JPH0498632A - 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置、アクセス方法 - Google Patents
記録媒体及びそれを用いた情報処理装置、アクセス方法Info
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- JPH0498632A JPH0498632A JP21376490A JP21376490A JPH0498632A JP H0498632 A JPH0498632 A JP H0498632A JP 21376490 A JP21376490 A JP 21376490A JP 21376490 A JP21376490 A JP 21376490A JP H0498632 A JPH0498632 A JP H0498632A
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- recording
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- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B9/00—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
- G11B9/1463—Record carriers for recording or reproduction involving the use of microscopic probe means
- G11B9/1472—Record carriers for recording or reproduction involving the use of microscopic probe means characterised by the form
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、走査型トンネル顕微鏡(STM)の原理を用
いることで超高密度メモリを可能とする記録媒体及びそ
れを用いた記録再生装置、記録装置、再生装置を含む情
報処理装置、アクセス方法に関するものである。
いることで超高密度メモリを可能とする記録媒体及びそ
れを用いた記録再生装置、記録装置、再生装置を含む情
報処理装置、アクセス方法に関するものである。
[従来の技術]
近年メモリ材料の用途は、コンピュータ及びその関連機
器、ビデオディスク、デジタルオーディオディスク等の
エレクトロニクス産業の中核をなすものであり、その材
料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に要求さ
れる性能は用途により異なるが、一般的には 1)高密度で記録容量が大きい 2)記録再生の応答速度が速い 3)消費電力が少ない 4)生産性が高(価格が安い 等が挙げられる。
器、ビデオディスク、デジタルオーディオディスク等の
エレクトロニクス産業の中核をなすものであり、その材
料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に要求さ
れる性能は用途により異なるが、一般的には 1)高密度で記録容量が大きい 2)記録再生の応答速度が速い 3)消費電力が少ない 4)生産性が高(価格が安い 等が挙げられる。
一方、導体の表面原子の電子構造を直接観察できる走査
型トンネル顕微鏡(STM)が開発され[G、B1nn
1g et al、 PhysRev、 Le
tt、49,57 (1982)]単結晶、非晶質を問
わず実空間像の高い分解能の測定ができるようになり、
しかも媒体に電流による損傷を与えずに低電力で観察で
きる利点をも有し、更に大気中でも動作し、種々の材料
に対して用いることができるため広範囲な応用が期待さ
れている。
型トンネル顕微鏡(STM)が開発され[G、B1nn
1g et al、 PhysRev、 Le
tt、49,57 (1982)]単結晶、非晶質を問
わず実空間像の高い分解能の測定ができるようになり、
しかも媒体に電流による損傷を与えずに低電力で観察で
きる利点をも有し、更に大気中でも動作し、種々の材料
に対して用いることができるため広範囲な応用が期待さ
れている。
かかるSTMは、金属の探針(プローブ電極)と導電性
物質の間に電圧を加えて10人(lnm)程度の距離ま
で近づけるとトンネル電流が流れることを利用している
。この電流は両者の距離変化に非常に敏感であり、トン
ネル電流を一定に保つように探針を走査することにより
実空間の表面構造を描くことができると同時に、表面原
子の全電子雲に関する種々の情報をも読みとることがで
きる。この際、面内方向の分解能は1人程度である。従
って、STMの原理を応用すれば十分に原子オーダー(
数人)で高密度記録再生を行うことが可能である。この
際の記録再生方法としては、粒子線(電子線、イオン線
)或はX線等の高エネルギー電磁波及び可視・紫外光等
のエネルギー線を用いて適当な記録層の表面状態を変化
させて記録を行い、STMで再生する方法や、記録層と
して電圧電流のスイッチング特性に対してメモリ効果を
もつ材料、例えばπ電子系有機化合物やカルコゲン化物
類の薄膜層を用い、STMにて記録・再生を行う方法等
が提案されている。
物質の間に電圧を加えて10人(lnm)程度の距離ま
で近づけるとトンネル電流が流れることを利用している
。この電流は両者の距離変化に非常に敏感であり、トン
ネル電流を一定に保つように探針を走査することにより
実空間の表面構造を描くことができると同時に、表面原
子の全電子雲に関する種々の情報をも読みとることがで
きる。この際、面内方向の分解能は1人程度である。従
って、STMの原理を応用すれば十分に原子オーダー(
数人)で高密度記録再生を行うことが可能である。この
際の記録再生方法としては、粒子線(電子線、イオン線
)或はX線等の高エネルギー電磁波及び可視・紫外光等
のエネルギー線を用いて適当な記録層の表面状態を変化
させて記録を行い、STMで再生する方法や、記録層と
して電圧電流のスイッチング特性に対してメモリ効果を
もつ材料、例えばπ電子系有機化合物やカルコゲン化物
類の薄膜層を用い、STMにて記録・再生を行う方法等
が提案されている。
ところで、実際に装置としてメモリ媒体へ記録再生を行
うためには、いわゆるトラッキングという位置決めおよ
びデータ列への追跡を行う必要がある。この種の高密度
メモリのトラッキング方法として、 1)基準位置のマーカを予め書き込んでおく方法。(特
開昭64−53363号公報、特開昭64−53365
号公報) 2)V字型の溝を記録媒体表面に予め形成しプローブ電
極が常にこの溝の中央に(るように制御する方式。記録
時に溝を形成しながら溝の中に凹凸情報を記録し、読み
出すときはこの溝をなぞって読み出す方式。(特開平1
−107341号公報、特開平1−151035号公報
) 3)結晶の原子配列を応用し、ストライプ状に並んだ結
晶格子配列にそって情報を書き込み、または読み出す方
式。(特開平1−154332号公報) 4)記録媒体に導電体のトラック電極を埋め込み、この
電極とプローブ電極とのトンネル電流を利用してトラッ
キングを行う。(特開平1−133239号公報)など
が提案されている。
うためには、いわゆるトラッキングという位置決めおよ
びデータ列への追跡を行う必要がある。この種の高密度
メモリのトラッキング方法として、 1)基準位置のマーカを予め書き込んでおく方法。(特
開昭64−53363号公報、特開昭64−53365
号公報) 2)V字型の溝を記録媒体表面に予め形成しプローブ電
極が常にこの溝の中央に(るように制御する方式。記録
時に溝を形成しながら溝の中に凹凸情報を記録し、読み
出すときはこの溝をなぞって読み出す方式。(特開平1
−107341号公報、特開平1−151035号公報
) 3)結晶の原子配列を応用し、ストライプ状に並んだ結
晶格子配列にそって情報を書き込み、または読み出す方
式。(特開平1−154332号公報) 4)記録媒体に導電体のトラック電極を埋め込み、この
電極とプローブ電極とのトンネル電流を利用してトラッ
キングを行う。(特開平1−133239号公報)など
が提案されている。
[発明が解決しようとする課題]
1)基準位置マーカをあらかじめ書き込んでおく方法に
よると、記録データは2次元的にエリア書き込みが可能
となりSTMO高分解高分解生性され記録密度は極めて
高くなる。しかしながら、この基準位置マーカを検出す
るためには、記録媒体表面を(まな(2次元走査しなけ
ればならず、基準マーカを見いだすまでかなりの時間を
要した。
よると、記録データは2次元的にエリア書き込みが可能
となりSTMO高分解高分解生性され記録密度は極めて
