JPH0493782A - 三次元積分磁束計 - Google Patents
三次元積分磁束計Info
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- JPH0493782A JPH0493782A JP2212993A JP21299390A JPH0493782A JP H0493782 A JPH0493782 A JP H0493782A JP 2212993 A JP2212993 A JP 2212993A JP 21299390 A JP21299390 A JP 21299390A JP H0493782 A JPH0493782 A JP H0493782A
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Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
非電離放射線というカテゴリで統括される電波や磁界の
生物に与える影響について研究が進められている。本発
明は特に磁界に関して、磁界の方向に関係なく磁界強度
を測定し、磁界強度の積分値を測定する三次元積分磁束
計に関する。
生物に与える影響について研究が進められている。本発
明は特に磁界に関して、磁界の方向に関係なく磁界強度
を測定し、磁界強度の積分値を測定する三次元積分磁束
計に関する。
（従来の技術〕
一般的に、強磁性体から発せられる磁束の測定にはフラ
ックスゲート（飽和鉄芯型）と称される磁束計が使用さ
れてきた。しかし、測定環境における瞬間的な磁束を計
測するだけのものであった。
ックスゲート（飽和鉄芯型）と称される磁束計が使用さ
れてきた。しかし、測定環境における瞬間的な磁束を計
測するだけのものであった。
磁界は地磁気あるいは永久磁石や！磁石を用いた各種電
気装置などによって身の回りにあまねく存在している。
気装置などによって身の回りにあまねく存在している。
しかし、これらは通常磁界の強さが極めて小さいか、ま
たは磁界が一部の空間に局在しており、環境および人体
に及ぼす影響は少なかった。
たは磁界が一部の空間に局在しており、環境および人体
に及ぼす影響は少なかった。
しかるに最近、科学技術の発達により強い磁界に直接人
体がさらされる機会が増えてきた。これらの磁界の発生
源としては、希±１！磁石などの強力な磁石、あるいは
超電導磁石である。この磁気力を利用した車両輸送シス
テム、角磁気共鳴吸収測定装置などの機器分析装置、核
磁気共鳴吸収を利用し人間の頭部の細胞などの状態を輪
切りにして観測することのできるＮＭＲ−ＣＴ、あるい
はＬＨＤ等大型核融合実験装置などがあり、使用磁界は
１〜５Ｔ（テスラ）にも及び、その周辺での漏れ磁界も
無視できないほど大きい値となっている。
体がさらされる機会が増えてきた。これらの磁界の発生
源としては、希±１！磁石などの強力な磁石、あるいは
超電導磁石である。この磁気力を利用した車両輸送シス
テム、角磁気共鳴吸収測定装置などの機器分析装置、核
磁気共鳴吸収を利用し人間の頭部の細胞などの状態を輪
切りにして観測することのできるＮＭＲ−ＣＴ、あるい
はＬＨＤ等大型核融合実験装置などがあり、使用磁界は
１〜５Ｔ（テスラ）にも及び、その周辺での漏れ磁界も
無視できないほど大きい値となっている。
磁気が環境あるいは人体に与える影響についてはまだ詳
細には究明されていない。しかし、非常に強い磁界は環
境あるいは人体に悪影響を及ぼすであろうとする報告や
、適度の磁界を浴びるのは健康によいという報告がある
。例えば、英国放射線防護委員会の助言として、 静磁場１．５７を越えないこと。
細には究明されていない。しかし、非常に強い磁界は環
境あるいは人体に悪影響を及ぼすであろうとする報告や
、適度の磁界を浴びるのは健康によいという報告がある
。例えば、英国放射線防護委員会の助言として、 静磁場１．５７を越えないこと。
時間変化磁場： 変化時間１０ｍｓ以上の場合は２０
ＳＩＴ／５−ｒｎ＋ｓ Ｓｏを越えないこと。変化時間
１０ｍｓ未満の場合 は（ｄＢ／ｄ ｔ） ” ｔ＜４゜ 高周波：全身での吸収率を０．４５１−・ｋｇ ５２〜
ＩＳＯ以下。
ＳＩＴ／５−ｒｎ＋ｓ Ｓｏを越えないこと。変化時間
１０ｍｓ未満の場合 は（ｄＢ／ｄ ｔ） ” ｔ＜４゜ 高周波：全身での吸収率を０．４５１−・ｋｇ ５２〜
