、PSDに入射
する反射光の入射位置は、PSDの両端電極に流れる電
流が各電極間との距離に反比例するものを用いている。
In this embodiment, the position detection element 22 is a PSD (Po5
ition-8ensitive Detectors
; semiconductor device detection element), and the incident position of the reflected light incident on the PSD is such that the current flowing through the electrodes at both ends of the PSD is inversely proportional to the distance between each electrode.

位置演算回路32では、デジタル信号に変換されたPS
Dの画電極からの電流I】及びI2を次式(’I)を用
いて演算し、高さデータを求める。
In the position calculation circuit 32, the PS converted into a digital signal is
Currents I] and I2 from the picture electrode of D are calculated using the following equation ('I) to obtain height data.

高さデータ=K・(II−12)/(11+12)(但
し、Kは正規化するための係数)・・・(I)このよう
にして得られた高さ分布データは、−旦測定高さデータ
格納メモリ33に格納され、判定処理手段40に出力さ
れる。
Height data = K・(II-12)/(11+12) (where K is a coefficient for normalization)... (I) The height distribution data obtained in this way is The data is stored in the data storage memory 33 and output to the determination processing means 40.

判定処理手段40では、走査範囲位置データ格納手段5
0に格納された走査範囲301.302.303内にお
いて、移動走査領域データ格納手段60に格納された移
動走査領域307.308.309を、移動走査領域位
置決定手段41で決定された位置で移動させる。
In the determination processing means 40, the scanning range position data storage means 5
Within the scanning ranges 301, 302, and 303 stored in 0, the moving scanning areas 307, 308, and 309 stored in the moving scanning area data storage means 60 are moved to the position determined by the moving scanning area position determining means 41. let

すると、加算回路42が上記移動位置に対応する位置の
高さ分布データを、測定データ格納メモリ33からの入
力されるデータの中から取り出し、各位置毎の高さ分布
データの和を求め、その結果を高さ分布情報信号として
最大位置検出回路43に出力する。
Then, the adder circuit 42 takes out the height distribution data of the position corresponding to the above-mentioned movement position from among the input data from the measurement data storage memory 33, calculates the sum of the height distribution data for each position, and calculates the sum of the height distribution data for each position. The result is output to the maximum position detection circuit 43 as a height distribution information signal.

これに伴って、最大位置検出回路43では、加算回路4
2からの高さ分布情報信号に基づいて高さ分布データの
和が最大となる位置を検出して位置情報信号を判定回路
44に出力し、判定回路44では、最大位置検出回路4
3からの位置情報信号としきい値記憶手段45に記憶し
であるしきい値とを比較して、入力さ□れた位置情報信
号がしきい値の範囲内にあるかどうかを判定して、部品
12のプリント基板11に対する実装状態を判定する。
Along with this, in the maximum position detection circuit 43, the addition circuit 4
Based on the height distribution information signal from 2, the position where the sum of the height distribution data is maximum is detected and the position information signal is output to the determination circuit 44.
Compare the position information signal from 3 with a threshold value stored in the threshold storage means 45 to determine whether the input position information signal is within the range of the threshold value, The mounting state of the component 12 on the printed circuit board 11 is determined.

ここで、走査範囲301.302.303の位置と部品
12との関係を、第3図(a)、(b)に具体的に示す
。第3図(a)は良い実装状態、第3図(b)は不良実
装状態を示したものである。
Here, the relationship between the positions of the scanning ranges 301, 302, and 303 and the component 12 is specifically shown in FIGS. 3(a) and 3(b). FIG. 3(a) shows a good mounting state, and FIG. 3(b) shows a defective mounting state.

第3図(a)、(a)において304は、プリント基板
11を平面的に見た際の、部品12の正規の実装位置を
示しており、このプリント基板11に対しては図中縦方
向に1本の走査範囲301が、また、図中横方向に2本
の走査範囲302.303が、部品12の実装位置ずれ
を考慮して、それぞれ部品12の正規の実装位置304
の縦幅、横幅より長めに設定されている。
In FIGS. 3(a) and 3(a), 304 indicates the normal mounting position of the component 12 when the printed circuit board 11 is viewed in plan, and the vertical direction in the figure is 304 with respect to the printed circuit board 11. One scanning range 301 in the horizontal direction in the figure, and two scanning ranges 302 and 303 in the horizontal direction in the figure, taking into account the mounting position deviation of the component 12, respectively, the normal mounting position 304 of the component 12.
The height and width are set to be longer than the width.