高くなる。しかしながら、この基準位置マーカを検出す
るためには、記録媒体表面を(まな(2次元走査しなけ
ればならず、基準マーカを見いだすまでかなりの時間を
要した。
2)媒体表面にトラッキングのための溝を形成するには
、以下のような問題があった。100人程度の記録ビッ
トサイズに対応した溝を形成するためには、300人程
度の溝を必要とする。これを実現するためにはイオンビ
ームによる加工がある。しかし、300人もの微細な溝
をピッチ300〜600人に制御して加工するためには
機械的精度30〜60人程度を有する超精密ステージを
必要とする。この種の装置は非常に大型で取扱いの環境
も限定され、メモリ媒体のように低コストで大量に生産
する必要のあるものには不向きであった。また電子ビー
ムによる加工あるいはX線露光などで溝を形成すること
もできるが、この場合は形成できる溝の幅は〜3000
人程度となり、STMの高分解能を生かした高密度記録
は不可能となる。
、以下のような問題があった。100人程度の記録ビッ
トサイズに対応した溝を形成するためには、300人程
度の溝を必要とする。これを実現するためにはイオンビ
ームによる加工がある。しかし、300人もの微細な溝
をピッチ300〜600人に制御して加工するためには
機械的精度30〜60人程度を有する超精密ステージを
必要とする。この種の装置は非常に大型で取扱いの環境
も限定され、メモリ媒体のように低コストで大量に生産
する必要のあるものには不向きであった。また電子ビー
ムによる加工あるいはX線露光などで溝を形成すること
もできるが、この場合は形成できる溝の幅は〜3000
人程度となり、STMの高分解能を生かした高密度記録
は不可能となる。
3)結晶の原子配列に対しトラッキングを行う場合は、
STMの高分解能を生かすことはできるが、記録媒体と
して必要な記録面の面積、例えば記録密度を100人/
b i t、記録容量を1012bitとすると記録
面の面積はICm2であるが、このような面積にわたっ
て格子配列の乱れや欠陥のないかつストライブ状に格子
配列された結晶基板を容易に得ることは難しく記録媒体
に要求される低価格、高生産性を満たさない。
STMの高分解能を生かすことはできるが、記録媒体と
して必要な記録面の面積、例えば記録密度を100人/
b i t、記録容量を1012bitとすると記録
面の面積はICm2であるが、このような面積にわたっ
て格子配列の乱れや欠陥のないかつストライブ状に格子
配列された結晶基板を容易に得ることは難しく記録媒体
に要求される低価格、高生産性を満たさない。
4)トラッキング電極を記録媒体内に埋め込み、この電
極にトラッキング信号を印加しプローブでこの信号を検
出してトラッキングを行う方法は、記録再生装置として
の制御機構は容易になるものの媒体にこのような電極を
加工し、2ないし3種類の異なる周波数のトラッキング
信号を注入する端子を設けることは、記録密度が極めて
低(なるばかりでな(記録媒体の作成プロセスも煩雑化
し生産性、および歩留まりを低下させ低価格の媒体を供
給できない。
極にトラッキング信号を印加しプローブでこの信号を検
出してトラッキングを行う方法は、記録再生装置として
の制御機構は容易になるものの媒体にこのような電極を
加工し、2ないし3種類の異なる周波数のトラッキング
信号を注入する端子を設けることは、記録密度が極めて
低(なるばかりでな(記録媒体の作成プロセスも煩雑化
し生産性、および歩留まりを低下させ低価格の媒体を供
給できない。
すなわち、本発明は上記の問題点を解決し、STMの特
徴を生かした高密度の記録再生を実現し、低価格で生産
性の高い記録媒体、記録再生に際し高速化が可能なアク
セス方法、およびかかる記録媒体を用いた記録再生装置
、記録装置、再生装置を含む情報処理装置を提供するも
のである。
徴を生かした高密度の記録再生を実現し、低価格で生産
性の高い記録媒体、記録再生に際し高速化が可能なアク
セス方法、およびかかる記録媒体を用いた記録再生装置
、記録装置、再生装置を含む情報処理装置を提供するも
のである。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明の特徴と
するところは、 第1に、プローブ電極を用いて情報の記録再生を行なう
記録媒体において、表面に連続した階段状の凹凸形状を
有する記録媒体、 第2に、前記凹凸形状が、記録層の厚みを階段状に変化
させた前記第1に記載の記録媒体、第3に、前記記録層
が、分子中にπ電子準位をもつ群とσ電子準位をもつ群
とを有する有機化合物を含む前記第2に記載の記録媒体
、 第4に、前記記録層が、基板上に設けた電極基板の上に
積層された有機化合物の単分子膜又は単分子累積膜を含
む前記第2に記載の記録媒体、第5に、前記階段状凹凸
形状の高低差が、3〜100人である前記第1に記載の
記録媒体、第6に、表面に階段状の凹凸形状を有する記
録媒体に対するアクセス方法であって、前記凹凸形状の
エツジ部を検出する行程と、該エツジ部と角度を有して
該プローブ電極を走査する行程と、該エツジ部に沿う方
向に記録媒体もしくはプローブ電極を移動する行程とを
含むアクセス方法、 第7に、表面に階段状の凹凸形状を有する記録媒体に対
するアクセス方法であって、前記エツジ部を検出する行
程と、記録再生するデータ列の該エツジに対する方位角
を決定する行程と、該エツジ部を起点としてデータ列方
位にプローブ電極を走査する行程とを含むアクセス方法
、 第8に、前記第1〜第5いずれかに記載の記録媒体を有
し、かつ前記第6に記載のアクセス方法を有する情報処
理装置、 第9に、前記第1〜第5いずれかに記載の記録媒体を有
し、かつ前言2第7に記載のアクセス方法を有する情報
処理装置、としている点にある。
するところは、 第1に、プローブ電極を用いて情報の記録再生を行なう
記録媒体において、表面に連続した階段状の凹凸形状を
有する記録媒体、 第2に、前記凹凸形状が、記録層の厚みを階段状に変化
させた前記第1に記載の記録媒体、第3に、前記記録層
が、分子中にπ電子準位をもつ群とσ電子準位をもつ群
とを有する有機化合物を含む前記第2に記載の記録媒体
、 第4に、前記記録層が、基板上に設けた電極基板の上に
積層された有機化合物の単分子膜又は単分子累積膜を含
む前記第2に記載の記録媒体、第5に、前記階段状凹凸
形状の高低差が、3〜100人である前記第1に記載の
記録媒体、第6に、表面に階段状の凹凸形状を有する記
録媒体に対するアクセス方法であって、前記凹凸形状の
エツジ部を検出する行程と、該エツジ部と角度を有して
該プローブ電極を走査する行程と、該エツジ部に沿う方
向に記録媒体もしくはプローブ電極を移動する行程とを
含むアクセス方法、 第7に、表面に階段状の凹凸形状を有する記録媒体に対
するアクセス方法であって、前記エツジ部を検出する行
程と、記録再生するデータ列の該エツジに対する方位角
を決定する行程と、該エツジ部を起点としてデータ列方
位にプローブ電極を走査する行程とを含むアクセス方法
、 第8に、前記第1〜第5いずれかに記載の記録媒体を有
し、かつ前記第6に記載のアクセス方法を有する情報処
理装置、 第9に、前記第1〜第5いずれかに記載の記録媒体を有
し、かつ前言2第7に記載のアクセス方法を有する情報
処理装置、としている点にある。
すなわち本発明の一つには、記録媒体表面に配録情報よ
り大きな凹凸または電子状態の変化をもつ段差部(エツ
ジ)を設け、このエツジ部に沿って記録情報を2次元的
に記録再生することにょリ、高密度高速アクセス可能な
記録媒体を提供するものである。
り大きな凹凸または電子状態の変化をもつ段差部(エツ
ジ)を設け、このエツジ部に沿って記録情報を2次元的
に記録再生することにょリ、高密度高速アクセス可能な
記録媒体を提供するものである。
かかる記録媒体の構成図を第1図に示す。本図は、基板
1の上に電極2と記録層3を積層したもので、記録層の
厚みを連続した階段状に変化させることにより段差を設
けたものである。
1の上に電極2と記録層3を積層したもので、記録層の
厚みを連続した階段状に変化させることにより段差を設
けたものである。
ところで、本発明での記録媒体を用いた記録・再生およ
びその為のトラッキング方法は、プローブ電極(導電性
探針)と導電性物質との間に電圧を印加しつつ、両者の
距離を10Å以下にするとトンネル電流が流れることを
利用している。また、本発明のアクセス方法によるとプ
ローブ電極は最初のエツジ部を検出し、そのエツジ部に
沿ってプローブ電極を2次元走査しデータを読み出すた
め、高速にデータの書き込みエリアをアクセスできる。
びその為のトラッキング方法は、プローブ電極(導電性
探針)と導電性物質との間に電圧を印加しつつ、両者の
距離を10Å以下にするとトンネル電流が流れることを
利用している。また、本発明のアクセス方法によるとプ
ローブ電極は最初のエツジ部を検出し、そのエツジ部に