ＩＳＯ以下。
作業者のＭ爆： 長期−全身０．０２Ｔ、手腕０．２Ｔ
１５分以内−全身０．２Ｔ、手腕
２Ｔゆ
とし、また米国食品医薬品層（ＦＤＡ）の指針として、
静磁場： 身体の全部または一部の被爆は２Ｔを越えな
い。
い。
時間変化磁場： 身体の全部または一部の被爆は３ Ｔ
／ ｓを越えない。
／ ｓを越えない。
高周波のｔｍ場： 比吸収率は平均で０．４Ｗ／ｋｇ局
所で２Ｗ／瞳を越えない。
所で２Ｗ／瞳を越えない。
作業者の被爆（米国エネルギー省の暫定試案）＝８時間
労働日−全＊０．ＯＩＴ、手０．１１１時間以下の暴露
：全身０．ＩＴ、手ｌＴ１０分以下の暴ｔｓ：全１０．
５Ｔ、 手２Ｔとしている。
労働日−全＊０．ＯＩＴ、手０．１１１時間以下の暴露
：全身０．ＩＴ、手ｌＴ１０分以下の暴ｔｓ：全１０．
５Ｔ、 手２Ｔとしている。
かかる現状においては例えば人体に強い磁界を浴びるの
はなるべく避け、比較的弱い磁界であっても長時間磁界
にさらされるのは避けるというのが賢明と言わざるを得
ない。しかしかかる注意をしても種々の強さの磁界に種
々の条件でさらされる機会は多く、延べで、どれ程の磁
界にさらされたかを知ることは重要であり、特に磁界環
境で仕事に従事する人にとっては是非とも必要なことで
ある。ところが、磁界の強さに応して磁気にさらされた
時間の積算を行う簡便な装置は、いまだ開発されていな
い。
はなるべく避け、比較的弱い磁界であっても長時間磁界
にさらされるのは避けるというのが賢明と言わざるを得
ない。しかしかかる注意をしても種々の強さの磁界に種
々の条件でさらされる機会は多く、延べで、どれ程の磁
界にさらされたかを知ることは重要であり、特に磁界環
境で仕事に従事する人にとっては是非とも必要なことで
ある。ところが、磁界の強さに応して磁気にさらされた
時間の積算を行う簡便な装置は、いまだ開発されていな
い。
したがって、本発明の目的は、簡便な積分磁束計を提供
することにある。
することにある。
上記課題を解決するために、本発明は三次元に配置され
た検出手段を用いて被爆した磁束量の積分値を計数する
携帯型の磁束計において、測定周期のタイミングを決め
るタイミング発生手段と、三次元に配置された検出手段
とそれぞれの検出出力を増幅する増幅手段の動作を制御
する動作制御手段を有する構成とし、消費電流の低減化
を図れるようにした。
た検出手段を用いて被爆した磁束量の積分値を計数する
携帯型の磁束計において、測定周期のタイミングを決め
るタイミング発生手段と、三次元に配置された検出手段
とそれぞれの検出出力を増幅する増幅手段の動作を制御
する動作制御手段を有する構成とし、消費電流の低減化
を図れるようにした。
上記のように構成された被爆した磁束量の積分値を計数
する携帯型の磁束計においては、測定周期毎に三次元に
配置した検出手段を時分割駆動して消費電流の低減化を
図ることにより、組み込まれた電池での動作時間の長寿
命化が成されることになる。
する携帯型の磁束計においては、測定周期毎に三次元に
配置した検出手段を時分割駆動して消費電流の低減化を
図ることにより、組み込まれた電池での動作時間の長寿
命化が成されることになる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明の実施例を示すブロック図である。Ｘ
軸に配置された検出手段１の検出信号は、Ｘ軸増幅手段
２により増幅される。同様に、Ｙ軸に配置された検出手
段３の検出信号は、Ｙ軸増幅手段４により増幅され、ｚ
軸に配置された検出手段５の検出信号は、Ｚ軸増幅手段
６により増幅される。前記各検出手段１．３．５と前記
各増幅手段２．４．６は、動作制御手段７の制御信号Ｉ
９．２０．２１により制御されている。前記各増幅手段
２．４．６の出力信号は、前記動作制御手段７の制御信
号１８に応じてマルチプレクサ８により選択され、前記
動作制御手段７の制御信号２２に応して、アナログ値で
ある前記各増幅手段２．４．６の出力信号をデジタル値
にＡ／Ｄ変換手段９により変換される。第２図に前記動
作制御手段７の出力する制御信号１８．１９．２０．２
１．２２のタイムチャートを示している。
軸に配置された検出手段１の検出信号は、Ｘ軸増幅手段
２により増幅される。同様に、Ｙ軸に配置された検出手
段３の検出信号は、Ｙ軸増幅手段４により増幅され、ｚ
軸に配置された検出手段５の検出信号は、Ｚ軸増幅手段