さらに、第3図(])、(b)における305.306
は、それぞれ実際にプリント基板11上に実装された部
品12の位置を示しており、実装位置305は図中左上
に実装位置がずれた状態を、実装位置306は回転ずれ
を起こした状態を各々示している。
Furthermore, 305.306 in Figure 3 (]) and (b)
indicate the position of the component 12 actually mounted on the printed circuit board 11, and the mounting position 305 indicates the state where the mounting position is shifted to the upper left in the figure, and the mounting position 306 indicates the state where the rotational shift has occurred. It shows.

本実施例における走査範囲位置データ格納手段50では
、各走査範囲301.302.303の固有値をA 1
 、A 2、A3とし、各固有値A1、A2、A 3 
ニ各すの走査範囲301.302.3o3の、第3図(
a)、(b)中圧上と右下とのコーナーのXY座標を対
応させた走査範囲位置データを格納している。
In the scanning range position data storage means 50 in this embodiment, the unique value of each scanning range 301, 302, 303 is A 1
, A 2, A3, and each eigenvalue A1, A2, A 3
Fig. 3 (
a), (b) Stores scanning range position data in which the XY coordinates of the upper and lower right corners of the medium pressure correspond to each other.

一方、本実施例における移動走査領域データ格納手段6
0では、移動走査領域307.308.309の大きさ
、即ち、移動走査領域307については図中Y方向の長
さ、移動走査領域308.309については図中X方向
の長さが、それぞれ格納されている。
On the other hand, the moving scanning area data storage means 6 in this embodiment
0, the size of the moving scanning area 307, 308, 309, that is, the length of the moving scanning area 307 in the Y direction in the figure, and the length of the moving scanning area 308, 309 in the X direction in the figure are stored, respectively. has been done.

上記設定による移動走査領域307.308.309を
、走査範囲301.302.303の範囲内で移動させ
た場合、加算回路42では、測定高さ分布データ格納メ
モリ33から入力された高さ分布データの中から、対応
する位置の高さ分布データを取り出して加算する。
When the moving scanning area 307.308.309 according to the above settings is moved within the scanning range 301.302.303, the adding circuit 42 uses the height distribution data input from the measured height distribution data storage memory 33. The height distribution data of the corresponding position is extracted from among and added.

例えば、走査範囲302内を、第3図(a)、(b)中
布から左に向けて移動走査領域308を移動させ、これ
に伴って加算回路42で算出された値をグラフに示すと
、第4図のようになる。
For example, if the moving scanning area 308 is moved to the left from the inner cloth in FIGS. 3(a) and 3(b) within the scanning range 302, and the values calculated by the adding circuit 42 are shown in a graph. , as shown in Figure 4.

即ち、移動走査領域308が部品12から外れた位置に
ある場合、加算回路42で加算されるデータの和はプリ
ント基板11の高さの和となり、移動走査領域308が
移動して部品12に臨むと加算回路42で加算されるデ
ータの和が増加する。
That is, when the movable scanning area 308 is located away from the component 12, the sum of the data added by the adding circuit 42 becomes the sum of the heights of the printed circuit board 11, and the movable scanning area 308 moves to face the component 12. The sum of the data added by the adder circuit 42 increases.

例えば移動走査領域308の大きさを、第3図(a)中
の部品12の横幅と同一とすると、移動走査領域308
が部品12の直上に臨んだときに、加算回路42で加算
されるデータの和が最大となり、この位置を最大位置検
出回路43が検出する。
For example, if the size of the moving scanning area 308 is the same as the width of the component 12 in FIG. 3(a), then the moving scanning area 308
When the position is directly above the component 12, the sum of the data added by the adding circuit 42 becomes maximum, and the maximum position detection circuit 43 detects this position.

