JPH049570Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH049570Y2 JPH049570Y2 JP4738286U JP4738286U JPH049570Y2 JP H049570 Y2 JPH049570 Y2 JP H049570Y2 JP 4738286 U JP4738286 U JP 4738286U JP 4738286 U JP4738286 U JP 4738286U JP H049570 Y2 JPH049570 Y2 JP H049570Y2
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- Japan
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- sample
- light
- optical
- angle
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- Expired
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本考案は、膜状試料に光線を入射させるための
プリズム作用を利用した光照射装置に関する。
プリズム作用を利用した光照射装置に関する。
ロ 従来技術
膜状試料の光学的特性を測定する場合には、第
4図に示したように平行平板状の光透過材の端面
を45°程度の一定角度に研磨してなる試料載置台
Aを用い、これの表面に試料Sを密着させた状態
で、一方の光学的平面aから赤外線等の分析用光
ビームLを入射させて、他方の光学的平面bから
放出される光ビームのスペクトル変化を分光計で
検出する手法が採用されている。
4図に示したように平行平板状の光透過材の端面
を45°程度の一定角度に研磨してなる試料載置台
Aを用い、これの表面に試料Sを密着させた状態
で、一方の光学的平面aから赤外線等の分析用光
ビームLを入射させて、他方の光学的平面bから
放出される光ビームのスペクトル変化を分光計で
検出する手法が採用されている。
このような手法においては、試料Sの厚み方向
におけるデータを得る場合には、試料載置台A内
での光ビームの進行角を変えることが行なわれる
が、入射角が光学的平面a,bの法線からズレる
ためL′、光学的平面a,bで反射される量が大き
くなつて分光計に入射する光量が少なくなるとい
う問題があつた。
におけるデータを得る場合には、試料載置台A内
での光ビームの進行角を変えることが行なわれる
が、入射角が光学的平面a,bの法線からズレる
ためL′、光学的平面a,bで反射される量が大き
くなつて分光計に入射する光量が少なくなるとい
う問題があつた。
ハ 目的
本考案はこのような問題に鑑みてなされたもの
であつて、その目的とするところは、常に法線方
向に一致させて光ビームを入出射させることがで
きる分析用光照射装置を提供することにある。
であつて、その目的とするところは、常に法線方
向に一致させて光ビームを入出射させることがで
きる分析用光照射装置を提供することにある。
ニ 考案の概要
すなわち本考案の特徴とするところは、平行平
板状の光透過材両側の光学的平面を一側から他側
に向けて角度を連続的に変化させた試料載置台を
用いた点にある。
板状の光透過材両側の光学的平面を一側から他側
に向けて角度を連続的に変化させた試料載置台を
用いた点にある。
ホ 実施例
そこで、本考案の詳細を図示した実施例に基づ
いて説明する。
いて説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示す装置の斜視
図であつて、図中符号1は、本考案が特徴とする
試料載置台で、第2図に示したようにゲルマニウ
ムやシリコン等の赤外線透過結晶材を平行平板状
に切出した本体10の対向する両側面を、一側か
ら他側に向けて研磨等により表面14に対する角
度を連続的(α〜B)に変化させた光学的平面1
1,12に形成して構成され、図示しない駆動装
置により上下方向に移動可能な基台2に立設され
ている。試料載置台1の入射側の光学的平面11
には、一定方向から入射した光を面11の法線方
向に反射させるように反射面を軸方向に連続的に
捩つた軸外し凹面鏡4が、また出射側の光学的平
面12には、これから出た光を一定方向に反射さ
せる同様の軸外し凹面鏡5が基台2に立設されて
いる。なお図中符号6,7は、それぞれ軸外し凹
面鏡4,5と光学的に対向して分析光学系に光を
導く反射鏡を示す。
図であつて、図中符号1は、本考案が特徴とする
試料載置台で、第2図に示したようにゲルマニウ
ムやシリコン等の赤外線透過結晶材を平行平板状
に切出した本体10の対向する両側面を、一側か
ら他側に向けて研磨等により表面14に対する角
度を連続的(α〜B)に変化させた光学的平面1
1,12に形成して構成され、図示しない駆動装
置により上下方向に移動可能な基台2に立設され
ている。試料載置台1の入射側の光学的平面11