６により増幅される。前記各検出手段１．３．５と前記
各増幅手段２．４．６は、動作制御手段７の制御信号Ｉ
９．２０．２１により制御されている。前記各増幅手段
２．４．６の出力信号は、前記動作制御手段７の制御信
号１８に応じてマルチプレクサ８により選択され、前記
動作制御手段７の制御信号２２に応して、アナログ値で
ある前記各増幅手段２．４．６の出力信号をデジタル値
にＡ／Ｄ変換手段９により変換される。第２図に前記動
作制御手段７の出力する制御信号１８．１９．２０．２
１．２２のタイムチャートを示している。
前記動作制御手段７の出力する制御信号は、発振回路１
０の出力信号を分周回路１１で分周し、前記分周回路１
１の出力信号から測定周期のタイミングを生成するタイ
ミング発生手段１２の出力信号と前記分周回路１１の出
力信号とから生成される。
０の出力信号を分周回路１１で分周し、前記分周回路１
１の出力信号から測定周期のタイミングを生成するタイ
ミング発生手段１２の出力信号と前記分周回路１１の出
力信号とから生成される。
演算手段１３は、前記Ａ／Ｄ変換手段９により検出した
電気信号を磁界強度に変換し、ｘ、ｙ、ｚ軸の磁界強度
成分から実際の磁界強度を演算する。
電気信号を磁界強度に変換し、ｘ、ｙ、ｚ軸の磁界強度
成分から実際の磁界強度を演算する。
第３図に磁界強度を３軸（Ｘ、Ｙ、ｚ軸）に分解した図
を示している。第４図より磁界強度（磁束密度）Ｂは、 Ｂ＝、７’ （Ｂ ｘ Ｓ２２ Ｓｏ ＋Ｂ Ｙ
Ｓ２２ Ｓｏ ＋Ｂ ｚＳ２２ ＳＱ ） １
式 １式で表され、この演算を行う。更に演算手段１３は、
演算された磁界強度Ｂと測定周期の時間との積の計算を
行い、積算値記憶手段１４の内容に加算して再度格納す
る・、第４図に積算方法の１例を示し、前記積算値記憶
手段１４には磁束量であるＢｈが格納されていて、磁束
量Ｂｈは、 Ｂｈ−Σ（磁束強度Ｂ＊待時間） ２式２式で表せ
る。
を示している。第４図より磁界強度（磁束密度）Ｂは、 Ｂ＝、７’ （Ｂ ｘ Ｓ２２ Ｓｏ ＋Ｂ Ｙ
Ｓ２２ Ｓｏ ＋Ｂ ｚＳ２２ ＳＱ ） １
式 １式で表され、この演算を行う。更に演算手段１３は、
演算された磁界強度Ｂと測定周期の時間との積の計算を
行い、積算値記憶手段１４の内容に加算して再度格納す
る・、第４図に積算方法の１例を示し、前記積算値記憶
手段１４には磁束量であるＢｈが格納されていて、磁束
量Ｂｈは、 Ｂｈ−Σ（磁束強度Ｂ＊待時間） ２式２式で表せ
る。
前記積算値記憶手段１４の内容及び前記分周回路１１の
出力信号を計数する計測開始からの全計測時間を計数す
る時間計数手段１５の内容を表示制御手段１６を介して
表示装置１７に表示する。
出力信号を計数する計測開始からの全計測時間を計数す
る時間計数手段１５の内容を表示制御手段１６を介して
表示装置１７に表示する。
第５図に検出手段及び増幅手段の本発明における一回路
実施例を示す。検出手段ｌは、磁気検出素子２３と電流
制御用抵抗Ｒ１とトランジスタＴｒ１が直列に接続され
て構成される。磁気検出素子２３の２本の出力端子は増
幅用の抵抗Ｒ２、Ｒ３を介してアンプ２４に入力します
。前記アンプ２４の＋側入力端子は、抵抗Ｒ４を介して
接地され、−個入力端子は抵抗Ｒ５を介して負帰還され
ている。この回路構成により、２本の入力電圧の差をと
り増幅する差動増幅回路と成る。出力電圧Ｖ ＯＵＴは
、ＶＯＵＴ ＝Ｒ５（Ｖ［Ｎ１−ＶＩＮ２ ） ／Ｒ４
３式３式で表現され、Ｒ５／Ｒ４が増幅率と成る。トラ
ンジスタＴｒ２は、アンプ２４のｔ′ｔＪ端子と接地の
間に接続される。トランジスタＴｒｉ 、Ｔｒ２のゲー
ト端子は、動作制御手段７の出力する制御信号１９によ
り制御され、測定時制御信号１９はＨ”を出力し、ＯＮ
状態としてＸ軸検出手段１とＸ軸増幅手段２を動作状態
とする。また、前記制御信号１９の出力を°Ｌ”とする
ことにより非動作状態として、動作電流をカントする。
実施例を示す。検出手段ｌは、磁気検出素子２３と電流
制御用抵抗Ｒ１とトランジスタＴｒ１が直列に接続され
て構成される。磁気検出素子２３の２本の出力端子は増
幅用の抵抗Ｒ２、Ｒ３を介してアンプ２４に入力します
。前記アンプ２４の＋側入力端子は、抵抗Ｒ４を介して
接地され、−個入力端子は抵抗Ｒ５を介して負帰還され
ている。この回路構成により、２本の入力電圧の差をと
り増幅する差動増幅回路と成る。出力電圧Ｖ ＯＵＴは