沿ってプローブ電極を2次元走査しデータを読み出すた
め、高速にデータの書き込みエリアをアクセスできる。
以下、図面に基づいて本発明のアクセス方法について説
明する。
明する。
第2図中、6は記録再生領域、11は記録媒体を支持す
るステージで、このステージはリニア・アクチュエータ
16によりY軸方向に駆動される。13は記録再生ヘッ
ドで、プローブ電極12を支持し、それぞれXまたはZ
軸方向に駆動するアクチュエータ15.14により位置
制御される。
るステージで、このステージはリニア・アクチュエータ
16によりY軸方向に駆動される。13は記録再生ヘッ
ドで、プローブ電極12を支持し、それぞれXまたはZ
軸方向に駆動するアクチュエータ15.14により位置
制御される。
記録媒体表面とプローブ電極との間の距離は記録媒体の
表面とプローブ電極との間に流れるトンネル電流により
制御する。これはバイアス電圧■8により記録媒体プロ
ーブ電極間に流れるトンネル電流を負荷抵抗RLにより
検出しアンプ21により増幅され、プローブ高さ検出回
路22により適正プローブ高を決定し、2軸駆動制御回
路25によりプローブ高さが調整される。
表面とプローブ電極との間に流れるトンネル電流により
制御する。これはバイアス電圧■8により記録媒体プロ
ーブ電極間に流れるトンネル電流を負荷抵抗RLにより
検出しアンプ21により増幅され、プローブ高さ検出回
路22により適正プローブ高を決定し、2軸駆動制御回
路25によりプローブ高さが調整される。
記録再生領域6はエツジ4を基準として決められる。す
なわち、X軸駆動制御部26およびアクチュエータ15
によりプローブ電極12はX軸方向に走査する。このと
き、プローブ電極がエツジ部4に接近するとプローブ電
極とエツジ部の電極の間でトンネル電流が急激に増加す
る。この急激に増加するトンネル電流をエツジ検出器2
3で検出する。この検出信号によりX軸駆動制御回路は
プローブの走査方向を反転する。そして、ある−定の時
間を経過後再びプローブ電極の走査方向を反転しエツジ
部に向かう方向に走査する。この時、Y軸駆動制御回路
に対し駆動信号を送り、Y軸方向に1ステップ分ステー
ジを移動させる。
なわち、X軸駆動制御部26およびアクチュエータ15
によりプローブ電極12はX軸方向に走査する。このと
き、プローブ電極がエツジ部4に接近するとプローブ電
極とエツジ部の電極の間でトンネル電流が急激に増加す
る。この急激に増加するトンネル電流をエツジ検出器2
3で検出する。この検出信号によりX軸駆動制御回路は
プローブの走査方向を反転する。そして、ある−定の時
間を経過後再びプローブ電極の走査方向を反転しエツジ
部に向かう方向に走査する。この時、Y軸駆動制御回路
に対し駆動信号を送り、Y軸方向に1ステップ分ステー
ジを移動させる。
以上の動作を繰り返すことによりプローブ電極は常にエ
ツジ部に沿ってかつエツジ部に対しである角度をもって
記録再生領域を走査することができる。
ツジ部に沿ってかつエツジ部に対しである角度をもって
記録再生領域を走査することができる。
記録媒体に対し記録を行う場合は、プローブ電極がエツ
ジ部4を検出しX軸方向に反転走査を行う時点を基準と
しデータ変調器28よりSWを通じてプローブ電極より
書き込み電圧を印加する。
ジ部4を検出しX軸方向に反転走査を行う時点を基準と
しデータ変調器28よりSWを通じてプローブ電極より
書き込み電圧を印加する。
このときプローブ電極がX軸方向に一定時間走査し再び
エツジ部方向に反転走査を開始するまでの間、一連のデ
ータパルス列を記録する。
エツジ部方向に反転走査を開始するまでの間、一連のデ
ータパルス列を記録する。
この記録動作をプローブ電極がエツジ部4を検出する毎
に行うことにより、エツジ部に対しある角度をもったデ
ータ列が書き込まれ、さらにY軸のステージがこれに同
期して順次送られ2次元的にデータ記録された領域6が
形成される。
に行うことにより、エツジ部に対しある角度をもったデ
ータ列が書き込まれ、さらにY軸のステージがこれに同
期して順次送られ2次元的にデータ記録された領域6が
形成される。
再生時は、記録時と同様にエツジ部を基準としてプロー
ブ電極を走査する。このときプローブ電極のX軸走査方
向と記録されているデータ列との方位調整は、特公昭5
4−15727号に開示されているようないわゆるウオ
ブリング法によってもよいし、2次元的に領域走査を行
いパターンマツチング等の手法によってデータを復調す
る際に補正してもよい。
ブ電極を走査する。このときプローブ電極のX軸走査方
向と記録されているデータ列との方位調整は、特公昭5
4−15727号に開示されているようないわゆるウオ
ブリング法によってもよいし、2次元的に領域走査を行
いパターンマツチング等の手法によってデータを復調す
る際に補正してもよい。
第3図(a)に、記録媒体表面におけるデータ記録の様
子を示す。5はデータの記録ビット、31 (実線矢印
)はプローブ電極がエツジ部から遠ざかる方向に走査し
たときのプローブ先端の軌跡、32(破線矢印)はプロ
ーブ電極がエツジ部に向かうときのプローブ先端の軌跡
である。
子を示す。5はデータの記録ビット、31 (実線矢印
)はプローブ電極がエツジ部から遠ざかる方向に走査し
たときのプローブ先端の軌跡、32(破線矢印)はプロ
ーブ電極がエツジ部に向かうときのプローブ先端の軌跡
である。
第3図(b)に、エツジ部4が完全な直線ではなく乱れ
がある場合について示す。このような場合においてもエ
ツジ部に追随するようにデータ列がかきこまれるため記
録再生においては何の支障もない。すなわち、エツジ部
の形状は仕上り精度に対する許容値が大きい。
がある場合について示す。このような場合においてもエ
ツジ部に追随するようにデータ列がかきこまれるため記
録再生においては何の支障もない。すなわち、エツジ部
の形状は仕上り精度に対する許容値が大きい。
また、このエツジ部にそって2次元走査が行われるとい
う特徴から、このエツジをもちいてプローブ電極を任意
のデータ記録領域に導くことができる。例えば、記録媒
体を最初に情報処理装置に設置した場合、プローブ電極
と記録媒体の記録領域との位置関係は、取付の機械精度
により誤差が生じている。この誤差は、通常10〜10
0μm程度である。これはデータ記録領域に比べ非常に
大きい。しかし、このエツジ検出走査を用いることによ
り、容易にデータ領域を見いだしトラッキングすること
ができる。また、本発明の記録媒体およびアクセス方法
によれば、エツジ部は段差をもち、かつストライブもし
くはマトリックスに配置されているので、エツジ部の(
X、Y、2)座標を決定することができる。そのため、
任意の位置の検出が容易になり、アクセス速度の向上が
見込まれる。
う特徴から、このエツジをもちいてプローブ電極を任意
のデータ記録領域に導くことができる。例えば、記録媒
体を最初に情報処理装置に設置した場合、プローブ電極
と記録媒体の記録領域との位置関係は、取付の機械精度
により誤差が生じている。この誤差は、通常10〜10
0μm程度である。これはデータ記録領域に比べ非常に
大きい。しかし、このエツジ検出走査を用いることによ
り、容易にデータ領域を見いだしトラッキングすること
ができる。また、本発明の記録媒体およびアクセス方法
によれば、エツジ部は段差をもち、かつストライブもし
くはマトリックスに配置されているので、エツジ部の(
X、Y、2)座標を決定することができる。そのため、
任意の位置の検出が容易になり、アクセス速度の向上が
見込まれる。
本発明に係る段差部(エツジ)の形成方法としては、例
えば、以下に述べるような方法が考えられる。先ず、基
板上にプローブ電極に対向する電極となる導電性材料を
形成し10次に、記録層を対向電極上の全面に均一に積
層する。その後に、断面を見たときに階段状になるよう
に記録層の基板上の積層面積を随時減少または増加させ
ることにより、所望の形状にエツジを形成する。この他
、エツジを形成したのち電極を形成し、記録層を別途設
けても良い。
えば、以下に述べるような方法が考えられる。先ず、基
板上にプローブ電極に対向する電極となる導電性材料を
形成し10次に、記録層を対向電極上の全面に均一に積
層する。その後に、断面を見たときに階段状になるよう
に記録層の基板上の積層面積を随時減少または増加させ
ることにより、所望の形状にエツジを形成する。この他
、エツジを形成したのち電極を形成し、記録層を別途設
けても良い。
具体的なエツジ部形成方法としては蒸着法やクラスター
イオンビーム法等の適用も可能であるが、制御性、容易
性そして再現性から公知の従来技術の中ではラングミュ
ア−プロジェット法(LB法)が極めて好適である。こ
のLB法によれば、1分子中に疎水性部位と親水性部位
とを有する有機化合物の単分子膜またはその累積膜を基
板上に容易に形成することができ、分子オーダーの厚み
を有し、かつ大面積にわたって均一、均質な有機超薄膜
