JPH0490002A - クロマトグラフ制御システム - Google Patents
クロマトグラフ制御システムInfo
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- JPH0490002A JPH0490002A JP20503890A JP20503890A JPH0490002A JP H0490002 A JPH0490002 A JP H0490002A JP 20503890 A JP20503890 A JP 20503890A JP 20503890 A JP20503890 A JP 20503890A JP H0490002 A JPH0490002 A JP H0490002A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はクロマトグラフ制御システムに係り、制御パラ
メータとクロマトグラム等応答結果を総合判断して、個
々の最適制御パラメータを決定し得るクロマトグラフ制
御システムに関する。
メータとクロマトグラム等応答結果を総合判断して、個
々の最適制御パラメータを決定し得るクロマトグラフ制
御システムに関する。
従来のクロマトグラフ制御装置は、制御対象の動作状態
を表わす複数の出力信号を用い、制御を行っているが、
個別の出力を見て制御する方式では,制御が局所的にな
ってしまい、システム全体を最適性を考慮できないとい
う欠点があった。
を表わす複数の出力信号を用い、制御を行っているが、
個別の出力を見て制御する方式では,制御が局所的にな
ってしまい、システム全体を最適性を考慮できないとい
う欠点があった。
そこで、最近は、複数の信号を用い、全体の最適性を求
める傾向がある。
める傾向がある。
ところが、クロマトグラフィーの物理的化学的特性が種
々の要因により大幅に変化するため、特定の動作点近傍
における制御モデルを作って制御しても、多くの場合に
そのモデルをは実際のクロマトグラフィーの動作と食い
違ってしまう。そのため、モデルが正確であれば良好な
結果をもたらすフィードバック制御もその能力を充分に
発揮できず、勘と経験で操作する熟練オペレータを超え
ることができないという問題点があった。
々の要因により大幅に変化するため、特定の動作点近傍
における制御モデルを作って制御しても、多くの場合に
そのモデルをは実際のクロマトグラフィーの動作と食い
違ってしまう。そのため、モデルが正確であれば良好な
結果をもたらすフィードバック制御もその能力を充分に
発揮できず、勘と経験で操作する熟練オペレータを超え
ることができないという問題点があった。
上記従来技術は熟練オペレータのノウハウを生かす点に
配慮がされておらず、制御性能に問題があった。
配慮がされておらず、制御性能に問題があった。
本発明の目的は、熟練オペレータのノウハウを取り入れ
た拡張性に富んだクロマトグラフ制御システムを提供す
ることにある。
た拡張性に富んだクロマトグラフ制御システムを提供す
ることにある。
上記目的は、熟練オペレータの勘と経験を定量化し、ア
クチュエータの操作量を決定することにより達成される
。
クチュエータの操作量を決定することにより達成される
。
熟練オペレータは制御量から特徴的なパターンを抽出し
、あいまいな操作を行なう。同様に、制御量の積和演算
とその結果を非線形回路を通すことによって特徴的なパ
ターンの確信度を求め、各特徴的パターンの確信度から
のアクチュエータの操作量をファジィ推論により決定す
る。それによって、該制御方式は熟練オペレータのよう
に動作するので良好な制御性能を得ることができる。
、あいまいな操作を行なう。同様に、制御量の積和演算
とその結果を非線形回路を通すことによって特徴的なパ
ターンの確信度を求め、各特徴的パターンの確信度から
のアクチュエータの操作量をファジィ推論により決定す
る。それによって、該制御方式は熟練オペレータのよう
に動作するので良好な制御性能を得ることができる。
又、熟練オペレータのノウハウをそのまま制御知識とし
て記憶し、前記知識を用いて制御しても前記と同様の制
御性能を得ることができる。
て記憶し、前記知識を用いて制御しても前記と同様の制
御性能を得ることができる。
以下、本発明のクロマトグラフ制御システムの概念を第
1図に示す。
1図に示す。
制御対象1は複数のアクチュエータを含み、前記アクチ
ュエータはアクチュエータごとに制御実行指令を生する
アクチュエータ制御装置G6により制御される。前記制
御対象1及び複数のアクチュエータの動作はそれぞれに
配憶された種々の検出器から構成される装置 この検出装置G14の複数の検出器出力信号は最適性判
定装置G13へ入力される。最適性判定装置G13では
入力された前記複数の検出器出力信号をパターンとして
認識する入力部と前記入力されたパターンを記憶する記
憶機能と、前記入力されたパターンを先に記憶されてい
る複数のパターンと照合し先に記憶されたパターンとの
異似度を出力する処理部と、前記類似度からそれぞれの
アクチュエータの操作量を決定し、アクチュエータ制御
装置G6へ指令信号を発生する指令発生機構12で構成
されている。なお、前記最適性判定袋[G13のパター
ン記憶機能へパターンを記憶させるに当って予めオペレ
ータが入力に対して最適出力を設定し前記最適性判定機
構を動作させ、最良の操作量が出力されることを認識す
る機能と、制御対象1が変更されたり、アクチュエータ
が変更された場合に前記パターン記憶内容を予め変更す
るための教示装置G16が付加できる構成となっている
。
ュエータはアクチュエータごとに制御実行指令を生する
アクチュエータ制御装置G6により制御される。前記制
御対象1及び複数のアクチュエータの動作はそれぞれに
配憶された種々の検出器から構成される装置 この検出装置G14の複数の検出器出力信号は最適性判
定装置G13へ入力される。最適性判定装置G13では
入力された前記複数の検出器出力信号をパターンとして
認識する入力部と前記入力されたパターンを記憶する記
憶機能と、前記入力されたパターンを先に記憶されてい
る複数のパターンと照合し先に記憶されたパターンとの
異似度を出力する処理部と、前記類似度からそれぞれの
アクチュエータの操作量を決定し、アクチュエータ制御
装置G6へ指令信号を発生する指令発生機構12で構成
されている。なお、前記最適性判定袋[G13のパター