、ＶＯＵＴ ＝Ｒ５（Ｖ［Ｎ１−ＶＩＮ２ ） ／Ｒ４
３式３式で表現され、Ｒ５／Ｒ４が増幅率と成る。トラ
ンジスタＴｒ２は、アンプ２４のｔ′ｔＪ端子と接地の
間に接続される。トランジスタＴｒｉ 、Ｔｒ２のゲー
ト端子は、動作制御手段７の出力する制御信号１９によ
り制御され、測定時制御信号１９はＨ”を出力し、ＯＮ
状態としてＸ軸検出手段１とＸ軸増幅手段２を動作状態
とする。また、前記制御信号１９の出力を°Ｌ”とする
ことにより非動作状態として、動作電流をカントする。
Ｙ軸検出手段３、Ｙ軸増幅段４、Ｚ軸検出手段５、Ｚ軸
増幅手段６も同様の構成である。
増幅手段６も同様の構成である。
次に、第６図に示すマイクロコンピュータにより制御さ
れる本発明の一実施例のブロック図について説明する。
れる本発明の一実施例のブロック図について説明する。
第６図に示したように、論理演算手段２７を中心にプロ
グラムメモリ （ＲＯＭ）２Ｂ、データメモリ（ＲＡＭ
）２９などでマイクロコンピュータが構成される。論理
演算処理回路２７は、ＡＬＵ、演算用レジスタ、アドレ
ス制御用レジスタ、インストラクションデコーダ等で構
成され、周辺回路とはデータバス及びアドレスバス３２
．３３で接続される。
グラムメモリ （ＲＯＭ）２Ｂ、データメモリ（ＲＡＭ
）２９などでマイクロコンピュータが構成される。論理
演算処理回路２７は、ＡＬＵ、演算用レジスタ、アドレ
ス制御用レジスタ、インストラクションデコーダ等で構
成され、周辺回路とはデータバス及びアドレスバス３２
．３３で接続される。
ＲＯＭ２Ｂは、処理手順をインストラクションに置き換
えたソフトウェアを格納するプログラムメモリである。
えたソフトウェアを格納するプログラムメモリである。
ＲＡＭ２９は、データメモリであり、各種情報の一時的
格納に用いられる。
格納に用いられる。
システムクロンク発生回路２５は、発振回路１０の出力
を受けて、前記論理演算処理回路２７の動作に必要なシ
ステムクロックを生成する。
を受けて、前記論理演算処理回路２７の動作に必要なシ
ステムクロックを生成する。
割込制御回路２６は、前記発振回路１０の出力を分周す
る分周回路１１の出力を受けて、前記論理演算処理回路
２７の動作開始の起動信号を生成するとともに割込の内
容は、データバス３２を介して読み取られる。
る分周回路１１の出力を受けて、前記論理演算処理回路
２７の動作開始の起動信号を生成するとともに割込の内
容は、データバス３２を介して読み取られる。
前記分周回路１１の出力信号から測定周期のタイミング
を生成するタイミング発生手段１２の出力信号と前記分
周回路１１の出力信号とから生成され、動作制御手段７
において、前記分周回路１１の出力信号とから検出手段
３０及び増幅手段３１の制御信号を生成する。検出手段
３０は、第１図における各Ｘ、Ｙ、Ｚ軸検出手段ｌ、３
．５をまとめて総称したものであり、同様に増幅手段３
１は、第１図における各ｘ、ｙ、ｚ軸増幅手段２．４．
６をまとめて総称したものである。
を生成するタイミング発生手段１２の出力信号と前記分
周回路１１の出力信号とから生成され、動作制御手段７
において、前記分周回路１１の出力信号とから検出手段
３０及び増幅手段３１の制御信号を生成する。検出手段
３０は、第１図における各Ｘ、Ｙ、Ｚ軸検出手段ｌ、３
．５をまとめて総称したものであり、同様に増幅手段３
１は、第１図における各ｘ、ｙ、ｚ軸増幅手段２．４．
６をまとめて総称したものである。
前記増幅手段３１の出力は、マルチプレクサ８で選択さ
れ、Ａ／Ｄ変換手段９でデジタル信号に変換され前記デ
ータバス３２を介して論理演算処理手段に読み込まれる
。表示制御手段１６は、前記データバス３２を介して供
給される情報を表示装置１７に供給する。
れ、Ａ／Ｄ変換手段９でデジタル信号に変換され前記デ
ータバス３２を介して論理演算処理手段に読み込まれる
。表示制御手段１６は、前記データバス３２を介して供
給される情報を表示装置１７に供給する。
第６図のマイクロコンピュータにより制御される場合の
動作手順を第７図の本発明の動作手順を示すフローチャ
ートにしたがって説明する。
動作手順を第７図の本発明の動作手順を示すフローチャ
ートにしたがって説明する。
割込制御回路２６から論理演算処理回路２７に対して、
割込が発生すると処理７１において動作制御手段７に対
してＹ軸の駆動を選択すると、第１図における制御信号
