JPH049533B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH049533B2 JPH049533B2 JP58000380A JP38083A JPH049533B2 JP H049533 B2 JPH049533 B2 JP H049533B2 JP 58000380 A JP58000380 A JP 58000380A JP 38083 A JP38083 A JP 38083A JP H049533 B2 JPH049533 B2 JP H049533B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- converter
- current
- detection element
- rays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線CT装置に使用する電流計測装置
に関するものである。
に関するものである。
Ｘ線CT装置（Computed Tomography）にお
いては、患者へパルス状のＸ線を照射し、その透
明Ｘ線を多数のＸ線検出素子である電離箱を配列
したＸ線検出器で検知し、その信号に基づき患者
を輪切りにしたような断層画像を得るように構成
している。この場合、患者の各部（例えば頭部）
へＸ線を照射し、この透過量を測定することでＸ
線を照射した部分の断層画像を得ることができる
のは、人体の各組識によりＸ線の透過量が異なつ
ているからである。
いては、患者へパルス状のＸ線を照射し、その透
明Ｘ線を多数のＸ線検出素子である電離箱を配列
したＸ線検出器で検知し、その信号に基づき患者
を輪切りにしたような断層画像を得るように構成
している。この場合、患者の各部（例えば頭部）
へＸ線を照射し、この透過量を測定することでＸ
線を照射した部分の断層画像を得ることができる
のは、人体の各組識によりＸ線の透過量が異なつ
ているからである。
一方、Ｘ線CT装置においては、パルス状のＸ
線を１発患部へ照射しては、この透過Ｘ線を測定
し、その次にＸ線の照射角度を変えて、また前と
同じ患部へパルス状のＸ線を１発照射して、この
透過Ｘ線を測定する動作を繰り返している。
線を１発患部へ照射しては、この透過Ｘ線を測定
し、その次にＸ線の照射角度を変えて、また前と
同じ患部へパルス状のＸ線を１発照射して、この
透過Ｘ線を測定する動作を繰り返している。
そこで、Ｘ線発生器から照射されるＸ線パルス
が常に一定のレベルであるならよいが、各種の要
因（例えばＸ線CT装置の電源投入直後のＸ線パ
ルスと電源投入から長時間経た後のＸ線パルスの
レベルは通常異なつて来る。またＸ線発生器に印
加する電圧が電源変動により変化するとそれにつ
れてＸ線パルスのレベルも変化する。）によつて
変化するので、患者を通過したＸ線透過量を１発
ごとの照射Ｘ線量で規格化する必要がある。
が常に一定のレベルであるならよいが、各種の要
因（例えばＸ線CT装置の電源投入直後のＸ線パ
ルスと電源投入から長時間経た後のＸ線パルスの
レベルは通常異なつて来る。またＸ線発生器に印
加する電圧が電源変動により変化するとそれにつ
れてＸ線パルスのレベルも変化する。）によつて
変化するので、患者を通過したＸ線透過量を１発
ごとの照射Ｘ線量で規格化する必要がある。
以上の動作を図を用いて説明する。図はＸ線
CT装置の要部とこれに使用する電流計測装置の
構成例を示すものであり、これらの外見上の構成
は、従来から知られたものであり、また本発明に
おいても図の構成を使用している。
CT装置の要部とこれに使用する電流計測装置の
構成例を示すものであり、これらの外見上の構成
は、従来から知られたものであり、また本発明に
おいても図の構成を使用している。
まず、従来手段による電流計測装置の動作とそ
の欠点を説明する。
の欠点を説明する。
図において、１はＸ線発生器でありパルス状の
Ｘ線を図のように扇形方向へ１度に照射する。
L1，L2，L3はＸ線のビームである。３は検査対
象の患者である。５はＸ線検出器であり患者３を
挾んでＸ線発生器と対向して設けられている。こ
のＸ線検出器５は多数のＸ線検出素子A1〜Aoを
図のように配列して構成されたものである。この
Ｘ線検出素子A1〜Aoとしては各種の検出原理の
ものを使用できるが例えば電離箱（特開昭51−
126085号に記載されている）のようなものを用い
ることができる。そしてこのＸ線検出器５は各検
出素子A1〜Aoごとに入射したＸ線量のエネルギ
ーレベルに比例した電流i1〜ioを出力する。B1〜
Boは電流・電圧変換器であり、例えばコンデン