を安定に供給することができる。
イオンビーム法等の適用も可能であるが、制御性、容易
性そして再現性から公知の従来技術の中ではラングミュ
ア−プロジェット法(LB法)が極めて好適である。こ
のLB法によれば、1分子中に疎水性部位と親水性部位
とを有する有機化合物の単分子膜またはその累積膜を基
板上に容易に形成することができ、分子オーダーの厚み
を有し、かつ大面積にわたって均一、均質な有機超薄膜
を安定に供給することができる。
また、本発明で用いるLB膜製造装置では、浸漬及び引
き上げ距離を段差部のピッチに対応させるため、水相に
除振装置を設け、更に従来のDCモータによる基板上下
駆動をピエゾ素子で行った。より詳しくは、プローブを
用いて、例えばHOPG (Highly−Orien
ted−Pyrolithic−Gtraphite)
の格子間隔を測定し、所望のトラックピッチに対応する
ようにピエゾ素子で基板を駆動すれば良い。
き上げ距離を段差部のピッチに対応させるため、水相に
除振装置を設け、更に従来のDCモータによる基板上下
駆動をピエゾ素子で行った。より詳しくは、プローブを
用いて、例えばHOPG (Highly−Orien
ted−Pyrolithic−Gtraphite)
の格子間隔を測定し、所望のトラックピッチに対応する
ようにピエゾ素子で基板を駆動すれば良い。
従って、本発明に係る段差部の形成方法では、そのピッ
チを数100人〜数μmまで容易に形成することが可能
なので、記録密度の高密度化が可能になる。
チを数100人〜数μmまで容易に形成することが可能
なので、記録密度の高密度化が可能になる。
本発明で用いる記録層は、電流−電圧特性に於いてメモ
リースイッチング現象(電気メモリー効果)を有する材
料、例えば、π電子準位をもつ群とσ電子準位のみを有
する群を併有する分子を電極上に積層した有機単分子膜
あるいはその累積膜を用いることが可能となる。
リースイッチング現象(電気メモリー効果)を有する材
料、例えば、π電子準位をもつ群とσ電子準位のみを有
する群を併有する分子を電極上に積層した有機単分子膜
あるいはその累積膜を用いることが可能となる。
一般に有機材料の殆んどは、絶縁性もしくは半絶縁性を
示すことがら、本発明において適用可能なπ電子準位を
持つ群を有する有機材料は著しく多岐にわたる。本発明
に好適なπ電子系を有する色素の構造として例えば、フ
タロシアニン、テトラフェニルポルフィリン等のポルフ
ィリン骨格を有する色素、スクアリリウム基及びクロコ
ニックメチン基を結合鎖として持つアズレン系色素及び
キノリン、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール等の
2個の含窒素複素環をスクアリリウム基及びクロコニッ
クメチン基により結合したシアニン系類似の色素、また
はシアニン色素、アントラセン及びピレン等の縮合多環
芳香族、及び芳香環及び複素環化合物が重合した鎖状化
合物及びジアセチレン基の重合体、さらにはテトラシア
ノキノジメタンまたはテトラチアフルバレンの誘導体お
よびその類縁体およびその電荷移動錯体、またさらには
フェロセン、トリスビピリジンルテニウム錯体等の金属
錯体化合物が挙げられる。
示すことがら、本発明において適用可能なπ電子準位を
持つ群を有する有機材料は著しく多岐にわたる。本発明
に好適なπ電子系を有する色素の構造として例えば、フ
タロシアニン、テトラフェニルポルフィリン等のポルフ
ィリン骨格を有する色素、スクアリリウム基及びクロコ
ニックメチン基を結合鎖として持つアズレン系色素及び
キノリン、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾール等の
2個の含窒素複素環をスクアリリウム基及びクロコニッ
クメチン基により結合したシアニン系類似の色素、また
はシアニン色素、アントラセン及びピレン等の縮合多環
芳香族、及び芳香環及び複素環化合物が重合した鎖状化
合物及びジアセチレン基の重合体、さらにはテトラシア
ノキノジメタンまたはテトラチアフルバレンの誘導体お
よびその類縁体およびその電荷移動錯体、またさらには
フェロセン、トリスビピリジンルテニウム錯体等の金属
錯体化合物が挙げられる。
本発明に好適な高分子材料としては、例えばポリアクリ
ル酸誘導体等・の付加重合体、ポリイミド等の縮合重合
体、ナイロン等の開環重合体、バクテリオロドプシン等
の生体高分子が挙げられる。
ル酸誘導体等・の付加重合体、ポリイミド等の縮合重合
体、ナイロン等の開環重合体、バクテリオロドプシン等
の生体高分子が挙げられる。
これらのπ電子準位を有する化合物の電気メモリー効果
は、数10μm以下の膜厚のもので観測されているが、
前述した記録・再生方法を用いるにあたり、プローブ電
極とこれに対向する電極(対向電極)間にトンネル電流
が流れるように両者間の距離を近づけなければならない
ので、本発明に係る記録層の膜厚は、3Å以上100Å
以下、好ましくは、3Å以上30Å以下であることが好
ましい。
は、数10μm以下の膜厚のもので観測されているが、
前述した記録・再生方法を用いるにあたり、プローブ電
極とこれに対向する電極(対向電極)間にトンネル電流
が流れるように両者間の距離を近づけなければならない
ので、本発明に係る記録層の膜厚は、3Å以上100Å
以下、好ましくは、3Å以上30Å以下であることが好
ましい。
本発明において、上記の如き有機材料が積層された薄膜
を支持するための基板としては、表面が平滑であればど
の様な材料を用いても良く、また、基板上に設ける対向
電極の材料も高い導電性を有するものであればよく、例
えばAu、Pt。
を支持するための基板としては、表面が平滑であればど
の様な材料を用いても良く、また、基板上に設ける対向
電極の材料も高い導電性を有するものであればよく、例
えばAu、Pt。
Ag、Pd、Aff、In、Sn、Pb、W等の金属や
これらの合金、さらにはグラファイトやシリサイド、ま
たさらにはITO等の導電性酸化物を始めとして数多(
の材料が挙げられ、これらの本発明への適用が考えられ
る。かかる材料を用いた電極形成法としても従来公知の
薄膜技術で十分である。但し、基板上に直接形成される
電極材料は、表面がLB膜形成の際、絶縁性の酸化物を
つくらない導電材料、例えば貴金属やITO等の酸化物
導電体を用いることが望ましく、さらに、いずれの材料
を用いるにしてもその表面が平滑であることが好ましい
。
これらの合金、さらにはグラファイトやシリサイド、ま
たさらにはITO等の導電性酸化物を始めとして数多(
の材料が挙げられ、これらの本発明への適用が考えられ
る。かかる材料を用いた電極形成法としても従来公知の
薄膜技術で十分である。但し、基板上に直接形成される
電極材料は、表面がLB膜形成の際、絶縁性の酸化物を
つくらない導電材料、例えば貴金属やITO等の酸化物
導電体を用いることが望ましく、さらに、いずれの材料
を用いるにしてもその表面が平滑であることが好ましい
。
また、プローブ電極の材料は、導電性を示すものであれ
ば何を用いてもよ(、例えばPt。
ば何を用いてもよ(、例えばPt。
Pt−I r、W、Au、Ag等が挙げられる。プロー
ブ電極の先端は、記録・再生・消去の分解能を上げるた
めできるだけ尖らせる必要がある。本発明では、針状の
導電性材料を電界研磨法を用い先端形状を制御して、プ
ローブ電極を作製しているが、プローブ電極の作製方法
及び形状は何らこれに限定するものではない。更にはプ
ローブ電極の本数も一本に限る必要もなく、位置検出用
と記録・再生用とを分ける等、複数のプローブ電極を用
いても良い。
ブ電極の先端は、記録・再生・消去の分解能を上げるた
めできるだけ尖らせる必要がある。本発明では、針状の
導電性材料を電界研磨法を用い先端形状を制御して、プ
ローブ電極を作製しているが、プローブ電極の作製方法
及び形状は何らこれに限定するものではない。更にはプ
ローブ電極の本数も一本に限る必要もなく、位置検出用
と記録・再生用とを分ける等、複数のプローブ電極を用
いても良い。
次に、本発明の記録媒体を用いる情報処理装置を第4図
のブロック図により説明する。第4図中、12は記録媒
体に電圧を印加するためのプローブ電極であり、このプ
ローブ電極から記録層3に電圧を印加し、記録・再生を
行う。
のブロック図により説明する。第4図中、12は記録媒
体に電圧を印加するためのプローブ電極であり、このプ
ローブ電極から記録層3に電圧を印加し、記録・再生を
行う。
対象となる記録媒体は、XYステージll上に載置され
る。47はプローブ電流増幅器で、46はプローブ電流
を読み取りプローブ電極の高さが一定になるように圧電
素子を用いた微動機構44.45を制御するサーボ回路
、41はプローブ電極12と対向電極2との間に記録・
消去用のパルス電圧を印加するための電源である。
る。47はプローブ電流増幅器で、46はプローブ電流