１９を出力しＸ軸検出手段１、Ｘ軸増幅手段２が駆動す
る。マルチプレクサ８は前記Ｘ軸増幅手段２の出力信号
を選択する。処理７２で増幅手段の動作が安定するまで
の一定時間のＷＡＩＴを行い、処理７３においてＡ／Ｄ
変換手段９を動作させ、データバス３２を介して変換さ
れたデータを論理演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格
納する。処理７４において動作制御手段７に対してＹ軸
の駆動を選択すると、第１図における制御信号２０を出
力しＹ軸検出手段３、Ｙ軸増幅手段４が駆動する。マル
チプレクサ８は前記Ｙ軸増幅手段４の出力信号を選択す
る。処理７５で増幅手段の動作が安定するまでの一定時
間のＷＡＩＴを行い、処理７６においてＡ／Ｄ変換手段
９を動作させ、データバス３２を介して変換されたデー
タを論理演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格納する。
割込が発生すると処理７１において動作制御手段７に対
してＹ軸の駆動を選択すると、第１図における制御信号
１９を出力しＸ軸検出手段１、Ｘ軸増幅手段２が駆動す
る。マルチプレクサ８は前記Ｘ軸増幅手段２の出力信号
を選択する。処理７２で増幅手段の動作が安定するまで
の一定時間のＷＡＩＴを行い、処理７３においてＡ／Ｄ
変換手段９を動作させ、データバス３２を介して変換さ
れたデータを論理演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格
納する。処理７４において動作制御手段７に対してＹ軸
の駆動を選択すると、第１図における制御信号２０を出
力しＹ軸検出手段３、Ｙ軸増幅手段４が駆動する。マル
チプレクサ８は前記Ｙ軸増幅手段４の出力信号を選択す
る。処理７５で増幅手段の動作が安定するまでの一定時
間のＷＡＩＴを行い、処理７６においてＡ／Ｄ変換手段
９を動作させ、データバス３２を介して変換されたデー
タを論理演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格納する。
処理７７において動作制御手段７に対してＹ軸の駆動を
選択すると、第１図における制御信号２１を出力しＺ軸
検出手段５、Ｚ軸増幅手段６が駆動する。マルチプレク
サ８は前記Ｚ軸増幅手段６の出力信号を選択する。処理
７８で増幅手段の動作が安定するまでの一定時間のＷＡ
ＩＴを行い、処理７９においてＡ／Ｄ変換手段９を動作
させ、データバス３２を介して変換されたデータを論理
演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格納する。処理８０
において、前記Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向におけるデジタル信号
化されたデータを磁界強度に変換し、（（Ｂ ｘ Ｓ２
２ Ｓｏ ＋Ｂ ＶＳ２２ ＳＯ＋Ｂ ｚ Ｓ２２ Ｓ
Ｏ）の演算を行う。処理８１において、処理８０で演算
された磁界強度Ｂに測定周期の時間の積の演算を行う。
選択すると、第１図における制御信号２１を出力しＺ軸
検出手段５、Ｚ軸増幅手段６が駆動する。マルチプレク
サ８は前記Ｚ軸増幅手段６の出力信号を選択する。処理
７８で増幅手段の動作が安定するまでの一定時間のＷＡ
ＩＴを行い、処理７９においてＡ／Ｄ変換手段９を動作
させ、データバス３２を介して変換されたデータを論理
演算手段に読み込み、−旦ＲＡＭに格納する。処理８０
において、前記Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向におけるデジタル信号
化されたデータを磁界強度に変換し、（（Ｂ ｘ Ｓ２
２ Ｓｏ ＋Ｂ ＶＳ２２ ＳＯ＋Ｂ ｚ Ｓ２２ Ｓ
Ｏ）の演算を行う。処理８１において、処理８０で演算
された磁界強度Ｂに測定周期の時間の積の演算を行う。
処理８２において、処理８１で演算された結果を積算知
記憶手段１３に加算し、再び格納する。
記憶手段１３に加算し、再び格納する。
処理８３において、時間計数手段１５に測定周期の時間
を加算して、再び格納し、処理８４において表示装置１
７に対する表示の処理を行って、処理８５のＨＡＬＴ状
態に戻る。
を加算して、再び格納し、処理８４において表示装置１
７に対する表示の処理を行って、処理８５のＨＡＬＴ状
態に戻る。
