JPH049417B2 - - Google Patents

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JPH049417B2
JPH049417B2 JP60050331A JP5033185A JPH049417B2 JP H049417 B2 JPH049417 B2 JP H049417B2 JP 60050331 A JP60050331 A JP 60050331A JP 5033185 A JP5033185 A JP 5033185A JP H049417 B2 JPH049417 B2 JP H049417B2
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Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は扇上のＸ線ビームを被検体に向けて照
射しながら回転させ、得られた被検体回りの投影
データより被検体の断層像を再構成するＸ線CT
装置に関する。
［従来技術の背景］ 従来のこの程の装置は第３図の概略図に示すよ
うにＸ線管１は被検体２に向けて扇状のＸ線ビー
ム４を照射しながら回転する。Ｘ線管１の軌道の
外側にはＸ線管の回転中心と同心となす検出器リ
ング３が固定配置してある。検出器リング３は多
数のＸ線検出素子を等間隔に配列している。被検
体２を透過したＸ線ビームは検出器リング３のＸ
線管１と対向する部分に入射し、その強度に応じ
た電気信号に変換され、データ収集部（以下、
DASと略す。）５に供給される。
一方、Ｘ線管１の回転中心と同心円状に図示し
ないグラテイキユールが配置されている。このグ
ラテイキユールは透明部分及び不透明部分が交互
に配列されており、その数は検出素子数の例えば
２倍である。そしてＸ線管１と同期して動くフオ
トセンサ（図示せず）によつてこのグラテイキユ
ールは電気的パルスに変換される。（以下、グラ
テイキユールとフオトセンサとをグラテイキユー
ルセンサと称す。）この電気的パルスは回転制御
部７に供給される。回転制御部７はグラテイキユ
ールセンサからのパルスによりＸ線管１の回転制
御を行うとともにこのパルスをDAS５に供給す
る。
DAS５はグラテイキユールセンサからのパル
スに同期して、すなわちＸ線管１の回転に同期し
て検出器リング３から供給される電気信号をサン
プリングし、デジタル信号に変換して、ソータ６
に供給する。ソータ６は連続する複数の投影デー
タより、、ある検出素子から拡がる扇状ビーム
（以下デテクタフアンと称す。）に並び換え、補間
部８に供給する。補間部８はＸ線管１の回転中心
に対して均等間隔に拡がつているデテクタフアン
データを検出素子からみて均等間隔に拡がるよう
に補間する。メモリ部９はこれらDAS５、ソー
タ６及び補間部８と接続され、これらを補助す
る。補間部８からのデテクタフアンデータはコン
ボルバ１０に供給される。コンボルバ１０はデテ
クタフアンデータをバツクプロジエクトしたとき
に画像にボケが生じないようにコンボリユーシヨ
演算を行い、バツクプロジエクタ１１に供給す
る。バツクプロジエクタ１１は被検体２の断面の
座標と対応したメモリ空間を有するイメージメモ
リにてコンボリユーシヨン演算されたデテクタフ
アンデータをバツクプロジエクトする。そしてこ
のコンボリユーシヨンバツクプロジエクトを次々
に供給されたデテクタフアンデータに対して実行
しイメージメモリ上重畳して被検体２の断層面を
再構成し、CRT１３に表示するものである。
［従来技術の問題点］ 第４図の模式図は従来のＸ線CT装置の検出器
リング３とDAS５のサンプリング点の関係を示
した図である。
同図に示すように検出器リング３の検出素子の
中心点＃１，＃２，…，＃ＮとDAS５のサンプ
リング点Ｓ１，Ｓ２，…，Ｓ２Ｎは完全に同相で
ある。すなわち、検出素子の中心点＃１，＃２，
…＃Ｎでは必ずサンプリングが行われている。
従つてデテクタフアンデータに変換されていて
もサンプリングピツチはDAS５のサンプリング
点Ｓ１，Ｓ２，…，Ｓ２Ｎの間隔に依存しそれ以
上、上げることはできない。
扇状のＸ線を発生するＸ線源とそれを検出する
検出器とを対向するように被検体の回りに回転さ
せるいわゆる第３世代のＸ線CT装置においては
例えば米国特許第4176279号に示されるように、
検出器を検出素子の間隔の1/4だけずらしてサン
プリング点を約２倍に上げる技術が公知である。
しかし、固定配置される検出器リングを常に検出
素子間隔の1/4だけずらすことは不可能である。
［発明の目的］ 本発明は固定配置された扇状Ｘ線ビームを検出
する検出器においてもデータのサンプリングピツ
チを約1/2に細かくすることができるＸ線CT装置
を提供することを目的とする。
［発明の概要］ この目的を達成するために本発明は被検体に向
けて扇状のＸ線を照射しながら被検体の回りを回
転するＸ線源と、この回転中心と同心円をなすよ