このため第4図に示すように、部品12が正規の実装位
置304に実装されている場合の、加算回路42で加算
されるデータの和が最大となる位置はB1、第3図(a
)に示す実際の実装位置305に部品12が実装されて
いる場合はB2、第3図(b)に示す実際の実装位置3
06に部品12が実装されている場合はB3として検出
される。 しきい値記憶手段45には、第4図のに1、
K2で示す部品12の実装位置ずれの許容範囲の値を示
すしきい値が記憶されており、これに基づいて判定手段
44が、上述の如く検出された位置B1、B2、B3か
に1とに2との範囲内に納まっているか否かを判定する
Therefore, as shown in FIG. 4, when the component 12 is mounted at the regular mounting position 304, the position where the sum of the data added by the adding circuit 42 is maximum is B1, as shown in FIG.
) if the component 12 is mounted at the actual mounting position 305, B2, and the actual mounting position 3 shown in FIG. 3(b).
If component 12 is mounted on 06, it is detected as B3. In the threshold value storage means 45, 1 in FIG.
A threshold value indicating the permissible range of mounting position deviation of the component 12 indicated by K2 is stored, and based on this, the determining means 44 determines whether the positions B1, B2, and B3 detected as described above are 1 or 1. It is determined whether the value is within the range of 2 and .

これと同様の動作を走査範囲301.303についても
行う二とにより、部品12の位置ずれ、回転ずれを検出
することができる。この場合、仮に前記位置信号23に
ノイズが含まれていたり、プリント基板11に反りがあ
る場合にも、加算回路42で加算されるデータの和が最
大となる位置に影響が出ることはなく、よって、部品1
2の実装位置の検出、及び、実装状態の良否の検出を正
確に行うことができる。
By performing the same operation for the scanning ranges 301 and 303, positional deviation and rotational deviation of the component 12 can be detected. In this case, even if the position signal 23 contains noise or the printed circuit board 11 is warped, the position where the sum of data added by the adding circuit 42 is maximum will not be affected. Therefore, part 1
2, the mounting position and the quality of the mounting state can be accurately detected.

尚、上記実施例においては個々の走査範囲301.30
2.303毎に部品12の実装状態の良否の判定を行っ
たが、例えば、第5図に示すように回転ずれを起こして
実装された部品12に対する、図中横方向の走査範囲3
02.303をグループ化すれば、正規の実装位置30
4に対する実際の実装位置の回転角θ】を求めることが
できる。
In addition, in the above embodiment, the individual scanning ranges 301.30
The quality of the mounting state of the component 12 was determined every 2.303 seconds. For example, as shown in FIG.
If 02.303 is grouped, the regular mounting position 30
The rotation angle θ] of the actual mounting position with respect to 4 can be determined.

この場合は、上記実施例で示した動作で求めた、各走査
範囲302.303内における部品12の図中横方向の
位置を示すX座標値X】、xlと、走査範囲302.3
03相互間の距離yとから次式により求めることができ
、 tanθ1= (xl−xlりly 求めた回転角θ1の大きさによって、実装された部品1
2の位置ずれの度合を求め、これを基に部品12の実装
状態の良否を判定することができる。
In this case, the X coordinate values X],
03 can be determined from the distance y from the following formula, tan θ1 = (xl - xl ly) The mounted component 1
2, and based on this, it is possible to determine whether the mounting state of the component 12 is good or bad.

また、上記実施例では走査範囲301.302.303
の範囲内で移動走査領域30?、308.309を移動
させ、移動位置における高さ分布データの和が最大とな
る位置としきい値とを比較して判定を行ったが、第4図
中に示すように、各走査範囲301.302.303内
の高さ分布データの和に関する最大値S1と最小値S2
との差を求め、これにより、部品12の2枚重ねや欠品
を検出するようにしてもよい。
In addition, in the above embodiment, the scanning range 301.302.303
Moving scanning area 30 within the range of ? , 308, 309 are moved and the position where the sum of the height distribution data at the moving position is maximum is compared with the threshold value to make the determination.As shown in FIG. 4, each scanning range 301. Maximum value S1 and minimum value S2 regarding the sum of height distribution data in 302.303
It is also possible to determine the difference between the parts 12 and the parts 12, and thereby detect double stacking of parts 12 or missing parts.