には、一定方向から入射した光を面11の法線方
向に反射させるように反射面を軸方向に連続的に
捩つた軸外し凹面鏡4が、また出射側の光学的平
面12には、これから出た光を一定方向に反射さ
せる同様の軸外し凹面鏡5が基台2に立設されて
いる。なお図中符号6,7は、それぞれ軸外し凹
面鏡4,5と光学的に対向して分析光学系に光を
導く反射鏡を示す。
この実施例において、試料載置台1に試料Sを
密着させて(第3図)、各軸外し凹面鏡4,5の
光路を分光計の光源部と受光部を結ぶ光路L1に
対向させる。
密着させて(第3図)、各軸外し凹面鏡4,5の
光路を分光計の光源部と受光部を結ぶ光路L1に
対向させる。
このような状態において、基台2を移動させて
表面に対して例えば角度60°の光学的平面11,
12の部分を選択すると(第3図)、光源から
の光は軸外し凹面鏡4により反射されて、この選
択された光学的平面11部の法線方向から試料載
置台1に入射する。
表面に対して例えば角度60°の光学的平面11,
12の部分を選択すると(第3図)、光源から
の光は軸外し凹面鏡4により反射されて、この選
択された光学的平面11部の法線方向から試料載
置台1に入射する。
この入射した光は、入射角θ1=60°でもつて平
行な表面13,14間で反射を繰返して他方の光
学的平面12に向けて進行する。
行な表面13,14間で反射を繰返して他方の光
学的平面12に向けて進行する。
この過程において、表面から一部洩光した光
は、試料載置台1に設けられた試料Sの特性に応
じたスペクトル成分が、反射を繰返すごとに吸収
される。このようにして他方の光学的平面12ま
で進行すると表面14で60°の角度で反射され、
表面14に対して60°の角度を持つ部分の光学的
平面12の法線に一致して出射し、軸外し凹面鏡
5により一定方向に反射されて分光計の受光部に
入射する。
は、試料載置台1に設けられた試料Sの特性に応
じたスペクトル成分が、反射を繰返すごとに吸収
される。このようにして他方の光学的平面12ま
で進行すると表面14で60°の角度で反射され、
表面14に対して60°の角度を持つ部分の光学的
平面12の法線に一致して出射し、軸外し凹面鏡
5により一定方向に反射されて分光計の受光部に
入射する。
一方、試料Sへの入射角を変更すべく基台2を
上方に移動させると、分光計の光源部と受光部を
結ぶ光路に対する試料載置台1の光学的平面11
の角度が表面14に対して連続的に変化してい
く。このようにして、例えば30°の角度を持つ部
分の光学的平面11が光路L3に位置するまで基
台2を移動させると(同図)、分光計からの光
は、軸外し凹面鏡4によつて光学的平面11の法
線に一致する方向に反射されて試料載置台1に入
射する。試料載置台1に入射した光は、2つの表
面13,14間において反射角θ2を30°に保持し
ながら反射を繰返す。云うまでもなく、表面1
3,14間での反射角が前回の場合と異なつてい
るので、試料への入射角も変更されることにな
り、この光は同一試料Sにおける厚さ方向におけ
る特性に基づいたスペクトル吸収を受ける。
上方に移動させると、分光計の光源部と受光部を
結ぶ光路に対する試料載置台1の光学的平面11
の角度が表面14に対して連続的に変化してい
く。このようにして、例えば30°の角度を持つ部
分の光学的平面11が光路L3に位置するまで基
台2を移動させると(同図)、分光計からの光
は、軸外し凹面鏡4によつて光学的平面11の法
線に一致する方向に反射されて試料載置台1に入
射する。試料載置台1に入射した光は、2つの表
面13,14間において反射角θ2を30°に保持し
ながら反射を繰返す。云うまでもなく、表面1
3,14間での反射角が前回の場合と異なつてい
るので、試料への入射角も変更されることにな
り、この光は同一試料Sにおける厚さ方向におけ
る特性に基づいたスペクトル吸収を受ける。
このようにして、他方の光学的平面12まで進
行すると表面14で30°の角度で反射され、平面
14に対して30°の角度を持つ部分の光学的平面
12の法線に一致して出射し、軸外し凹面鏡5に
より一定方向に反射されて分光計の受光部に入射
する。
行すると表面14で30°の角度で反射され、平面
14に対して30°の角度を持つ部分の光学的平面
12の法線に一致して出射し、軸外し凹面鏡5に
より一定方向に反射されて分光計の受光部に入射
する。
云うまでもなく、光学的平面に入射する光、及
び光学的平面11,12から出射する光は、試料
載置台1での光の進行角の変化に関わりなく光学
的平面11,12の法線に一致しているため、光
学的平面11,12での反射は極めて小さい。
び光学的平面11,12から出射する光は、試料
載置台1での光の進行角の変化に関わりなく光学
的平面11,12の法線に一致しているため、光
学的平面11,12での反射は極めて小さい。
なお、この実施例においては、説明を簡明にす
るため、試料載置台での光の進行角を個々独立に
設定する場合に例を採つて説明したが、試料載置
台を分析光学路に対して連続的に移動させること