サのようなものである。この各コンデンサB1〜
Boと各Ｘ線検出素子A1〜Aoは入力チヤンネル回
路を形成している。C1とC2はマルチプレクサで
あり、コンデンサB1〜Boの電圧を選択的に取り
出して次段へ伝えるものである。６と７はＡ・Ｄ
変換器でありアナログ信号をデジタル信号へ変換
するものである。９はメモリでありＡ・Ｄ変換器
６，７から出力されたＸ線量に比例した信号を格
納しておくものである。１０は演算器であり、上
述したような規格化するための演算機能を有する
ものである。
Ｘ線を図のように扇形方向へ１度に照射する。
L1，L2，L3はＸ線のビームである。３は検査対
象の患者である。５はＸ線検出器であり患者３を
挾んでＸ線発生器と対向して設けられている。こ
のＸ線検出器５は多数のＸ線検出素子A1〜Aoを
図のように配列して構成されたものである。この
Ｘ線検出素子A1〜Aoとしては各種の検出原理の
ものを使用できるが例えば電離箱（特開昭51−
126085号に記載されている）のようなものを用い
ることができる。そしてこのＸ線検出器５は各検
出素子A1〜Aoごとに入射したＸ線量のエネルギ
ーレベルに比例した電流i1〜ioを出力する。B1〜
Boは電流・電圧変換器であり、例えばコンデン
サのようなものである。この各コンデンサB1〜
Boと各Ｘ線検出素子A1〜Aoは入力チヤンネル回
路を形成している。C1とC2はマルチプレクサで
あり、コンデンサB1〜Boの電圧を選択的に取り
出して次段へ伝えるものである。６と７はＡ・Ｄ
変換器でありアナログ信号をデジタル信号へ変換
するものである。９はメモリでありＡ・Ｄ変換器
６，７から出力されたＸ線量に比例した信号を格
納しておくものである。１０は演算器であり、上
述したような規格化するための演算機能を有する
ものである。
なお、図においては入力チヤンネル回路を２つ
のブロツクに分け、その分けたブロツクごとに
Ａ・Ｄ変換器６，７を接続している。
のブロツクに分け、その分けたブロツクごとに
Ａ・Ｄ変換器６，７を接続している。
ここでＸ線発生器１から照射される元のＸ線パ
ルスの強さ（患者を通過しないで直接Ｘ線検出器
へ到達するＸ線の強さ）を測定する入力チヤンネ
ルを基準チヤンネルと呼ぶことにする。この基準
チヤンネルのＸ線検出素子は図においてA1とAo
であるとする。
ルスの強さ（患者を通過しないで直接Ｘ線検出器
へ到達するＸ線の強さ）を測定する入力チヤンネ
ルを基準チヤンネルと呼ぶことにする。この基準
チヤンネルのＸ線検出素子は図においてA1とAo
であるとする。
以上のような構成の図の装置において、従来手
段では次に示す演算により規格化を行なつてい
た。
段では次に示す演算により規格化を行なつてい
た。
元のＸ線強度＝R6＋R7／２ (1)
Ａ・Ｄ変換器６の測定値に対しては(2)式の規格化
を行なう。
を行なう。
D6／R6＋R7／２＝２／１＋α7／α6・Ｄ／Ｒ (2)
Ａ・Ｄ変換器７の測定値に対しては(3)式の規格化
を行なう。
を行なう。
D7／R6＋R7／２＝２／１＋α6／α7・Ｄ／Ｒ (3)
ただし
Ｒ：元のＸ線強度
Ｄ：患者（被検体）の透過Ｘ線量
R6：ＲをＡ・Ｄ変換器６で測定した値
R7：ＲをＡ・Ｄ変換器７で測定した値
D6：ＤをＡ・Ｄ変換器６で測定した値
D7：ＤをＡ・Ｄ変換器７で測定した値
α6：Ａ・Ｄ変換器６のゲイン
α7：Ａ・Ｄ変換器７のゲイン
上記のような場合、(2)式及び(3)式に示す如く、
２つのＡ・Ｄ変換器６，７のゲインに差異や変動
があれば測定結果に誤差を生じさせることにな
る。
２つのＡ・Ｄ変換器６，７のゲインに差異や変動
があれば測定結果に誤差を生じさせることにな
る。
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたも
のでありＡ・Ｄ変換器を２個以上用いた電流計測
装置においてＡ・Ｄ変換器の相互間のゲインの差
異や変動の影響を除去できる手段を提供しようと
するものである。
のでありＡ・Ｄ変換器を２個以上用いた電流計測
装置においてＡ・Ｄ変換器の相互間のゲインの差
異や変動の影響を除去できる手段を提供しようと
するものである。
本発明に係る電流計測装置の構成は、上述した
ように図と同じものである。ただし演算器１０に
おける演算の仕方が従来のものと異なる。
ように図と同じものである。ただし演算器１０に
おける演算の仕方が従来のものと異なる。
本発明においては、Ａ・Ｄ変換器６と７のそれ
ぞれの測定値を別々に規格化している。すなわ
ち、Ａ・Ｄ変換器６の測定値に対しては(4)式の規
格化を行なう。
ぞれの測定値を別々に規格化している。すなわ
ち、Ａ・Ｄ変換器６の測定値に対しては(4)式の規