本発明は、以上説明してように被爆した磁束量の積分値
を計数する携帯型の磁束計において、測定周期のタイミ
ングを決めるタイミング発生手段と、三次元に配置され
た検出手段とそれぞれの検出出力を増幅する増幅手段の
動作を制御する動作制御手段を存する構成を用いること
により、消費ｉｉｉ流の低減化が図れ、組み込まれた電
池での動作時間の長寿命化が成されるという効果がある
。
を計数する携帯型の磁束計において、測定周期のタイミ
ングを決めるタイミング発生手段と、三次元に配置され
た検出手段とそれぞれの検出出力を増幅する増幅手段の
動作を制御する動作制御手段を存する構成を用いること
により、消費ｉｉｉ流の低減化が図れ、組み込まれた電
池での動作時間の長寿命化が成されるという効果がある
。
第１図は本発明の実施例を示すブロック図、第２図は動
作制御手段７の出力する制御信号のタイムチャート、第
３図は磁界強度を３軸（Ｘ、Ｙ、Ｚ軸）に分解した図、
第４図は積算方法の１例を示す図、第５図は検出手段、
増幅手段の本発明における一回路実施例、第６図はマイ
クロコンピュータにより制御される本発明の実施例を示
すブロック図、第７図は本発明の動作手順を示すフロー
チャートである。 １・・・Ｘ軸検出手段 ２・・・Ｘ軸増幅手段 ３・・・Ｙ軸検出手段 ４・・・Ｙ軸増幅手段 ５・・・Ｘ軸検出手段 ６・・・Ｚ軸増幅手段 ７・・・動作制御手段 ８・・・マルチプレクサ ９・・・Ａ／Ｄ変換手段 １０・・・発振回路 １１・・・分周回路 １２・・・タイミング発生手段 １３・・・演算手段 １４・・・積算値記憶手段 １５・・・時間計数手段 １６・・・表示制御手段 １７・・・表示装置 １Ｂ、 １９．２０．２１．２２・・・制御信号２３・
・・検出素子 ２４・・・アンプ ２５・・・ソステムクロフク発生回路 ２６・・・割込制御回路 ２７・・・論理演算処理回路 ２８・・・ＲＯＭ ２９・・・ＲＡＭ ３０・・・検出手段 ３１・・・増幅手段 ３２・・・データバス ３３・・・アドレスバス 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 助 磁界強度を３ｖＪ（Ｘ、Ｙ、 ｚｌ）に分解した図第
３ 口 時間ｈ ←測定点 １Ｍの方法の１例を示す図 ４５４ 図 填 区 マイクロコンピユータにより制御される本発明の実施例
を示すブロック図づも ６ 圓 「−］
作制御手段７の出力する制御信号のタイムチャート、第
３図は磁界強度を３軸（Ｘ、Ｙ、Ｚ軸）に分解した図、
第４図は積算方法の１例を示す図、第５図は検出手段、
増幅手段の本発明における一回路実施例、第６図はマイ
クロコンピュータにより制御される本発明の実施例を示
すブロック図、第７図は本発明の動作手順を示すフロー
チャートである。 １・・・Ｘ軸検出手段 ２・・・Ｘ軸増幅手段 ３・・・Ｙ軸検出手段 ４・・・Ｙ軸増幅手段 ５・・・Ｘ軸検出手段 ６・・・Ｚ軸増幅手段 ７・・・動作制御手段 ８・・・マルチプレクサ ９・・・Ａ／Ｄ変換手段 １０・・・発振回路 １１・・・分周回路 １２・・・タイミング発生手段 １３・・・演算手段 １４・・・積算値記憶手段 １５・・・時間計数手段 １６・・・表示制御手段 １７・・・表示装置 １Ｂ、 １９．２０．２１．２２・・・制御信号２３・
・・検出素子 ２４・・・アンプ ２５・・・ソステムクロフク発生回路 ２６・・・割込制御回路 ２７・・・論理演算処理回路 ２８・・・ＲＯＭ ２９・・・ＲＡＭ ３０・・・検出手段 ３１・・・増幅手段 ３２・・・データバス ３３・・・アドレスバス 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 助 磁界強度を３ｖＪ（Ｘ、Ｙ、 ｚｌ）に分解した図第
３ 口 時間ｈ ←測定点 １Ｍの方法の１例を示す図 ４５４ 図 填 区 マイクロコンピユータにより制御される本発明の実施例
を示すブロック図づも ６ 圓 「−］
Claims (5)
- （１）磁界強度の積分値を測定する三次元積分磁束計に
おいて、 （ａ）Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の三次元に配置された３個
の磁気検出手段と、 （ｂ）前記３個の磁気検出手段それぞれの検出信号を増
幅する３個の増幅手段と、 （ｃ）前記磁気検出手段と前記増幅手段の動作を制御す
る動作制御手段と、 （ｄ）前記動作制御手段の制御信号に応じて前記３個の
