JPH0487767A - polishing equipment - Google Patents

polishing equipment

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Publication number
JPH0487767A
JPH0487767A JP2200353A JP20035390A JPH0487767A JP H0487767 A JPH0487767 A JP H0487767A JP 2200353 A JP2200353 A JP 2200353A JP 20035390 A JP20035390 A JP 20035390A JP H0487767 A JPH0487767 A JP H0487767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier plate
plate
surface plate
silicon wafer
shaft
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2200353A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichiro Takemura
武村 真一郎
Yukio Fujiwara
藤原 由岐雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP2200353A priority Critical patent/JPH0487767A/en
Publication of JPH0487767A publication Critical patent/JPH0487767A/en
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、下面に被研磨材が固定されたキャリアプレー
トをこのキャリアプレートの下方に設けられた定盤上に
押圧した状態で上記被研磨材を研磨する研磨装置に関す
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention provides a method for holding a carrier plate on which a material to be polished is fixed on the lower surface of the carrier plate while pressing the material to be polished onto a surface plate provided below the carrier plate. The present invention relates to a polishing device for polishing materials.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、IC,LSIなどの半導体素子の基板材料とし
ては、シリコンウェーノーが用いられている。そして、
このシリコンウェーノ\は、その表面か鏡面研磨されて
いる。
Generally, silicon wafer is used as a substrate material for semiconductor devices such as ICs and LSIs. and,
The surface of this silicon waeno is mirror polished.

従来、このようなシリコンウェーハの研磨装置としては
、第5図に示すようなものが知られている。
Conventionally, as such a silicon wafer polishing apparatus, one shown in FIG. 5 is known.

この図において、符号lは定盤であり、2はキャリアプ
レート、3はキャリアプレートの上部に配置されたマウ
ントヘッドである。
In this figure, reference numeral 1 is a surface plate, 2 is a carrier plate, and 3 is a mount head disposed on the upper part of the carrier plate.

上記定盤1は、上面に研磨バッドが装着された平面視し
て円形の回転板である。
The surface plate 1 is a rotating plate that is circular in plan view and has a polishing pad attached to its upper surface.

上記キャリアプレート2は、セラミックスやガラス材料
からなる円板であり、その両面が研磨されて平坦な面と
されている。このキャリアプレート2の片面には、第6
図に示すように、複数枚(この図では4枚)のシリコン
ウェーハ4が平面視して等間隔な位置に固定されている
。このシリコンウェーハ4をキャリアプレート2へ固定
する方法としては、シリコンウェーハ4の片面にワック
スを塗布することにより、シリコンウェーハ4をキャリ
アプレート2の片面へ貼着するワックス法と、真空吸着
、水貼り等の方法により接着するワlクスレス法とがあ
る。これらの方法によりシリコンウェーハ4が片面に固
定されたキャリアプレート2は、そのシリコンウェーハ
4が固定されている面を下方に向けた状態で定盤1上に
載置されている。
The carrier plate 2 is a circular plate made of ceramic or glass material, and both surfaces thereof are polished to have a flat surface. On one side of this carrier plate 2, a sixth
As shown in the figure, a plurality of (four in this figure) silicon wafers 4 are fixed at equally spaced positions when viewed from above. Methods for fixing this silicon wafer 4 to the carrier plate 2 include a wax method in which the silicon wafer 4 is attached to one side of the carrier plate 2 by applying wax to one side of the silicon wafer 4, a vacuum adsorption method, and a water bonding method. There is a waxless method in which bonding is performed using methods such as the following. The carrier plate 2, on which the silicon wafer 4 is fixed by these methods, is placed on the surface plate 1 with the surface on which the silicon wafer 4 is fixed facing downward.

定盤1上に載置されているキャリアプレート2は、一つ
の定盤1上に複数個配置されている。これらのキャリア
プレート2は、平面視して周方向へ等間隔に位置してい
る。このキャリアプレート2は、その上部がマウントヘ
ッド3に嵌合され、その上面がマウントヘッド3の内平
面と密着している。
A plurality of carrier plates 2 placed on the surface plate 1 are arranged on one surface plate 1. These carrier plates 2 are positioned at equal intervals in the circumferential direction when viewed from above. The upper part of the carrier plate 2 is fitted into the mount head 3, and the upper surface is in close contact with the inner surface of the mount head 3.

マウントへラド3は、その上部の中央に加圧軸5が連結
され、この加圧軸5に対して首振り自在にかつ回転自在
とされている。
The pressure shaft 5 is connected to the center of the upper part of the mount helad 3, and the pressure shaft 5 is swingable and rotatable with respect to the pressure shaft 5.