格化を行なう。
D6／R6＝α6・Ｄ／α6・Ｒ＝Ｄ／Ｒ (4)
またＡ・Ｄ変換器７の測定値に対しては(5)式の規
格化を行なう。
格化を行なう。
D7／R7＝α7・Ｄ／α7・Ｒ＝Ｄ／Ｒ (5)
このように同一のＡ・Ｄ変換器で得られたデータ
同士で規格化の演算を行なうようにしている。そ
の結果、(4)式、(5)式で示すようにＡ・Ｄ変換器
６，７のゲイン変動やゲインの差異による誤差が
生じなくなる。
同士で規格化の演算を行なうようにしている。そ
の結果、(4)式、(5)式で示すようにＡ・Ｄ変換器
６，７のゲイン変動やゲインの差異による誤差が
生じなくなる。
なお、上述ではＡ・Ｄ変換器を２個用いた例で
説明したがＭ個であつても本発明は成立する。こ
の場合、基準チヤンネルと測定用チヤンネルをそ
れぞれＭブロツクに分割し、前記と同様に規格化
は、同一Ａ・Ｄ変換器におけるデータで行なえば
よいわけである。
説明したがＭ個であつても本発明は成立する。こ
の場合、基準チヤンネルと測定用チヤンネルをそ
れぞれＭブロツクに分割し、前記と同様に規格化
は、同一Ａ・Ｄ変換器におけるデータで行なえば
よいわけである。
以上の説明のように本発明によれば、複数の
Ａ・Ｄ変換器相互間のゲインを同一にする必要は
なく、またこのゲインが変化したとしても、規格
化された測定値は上記ゲインの影響を受けること
がない。
Ａ・Ｄ変換器相互間のゲインを同一にする必要は
なく、またこのゲインが変化したとしても、規格
化された測定値は上記ゲインの影響を受けること
がない。
図は従来及び本発明に係るＸ線CT装置の要部
とこれに使用する電流計測装置の構成例を示した
ものである。 １……Ｘ線発生器、５……Ｘ線検出器、A1〜
Ao……Ｘ線検出素子、B1〜Bo……電流・電圧変
換器、C1，C2……マルチプレクサ、６，７……
Ａ・Ｄ変換器、９……メモリ、１０……演算器。
とこれに使用する電流計測装置の構成例を示した
ものである。 １……Ｘ線発生器、５……Ｘ線検出器、A1〜
Ao……Ｘ線検出素子、B1〜Bo……電流・電圧変
換器、C1，C2……マルチプレクサ、６，７……
Ａ・Ｄ変換器、９……メモリ、１０……演算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ Ｘ線発生器と、被検体を挾んでＸ線発生器と
対向して設けられ多数のＸ線検出素子を配列して
構成したＸ線検出器と、この各Ｘ線検出素子から
得られる電離電流を電圧に変換する複数個の電
流・電圧変換器と、前記電流・電圧変換器を複数
のブロツクに分けその各ブロツク毎へ１個ずつ接
続されたＡ・Ｄ変換器と、このＡ・Ｄ変換器から
の信号を導入して演算を加える演算器と、を備え
た装置において、 前記各ブロツクに対応したＸ線検出素子群毎に
被検体を通過しないＸ線が照射されるＸ線検出素
子Ａ１を設け、 このＸ線検出素子Ａ１の電離電流に基づく当該
ブロツクのA.D変換器６で得られた第１測定値Ｒ
６と、被検体を通過したＸ線が照射されるＸ線検
出素子の電離電流に基づく当該ブロツクのA.D変
換器６で得られた第２測定値Ｄ６とを前記演算器
に導入し、 前記演算器にて、第２測定値／第１測定値の演
算を行なうようにしたＸ線CT装置に使用する電
流計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000380A JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000380A JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59125547A JPS59125547A (ja) | 1984-07-19 |
| JPH049533B2 true JPH049533B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=11472187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58000380A Granted JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59125547A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61196945A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| FR2776913B1 (fr) * | 1998-04-03 | 2000-06-23 | Thomson Tubes Electroniques | Procede d'acquisition de mesures et tomodensitometrie pour mettre en oeuvre le procede |