により、厚さ方向のデータを一連の動作で得るこ
とができ、また光学的平面の長手方向に発光素子
と受光素子を複数個配設することにより試料の厚
さ方向のデータを同時に得ることが可能となる。
るため、試料載置台での光の進行角を個々独立に
設定する場合に例を採つて説明したが、試料載置
台を分析光学路に対して連続的に移動させること
により、厚さ方向のデータを一連の動作で得るこ
とができ、また光学的平面の長手方向に発光素子
と受光素子を複数個配設することにより試料の厚
さ方向のデータを同時に得ることが可能となる。
また、この実施例においては、試料載置台を上
下方向に移動させるようにしているが、分析光路
に対して光学的平面の角度が変化する方向に移動
させればよいことは明らかである。
下方向に移動させるようにしているが、分析光路
に対して光学的平面の角度が変化する方向に移動
させればよいことは明らかである。
さらに、この実施例においては、赤外分析に例
を採つて説明したが、可視光や紫外光分析に対し
ても同様に適用できることは云うまでもない。
を採つて説明したが、可視光や紫外光分析に対し
ても同様に適用できることは云うまでもない。
ヘ 効果
以上、説明したように本考案によれば、平行平
板状光学部材の両側を一側から他側に向けて角度
を連続的に変える光学的平面に形成するととも
に、これらの平面に軸外し凹面鏡を対向配設した
ので、試料載置台での光の進行角の変化に関わり
なくその光学的平面の法線に一致させて分析光を
入出射させることができて、分析光の減衰を可及
的に小さくすることができ、また試料載置台を固
定した基台を直線運動させるでけで、試料厚さ方
向の連続的に得ることができ、分析時間の短縮を
図ることが可能となる。
板状光学部材の両側を一側から他側に向けて角度
を連続的に変える光学的平面に形成するととも
に、これらの平面に軸外し凹面鏡を対向配設した
ので、試料載置台での光の進行角の変化に関わり
なくその光学的平面の法線に一致させて分析光を
入出射させることができて、分析光の減衰を可及
的に小さくすることができ、また試料載置台を固
定した基台を直線運動させるでけで、試料厚さ方
向の連続的に得ることができ、分析時間の短縮を
図ることが可能となる。
第1図は本考案の一実施例を示す斜視図、第2
図イ、ロはそれぞれ同上装置の要部を示す斜視図
と側面図、第3図は同上装置の動作を示す説明
図、及び第4図は従来の照射装置の一例を示す断
面図である。 1……試料載置台、2……基台、11,12…
…光学的平面、4,5……軸外し凹面鏡、S……
試料。
図イ、ロはそれぞれ同上装置の要部を示す斜視図
と側面図、第3図は同上装置の動作を示す説明
図、及び第4図は従来の照射装置の一例を示す断
面図である。 1……試料載置台、2……基台、11,12…
…光学的平面、4,5……軸外し凹面鏡、S……
試料。
Claims (1)
- 膜状試料を密着させる平行平板状の光学部材の
対向する側面に、一端から他端に向けて連続的に
角度を変化させた光学的平面を形成してなる試料
載置台と、一定方向の光路を前記光学的平面の法
線に一致させる軸外し反射鏡とを、分析光路に対
して相対的に移動可能な基台に配設してなる膜状
試料分析用光照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4738286U JPH049570Y2 (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4738286U JPH049570Y2 (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62158351U JPS62158351U (ja) | 1987-10-07 |
| JPH049570Y2 true JPH049570Y2 (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=30867937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4738286U Expired JPH049570Y2 (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH049570Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4546412B2 (ja) * | 2006-03-14 | 2010-09-15 | ヤンマー株式会社 | 成分分析装置 |
-
1986
- 1986-03-29 JP JP4738286U patent/JPH049570Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62158351U (ja) | 1987-10-07 |
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