上記のような構成の研磨装置を用いてシリコンウェーハ
4を研磨するには、まず、定盤1上にフロイダルシリカ
のアルカリ性懸濁液などに研磨砥粒を分散させる。この
ようにした定盤1上に、シリコンウェーハ4が固定され
たキャリアフレート2を、シリコンウェーハ4が固定さ
れている面を下方に向けた状態で載置する。そして、こ
のキャリアプレート2の上方に配置されているマウント
ヘット3をキャリアプレート2の上部に装着する。
To polish the silicon wafer 4 using the polishing apparatus configured as described above, first, polishing abrasive grains are dispersed in an alkaline suspension of floidal silica or the like on the surface plate 1. The carrier plate 2 to which the silicon wafer 4 is fixed is placed on the surface plate 1 thus constructed, with the surface to which the silicon wafer 4 is fixed facing downward. Then, the mount head 3 disposed above the carrier plate 2 is attached to the upper part of the carrier plate 2.

この後、空気圧ンリンタ、油圧ンリンダ等を用いて、マ
ウントヘッド3の上部に連結されている加圧軸5を下方
に押圧することにより、シリコンウェーハ4を定盤1の
上面に押圧する。このような状態で定盤1を回転させる
。この場合、この定盤1とシリコンウェーハ4との接触
面における相対速度は、そのシリコンウェーハ4が定盤
1の外側において接触している場合に、より大きくなる
ので、同一のキャリアプレート2に固定されているシリ
コンウェーハ4のうち、定盤1と外側で接触しているシ
リコンウェーハ4が定盤1の回転に引きずられることに
より、キャリアプレート2がその上部の装着されている
マウントヘッド3と共に定盤1と同一方向に回転する。
Thereafter, the silicon wafer 4 is pressed onto the upper surface of the surface plate 1 by pressing the pressure shaft 5 connected to the upper part of the mount head 3 downward using a pneumatic printer, a hydraulic cylinder, or the like. The surface plate 1 is rotated in this state. In this case, the relative speed at the contact surface between the surface plate 1 and the silicon wafer 4 becomes larger when the silicon wafer 4 is in contact with the surface plate 1 outside the surface plate 1, so it is fixed to the same carrier plate 2. Among the silicon wafers 4 that are being held, the silicon wafer 4 that is in contact with the surface plate 1 on the outside is dragged by the rotation of the surface plate 1, and the carrier plate 2 is fixed together with the mount head 3 mounted on the upper part of the silicon wafer 4. Rotates in the same direction as board 1.

このようにして、シリコンウェーハ4の下面が、定盤1
の上面に分散された研磨砥粒により研磨される。
In this way, the bottom surface of the silicon wafer 4 is placed on the surface plate 1.
Polished by abrasive grains dispersed on the top surface of the

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところで、上記従来の研磨装置としては、コ字状−の装
置本体の内面下部に下定盤が、かつ内面上部に上定盤が
それぞれ設けられ、この上定盤がシリンダ装置によって
下降して下定盤との間に7リコンウエーハを挾み込む構
造のもの(例えば、実公昭60−21174号参照)、
あるいは、下定盤上において上定盤がその一端側を支点
として上下に回動自在に設けられた構造のものが知られ
ている。しかしながら、これらの構造の研磨装置にあっ
ては、上定盤の一端側が他端側に比べて強く支持されて
いるため、上定盤を下定盤に押し付けた場合に、押圧力
に片寄りが生じ、全面を均一に抑圧できないという問題
がある。
By the way, in the conventional polishing apparatus described above, a lower surface plate is provided at the lower part of the inner surface of the U-shaped apparatus body, and an upper surface plate is provided at the upper part of the inner surface, and this upper surface plate is lowered by a cylinder device to form the lower surface plate. (For example, see Utility Model Publication No. 60-21174).
Alternatively, a structure is known in which an upper surface plate is provided on a lower surface plate so as to be rotatable up and down using one end thereof as a fulcrum. However, in polishing devices with these structures, one end of the upper surface plate is supported more strongly than the other end, so when the upper surface plate is pressed against the lower surface plate, the pressing force is biased. There is a problem that the entire surface cannot be uniformly suppressed.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、装置上部全体が昇降することにより、
押圧力を均一にすることができ、かつ研磨精度の向上を
図ることができる研磨装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to move the entire upper part of the device up and down.
It is an object of the present invention to provide a polishing device that can make pressing force uniform and improve polishing accuracy.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成するために、本発明の研磨装置は、キャ
リアプレートを支持する支持部材の両端に、この支持部
材を上下に移動させる昇降機構かそれぞれ設けられたも
のである。
In order to achieve the above object, the polishing apparatus of the present invention is such that a lifting mechanism for moving the support member up and down is provided at both ends of a support member that supports a carrier plate.