ン記憶機能へパターンを記憶させるに当って予めオペレ
ータが入力に対して最適出力を設定し前記最適性判定機
構を動作させ、最良の操作量が出力されることを認識す
る機能と、制御対象1が変更されたり、アクチュエータ
が変更された場合に前記パターン記憶内容を予め変更す
るための教示装置G16が付加できる構成となっている
。
これに対して従来システムは最適性判定装置G13がな
く、一般には検出装置G 1 4からアクチュエータ制
御装置G6へ送信され、個々のアクチュエータごとに最
適化制御するシステムとなっていた。このため、システ
ム全体としての最適性が図れなかったが、本発明のよう
にシステム全体の最適性を判定する最適性判定装置G1
3を付加することにより、システム全体の最適性を判定
できる他、アクチュエータの1つが故障してもこの判定
装置により、前記故障したアクチュエータの働きを他の
アクチュエータでカバーしたり、又、アクチュエータの
変化や、制御対象の変化にも柔軟に対応できるという効
果を有する。
く、一般には検出装置G 1 4からアクチュエータ制
御装置G6へ送信され、個々のアクチュエータごとに最
適化制御するシステムとなっていた。このため、システ
ム全体としての最適性が図れなかったが、本発明のよう
にシステム全体の最適性を判定する最適性判定装置G1
3を付加することにより、システム全体の最適性を判定
できる他、アクチュエータの1つが故障してもこの判定
装置により、前記故障したアクチュエータの働きを他の
アクチュエータでカバーしたり、又、アクチュエータの
変化や、制御対象の変化にも柔軟に対応できるという効
果を有する。
次に、本発明の制御システムをクロマトグラフ制御に適
用した例を用いて詳細に説明する。
用した例を用いて詳細に説明する。
以下、本発明を適用した実施例を第2図により説明する
。
。
制御対象のクロマトグラフ本体1は、試料注入器8から
注入された試料をポンプ7から送られる移動相によりカ
ラム2に運び、その試料をカラム2により分離展開し、
検出器10により検出するものである。この移動相の組
成は移動相調製器6により調製される。また力ラム恒温
器9はカラム2の温度を制御している。
注入された試料をポンプ7から送られる移動相によりカ
ラム2に運び、その試料をカラム2により分離展開し、
検出器10により検出するものである。この移動相の組
成は移動相調製器6により調製される。また力ラム恒温
器9はカラム2の温度を制御している。
例えばクロマトグラフィーで、分離時間の高速化を図る
場合、移動相調製器6によって調製される移動相の組成
、ポンプ7によって制御される流量、カラム恒温器9に
よって制御されるカラム温度のような制御パラメータを
最適化する必要がある。この場合、ポンプ7で検出され
る圧力や、検出器10で検出されるクロマトグラフから
算出される分解能等が所定許容範囲に入っているという
制限条件を満足しなければぼらない。
場合、移動相調製器6によって調製される移動相の組成
、ポンプ7によって制御される流量、カラム恒温器9に
よって制御されるカラム温度のような制御パラメータを
最適化する必要がある。この場合、ポンプ7で検出され
る圧力や、検出器10で検出されるクロマトグラフから
算出される分解能等が所定許容範囲に入っているという
制限条件を満足しなければぼらない。
クロマトグラフに対する制御方法は、前記移動相調製器
6.ポンプ7、試料注入器8.カラム恒温器9.検出器
10等のアクチュエータに対する動作指令を発生させる
指令発生機構12、前記指令発生機構12に対し、応答
パターンであるクロマトグラフが予め記憶された複数の
パターンの内、どの種類のパターンに属するかを判断し
、該パターンの確信度を出力するパターン認識機構13
、該パターン認識機構13に対し、応答クロマトグラフ
を検出し、出力する検出機構14、前記検出機構14と
指令発生機構12の出力を記憶する記憶機構15、及び
、記憶機構15の情報を用い、パターン認識機構13の
パラメータを学習により変化させる学習機構16から構
成される。
6.ポンプ7、試料注入器8.カラム恒温器9.検出器
10等のアクチュエータに対する動作指令を発生させる
指令発生機構12、前記指令発生機構12に対し、応答
パターンであるクロマトグラフが予め記憶された複数の
パターンの内、どの種類のパターンに属するかを判断し
、該パターンの確信度を出力するパターン認識機構13
、該パターン認識機構13に対し、応答クロマトグラフ
を検出し、出力する検出機構14、前記検出機構14と
指令発生機構12の出力を記憶する記憶機構15、及び
、記憶機構15の情報を用い、パターン認識機構13の
パラメータを学習により変化させる学習機構16から構
成される。
第3図に上記パターン認識機構13の詳細図を示す。検
出機構14及び記憶機構15の出力は、前記パターン認
識機構13の入力セル17,18に入力され、該入力セ
ル17では入力された信号が関数値で変換され中間層1
9へ出力され、中間層19へ入力された該入力セルの出
力は中間層19のセル20.21へ入力される。入力セ
ル17の出力でセル20に入力された信号は重み関数2
3でwet倍され加算器24に入力されるとともに、入
力セル18の出力は重み関数226を介し、加算器24
に入力され加算器24は上記重み関数23.26の出力
を加算し、関数器25へ入力され、関数器25で線形又
は非線形の関数演算を行い、次段の中間層27に出力さ
れる。なおセル20は上記重み関数23,26、加算器
24及び関数器25から構成される。
出機構14及び記憶機構15の出力は、前記パターン認
識機構13の入力セル17,18に入力され、該入力セ
ル17では入力された信号が関数値で変換され中間層1
9へ出力され、中間層19へ入力された該入力セルの出
力は中間層19のセル20.21へ入力される。入力セ
ル17の出力でセル20に入力された信号は重み関数2
3でwet倍され加算器24に入力されるとともに、入
力セル18の出力は重み関数226を介し、加算器24
に入力され加算器24は上記重み関数23.26の出力
を加算し、関数器25へ入力され、関数器25で線形又
は非線形の関数演算を行い、次段の中間層27に出力さ
れる。なおセル20は上記重み関数23,26、加算器
24及び関数器25から構成される。
同様に、セル21へは入力セルフ、18の出力が入力さ