この場合、部品12の2枚重ねが生じているときには最
大値S]と最小値S2との差が大きくなり、部品12の
欠品が生じているときには最大値S1と最小値S2との
差が小さくなる。
In this case, when two parts 12 are stacked, the difference between the maximum value S] and the minimum value S2 becomes large, and when the part 12 is out of stock, the difference between the maximum value S1 and the minimum value S2 becomes large. becomes smaller.

発明の効果 上述の如く本発明によれば、部品が実装されたプリント
基板を移動させる移動手段と、レーザ光源と、このレー
ザ光源からのレーザ光をプリント基板の実装面上に走査
させるレーザ光走査手段と、レーザ光の走査によりプリ
ント基板の実装面から反射して得られる散乱光の光軸を
変化させる散乱光反射手段と、この散乱光反射手段から
の散乱光に基づいてプリント基板の実装面に関する位置
信号を出力する位置検出手段と、この位置信号によりプ
リント基板の実装面に関する高さ分布データを演算する
画像演算処理手段と、プリント基板の部品実装位置に対
応して設定される複数の走査範囲の位置データを格納す
る走査範囲位置データ格納手段と、この各走査範囲内を
移動する移動走査領域のデータを格納する移動走査領域
データ格納手段と、各移動走査領域の移動位置に対応す
る高さ分布データに基づいてプリント基板の実装面に対
する部品の実装状態の良否を判定する判定処理手段とを
備える構成とした。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, there is provided a moving means for moving a printed circuit board on which components are mounted, a laser light source, and a laser beam scanning system for scanning the laser light from the laser light source on the mounting surface of the printed circuit board. means, a scattered light reflecting means for changing the optical axis of the scattered light obtained by being reflected from the mounting surface of the printed circuit board by scanning a laser beam, and a scattering light reflecting means for changing the optical axis of the scattered light obtained by being reflected from the mounting surface of the printed circuit board by scanning the laser beam; a position detecting means for outputting a position signal regarding the printed circuit board, an image calculation processing means for calculating height distribution data regarding the mounting surface of the printed circuit board based on the position signal, and a plurality of scans set corresponding to the component mounting position of the printed circuit board. scanning range position data storage means for storing positional data of the range; moving scanning area data storage means for storing data of moving scanning areas that move within each scanning range; and a determination processing means for determining the quality of the mounting state of the component on the mounting surface of the printed circuit board based on the density distribution data.