増幅手段の出力信号を選択するマルチプレクサと、 （ｅ）前記マルチプレクサの出力するアナログ信号をデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、（ｆ）測定周
期を発生するタイミング発生手段と、（ｇ）前記３軸方
向のデジタル信号から磁界強度のベクトル計算し、前記
タイミング発生手段の測定間隔である時間と磁束強度の
積を演算する演算手段と、 （ｈ）前記時間と磁束強度の積の総和を記憶する積算値
記憶手段と、 （ｉ）前記積算値記憶手段の内容を表示する表示装置と
から成ることを特徴とする三次元積算磁束計。 - （２）前記磁気検出手段がホール素子である請求項１記
載の三次元積算磁束計。 - （３）前記磁気検出手段が磁気抵抗素子である請求項１
記載の三次元積算磁束計。 - （４）前記動作制御手段が前記３個の検出手段とそれぞ
れに対応する増幅手段とを時分割駆動することを請求項
１記載の三次元積算磁束計。 - （５）前記動作制御手段が、非測定時、前記３個の検出
手段とそれぞれに対応する増幅手段とを電流遮断するこ
とを特徴とする請求項１記載の三次元積算磁束計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2212993A JPH0493782A (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 三次元積分磁束計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2212993A JPH0493782A (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 三次元積分磁束計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0493782A true JPH0493782A (ja) | 1992-03-26 |
Family
ID=16631693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2212993A Pending JPH0493782A (ja) | 1990-08-09 | 1990-08-09 | 三次元積分磁束計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0493782A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6336043B1 (en) | 1997-10-02 | 2002-01-01 | Hitachi, Ltd. | Method for processing biomagnetic field data, magnetic field contour mapping, forming their waveforms and a biomagnetic instrument using the same |
| US6473518B1 (en) | 1997-10-02 | 2002-10-29 | Hitachi, Ltd. | Method of measuring a biomagnetic field, method of analyzing a measured biomagnetic field, method of displaying biomagnetic field data, and apparatus therefor |
| JP2006098307A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006098306A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006098305A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006308405A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Hioki Ee Corp | 曝露量測定装置 |