うにほぼ等間隔に配列された複数の検出素子を含
み、被検体を透過したＸ線量に応じたデータを供
給するＸ線検出部と、前記Ｘ線検出部からのデー
タを、前記検出素子の各中心に対してサンプリン
グピツチの1/4だけずらしてサンプリングするデ
ータサンプリング手段とから構成されることを特
徴とするものである。
［発明の実施例］ 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。第１図の概略図は同実施例の構成を示すも
のである。尚、第３図と同等の作用をするものは
同一符号を付し詳細な説明を略す。
同図において、図示しないグラテイキユールセ
ンサのパルスは回転制御部７を介して遅延回路１
４に供給される。遅延回路１４は検出素子の各中
心に対して各サンプリングピツチの間隔の1/4だ
けずれるようにグラテイキユールセンサからのパ
ルスを遅延させて、DAS５に供給する。DAS５
はこの遅延されたグラテイキユールセンサからの
パルスによつてデータをサンプリングする。この
遅延されたパルスによつてサンプリングされたデ
ータは従来と同じに処理される。
第２図の模式図は本実施例の検出器リング３と
DAS５のサンプリング点との関係を示したもの
である。
同図に示すように検出器リング３の検出素子の
中心点＃１，＃２，…，＃に対して、DAS５の
サンプリング点Ｐ１，Ｐ２，…，Ｐ２Ｎはサンプ
リング点の間隔θの1/4だけずれている。つまり、
約180゜で対向するデテクタフアンビームはサンプ
リング点の1/2だけ互いにずれる。
従つて各ビームに接する同心円の間隔は第４図
に示したそれと比較して約２倍の密度になる。す
なわちサンプリング密度は従来に比較して約２倍
になる。
尚本発明は上記実施例に限定されるものではな
い。すなわち遅延回路１４を設けなくても例えば
Ｘ線管とグラテイキユールセンサとの間にサンプ
リングピツチの間隔1/4に相当する位置的変位を
予め与えておいてもよい。
またはグラテイキユールの密度を４倍に上げ、
Ｘ線管に対して１ピツチずらしてかつ４ピツチお
きにサンプリングしても同様の作用効果を生じ
る。
また、デテクタフアンデータを米国特許第
4284896号に示されるように隣接するビーム間に
対応するビームが通過するように補間してそのデ
ータでコンボリユーシヨンバツクプロジエクシヨ
ンしてもよい。
［発明の効果］ 以上、説明したように本発明によれば検出器リ
ングが固定配置されたＸ線CT装置においても、
サンプリング密度を上げることができる。従つて
サンプリング密度が粗いときに発生するエリアに
よるアーチフアクトを除去した断層像を得ること
ができる。また、空間解像力を向上することもで
きる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例の概略的な構成を示
す概略図、第２図は同実施例の作用を説明する模
式図、第３図は従来のＸ線CT装置の概略的な構
成を示す概略図、第４図は同装置の作用を説明す
る模式図である。 １……Ｘ線管、３……検出器リング、５……
DAS、６……ソータ、７……回転制御部、８…
…補間部、９……メモリ部、１０……コンボル
バ、１１……バツクプロジエクタ、１２……イメ
ージメモリ、１３……CRT。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 被検体に向けて扇状のＸ線を照射しながら被
    検体の回りを回転するＸ線源と、この回転中心と
    同心円をなすようにほぼ等間隔に配列された複数
    の検出素子を含み、被検体を透過したＸ線量に応
    じたデータを供給するＸ線検出部と、前記Ｘ線検
    出部からのデータを、前記検出素子の各中心に対
    してサンプリングピツチの1/4だけずらしてサン
    プリングするデータサンプリング手段とから構成
    されることを特徴とするＸ線CT装置。
JP60050331A 1985-03-15 1985-03-15 Ｘ線ｃｔ装置 Granted JPS61209641A (ja)

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DE19863608404 DE3608404A1 (de) 1985-03-15 1986-03-13 Roentgen-computertomographiesystem
US06/839,560 US4754468A (en) 1985-03-15 1986-03-14 X-ray computed tomography system

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JPH049417B2 true JPH049417B2 (ja) 1992-02-20

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