を読み取りプローブ電極の高さが一定になるように圧電
素子を用いた微動機構44.45を制御するサーボ回路
、41はプローブ電極12と対向電極2との間に記録・
消去用のパルス電圧を印加するための電源である。
パルス電圧を印加するときプローブ電流が急激に変化す
るため、サーボ回路46はHOLD回路をONにして、
その間の出力電流が一定になるように制御している。
るため、サーボ回路46はHOLD回路をONにして、
その間の出力電流が一定になるように制御している。
43はXY力方向プローブ電極12を移動制御するため
のXY走査駆動回路である。11と42は、あらかじめ
10−’A程度のプローブ電流が得られるようにプロー
ブ電極12と記録媒体との距離を粗動制御したり、プロ
ーブ電極と基板とのxy方向相対変位を大きくとる(微
動制御機構の範囲外)のに用いられる。
のXY走査駆動回路である。11と42は、あらかじめ
10−’A程度のプローブ電流が得られるようにプロー
ブ電極12と記録媒体との距離を粗動制御したり、プロ
ーブ電極と基板とのxy方向相対変位を大きくとる(微
動制御機構の範囲外)のに用いられる。
これらの各機器は、全てマイクロコンピュータ49によ
り中央制御されている。また5oは表示装置を表してい
る。
り中央制御されている。また5oは表示装置を表してい
る。
また、圧電素子を用いた移動制御における機械的性能を
下記に示す。
下記に示す。
Z方向微動制御範囲 : 0. 1 nm”−I LL
mZ方向粗動制御範囲 :lOnm−10mmXY方向
走査範囲 : Q、 1 nm〜1 g、mXY方
向粗動制御範囲=10nm〜10mm計測、制御許容誤
差 :<O,lnm (微動制御時) 計測、制御許容誤差 :<lnm (粗動制御時) [実施例] 以下、本発明の実施例について説明する。
mZ方向粗動制御範囲 :lOnm−10mmXY方向
走査範囲 : Q、 1 nm〜1 g、mXY方
向粗動制御範囲=10nm〜10mm計測、制御許容誤
差 :<O,lnm (微動制御時) 計測、制御許容誤差 :<lnm (粗動制御時) [実施例] 以下、本発明の実施例について説明する。
1五■ユ
本実施例では、第1図に示すタイプの記録媒体を作製し
た。先ず、光学研磨したガラス基板1を中性洗剤および
トリクレンを用いて洗浄した後、下引き層としてCrを
真空蒸着(抵抗加熱)法により厚さ50人堆積させ、更
にAuを同法により400人蒸着し、対向電極2を形成
した。
た。先ず、光学研磨したガラス基板1を中性洗剤および
トリクレンを用いて洗浄した後、下引き層としてCrを
真空蒸着(抵抗加熱)法により厚さ50人堆積させ、更
にAuを同法により400人蒸着し、対向電極2を形成
した。
次にスクアリリウム−ビス−6−オクチルアズレン(以
下5OAZと略す)を濃度0.2mg/mρで溶かした
クロロホルム溶液を水温20℃の純水からなる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒の蒸発を待
ち、かかる単分子膜の表面圧を20mN/mまで高め、
更にこれを一定に保ちながら前記電極基板を水面に横切
るように速度5mm/分で静かに浸漬し、更に引き上げ
て、2層のY形単分子膜の累積を行い、引き続き基板の
浸漬距離を2μmピッチで減少させ、前記対向電極上に
2層の累積膜を設けて記録層3及びこのようにして凸状
の段差部(エツジ)4を形成した。このときの段差部の
高さは、30人である。
下5OAZと略す)を濃度0.2mg/mρで溶かした
クロロホルム溶液を水温20℃の純水からなる水相上に
展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒の蒸発を待
ち、かかる単分子膜の表面圧を20mN/mまで高め、
更にこれを一定に保ちながら前記電極基板を水面に横切
るように速度5mm/分で静かに浸漬し、更に引き上げ
て、2層のY形単分子膜の累積を行い、引き続き基板の
浸漬距離を2μmピッチで減少させ、前記対向電極上に
2層の累積膜を設けて記録層3及びこのようにして凸状
の段差部(エツジ)4を形成した。このときの段差部の
高さは、30人である。
以上の様な方法により作成した記録媒体に、第4図に示
した情報処理装置を用いて記録・再生、消去の実験を行
った。
した情報処理装置を用いて記録・再生、消去の実験を行
った。
まず、本発明による記録媒体のアクセス方法を実現する
情報処理装置の構成実施例を第5図に示す。第6図に記
録媒体上にプローブ電極の先端の軌跡を表した例を示す
。また、第7図に再生時と記録時における第5図の情報
処理装置の各信号線の波形例をそれぞれ示す。以下図面
に従って説明する。
情報処理装置の構成実施例を第5図に示す。第6図に記
録媒体上にプローブ電極の先端の軌跡を表した例を示す
。また、第7図に再生時と記録時における第5図の情報
処理装置の各信号線の波形例をそれぞれ示す。以下図面
に従って説明する。
第5図中、1,2,3.4から成るのは本実施例に係る
記録媒体、11はステージで、記録媒体上の任意の記録
領域にプローブ電極を引き込むために、X、Y及びZ各
方向に10mmの範囲で移動できる。61は円筒型のP
ZTアクチュエータで、プローブ電極12を記録媒体上
のデータ列に沿って走査するためのもので、X、Y、及
びZ方向にそれぞれ2μmまで移動できる。
記録媒体、11はステージで、記録媒体上の任意の記録
領域にプローブ電極を引き込むために、X、Y及びZ各
方向に10mmの範囲で移動できる。61は円筒型のP
ZTアクチュエータで、プローブ電極12を記録媒体上
のデータ列に沿って走査するためのもので、X、Y、及
びZ方向にそれぞれ2μmまで移動できる。
プローブ電極12は電流アンプ62に接続される。電流
アンプ62の出力は対数圧縮回路63を経由してサンプ
ルホールド回路64に入力される。サンプルホールド回
路の出力信号(a)はコンパレータ65、ピークホール
ド回路66、及び高域通過フィルター70にそれぞれ入
力される。
アンプ62の出力は対数圧縮回路63を経由してサンプ
ルホールド回路64に入力される。サンプルホールド回
路の出力信号(a)はコンパレータ65、ピークホール
ド回路66、及び高域通過フィルター70にそれぞれ入
力される。
ピークホールド回路66の出力(b)は誤差増幅器67
と低域通過フィルター68に接続される。誤差増幅器の
出力は円筒型PZTのΔ2駆動電極に接続される。一方
、低域通過フィルター68の出力は減衰器VR,を通じ
てコンパレータ69に入力される。高域通過フィルター
の出力(d)はコンパレータ69のもう一方の入力に接
続される。さらに、コンパレータ69の出力はデータ変
復調部75のデータ復調器に入力される。
と低域通過フィルター68に接続される。誤差増幅器の
出力は円筒型PZTのΔ2駆動電極に接続される。一方
、低域通過フィルター68の出力は減衰器VR,を通じ
てコンパレータ69に入力される。高域通過フィルター
の出力(d)はコンパレータ69のもう一方の入力に接
続される。さらに、コンパレータ69の出力はデータ変
復調部75のデータ復調器に入力される。
データ変復調部のデータ変調出力はパルス発生器73に
接続され、DCバイアス電圧■1と合成して記録媒体電
極2及び段差部4に接続される。
接続され、DCバイアス電圧■1と合成して記録媒体電
極2及び段差部4に接続される。
トラッキング制御部74はアップダウンカウンタ71及
び、D/Aコンバーター72を介して円筒型PZTアク
チュエータ61を駆動する。アップダウンカウンタ71
のアップ入力(g)にはエツジ検出用のコンパレータ6
5の出力とトラッキング制御部からのアップ制御信号と
のORを接続する。一方アツブダウンカウンタ71のダ
ウン入力(f)にはトラッキング制御部のダウン制御信
号を接続する。アップダウンカウンタのカウント出力は
D/A変換器72によりアナログ電圧に変換され円筒型
PZTをΔX駆動する。
び、D/Aコンバーター72を介して円筒型PZTアク
チュエータ61を駆動する。アップダウンカウンタ71
のアップ入力(g)にはエツジ検出用のコンパレータ6
5の出力とトラッキング制御部からのアップ制御信号と
のORを接続する。一方アツブダウンカウンタ71のダ
ウン入力(f)にはトラッキング制御部のダウン制御信
号を接続する。アップダウンカウンタのカウント出力は
D/A変換器72によりアナログ電圧に変換され円筒型
PZTをΔX駆動する。
データの再生動作を想定すると、プローブ電極12の記
録媒体上での軌跡は第6図(a)となる。ステージ11
により初期設定されたプローブ位置80より円筒型PZ
T61がデータ走査を始めると81で表わされる軌跡を
通ってエツジ4を検出するとプローブ電極の走査は反転
し82の軌跡となる。更に一定距離を走査後、再び反転
しエツジ4に向かう方向に進む。
録媒体上での軌跡は第6図(a)となる。ステージ11