れ、入力層17の出力は重み関数28でW12倍化され
加算器29.関数器30を介し次段の中間層27へ出力
される。
れ、入力層17の出力は重み関数28でW12倍化され
加算器29.関数器30を介し次段の中間層27へ出力
される。
中間M27は、中間層19と同一の構造であり、入力層
17.18の出力の代りに中間層19の出力が用いられ
るものである。
17.18の出力の代りに中間層19の出力が用いられ
るものである。
ここで、重み関数23,26.28の重みをwフJで表
わすと、W kLJはに番目の中間層の1番目のセルに
於て、k−1番目の中間層(但し、k=1の時は入力セ
ル)の1番目の出力に掛ける重みを示す。
わすと、W kLJはに番目の中間層の1番目のセルに
於て、k−1番目の中間層(但し、k=1の時は入力セ
ル)の1番目の出力に掛ける重みを示す。
以上のようにパターン認識機構13に入力された信号は
、入力セル17.18、複数段の中間層19.27.2
9を介し、中間層のセルから重み関数と加算器を取り除
いた形式の出力層30を介し、出力される。なお、入力
層31は入力セル17、isを全て纏めたものを表わす
。
、入力セル17.18、複数段の中間層19.27.2
9を介し、中間層のセルから重み関数と加算器を取り除
いた形式の出力層30を介し、出力される。なお、入力
層31は入力セル17、isを全て纏めたものを表わす
。
このパターン認識機構13の特徴は、単純な積和演算で
すみ、フィードバック等の繰返し演算が無いこと、及び
、中間層の各積和項はハードウェアで実現する場合、並
列に処理ができるため、高速演算が可能である。
すみ、フィードバック等の繰返し演算が無いこと、及び
、中間層の各積和項はハードウェアで実現する場合、並
列に処理ができるため、高速演算が可能である。
このパターン認識機構の出力層30の次に予め各出カバ
ターンに応じて各アクチュエータに対する指令値を記憶
させておき、最も出カバターンに近い指令値を直接アク
チュエータに指示することも可能である。この方式では
応答性は良いが後述の方式に比べて制御の精度は若干悪
くなる。
ターンに応じて各アクチュエータに対する指令値を記憶
させておき、最も出カバターンに近い指令値を直接アク
チュエータに指示することも可能である。この方式では
応答性は良いが後述の方式に比べて制御の精度は若干悪
くなる。
次にパターン認識機構13の処理結果は第4図に示す処
理機構を経てクロマトグラフ本体1に作用される。すな
わち、パターン認識機構13の出力は指令発生機構12
に設けられている操作量決定手段32に入力される。操
作量決定手段32では、内部に複数準備された処理機構
のうち、入力信号を処理するのに最も有効な処理機構を
選択し、処理を実行し操作量を出力する。前記操作量決
定手段の結果を用い、指令値計算手段は具体的な各アク
チュエータの指令値、例えば移動相調製器6に対する調
製指令、ポンプ7に対する流量指令等を発生する。なお
、この指令発生機構12には、パターン認識機構13を
介さずに、形状検出機構14の出力を直接入力して、前
記内部に準備された複数の処理機構のうち最適な処理機
構で処理することも可能である。しかしこの場合、各種
推論機構を用いる場合専門のオペレータの操作方法を十
分反映するには、知識ベースを充実する必要がある。
理機構を経てクロマトグラフ本体1に作用される。すな
わち、パターン認識機構13の出力は指令発生機構12
に設けられている操作量決定手段32に入力される。操
作量決定手段32では、内部に複数準備された処理機構
のうち、入力信号を処理するのに最も有効な処理機構を
選択し、処理を実行し操作量を出力する。前記操作量決
定手段の結果を用い、指令値計算手段は具体的な各アク
チュエータの指令値、例えば移動相調製器6に対する調
製指令、ポンプ7に対する流量指令等を発生する。なお
、この指令発生機構12には、パターン認識機構13を
介さずに、形状検出機構14の出力を直接入力して、前
記内部に準備された複数の処理機構のうち最適な処理機
構で処理することも可能である。しかしこの場合、各種
推論機構を用いる場合専門のオペレータの操作方法を十
分反映するには、知識ベースを充実する必要がある。
第5図は、前記操作量決定手段32の構成を示すもので
ある。操作量決定手段32は、検出機構14、パターン
認識機構13からの信号を受け、制御機構141を起動
する。該制御機構141は、問題の種類に応じて、知識
ベース36を用い、起動する推論を決定する。即ち該制
御機構141は、三段論法的に原因を求める必要がある
場合にはプロダクション推論機構142を起動し、曖昧
な要因がある場合にはファジィ推論機構143を起動し
、ある程度の枠組みがある問題に対してはフレーム推論
機構144を起動し、因果関係や機器の構成等の関連が
ネットワーク的になっている問題に対しては意味ネット
推論機構145を起動し、診断対象が時間的な順序で動
作しているような問題に対してはスクリプト推論機構1
46を起動する。更に、該制御機構141は前記各種推
論機構で解けない経験的な問題で、高速に最適な解を求
めるための最適化演算機構111を起動し、パターン的
に記憶でき、特徴を抽出するとともに回答が必要な問題
を解くための特徴抽出・回答機構110 (Rumel
hart型ニューロコンピュータで構成)を起動する。
ある。操作量決定手段32は、検出機構14、パターン
認識機構13からの信号を受け、制御機構141を起動
する。該制御機構141は、問題の種類に応じて、知識
ベース36を用い、起動する推論を決定する。即ち該制
御機構141は、三段論法的に原因を求める必要がある
場合にはプロダクション推論機構142を起動し、曖昧
な要因がある場合にはファジィ推論機構143を起動し
、ある程度の枠組みがある問題に対してはフレーム推論
機構144を起動し、因果関係や機器の構成等の関連が
ネットワーク的になっている問題に対しては意味ネット
推論機構145を起動し、診断対象が時間的な順序で動
作しているような問題に対してはスクリプト推論機構1
46を起動する。更に、該制御機構141は前記各種推
論機構で解けない経験的な問題で、高速に最適な解を求
めるための最適化演算機構111を起動し、パターン的
に記憶でき、特徴を抽出するとともに回答が必要な問題
を解くための特徴抽出・回答機構110 (Rumel
hart型ニューロコンピュータで構成)を起動する。