〔作用〕[Effect]

本発明の研磨装置にあっては、キャリアプレートを支持
する支持部材の両端にそれぞれ設けた昇降機構によって
、支持部材を上下に円滑に移動する。
In the polishing apparatus of the present invention, the support member that supports the carrier plate is smoothly moved up and down by the elevating mechanisms provided at both ends of the support member.

〔実施例〕〔Example〕

以下、第1図ないし第4図に基づいて本発明の一実施例
を説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 4.

これらの図において符号11は、下定盤を備えた装置本
体であり、この装置本体11の上方には、キャリアプレ
ートを支持して押圧する上蓋部(支持部材)12が昇降
自在に設けられている。すなわち、上記装置本体11の
一側にはブレーキ付モータ13が水平設置されており、
このブレーキ付モータ13の回転軸にはスクリュージヤ
ツキ14が連結されている。また、このスクリュージヤ
ツキ14のスクリュー軸15の上端には、取付部材16
を介して上蓋部12の一側部が取付けられている。そし
て、上記スクリュージヤツキ14の水平軸にはへベルキ
ャホノクス17か連結されており、このベベルギヤボッ
クスI7の垂直軸にはベベルギヤホックス18か連結さ
れている。さらに、上記ベベルギヤボックス18の水平
軸は、上記装置本体11を貫通してベベルギヤボックス
19に連結されており、このベベルギヤボックス19の
垂直軸にはベベルギヤボックス20が連結されている。
In these figures, reference numeral 11 is a device main body equipped with a lower surface plate, and above the device main body 11, an upper lid portion (supporting member) 12 that supports and presses the carrier plate is provided so as to be able to rise and fall freely. . That is, a motor with a brake 13 is installed horizontally on one side of the device main body 11,
A screw jack 14 is connected to the rotating shaft of this motor 13 with a brake. Further, a mounting member 16 is attached to the upper end of the screw shaft 15 of the screw jack 14.
One side portion of the upper lid portion 12 is attached via. A hevel gear hook 17 is connected to the horizontal shaft of the screw jack 14, and a bevel gear hook 18 is connected to the vertical shaft of the bevel gear box I7. Furthermore, the horizontal shaft of the bevel gear box 18 passes through the device main body 11 and is connected to a bevel gear box 19, and the vertical shaft of this bevel gear box 19 is connected to a bevel gear box 20.

そして、ベベルギヤボックス20の水平軸には、スクリ
ュージヤツキ21が連結されており、このスクリュージ
ヤツキ21は、上記装置本体11の他側に設置されてい
ると共に、スクリュージヤツキ21のスクリュー軸22
の上端には、取付部材23を介して上蓋部12の他側部
が取付けられている。さらにまた、装置本体11の両側
部には、それぞれ一対ずつのガイド部24か取付けられ
ており、これらのガイド部24にはそれぞれガイド軸2
5が昇降自在に装着されている。そして、上記各ガイド
軸25の上端には、取付部材26を介して上蓋部12が
取付けられている。なお、図中符号27は、各スクリュ
ー軸15.22及びガイド軸25を被覆している蛇腹状
のカバーである。
A screw jack 21 is connected to the horizontal shaft of the bevel gear box 20, and this screw jack 21 is installed on the other side of the device main body 11, and the screw shaft 22 of the screw jack 21
The other side portion of the upper lid portion 12 is attached to the upper end of the upper lid portion 12 via an attachment member 23 . Furthermore, a pair of guide portions 24 are attached to each side of the device main body 11, and a guide shaft 2 is attached to each of these guide portions 24.
5 is attached so that it can be raised and lowered freely. The upper lid portion 12 is attached to the upper end of each guide shaft 25 via an attachment member 26. Note that the reference numeral 27 in the figure is a bellows-shaped cover that covers each screw shaft 15, 22 and guide shaft 25.