-
1983
- 1983-01-05 JP JP58000380A patent/JPS59125547A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59125547A (ja) | 1984-07-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4029963A (en) | X-ray spectral decomposition imaging system | |
| US7268354B2 (en) | Method for operation of a counting radiation detector with improved linearity | |
| US8315352B2 (en) | System and method of spectral calibration and basis material decomposition for X-ray CT systems | |
| US3927318A (en) | Cross-sectional fluorescent imaging system | |
| US4686695A (en) | Scanned x-ray selective imaging system | |
| JPH0725923Y2 (ja) | コンピュータトモグラフ | |
| US4442489A (en) | Device for computed tomography | |
| EP2370836B1 (en) | Spectral imaging | |
| US4035651A (en) | Radiography device with circuitry to correct for photodetector sensitivity | |
| Aoyama et al. | An in‐phantom dosimetry system using pin silicon photodiode radiation sensors for measuring organ doses in x‐ray CT and other diagnostic radiology | |
| US4850002A (en) | Two-dimensional compton profile imaging method | |
| US4225789A (en) | Device for computer tomography | |
| GB2054319A (en) | Method of and device for determining the contour of a body by means of radiation scattered by the body | |
| US4211926A (en) | Tomographic imaging system | |
| US4114041A (en) | Radiography | |
| US6005908A (en) | X-ray computed tomography apparatus with radiation detector which reduces image unsharpness | |
| JPS6080746A (ja) | 放射線受像方法 | |
| US4187430A (en) | Tomograph for the production of transverse layer images | |
| US4193001A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images | |
| US4413351A (en) | Computer tomography apparatus | |
| GB2025728A (en) | Correction for radiation hardening in tomography | |
| JPH02147883A (ja) | 多チャンネル放射線検出装置 | |
| JPH049533B2 (ja) | ||
| WO1985004565A1 (fr) | Unite de tomographie informatisee | |
| US4434369A (en) | Radiographic camera |