操作量決定手段32の処理結果は制御機構141を介し
て指令値計算機構へ出力される。
て指令値計算機構へ出力される。
第6図に推論に必要な知識である知識ベース36の構成
を示す。前記知識ベースは制御のエキスパートの経験等
に基づく外部から入力される知識106は三段論法的に
推論を実行するためのプロダクションルール147.曖
昧な情報をもとに推論を行なうための知識であるファジ
ィルール148、診断対象の部品構成などのある枠組み
で記述できる知識のフレーム1492部品と部品の関連
や、常識的な関連をまとめてネットワークの形で整理し
ている意味ネットツー91501診断対象が順番に仕事
を進める場合にそれらの仕事を整理して記憶するスクリ
プト151、及び、上記知識147〜153で記述でき
ないその他の知識154に分類されて記憶されている。
を示す。前記知識ベースは制御のエキスパートの経験等
に基づく外部から入力される知識106は三段論法的に
推論を実行するためのプロダクションルール147.曖
昧な情報をもとに推論を行なうための知識であるファジ
ィルール148、診断対象の部品構成などのある枠組み
で記述できる知識のフレーム1492部品と部品の関連
や、常識的な関連をまとめてネットワークの形で整理し
ている意味ネットツー91501診断対象が順番に仕事
を進める場合にそれらの仕事を整理して記憶するスクリ
プト151、及び、上記知識147〜153で記述でき
ないその他の知識154に分類されて記憶されている。
第7図に操作量決定手段32の動作の説明図を示す。制
御機構141の処理はパターン認識機構13、形状検出
機構14.記憶機構15からの情報を整理し、以下の処
理に利用できるデータに変換する処理ステップ200、
上記ステップ200で準備したデータが無くなる迄取り
出し、ステップ202へ渡す繰返し処理ステップ201
、前記ステップ201で収集した情報から起動すべき推
論機構及び処理を決定するための判断ステップ202、
及び、各種推論機構142〜146、特徴抽出回答機構
110.最適化演算機構111、及び、PID制御等の
古典制御や多変数制御等の現代制御のアルゴリズムを実
行する一般制御機構203、及び、上記各ステップを終
了するために必要なプラグ類のリセット等を実行する終
了処理ステップ204から構成される。
御機構141の処理はパターン認識機構13、形状検出
機構14.記憶機構15からの情報を整理し、以下の処
理に利用できるデータに変換する処理ステップ200、
上記ステップ200で準備したデータが無くなる迄取り
出し、ステップ202へ渡す繰返し処理ステップ201
、前記ステップ201で収集した情報から起動すべき推
論機構及び処理を決定するための判断ステップ202、
及び、各種推論機構142〜146、特徴抽出回答機構
110.最適化演算機構111、及び、PID制御等の
古典制御や多変数制御等の現代制御のアルゴリズムを実
行する一般制御機構203、及び、上記各ステップを終
了するために必要なプラグ類のリセット等を実行する終
了処理ステップ204から構成される。
ここで各処理機構の役割を述べる。プロダクション機構
142は、オペレータのエキスパートが断片的なプロダ
クションルールを用いて、論理的な成立関係を組立てる
制御に適している。ファジィ推論143は、制御対象の
注目している状態が本化したならばオペレータはアクチ
ュエータを少し動かすというように定量化できないオペ
レータのあいまいな知識を計算機で処理できるように定
量化して操作量を決定するのに適している。
142は、オペレータのエキスパートが断片的なプロダ
クションルールを用いて、論理的な成立関係を組立てる
制御に適している。ファジィ推論143は、制御対象の
注目している状態が本化したならばオペレータはアクチ
ュエータを少し動かすというように定量化できないオペ
レータのあいまいな知識を計算機で処理できるように定
量化して操作量を決定するのに適している。
フレーム推論機構144は、制御装置間の関係等を記述
するフレームという知識を用い、注目している制御対象
の状態が変化した時に元の状態に戻す場合に、それら装
置間の関係を基に操作を行う処理量を関連する機器毎に
決定するのに適している。
するフレームという知識を用い、注目している制御対象
の状態が変化した時に元の状態に戻す場合に、それら装
置間の関係を基に操作を行う処理量を関連する機器毎に
決定するのに適している。
意味ネット推論機構145は、前記断片的な知識である
フレームを整理し、体系付けてネットワークを作り上げ
たものであるため、特定のアクチュエータの操作結果が
及ぼす影響を求めることができ、補償系を組むのに適し
ている。
フレームを整理し、体系付けてネットワークを作り上げ
たものであるため、特定のアクチュエータの操作結果が
及ぼす影響を求めることができ、補償系を組むのに適し
ている。
スクリプト推論機[146は特定の状態が発生した時の
手順的な知識を基に推論するため、故障時等に決まった
手順で対応しなければならないようなシーケンス制御的
な制御に適している。
手順的な知識を基に推論するため、故障時等に決まった
手順で対応しなければならないようなシーケンス制御的
な制御に適している。
また、特徴抽出・回答機構110は、上記パターン認識
機構13.形状検出機構14.記憶機構15の入カバタ
ーンと前記入カバターンが入力されたときに前記推論機
構142〜146が出した出力の関係を予め置型させて
おくと、推論機構142〜146が推論を行って出力を
決定するのと異なり、高速に同一の結果が出力できる特
徴がある。最適化演算機構111は、制御対象1は通常
非線形性が強いので、何等かの原因により動作点が変化
すると、動作の再設定が必要になり、その場合、最急傾
斜法、ダイナミックプログラミング、リニアプログラミ
ング、出登り法、共役傾斜法又はHopfield型ニ
ューロコンピュータ等のアルゴリズムにより計算され、
非線形制御対象に対しても最適な応答を行なう。
機構13.形状検出機構14.記憶機構15の入カバタ
ーンと前記入カバターンが入力されたときに前記推論機
構142〜146が出した出力の関係を予め置型させて
おくと、推論機構142〜146が推論を行って出力を
決定するのと異なり、高速に同一の結果が出力できる特
徴がある。最適化演算機構111は、制御対象1は通常
非線形性が強いので、何等かの原因により動作点が変化