上記のように構成された研磨装置において、装置本体1
1に対して、上蓋部12を昇降させる場合には、ブレー
キ付モータ13の回転軸を回転させることにより、スク
リュージヤツキ14のスクリュー軸15を昇降させると
共に、各ベベルギヤボックス17〜20を介してスクリ
ュージヤツキ21のスクリュー軸22を昇降させる。こ
れにより、ガイド部24に案内支持されているガイド軸
25が昇降すると共に、上記各スクリュージヤツキ14
.21のスクリュー軸15.22が昇降して、上蓋部1
2が装置本体11に対して上下に移動する。このように
、上蓋部12が、装置本体11の両側部に設けられたス
クリュージヤツキ14゜21のスクリュー軸15.22
とガイド部24のガイド軸25とによって支持案内され
て上下に円滑に移動することにより、上蓋部12によっ
てキャリアプレートが、装置本体11の下定盤に均一に
かつ確実に押圧される。
In the polishing apparatus configured as described above, the apparatus main body 1
1, when raising and lowering the upper cover part 12, by rotating the rotary shaft of the motor 13 with a brake, the screw shaft 15 of the screw jack 14 is raised and lowered, and the screw shaft 15 of the screw jack 14 is raised and lowered. The screw shaft 22 of the screw jack 21 is raised and lowered. As a result, the guide shaft 25 guided and supported by the guide portion 24 moves up and down, and each screw jack 14
.. The screw shafts 15 and 22 of 21 move up and down, and the upper lid part 1
2 moves up and down with respect to the device main body 11. In this way, the upper lid part 12 is connected to the screw shafts 15 and 22 of the screw jacks 14° 21 provided on both sides of the device main body 11.
By smoothly moving up and down while being supported and guided by the guide shaft 25 of the guide section 24, the carrier plate is evenly and reliably pressed by the upper lid section 12 against the lower surface plate of the apparatus main body 11.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明の研磨装置は、キャリアプ
レートを支持する支持部材の両端に、この支持部材を上
下に移動させる昇降機構がそれぞれ設けられたものであ
るから、上記支持部材の両端にそれぞれ設けた昇降機構
によって、支持部材を上下に円滑に移動することにより
、押圧力を均一にすることができ、かつ研磨精度の向上
を図ることができる上に、一対の昇降機構を除いた2つ
の側面からキャリアプレートの搬出入を容易に行うこと
ができる。
As explained above, in the polishing apparatus of the present invention, a lifting mechanism for moving the support member up and down is provided at both ends of the support member that supports the carrier plate. By smoothly moving the support member up and down using the respective lifting mechanisms, it is possible to make the pressing force uniform and improve the polishing accuracy. The carrier plate can be easily carried in and out from both sides.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第4図は本発明の一実施例を示すもので、
第1図は平面図、第2図は正面図、第3図は右側面図、
第4図は左側面図、第5図は従来の研磨装置の外観図、
第6図はキャリアプレートに貼着されたシリコンウェー
ハの配置図である。 12・・・上蓋部(支持部材)、14.21・・・スク
リュージャ、キ(昇降機構)。
1 to 4 show an embodiment of the present invention,
Figure 1 is a plan view, Figure 2 is a front view, Figure 3 is a right side view,
Figure 4 is a left side view, Figure 5 is an external view of a conventional polishing device,
FIG. 6 is a layout diagram of silicon wafers attached to a carrier plate. 12... Upper lid part (supporting member), 14.21... Screwjar, key (elevating mechanism).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 下面に被研磨材が固定されたキャリアプレートをこのキ
ャリアプレートの下方に設けられた定盤上に押圧した状
態で上記被研磨材を研磨する研磨装置において、上記キ
ャリアプレートを支持する支持部材の両端に、この支持
部材を上下に移動させる昇降機構がそれぞれ設けられた
ことを特徴とする研磨装置。
In a polishing apparatus that polishes a material to be polished while pressing a carrier plate having a material to be polished on the lower surface onto a surface plate provided below the carrier plate, both ends of a support member that supports the carrier plate are provided. and a polishing device, each of which is provided with an elevating mechanism for moving the support member up and down.
JP2200353A 1990-07-27 1990-07-27 polishing equipment Pending JPH0487767A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2200353A JPH0487767A (en) 1990-07-27 1990-07-27 polishing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2200353A JPH0487767A (en) 1990-07-27 1990-07-27 polishing equipment

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JPH0487767A true JPH0487767A (en) 1992-03-19

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JP2200353A Pending JPH0487767A (en) 1990-07-27 1990-07-27 polishing equipment

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JP (1) JPH0487767A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503364A (en) * 2000-06-16 2004-02-05 レクサム ディスペンシング システムズ Dynamic air refill device for liquid dispensers

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503364A (en) * 2000-06-16 2004-02-05 レクサム ディスペンシング システムズ Dynamic air refill device for liquid dispensers

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