このため、高さ分布データのノイズによる検査精度の劣
化がなくプリント基板の反りによる良否判定のミスがな
い、プリント基板に対する部品の実装状態の良否を正確
に判定することができる。
Therefore, there is no deterioration in inspection accuracy due to noise in the height distribution data, there is no error in quality determination due to warping of the printed circuit board, and it is possible to accurately determine the quality of the mounting state of components on the printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の一実施例による実装基板外観検査装
置の概略斜視図、第2図は、第1図の要部詳細ブロック
図、第3図(a)、(b)は、第1図の実装基板外観検
査装置における走査範囲と部品実装位置との関係を示す
説明図、第4図は、移動走査領域を移動させた場合の高
さ分布データの和の変化を示す説明図、第5図は、本発
明の他の実施例における位置ずれ検出動作を説明する説
明図、第6図は、従来の実装基板外観検査装置の概略斜
視図、第7図は、第6図の実装基板外観検査装置におけ
るマスク領域及び走査領域と部品実装位置との関係を示
す説明図、第8図(a)はプリント基板に実装された部
品の実装状態を示す説明図、第8図(b)は、第8図(
a)に示すプリント基板の実装面を走査して得られる、
ノイズを含んだ高さ分布データを示す説明図である。 11・・・プリント基板、12・・部品、13・・・搬
送手段、15・・・レーザ光源、16・・・レーザ光、
23・・・位置信号、30・・・画像演算処理手段、4
0・・・判定処理手段、50・・・走査範囲位置データ
格納手段、60・・・移動走査領域データ格納手段、3
゜1.302.303・・・走査範囲、307.3゜8
.309・・・移動走査領域、P・レーザ光走査手段、
R・・・散乱光反射手段、T・・・位置検出手段。 プ1ルト水板 し・−什光千1手段 散乱光反射手段徒 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝はが1名第 図 第 図 サブマスク中Jしイヴ! 第 図 第 図 第 図 りθ3三戻九斤標計測部
1 is a schematic perspective view of a mounted board appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed block diagram of the main parts of FIG. 1, and FIGS. 3(a) and 3(b) are FIG. 1 is an explanatory diagram showing the relationship between the scanning range and the component mounting position in the mounted board appearance inspection apparatus; FIG. 4 is an explanatory diagram showing the change in the sum of height distribution data when the movable scanning area is moved; FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating a positional deviation detection operation in another embodiment of the present invention, FIG. 6 is a schematic perspective view of a conventional mounted board appearance inspection apparatus, and FIG. 7 is a mounting board shown in FIG. 6. FIG. 8(a) is an explanatory diagram showing the relationship between the mask area, the scanning area, and the component mounting position in the board appearance inspection apparatus, and FIG. 8(b) is an explanatory diagram showing the mounting state of components mounted on the printed circuit board. is shown in Figure 8 (
Obtained by scanning the mounting surface of the printed circuit board shown in a),
FIG. 2 is an explanatory diagram showing height distribution data including noise. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Printed circuit board, 12... Parts, 13... Transport means, 15... Laser light source, 16... Laser light,
23... Position signal, 30... Image calculation processing means, 4
0... Determination processing means, 50... Scanning range position data storage means, 60... Moving scanning area data storage means, 3
゜1.302.303...Scanning range, 307.3゜8
.. 309...Moving scanning area, P/laser beam scanning means,
R: Scattered light reflecting means, T: Position detecting means. 1 Prut Water Board - 1000 Lights 1 Thousand 1 Means Scattered Light Reflective Means Name of Attorney Patent Attorney Shige Awano Takaha 1 Figure Figure Figure Submask J Shi Eve! Fig. Fig. Fig. Fig. θ3 Three-return nine-point measuring section

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  部品が実装されたプリント基板を移動させる移動手段
と、レーザ光源と、このレーザ光源からのレーザ光をプ
リント基板の実装面上に走査させるレーザ光走査手段と
、レーザ光の走査によりプリント基板の実装面から反射
して得られる散乱光の光軸を変化させる散乱光反射手段
と、この散乱光反射手段からの散乱光に基づいてプリン
ト基板の実装面に関する位置信号を出力する位置検出手
段と、この位置信号によりプリント基板の実装面に関す
る高さ分布データを演算する画像演算処理手段と、プリ
ント基板の部品実装位置に対応して設定される複数の走
査範囲の位置データを格納する走査範囲位置データ格納
手段と、この各走査範囲内を移動する移動走査領域のデ
ータを格納する移動走査領域データ格納手段と、各移動
走査領域の移動位置に対応する高さ分布データに基づい
てプリント基板の実装面に対する部品の実装状態の良否
を判定する判定処理手段とを備えた実装基板外観検査装
置。
A moving means for moving a printed circuit board on which components are mounted, a laser light source, a laser beam scanning means for scanning a mounting surface of the printed circuit board with laser light from the laser light source, and mounting of the printed circuit board by scanning the laser light. a scattered light reflecting means for changing the optical axis of the scattered light obtained by reflection from the surface; a position detecting means for outputting a position signal regarding the mounting surface of the printed circuit board based on the scattered light from the scattered light reflecting means; Image calculation processing means that calculates height distribution data on the mounting surface of the printed circuit board based on position signals, and scanning range position data storage that stores position data of a plurality of scanning ranges set corresponding to component mounting positions on the printed circuit board. a moving scanning area data storage means for storing data of a moving scanning area that moves within each scanning range; A mounted board appearance inspection device comprising a determination processing means for determining whether the mounting state of components is good or bad.
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