すると、動作の再設定が必要になり、その場合、最急傾
斜法、ダイナミックプログラミング、リニアプログラミ
ング、出登り法、共役傾斜法又はHopfield型ニ
ューロコンピュータ等のアルゴリズムにより計算され、
非線形制御対象に対しても最適な応答を行なう。
第8図にプロダクション機構142の動作説明図を示す
。制御機構141より起動されるプロダクション推論機
構142は、前記制御機構141から起動時にメモリに
記憶する入力処理34、前記入力処理34で記憶した情
報1個ずつ取り出し、もし、メモリにパターンの情報が
無い時には、プロダクション推論機構142の処理を終
了させる終了判断機構35を実行する。前記終了判断機
構35で抽出されたパターンの種類とその確信度を用い
、知識ベース36からルールを1個ずつ取り出し、処理
37で該入力のパターンの種類と該ルールの前提部を比
較する。その比較結果を用い、ステップ38は一致した
場合、次の処理39を、不一致の場合ステップ37を実
行させる。ステップ39は一致した時に前記入力を前記
ルールの結論部に置換する。この時の確信度の取扱いは
ミニ・マックスの理論で、置換前の最小値又は最大値で
置換える。ステップ40は前記置換したルールの結論部
が操作指令でてる場合、ステップ41を、結論部が不一
致の場合更に推論を実施させるためにステップ37を実
行させる。
。制御機構141より起動されるプロダクション推論機
構142は、前記制御機構141から起動時にメモリに
記憶する入力処理34、前記入力処理34で記憶した情
報1個ずつ取り出し、もし、メモリにパターンの情報が
無い時には、プロダクション推論機構142の処理を終
了させる終了判断機構35を実行する。前記終了判断機
構35で抽出されたパターンの種類とその確信度を用い
、知識ベース36からルールを1個ずつ取り出し、処理
37で該入力のパターンの種類と該ルールの前提部を比
較する。その比較結果を用い、ステップ38は一致した
場合、次の処理39を、不一致の場合ステップ37を実
行させる。ステップ39は一致した時に前記入力を前記
ルールの結論部に置換する。この時の確信度の取扱いは
ミニ・マックスの理論で、置換前の最小値又は最大値で
置換える。ステップ40は前記置換したルールの結論部
が操作指令でてる場合、ステップ41を、結論部が不一
致の場合更に推論を実施させるためにステップ37を実
行させる。
前記結論部が操作指令であるときに、処理41は前記指
令値計算手段33へ、結論部及び前記処理ステップで求
めた確信度を出力する。
令値計算手段33へ、結論部及び前記処理ステップで求
めた確信度を出力する。
第9図は指令計算手段33を示す。指令値計算手段33
は、前記操作量決定手段32で求めた推論結果である指
令及びその確信度を記憶するメモリ42、メモリの指令
が全て処理されたか否かを判断し、処理されていたなら
ば指令値計算手段33を終了させるステップ43、処理
されていなければ圧下制御機構6等のアクチュエータ7
.8゜9.10.11毎の指令を取り出し、各種推論で
求まったアクチュエータ操作の程度と確信度を基に、操
作量の重心を求め、同一アクチュエータの操作量の重心
を寄せ集めて新たな重心を求め対応するアクチュエータ
の指令とする処理44から構成される。
は、前記操作量決定手段32で求めた推論結果である指
令及びその確信度を記憶するメモリ42、メモリの指令
が全て処理されたか否かを判断し、処理されていたなら
ば指令値計算手段33を終了させるステップ43、処理
されていなければ圧下制御機構6等のアクチュエータ7
.8゜9.10.11毎の指令を取り出し、各種推論で
求まったアクチュエータ操作の程度と確信度を基に、操
作量の重心を求め、同一アクチュエータの操作量の重心
を寄せ集めて新たな重心を求め対応するアクチュエータ
の指令とする処理44から構成される。
このような指令値計算手段33を設けることで各種推論
142〜146.特徴抽出・回路機構110、最適化演
算機構111.−膜制御機構203で個別に求められた
アクチュエータへの指令を統一的に扱える特徴が有る。
142〜146.特徴抽出・回路機構110、最適化演
算機構111.−膜制御機構203で個別に求められた
アクチュエータへの指令を統一的に扱える特徴が有る。
第10図に、前記学習に必要な入力切り換え装置125
の構成を示す。該入力切り換え装置125は、学習機構
により制御されるスイッチ機構156を用い、検出機構
14の出力と学習機構16の出力の一方を入力層31に
出力するものである。第10図におけるスイッチ機構1
56の状態は学習を行なう状態を示す。
の構成を示す。該入力切り換え装置125は、学習機構
により制御されるスイッチ機構156を用い、検出機構
14の出力と学習機構16の出力の一方を入力層31に
出力するものである。第10図におけるスイッチ機構1
56の状態は学習を行なう状態を示す。
第11図に学習機構16の構成を示す。学習機構16は
、入カバターン発生機構45.出カバターン発生機構4
7.出力突合せ機構46、及び、学習制御機構48から
構成される。前記出力突合せ機構46は、出力層30の
出力を指令発生機構12と前記突合せ機構46へ出力す
るための分配器139の出力o1.O+、Onと、出カ
バターン発生機構47の出力OTl + OTi I
OTnとの差を加算器161,162,163により、
偏差el。
、入カバターン発生機構45.出カバターン発生機構4
7.出力突合せ機構46、及び、学習制御機構48から
構成される。前記出力突合せ機構46は、出力層30の
出力を指令発生機構12と前記突合せ機構46へ出力す
るための分配器139の出力o1.O+、Onと、出カ
バターン発生機構47の出力OTl + OTi I
OTnとの差を加算器161,162,163により、
偏差el。
e+)enとして求め、学習制御機構48に出力する。
なお分配器139の出力Of、oi、Onは入カバター
ン発生機構47の出力がパターン認識機構13 (Ru
melhart型ニューロコンピュータ)の入力層19
に入力されることにより発生する。このとき、該入カバ
ターン発生機構45と該出カバターン発生機構47は前
記学習制御機構48に制御される。
ン発生機構47の出力がパターン認識機構13 (Ru
melhart型ニューロコンピュータ)の入力層19
に入力されることにより発生する。このとき、該入カバ