| JP2006343181A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hioki Ee Corp | 磁界測定装置 |
-
1990
- 1990-08-09 JP JP2212993A patent/JPH0493782A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6336043B1 (en) | 1997-10-02 | 2002-01-01 | Hitachi, Ltd. | Method for processing biomagnetic field data, magnetic field contour mapping, forming their waveforms and a biomagnetic instrument using the same |
| US6473518B1 (en) | 1997-10-02 | 2002-10-29 | Hitachi, Ltd. | Method of measuring a biomagnetic field, method of analyzing a measured biomagnetic field, method of displaying biomagnetic field data, and apparatus therefor |
| US6711281B2 (en) | 1997-10-02 | 2004-03-23 | Hitachi, Ltd. | Method of measuring a biomagnetic field, method of analyzing a measured biomagnetic field, and method of displaying biomagnetic field data, and apparatus therefor |
| US6961605B2 (en) | 1997-10-02 | 2005-11-01 | Hitachi, Ltd. | Method for processing biomagnetic field data, magnetic field contour mapping, forming their waveforms and a biomagnetic instrument using the same |
| US7194121B2 (en) | 1997-10-02 | 2007-03-20 | Hitachi, Ltd. | Method of measuring a biomagnetic field, method of analyzing a measured biomagnetic field, method of displaying biomagnetic field data, and an apparatus therefor |
| US7433506B2 (en) | 1997-10-02 | 2008-10-07 | Hitachi, Ltd. | Method of measuring a biomagnetic field, method of analyzing a measured biomagnetic field, method of displaying biomagnetic field data, and an apparatus therefor |
| JP2006098307A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006098306A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006098305A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
| JP2006308405A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Hioki Ee Corp | 曝露量測定装置 |
| JP2006343181A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hioki Ee Corp | 磁界測定装置 |
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