により初期設定されたプローブ位置80より円筒型PZ
T61がデータ走査を始めると81で表わされる軌跡を
通ってエツジ4を検出するとプローブ電極の走査は反転
し82の軌跡となる。更に一定距離を走査後、再び反転
しエツジ4に向かう方向に進む。
上記の動作を繰り返し、プローブ電極12がデータビッ
ト5列を検出すると、このデータ列に走査方位を調整し
つつ順次走査していく。
ト5列を検出すると、このデータ列に走査方位を調整し
つつ順次走査していく。
プローブ電極の走査方位は制御信号により可変抵抗R2
を変化させ、円筒型PZTアクチュエータ61のΔX/
ΔYの駆動比を変えて行う。また適正走査方位の検出は
、第6図には図示していないがウオブリング電圧(k)
をΔY駆動し、この時のトンネル電圧のピークホールド
されたエンベロープ信号(C)をモニターして判断され
る。
を変化させ、円筒型PZTアクチュエータ61のΔX/
ΔYの駆動比を変えて行う。また適正走査方位の検出は
、第6図には図示していないがウオブリング電圧(k)
をΔY駆動し、この時のトンネル電圧のピークホールド
されたエンベロープ信号(C)をモニターして判断され
る。
また、第6図(b)にプローブ電極12が配録媒体のデ
ータ列を走査している様子を第6図(a)のA−A’断
面図にて示す。プローブ電極と記録媒体表面との距離の
制御は、トンネル電流の対数圧縮した値をピークホール
ドした信号(b)を、誤差増幅器67により基準電圧V
msと比較し円筒型PZTをΔZ駆動する。
ータ列を走査している様子を第6図(a)のA−A’断
面図にて示す。プローブ電極と記録媒体表面との距離の
制御は、トンネル電流の対数圧縮した値をピークホール
ドした信号(b)を、誤差増幅器67により基準電圧V
msと比較し円筒型PZTをΔZ駆動する。
この制御により、プローブ電極はデータ列の凸部分また
は電子状態の最も高い部分を包絡するように走査する。
は電子状態の最も高い部分を包絡するように走査する。
次に、再生時における動作を各信号の状態を表す第7図
のタイミングチャートを用いて説明する。
のタイミングチャートを用いて説明する。
プローブ電極により検出されたトンネル電流は第5図6
2の電流アンプにより増幅された後、63により対数圧
縮し、64でサンプルホールドされる。このサンプルホ
ールド回路は再生時にはスルー状態となり対数圧縮器の
圧力がそのまま出力される。
2の電流アンプにより増幅された後、63により対数圧
縮し、64でサンプルホールドされる。このサンプルホ
ールド回路は再生時にはスルー状態となり対数圧縮器の
圧力がそのまま出力される。
サンプルホールド出力(a)はエツジ検出用コンパレー
タによりスレッシュホールド電圧V8□と比較しプロー
ブ電極がエツジに接近するのを検出する。但し、■、2
はデータ列による出力電圧より太き(設定する。
タによりスレッシュホールド電圧V8□と比較しプロー
ブ電極がエツジに接近するのを検出する。但し、■、2
はデータ列による出力電圧より太き(設定する。
エツジ検出した信号はアップダウンカウンタを強制的に
アップカウント動作に切り換える。さらに一定のカウン
ト値をアップカウントした後、再びダウンカウントに切
り換える。この時のアップダウンカウンタのアップ及び
ダウン制御信号を第7図の(g)、(f)にそれぞれ示
す。またΔX駆動出力を第7図(h)に示す。
アップカウント動作に切り換える。さらに一定のカウン
ト値をアップカウントした後、再びダウンカウントに切
り換える。この時のアップダウンカウンタのアップ及び
ダウン制御信号を第7図の(g)、(f)にそれぞれ示
す。またΔX駆動出力を第7図(h)に示す。
この動作によりプローブ電極は記録媒体のエツジ部に衝
突することな(走査することができる。
突することな(走査することができる。
サンプルホールド出力(a)は高域通過フィルターによ
り高域周波数成分すなわちデータ情報成分を抽出し、コ
ンパレータ69によりデータ列のエンベロープ信号(C
)を適当に減衰した電圧と比較し2値化データ(e)を
得る。この時のコンパレータのそれぞれの入力信号を第
7図(C)、(d)に示す。また、2値化された信号を
第7図(e)に示す。尚、エンベロープ信号(c)は、
ピークホールド出力(b)を低域通過フィルター68で
積分したものである。
り高域周波数成分すなわちデータ情報成分を抽出し、コ
ンパレータ69によりデータ列のエンベロープ信号(C
)を適当に減衰した電圧と比較し2値化データ(e)を
得る。この時のコンパレータのそれぞれの入力信号を第
7図(C)、(d)に示す。また、2値化された信号を
第7図(e)に示す。尚、エンベロープ信号(c)は、
ピークホールド出力(b)を低域通過フィルター68で
積分したものである。
続いて、記録時における動作を各信号の状態を表す第7
図のタイミングチャート及び第5図を用いて説明する。
図のタイミングチャート及び第5図を用いて説明する。
サンプルホールド64の圧力信号(a)をコンパレータ
65によりV□と比較し、エツジ接近を検出すると、ま
ずVanを所定のレベルに設定し書き込み動作に入る。
65によりV□と比較し、エツジ接近を検出すると、ま
ずVanを所定のレベルに設定し書き込み動作に入る。
プローブ電極と記録媒体との間隔の制御が安定する時間
を待ってサンプルホールド制御信号(i)をデータ書き
込みクロックに同期してホールド状態とし、パルス発生
器73より書き込みパルス(j)を発生する。このデー
タパルスの書き込みはプローブ電極が反転走査するまで
書き込まれ、プローブが反転走査すると直ちに読みだし
走査に戻り、次のエツジを検出するまでのデータ書き込
み動作は待機状態となる。
を待ってサンプルホールド制御信号(i)をデータ書き
込みクロックに同期してホールド状態とし、パルス発生
器73より書き込みパルス(j)を発生する。このデー
タパルスの書き込みはプローブ電極が反転走査するまで
書き込まれ、プローブが反転走査すると直ちに読みだし
走査に戻り、次のエツジを検出するまでのデータ書き込
み動作は待機状態となる。
次に、第4図を用いて記録再生方法を説明する。ただし
、プローブ電極12として電界研磨法によって作成した
白金/ロジウム製のプローブ電極を用いており、このプ
ローブ電極12は記録層3に電圧を印加できるように、
圧電素子により、その距離(Z)が制御されている。さ
らに上記機能を持ったままプローブ電極12が面内(X
。
、プローブ電極12として電界研磨法によって作成した
白金/ロジウム製のプローブ電極を用いており、このプ
ローブ電極12は記録層3に電圧を印加できるように、
圧電素子により、その距離(Z)が制御されている。さ
らに上記機能を持ったままプローブ電極12が面内(X
。
Y)方向にも移動制御できるように微動制御機構系が設
計されている。
計されている。
また、プローブ電極12は直接記録・再生・消去を行う
ことができる。また、記録媒体は高精度のXYステージ
11の上に置かれ、任意の位置に移動させることができ
る。よって、この移動制御機構によりプローブ電極12
で任意の位置のトラック上に記録・再生及び消去を行う
ことができる。
ことができる。また、記録媒体は高精度のXYステージ
11の上に置かれ、任意の位置に移動させることができ
る。よって、この移動制御機構によりプローブ電極12
で任意の位置のトラック上に記録・再生及び消去を行う
ことができる。
前述した記録層3を持つ記録媒体を記録・再生装置にセ
ットした。この時、トラックのY方向と記録・再生装置
のY方向がほぼ平行となる様に設置した。次に、プロー
ブ電極12と記録媒体の対面電極2との間に+1.5■
の電圧を印加し、記録層3に流れる電流をモニターしな
がらプローブ電極12と対向電極2との距離(Z)を調
整した。この時、プローブ電極12と対向電極2との距
離2を制御するためのプローブ電流工、を10−”A≧
Ip≧10−”Aになるように設定した。次に、距離2
を一定に保ちながら、プローブ電極12をX方向に走査
させ、記録媒体にトラックが形成されていることを確認
した後、プローブ電極12を任意のトラック(記録層)
上で保持した。次に、プローブ電極と対向電極の距離を
一定に保ちながら、プローブ電極をY方向に走査させた
。この時、前述した方法によりトラッキングを行うこと
により、任意のトラック上をこれから外れることな(プ
ローブ電極12を走査させることが可能であることがわ
かった。
ットした。この時、トラックのY方向と記録・再生装置
のY方向がほぼ平行となる様に設置した。次に、プロー
ブ電極12と記録媒体の対面電極2との間に+1.5■
の電圧を印加し、記録層3に流れる電流をモニターしな
がらプローブ電極12と対向電極2との距離(Z)を調
整した。この時、プローブ電極12と対向電極2との距
離2を制御するためのプローブ電流工、を10−”A≧
Ip≧10−”Aになるように設定した。次に、距離2