ターン発生機構45と該出カバターン発生機構47は前
記学習制御機構48に制御される。
第12図に前記学習過程における荷重関数w1□23と
学習制御機構48の関係を示す。前記加算器161の出
力である偏差ekを受けて、学習制御機構48はパター
ン認識機構13を構成するセル20の荷重関数WIJ2
3の値を、前記偏差が減少する方法に変化させる。
学習制御機構48の関係を示す。前記加算器161の出
力である偏差ekを受けて、学習制御機構48はパター
ン認識機構13を構成するセル20の荷重関数WIJ2
3の値を、前記偏差が減少する方法に変化させる。
第13図に前記学習制御機端48の処理概要170を示
す。学習機構16が起動されると、学習制御機構48の
処理170が起動される。該処理170は、前記入カバ
ターン発生機構45.出カバターン発生機構47を起動
し、教師信号である入力と、希望出力を発生する前処理
171、前記偏差et+の値、又は、前記偏差自乗和が
許容範囲以内になるまで以下のステップ173,174
゜175を繰り返すステップ172、出力層30に近い
中間層から入力層31に向けて注目する中間層を順次抽
出するステップ174、該中間層において順次注目する
セルを抽出するステップ174、及び偏差ekが小さく
なる方向へ抽出したセルの荷重関数WIJ23を変化さ
せるステップ175、および、学習過程を終了させるた
めのステップ176から構成される。
す。学習機構16が起動されると、学習制御機構48の
処理170が起動される。該処理170は、前記入カバ
ターン発生機構45.出カバターン発生機構47を起動
し、教師信号である入力と、希望出力を発生する前処理
171、前記偏差et+の値、又は、前記偏差自乗和が
許容範囲以内になるまで以下のステップ173,174
゜175を繰り返すステップ172、出力層30に近い
中間層から入力層31に向けて注目する中間層を順次抽
出するステップ174、該中間層において順次注目する
セルを抽出するステップ174、及び偏差ekが小さく
なる方向へ抽出したセルの荷重関数WIJ23を変化さ
せるステップ175、および、学習過程を終了させるた
めのステップ176から構成される。
このような学習機構を設ける事により、それ迄考慮され
なかった新しい現象が発生し、それに対する対応策が決
定したならば、その知見を反映できる特徴が有る。
なかった新しい現象が発生し、それに対する対応策が決
定したならば、その知見を反映できる特徴が有る。
第14図は、第2図の記憶機構15の構成を示す、記憶
機構15は、指令発生機構12.形状検出機構14の出
力が入力されるメモリ要素49゜メモリ要素49の内容
は一定時間経過に転送されるメモリ要素50、及び順次
メモリ要素にデータが転送され特定時間経過後に到達す
るメモリ要素51から構成され、各メモリ要素49,5
0゜51の内容はパターンの微分や積分等を行うための
演算機構501を介し、パターン認識機構13゜学習機
構16へ入力される。
機構15は、指令発生機構12.形状検出機構14の出
力が入力されるメモリ要素49゜メモリ要素49の内容
は一定時間経過に転送されるメモリ要素50、及び順次
メモリ要素にデータが転送され特定時間経過後に到達す
るメモリ要素51から構成され、各メモリ要素49,5
0゜51の内容はパターンの微分や積分等を行うための
演算機構501を介し、パターン認識機構13゜学習機
構16へ入力される。
この記憶機構15により、検出機構14や、指令発生機
構12の時間的変化を考慮できる、例えば微分、積分等
の動作が行なえるようになる。
構12の時間的変化を考慮できる、例えば微分、積分等
の動作が行なえるようになる。
第15図には、移動相の組成比率の変化が、クロマトグ
ラム上のあるピークの保持時間に特に大きな影響を与え
る場合を例に、そのピーク近傍の入力を使ってパターン
を認識する機構を示す。検出機構14の出力はパターン
検出機構13のメモリ52に入力され、メモリ52に入
力された信号はゲート回路53を介し、メモリ要素54
に入力され、メモリ要素54に入力された信号はゲート
回路55.56を介しメモリ要素57.58へ入力され
、ゲート回路53.56がオフにするとゲート回路55
はオンとなり、クロックに同期して、メモリ要素54の
情報はメモリ57へ、又、一定時間経過するとメモリ要
素54の信号がメモリ要素58へ達成し、メモリ要素5
7の信号がメモリ要素54に達し、次のクロックでメモ
リ要素54゜57.58の信号が一巡すると、ゲート5
3゜56がオンし、ゲート55がオフし、メモリ要素5
4の内容はメモリ要素59に記憶され、メモリ要素54
,57.59の情報に入力層31に入力される。
ラム上のあるピークの保持時間に特に大きな影響を与え
る場合を例に、そのピーク近傍の入力を使ってパターン
を認識する機構を示す。検出機構14の出力はパターン
検出機構13のメモリ52に入力され、メモリ52に入
力された信号はゲート回路53を介し、メモリ要素54
に入力され、メモリ要素54に入力された信号はゲート
回路55.56を介しメモリ要素57.58へ入力され
、ゲート回路53.56がオフにするとゲート回路55
はオンとなり、クロックに同期して、メモリ要素54の
情報はメモリ57へ、又、一定時間経過するとメモリ要
素54の信号がメモリ要素58へ達成し、メモリ要素5
7の信号がメモリ要素54に達し、次のクロックでメモ
リ要素54゜57.58の信号が一巡すると、ゲート5
3゜56がオンし、ゲート55がオフし、メモリ要素5
4の内容はメモリ要素59に記憶され、メモリ要素54
,57.59の情報に入力層31に入力される。
このようなメモリ52を設けることにより、パターン認
識機構13の入力層31.中間層19゜27.29、出
力層30のセルの数を大幅に減少できる効果が有る。
識機構13の入力層31.中間層19゜27.29、出
力層30のセルの数を大幅に減少できる効果が有る。
第16図の学習機構16の入カバターン発生機構45と
出カバターン発生機構47に制御対象シミュレータ60
を用いる例を示す。
出カバターン発生機構47に制御対象シミュレータ60
を用いる例を示す。
出カバターン発生機構47においてオペレータの操作又
はデータによって発生した形状パターンは、第2図の指
令発生機構12と同一の機能を持ち、学習機構に別に設
けられた指令発生機構12に入力され、指令発生機構1
