JPH05101133A - 論理シミユレーシヨン方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 同一原因論理不良の発生を抑止し、論理シミ
ュレーション効率の向上と工数の低減を図ることができ
る論理シミュレーション方式を提供する。 【構成】 試験プログラムを利用した論理シミュレーシ
ョン・システムであって論理回路１、テスト命令列群
２、テスト命令列取り出し装置３、コード変換装置４、
同一原因論理不良判定装置５、論理不良情報ファイル
６、スキップ命令列ファイル７、結果判定装置９などか
ら構成されている。そして、論理不良情報ファイル６の
情報コードとコード変換装置４による試験内容コードと
が比較され、該当コードがあれば同一原因論理不良とな
り、スキップ命令列ファイル７に格納された後に次のテ
スト命令列から処理が繰り返され、一方該当コードがな
ければシミュレーションが実行されて結果判定装置９に
より自動判定が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩ開発設計に必要
な論理シミュレーション技術に関し、特に試験プログラ
ムを利用した論理シミュレーションにおいて、同一原因
となる論理不良の発生を抑止し、シミュレーションを効
率的に行うことが可能とされる論理シミュレーション方
式に適用して有効な技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、試験プログラムを利用した論理シ
ミュレーション方式においては、大きく分類して次のよ
うな３項目の順に処理を行い、その処理結果を確認する
ことによって実施されている。

【０００３】(1).前処理 テスト命令列を実行するための初期設定を行う。

【０００４】(2).シミュレーション処理 テスト命令列をシミュレーション対象論理回路モデルで
実行する。

【０００５】(3).後処理 シミュレーション実行結果の判定処理を行う。

【０００６】このように、上記(1) 〜(3) の一連の処理
が終了した後に結果の確認を行い、ＯＫでないものにつ
いては不良解析を行う。

【０００７】なお、これに類似する技術としては、たと
えば社団法人電子通信学会、昭和５９年１１月３０日発
行、「ＬＳＩハンドブック」Ｐ１８８〜Ｐ１８９に記載
される論理シミュレーションマシンが挙げられる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記のよう
な従来技術においては、確認ＯＫとならなかったシミュ
レーション結果を解析した場合に、新しく論理不良を摘
出できれば良いが、たとえば以前に摘出した論理不良を
再度摘出することがある。

【０００９】従って、再度摘出された論理不良は同一原
因論理不良となり、解析時の工数やシミュレーション実
行時のＣＰＵ使用時間が非常に無駄になるという問題が
生じる。

【００１０】そこで、本発明の目的は、同一原因論理不
良の発生を抑止し、論理シミュレーション効率の向上と
工数の低減を図ることができる論理シミュレーション方
式を提供することにある。

【００１１】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。

【００１３】すなわち、本発明の論理シミュレーション
方式は、シミュレーション用にモデル化された論理回路
モデルに対してその論理不良を摘出するテスト命令列群
を備え、このテスト命令列群の中からテスト命令列を１
つずつ取り出し、テスト命令列を論理回路モデルに印加
してシミュレーションを実施し、この実施結果をもとに
次のテスト命令列の取り出しを制御する論理シミュレー
ション方式であって、次に印加しようとするテスト命令
列が、既に印加済みのテスト命令列で摘出された論理不
良と同一原因の不良を摘出しようとする場合、論理回路
モデルにこのテスト命令列の印加をスキップし、次の新
しいテスト命令列に処理を移してシミュレーションを実
行するものである。

【００１４】この場合に、前記同一原因の論理不良を自
動判定するようにしたものである。

【００１５】また、前記同一原因の論理不良でスキップ
されたテスト命令列を、摘出された論理不良に対する不
良対策が行われた時に、再度シミュレーションを実行す
るようにしたものである。

【００１６】

【作用】前記した論理シミュレーション方式によれば、
既に摘出された論理不良と同一原因の不良を摘出しよう
とする場合に、このテスト命令列の印加をスキップする
ことにより、同一原因となる論理不良の発生を抑止する
ことができる。