を一定に保ちながら、プローブ電極12をX方向に走査
させ、記録媒体にトラックが形成されていることを確認
した後、プローブ電極12を任意のトラック(記録層)
上で保持した。次に、プローブ電極と対向電極の距離を
一定に保ちながら、プローブ電極をY方向に走査させた
。この時、前述した方法によりトラッキングを行うこと
により、任意のトラック上をこれから外れることな(プ
ローブ電極12を走査させることが可能であることがわ
かった。
次に、プローブ電極12をトラック上で走査させながら
、50人ピッチで情報の記録を行った。
、50人ピッチで情報の記録を行った。
かかる情報の記録は、プローブ電極12を+側、対向電
極2を一側にして、電気メモリー材料が低抵抗状態(O
N状態)に変化する様に、第10図に示すしきい値電圧
VthoN以上の三角波パルス電圧を印加した。その後
、プローブ電極を記録開始点に戻し、再びトラック上を
走査させた。その結果、記録ビットに於いては0.7m
人程度のプローブ電流が流れ、ON状態となっているこ
とが示された。以上の再生実験に於いて、ピットエラー
レートは3X10−”であった。
極2を一側にして、電気メモリー材料が低抵抗状態(O
N状態)に変化する様に、第10図に示すしきい値電圧
VthoN以上の三角波パルス電圧を印加した。その後
、プローブ電極を記録開始点に戻し、再びトラック上を
走査させた。その結果、記録ビットに於いては0.7m
人程度のプローブ電流が流れ、ON状態となっているこ
とが示された。以上の再生実験に於いて、ピットエラー
レートは3X10−”であった。
なお、プローブ電極を電気メモリー材料がON状態から
OFF状態に変化するしきい値電圧Vthoyy以上の
IOVに設定し、再び記録位置をトレースした結果、全
ての記録状態が消去されOFF状態に遷移したことも確
認した。
OFF状態に変化するしきい値電圧Vthoyy以上の
IOVに設定し、再び記録位置をトレースした結果、全
ての記録状態が消去されOFF状態に遷移したことも確
認した。
なお、5OAZ 1層あたりの厚さは、小角X線回折法
により求めたところ、約15人であった。
により求めたところ、約15人であった。
K血■ユ
実施例1と全(同様に、ガラス基板1上に対向電極2を
形成した後に、ポリイミドLB膜をX方向、Y方向にそ
れぞれ2.4.6.8.10層累積し記録層3を形成し
た。なお、ポリイミドLB膜の形成方法は以下の通りで
ある。
形成した後に、ポリイミドLB膜をX方向、Y方向にそ
れぞれ2.4.6.8.10層累積し記録層3を形成し
た。なお、ポリイミドLB膜の形成方法は以下の通りで
ある。
ポリアミック酸(分子量約20万)を濃度1×10−3
%(g / g )で溶かしたジメチルアセトアミド溶
液を、別途調整したN、N−ジメチルオクタデシルアミ
ンの同溶媒によるI X 10−3M溶液を1:2(v
/v)に混合し、ポリアミド酸オクタデシルアミン塩溶
液を調整した。ががる溶液を水温20℃の純水からなる
水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。この単
分子膜の表面圧を25mN/mまで高め、更にこれを一
定に保ちながら、前記基板を水面に横切るように5mm
/分で移動させて浸漬、引き上げを行い、Y型単分子膜
の累積を行った。
%(g / g )で溶かしたジメチルアセトアミド溶
液を、別途調整したN、N−ジメチルオクタデシルアミ
ンの同溶媒によるI X 10−3M溶液を1:2(v
/v)に混合し、ポリアミド酸オクタデシルアミン塩溶
液を調整した。ががる溶液を水温20℃の純水からなる
水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。この単
分子膜の表面圧を25mN/mまで高め、更にこれを一
定に保ちながら、前記基板を水面に横切るように5mm
/分で移動させて浸漬、引き上げを行い、Y型単分子膜
の累積を行った。
引き続き基板の浸漬距離を1μmピッチで減少させるこ
とで、前記対向電極上に2.4.6.8.10層の累積
膜を形成した。次に、かがる基板を90”回転させ、前
記累積膜に直交するように2.4.6.8.10層の累
積膜を形成した。
とで、前記対向電極上に2.4.6.8.10層の累積
膜を形成した。次に、かがる基板を90”回転させ、前
記累積膜に直交するように2.4.6.8.10層の累
積膜を形成した。
更にこれらの膜を300’Cで1層分間加熱を行うこと
によりポリイミドにした。
によりポリイミドにした。
なおポリイミド1層あたりの厚さは、エリプソメトリ−
法により約4人と求められた。また、この様にして作成
した記録媒体の概略図を第1図に示す。
法により約4人と求められた。また、この様にして作成
した記録媒体の概略図を第1図に示す。
かかる記録媒体を用い、実施例1と同様にして記録・再
生実験を行ったところ、ピットエラーレートはlXl0
−’であり、消去も可能であった。
生実験を行ったところ、ピットエラーレートはlXl0
−’であり、消去も可能であった。
犬」U糺且
実施例1と同様に対向電極を形成したガラス基板を水温
20℃の純水中に浸漬したのち、水面上に実施例2と同
様のポリアミック酸を展開し、単分子膜を形成した。こ
の単分子膜の表面圧を25 m N / mまで高め、
更にこれを一定に保ちながら前記基板を水面を横切るよ
うに5mm/分で引き上げた。かかる基板を浸漬距離を
500人として実施例2と同様に減少させ、基板上に1
.3.5.7.9層の累積膜をX、Y方向にそれぞれ形
成した。
20℃の純水中に浸漬したのち、水面上に実施例2と同
様のポリアミック酸を展開し、単分子膜を形成した。こ
の単分子膜の表面圧を25 m N / mまで高め、
更にこれを一定に保ちながら前記基板を水面を横切るよ
うに5mm/分で引き上げた。かかる基板を浸漬距離を
500人として実施例2と同様に減少させ、基板上に1
.3.5.7.9層の累積膜をX、Y方向にそれぞれ形
成した。
更にこれらの膜を300℃で10分間加熱な行うことに
よりポリイミドにした。
よりポリイミドにした。
かかる記録媒体を用い、実施例1と同様にして記録・再
生実験を行ったところ、ビ・ントエラーレートはlXl
0−’であり、消去も可能であつた。
生実験を行ったところ、ビ・ントエラーレートはlXl
0−’であり、消去も可能であつた。
叉」U引A
実施例2と同様にして、対向電極、記録層を形成した。
ただし、記録層の暦数が増加するときに基板の浸漬距離
を増加させて、記録媒体を形成した。
を増加させて、記録媒体を形成した。
かかる記録媒体を用い、実施例1と同様にして記録・再
生実験を行ったところ、ピットエラーレートは2X10
−’であり、消去も可能であつた。
生実験を行ったところ、ピットエラーレートは2X10
−’であり、消去も可能であつた。
叉if糺互
洗浄したガラス基板なヘキサメチルジシラザン(HMD
S)の飽和蒸気中に一昼夜放置して疎水処理したのち、
実施例2と同様にしてX方向、Y方向それぞれに2.4
,6.8.10層のポリイミド累積膜からなる段差を形
成した。
S)の飽和蒸気中に一昼夜放置して疎水処理したのち、
実施例2と同様にしてX方向、Y方向それぞれに2.4
,6.8.10層のポリイミド累積膜からなる段差を形
成した。
次に、かかる基板上に実施例1と同様に下引き層として
Cr厚さ50人、さらにAu厚さ500人を真空蒸着法
によって形成した。
Cr厚さ50人、さらにAu厚さ500人を真空蒸着法
によって形成した。
その後、記録層として2層のポリイミド累積膜を形成し
た。
た。
かかる記録媒体を用い、実施例1と同様にして記録・再
生実験を行ったところ、ビ・ントエラーレートは3X1
0−’であり、消去も可能であつた。
生実験を行ったところ、ビ・ントエラーレートは3X1
0−’であり、消去も可能であつた。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明によれば、
1)記録領域のトラックピッチを数100人〜数μmに
制御することが可能で、かつ記録領域をユニット化する
ことができるので、記録面の全面積は制御されることが
なく、記録密度を極限まで大きくすることができる。
制御することが可能で、かつ記録領域をユニット化する
ことができるので、記録面の全面積は制御されることが
なく、記録密度を極限まで大きくすることができる。
2)エツジを基準としたトラッキング動作は2次元のデ
ータ領域に対して行われるので、トラ・ソキング動作の
ための処理時間はデータ1ビ・ソトるこ対して極めて小
さく、高速なデータの読みだし書き込みが可能になる。
ータ領域に対して行われるので、トラ・ソキング動作の
ための処理時間はデータ1ビ・ソトるこ対して極めて小
さく、高速なデータの読みだし書き込みが可能になる。
3)記録媒体のエツジ部を基準としてデータ列を書き込