2ではパターンに応じて各種アクチュエータの指令を発
生し、該指令は入カバターン発生機構45に設けられた
制御対象シミュレータ50に入力され、制御対象である
各種アクチュエータ6.7,8,9.10及びクロマト
グラフ本体lを含めた動作を模擬し、その応答が悪い時
には指令発生機構12.制御対象シミュレータ5oのパ
ラメータを変更するためのパラメータ調整機構51を用
い前記制御対象シミュレータ50の出力を所望のパター
ンになるように調節し、パターン認識機構13の入力と
する。
はデータによって発生した形状パターンは、第2図の指
令発生機構12と同一の機能を持ち、学習機構に別に設
けられた指令発生機構12に入力され、指令発生機構1
2ではパターンに応じて各種アクチュエータの指令を発
生し、該指令は入カバターン発生機構45に設けられた
制御対象シミュレータ50に入力され、制御対象である
各種アクチュエータ6.7,8,9.10及びクロマト
グラフ本体lを含めた動作を模擬し、その応答が悪い時
には指令発生機構12.制御対象シミュレータ5oのパ
ラメータを変更するためのパラメータ調整機構51を用
い前記制御対象シミュレータ50の出力を所望のパター
ンになるように調節し、パターン認識機構13の入力と
する。
以上説明した構成の制御方法の動作を具体例を用いて以
下に述べる。
下に述べる。
クロマトグラフィーの制御パラメータとして、移動相A
、B、Cの組成比Xa、Xb+ I Xa−Xb 、
ポンプ流量f、カラム温度Tの4つを考える。この4つ
の制御パラメータを最適化し、クロマトグラフの高速化
を図る。ここで高速化とは、最終ピークの保持時間tR
の最小化を意味する。
、B、Cの組成比Xa、Xb+ I Xa−Xb 、
ポンプ流量f、カラム温度Tの4つを考える。この4つ
の制御パラメータを最適化し、クロマトグラフの高速化
を図る。ここで高速化とは、最終ピークの保持時間tR
の最小化を意味する。
ただし、最小化には制限条件がある。4つのパラメータ
xa、Xb、f、Tの制限の他に、ポンプ圧力Pに上限
があり、またクロマトグラフ上の個々のピーク間の分解
能Rsには下限がある。
xa、Xb、f、Tの制限の他に、ポンプ圧力Pに上限
があり、またクロマトグラフ上の個々のピーク間の分解
能Rsには下限がある。
第17図に示されているように制御パラメータXa、
Xb、 f 、 Tが指令発生機構12より入力され、
クロマトグラフ本体1で処理され、検出パラメータtR
,P、Rsが検出機構14で出力されるプロセスがあり
、検出パラメータtR、p。
Xb、 f 、 Tが指令発生機構12より入力され、
クロマトグラフ本体1で処理され、検出パラメータtR
,P、Rsが検出機構14で出力されるプロセスがあり
、検出パラメータtR、p。
Rs をモニタしながら、制御パラメータXa、 Xb
。
。
f、Tを最適化する問題であると考えられる。
第18図に示すように、知識ベース36はクロマトグラ
フィーの理論や経験則から成るルールを持っている。例
えば、 aP/af=一定、atR1af=一定ぼ直線関係にあ
る等である。
フィーの理論や経験則から成るルールを持っている。例
えば、 aP/af=一定、atR1af=一定ぼ直線関係にあ
る等である。
最適な制御パラメータの探索は、知識ベース36を用い
ながら、指令発生機構12が、逐次、制御パラメータを
変化させ、PとR3が許容範囲内で、tRが最小になる
ように行なわれる。実際はtRがほぼ小さくなったとこ
ろで、第0回のt、nと第(n−1)回のtr+の偏差
が十分小さくなったときに探索は完了する。
ながら、指令発生機構12が、逐次、制御パラメータを
変化させ、PとR3が許容範囲内で、tRが最小になる
ように行なわれる。実際はtRがほぼ小さくなったとこ
ろで、第0回のt、nと第(n−1)回のtr+の偏差
が十分小さくなったときに探索は完了する。
当然、この探索の間には学習を実行し、Xaの変化がP
に与える影響とか、TとRsの関係等も記憶される。
に与える影響とか、TとRsの関係等も記憶される。
またクロマトグラフを検出している時間に制御パラメー
タxa、 Xb、 f 、 Tを変化させる、いわゆ
るグラジェントも考えられる。この場合のクロマトグラ
ムの応答は非線形的な面が強くなり、より学習の効果が
期待できる。
タxa、 Xb、 f 、 Tを変化させる、いわゆ
るグラジェントも考えられる。この場合のクロマトグラ
ムの応答は非線形的な面が強くなり、より学習の効果が
期待できる。
カラムにロット差がある場合やカラムの劣化等により、
個々のピークの保持時間がわずかにシフトすることがあ
る。このようなときにも、本方法により、Xa、 Xb
、 f 、 Tを調節することにより、目的とするクロ
マトグラフを分析時間を延長することなく得ることかで
期る。
個々のピークの保持時間がわずかにシフトすることがあ
る。このようなときにも、本方法により、Xa、 Xb
、 f 、 Tを調節することにより、目的とするクロ
マトグラフを分析時間を延長することなく得ることかで
期る。
ここまではクロマトグラフイーの制御系だけの説明であ
ったが、この手法はデータ処理系でも使用できる。例え
ば、重なったピークのデコンボリューション、各保持時
間の決定、ピーク同定や、ベースラインの決定手段とし
て利用できる。
ったが、この手法はデータ処理系でも使用できる。例え
ば、重なったピークのデコンボリューション、各保持時
間の決定、ピーク同定や、ベースラインの決定手段とし
て利用できる。
本発明によれば、クロマトグラフ制御のようにパターン
を制御する方式に於て、オペレータのエキスパートとは
制御結果の波形を類形化し、波形の特徴を判断し、その
特徴に応じて制御する方式を実現でき、新しい事態が発
生しても、学習により対応できるので、柔軟で、高性能
な制御ができる効果がある。
を制御する方式に於て、オペレータのエキスパートとは
制御結果の波形を類形化し、波形の特徴を判断し、その
特徴に応じて制御する方式を実現でき、新しい事態が発
生しても、学習により対応できるので、柔軟で、高性能
な制御ができる効果がある。
第1図は本発明のクロマトグラフ制御システムの概念図
、第2図は本発明をクロマトグラフ制御システムに適用
した実施例、第3図はパターン認識機構図、第4図は指
令発生機構図、第5図は操作量決定手段の構成図、第6
図は知識ベース構成図、第7図は操作量決定手段の動作