むので、読みだし時にプローブ電極がデータビット列上
を走査する際、データビットが記録されているタイミン
グを正確に予測することができるので、ウオブリング等
によるデータ列への走査方位決定が確実なものとなる。
むので、読みだし時にプローブ電極がデータビット列上
を走査する際、データビットが記録されているタイミン
グを正確に予測することができるので、ウオブリング等
によるデータ列への走査方位決定が確実なものとなる。
4)トラック形成材料と記録層が同一にすることが可能
で、かつその形成も簡便なので生産性に富、低コストに
なる。
で、かつその形成も簡便なので生産性に富、低コストに
なる。
といったような効果がある。
第1図は、本発明に係る記録媒体の構成を説明する図で
ある。 第2図は、本発明に係るアクセス方法を説明する図であ
る。 第3図は、本発明の詳細な説明するための図である。 第4図は、本発明に係る情報処理装置の構成ブロック図
である。 第5図は、本発明のアクセス方法を実施する情報処理装
置の構成を表す図である。 第6図は、第5図における情報処理装置のプローブ電極
の記録媒体面上の軌跡を表す図である。 第7図は、第6図の情報処理装置の再生時の信号波形を
示す。 第8図は、第5図の情報処理装置の記録時の各部の信号
波形を示す図である。 第9図は、本発明の記録媒体に記録を行う際に加えるパ
ルス信号波形である。 1・・・基板 2・・・電極(対向電極) 3・・・記録層 4・・・段差部(エツジ部) 5・・・記録ビット 6・・・記録再生領域 11・・・XYステージ 12・・・プローブ電極 13・・・記録再生ヘッド 4・・・ヘッドをZ軸方向に駆動するアクチュエータ5
・・・ヘッドをX軸方向に駆動するアクチュエータ6・
・・ステージをY軸方向に駆動するアクチュエータト・
・アンプ 2・・・プローブ高さ検出回路 3・・・エツジ検出器 4・・・データ復調器 5・・・2軸駆動制御回路 6・・・X軸駆動制御回路 7・・・Y軸駆動制御回路 8・・・データ変調器 1・・・プローブ電極がエツジから離れる方向に走査し
たときの軌跡 32・・・プローブ電極がエツジに接近する方向に走査
したときの軌跡 l・・・パルス電源 2・・・粗動機構 3・・・XY方向走査駆動回路 4・・・2方向微動制御機構 5・・・XY方向微動制御機構 6・・・サーボ回路 7・・・プローブ電流増幅器 8・・・粗動駆動回路 9・・・マイクロコンピュータ O・・・表示装置 1・・・円筒型PZTアクチュエータ 2・・・電流アンプ 3・・・対数圧縮回路 4・・・サンプルホールド回路 5・・・コンパレータ 6・・・ピークホールド回路 7・・・誤差増幅器 8・・・低域通過フィルター 9・・・コンパレータ O・・・高域通過フィルター ト・・アップダウンカウンタ 2・・・D/Aコンバータ 3・・・データ書き込み用のパルス発生器4・・・トラ
ッキング制御部 5・・・データ変復調部 76・・・ステージ制御部 80・・・初期設定されたプローブ位置81・・・デー
タ走査を始めた軌跡 82・・・エツジにより反転した軌跡 箆1 図
ある。 第2図は、本発明に係るアクセス方法を説明する図であ
る。 第3図は、本発明の詳細な説明するための図である。 第4図は、本発明に係る情報処理装置の構成ブロック図
である。 第5図は、本発明のアクセス方法を実施する情報処理装
置の構成を表す図である。 第6図は、第5図における情報処理装置のプローブ電極
の記録媒体面上の軌跡を表す図である。 第7図は、第6図の情報処理装置の再生時の信号波形を
示す。 第8図は、第5図の情報処理装置の記録時の各部の信号
波形を示す図である。 第9図は、本発明の記録媒体に記録を行う際に加えるパ
ルス信号波形である。 1・・・基板 2・・・電極(対向電極) 3・・・記録層 4・・・段差部(エツジ部) 5・・・記録ビット 6・・・記録再生領域 11・・・XYステージ 12・・・プローブ電極 13・・・記録再生ヘッド 4・・・ヘッドをZ軸方向に駆動するアクチュエータ5
・・・ヘッドをX軸方向に駆動するアクチュエータ6・
・・ステージをY軸方向に駆動するアクチュエータト・
・アンプ 2・・・プローブ高さ検出回路 3・・・エツジ検出器 4・・・データ復調器 5・・・2軸駆動制御回路 6・・・X軸駆動制御回路 7・・・Y軸駆動制御回路 8・・・データ変調器 1・・・プローブ電極がエツジから離れる方向に走査し
たときの軌跡 32・・・プローブ電極がエツジに接近する方向に走査
したときの軌跡 l・・・パルス電源 2・・・粗動機構 3・・・XY方向走査駆動回路 4・・・2方向微動制御機構 5・・・XY方向微動制御機構 6・・・サーボ回路 7・・・プローブ電流増幅器 8・・・粗動駆動回路 9・・・マイクロコンピュータ O・・・表示装置 1・・・円筒型PZTアクチュエータ 2・・・電流アンプ 3・・・対数圧縮回路 4・・・サンプルホールド回路 5・・・コンパレータ 6・・・ピークホールド回路 7・・・誤差増幅器 8・・・低域通過フィルター 9・・・コンパレータ O・・・高域通過フィルター ト・・アップダウンカウンタ 2・・・D/Aコンバータ 3・・・データ書き込み用のパルス発生器4・・・トラ
ッキング制御部 5・・・データ変復調部 76・・・ステージ制御部 80・・・初期設定されたプローブ位置81・・・デー
タ走査を始めた軌跡 82・・・エツジにより反転した軌跡 箆1 図
Claims (9)
- (1)プローブ電極を用いて情報の記録再生を行なう記
録媒体において、表面に連続した階段状の凹凸形状を有
することを特徴とする記録媒体。 - (2)前記凹凸形状が、記録層の厚みを階段状に変化さ
せたものであることを特徴とする請求項1に記載の記録
媒体。 - (3)前記記録層が、分子中にπ電子準位をもつ群とσ
電子準位をもつ群とを有する有機化合物を含むことを特
徴とする請求項2に記載の記録媒体。 - (4)前記記録層が、基板上に設けた電極基板の上にラ
ングミュアープロジェット法により積層された有機化合
物の単分子膜又は単分子累積膜を含むことを特徴とする
請求項2に記載の記録媒体。 - (5)前記階段状凹凸形状の高低差が、3〜100Åで
あることを特徴とする請求項1に記載の記録媒体。 - (6)表面に階段状の凹凸形状を有する記録媒体に対す
るアクセス方法であって、前記凹凸形状の段差部を検出
する行程と、該段差部と角度を有して該プローブ電極を
走査する行程と、該段差部に沿う方向に記録媒体もしく
はプローブ電極を移動する行程とを含むことを特徴とす
るアクセス方法。 - (7)表面に階段状の凹凸形状を有する記録媒体に対す
るアクセス方法であって、前記段差部を検出する行程と
、記録再生するデータ列の該段差部に対する方位角を決
定する行程と、該段差部を起点としてデータ列方位にプ
ローブ電極を走査する行程とを含むことを特徴とするア
クセス方法。 - (8)請求項1〜5いずれかに記載の記録媒体を有し、
かつ、請求項6記載のアクセス方法を有することを特徴
とする情報処理装置。 - (9)請求項1〜5いずれかに記載の記録媒体を有し、
かつ、請求項7記載のアクセス方法を有することを特徴
とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21376490A JPH0498632A (ja) | 1990-08-14 | 1990-08-14 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置、アクセス方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21376490A JPH0498632A (ja) | 1990-08-14 | 1990-08-14 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置、アクセス方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0498632A true JPH0498632A (ja) | 1992-03-31 |
Family
ID=16644642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21376490A Pending JPH0498632A (ja) | 1990-08-14 | 1990-08-14 | 記録媒体及びそれを用いた情報処理装置、アクセス方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0498632A (ja) |
-
1990
- 1990-08-14 JP JP21376490A patent/JPH0498632A/ja active Pending
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