説明図、第8図はプロダクション機構の動作説明図、第
9図は指令値計算手段の構成図、第10図は入力切換え
装置の構成、第11図は学習機構の構成、第12図は学
習制御機構とノードの荷重関数との関連図、第13図は
学習制御機構の基本処理図、第14図は記憶機構の構成
図、第15図はパターン認識機構図、第16図は学習機
構にシミュレータを備えた時の構成図、第17図は具体
例のモデル構成図、第18図は具体例の知識ベース構成
図である。 1・・・クロマトグラフ本体、12・・・指令発生機構
、13・・・パターン認識機構、16・・・学習機構、
19゜27.29・・・中間層、30・・・出力層、3
1・・・入力第 図 第 図 第 図 第 区 第 図 第 図 第 図 第10図 第11 図 第13図 第12図 第14図 第15図 第16 図
、第2図は本発明をクロマトグラフ制御システムに適用
した実施例、第3図はパターン認識機構図、第4図は指
令発生機構図、第5図は操作量決定手段の構成図、第6
図は知識ベース構成図、第7図は操作量決定手段の動作
説明図、第8図はプロダクション機構の動作説明図、第
9図は指令値計算手段の構成図、第10図は入力切換え
装置の構成、第11図は学習機構の構成、第12図は学
習制御機構とノードの荷重関数との関連図、第13図は
学習制御機構の基本処理図、第14図は記憶機構の構成
図、第15図はパターン認識機構図、第16図は学習機
構にシミュレータを備えた時の構成図、第17図は具体
例のモデル構成図、第18図は具体例の知識ベース構成
図である。 1・・・クロマトグラフ本体、12・・・指令発生機構
、13・・・パターン認識機構、16・・・学習機構、
19゜27.29・・・中間層、30・・・出力層、3
1・・・入力第 図 第 図 第 図 第 区 第 図 第 図 第 図 第10図 第11 図 第13図 第12図 第14図 第15図 第16 図
Claims (1)
- 1、複数の制御対象を個々に制御する制御機構と前記制
御対象とその応答を検出する複数の検出器から構成され
る検出装置からなるクロマトグラフ制御システムにおい
て、前記検出装置の複数の出力信号から、前記制御対象
及びその応答を総合判定し、前記判定結果に基づいて制
御機構に制御指令を送信する最適性判定装置を備えたこ
とを特徴とするクロマトグラフ制御システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20503890A JPH0490002A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | クロマトグラフ制御システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20503890A JPH0490002A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | クロマトグラフ制御システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0490002A true JPH0490002A (ja) | 1992-03-24 |
Family
ID=16500419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20503890A Pending JPH0490002A (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | クロマトグラフ制御システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0490002A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007101564A (ja) * | 2000-12-05 | 2007-04-19 | Waters Investments Ltd | クロマトグラフィー・システムの自動設置適格性確認方法 |
| WO2020049614A1 (ja) * | 2018-09-03 | 2020-03-12 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ装置およびガスクロマトグラフ装置の分析支援方法 |
| US12072324B2 (en) | 2018-09-28 | 2024-08-27 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Chromatograph and apparatus for determining chromatograph analysis method |
-
1990
- 1990-08-03 JP JP20503890A patent/JPH0490002A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007101564A (ja) * | 2000-12-05 | 2007-04-19 | Waters Investments Ltd | クロマトグラフィー・システムの自動設置適格性確認方法 |
| WO2020049614A1 (ja) * | 2018-09-03 | 2020-03-12 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ装置およびガスクロマトグラフ装置の分析支援方法 |
| JPWO2020049614A1 (ja) * | 2018-09-03 | 2021-08-26 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ装置およびガスクロマトグラフ装置の分析支援方法 |
| US12072324B2 (en) | 2018-09-28 | 2024-08-27 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Chromatograph and apparatus for determining chromatograph analysis method |
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