【００１７】すなわち、試験プログラムを利用した論理
シミュレーションを実行する場合、摘出された論理不良
に対して同一原因論理不良となるテスト命令列を判定
し、たとえば同一原因論理不良となったテスト命令列は
スキップさせ、不良対策が行われた後にシミュレーショ
ンを実行する。

【００１８】これにより、シミュレーション結果の不良
解析工数を低減すると同時に、ＣＰＵ使用時間の無駄を
なくすことができる。

【００１９】また、論理不良対策が行われた後に再度シ
ミュレーションが実行されることにより、不良対策後の
確認シミュレーションが容易となり、試験プログラムを
利用した論理シミュレーションを行う場合のシミュレー
ション効率を向上させることができる。

【００２０】

【実施例】図１は本発明の論理シミュレーション方式の
一実施例である論理シミュレーション・システムを示す
ブロック図、図２は本実施例の論理シミュレーション・
システムにおける処理の流れを示すフロー図、図３は本
実施例において、同一原因論理不良でスキップされたテ
スト命令列を再度実行する処理の流れを示すフロー図、
図４は本実施例において、テスト命令列群のシミュレー
ション処理を具体的に示す説明図である。

【００２１】まず、図１により本実施例の論理シミュレ
ーション・システムの構成を説明する。

【００２２】本実施例の論理シミュレーション・システ
ムは、たとえば試験プログラムを利用した論理シミュレ
ーション・システムとされ、論理回路（論理回路モデ
ル）１、テスト命令列群２、テスト命令列取り出し装置
３、コード変換装置４、同一原因論理不良判定装置５、
論理不良情報ファイル６、スキップ命令列ファイル７、
テスト命令列取り出し制御装置８、結果判定装置９、ス
キップ命令列取り出し装置１０およびコンソールディス
プレイ１１から構成されている。

【００２３】論理回路１は、シミュレーションの対象と
なる論理回路モデルであり、この論理回路１のシミュレ
ーションのためのテスト命令列がテスト命令列群２に格
納されている。

【００２４】テスト命令列取り出し装置３は、テスト命
令列群２から１つずつテスト命令列を取り出してコード
変換装置４に送り、このコード変換装置４において、テ
スト命令列の各テスト命令の試験内容がコード変換され
る。

【００２５】同一原因論理不良判定装置５は、コード変
換装置４によって変換された試験内容コードと、既に論
理不良を摘出したテスト命令の試験内容コードが入力さ
れた論理不良情報ファイル６の情報コードとを比較し、
該当する内容コードがなければそのテスト命令列を論理
回路１で実行し、もし該当するコードがあれば、同一原
因論理不良と判定し、そのテスト命令列はスキップ命令
列ファイル７に格納され、テスト命令列取り出し制御装
置８に次のテスト命令列の取り出しを依頼する。

【００２６】結果判定装置９は、テスト命令列を論理回
路１で実施した結果の判定を行い、判定結果を保持する
ものである。

【００２７】スキップ命令列取り出し装置１０は、不良
対策が行われた後、その不良を摘出したテスト命令の試
験内容コードにより、それに該当するテスト命令列をス
キップ命令列ファイル７から取り出し、この取り出され
たテスト命令列はスキップ命令列ファイル７から削除さ
れる。

【００２８】コンソールディスプレイ１１は、不良を摘
出したテスト命令に対する試験内容コードを、論理不良
情報ファイル６に入力するときと削除するときに使用す
るものである。

【００２９】次に、本実施例の作用について、図２の試
験プログラムを利用した論理シミュレーションにおける
処理の流れを、図２のフローチャートに基づいて説明す
る。

【００３０】まず、ステップ２０１において、テストを
行うための初期設定を行い、ステップ２０２でテスト命
令列群２からテスト命令列を１つ取り出す。そして、ス
テップ２０３で、取り出されたテスト命令列の各テスト
命令の試験内容をコード変換する。

【００３１】さらに、ステップ２０４において、論理不
良情報ファイル６の試験内容コードと変換された試験内
容コードとが比較される。この結果、該当するコードが
あれば同一原因論理不良となり、ステップ２０５でスキ
ップ命令列ファイル７に格納され、ステップ２０２から
処理を繰り返す。一方、該当する内容コードがなけれ
ば、ステップ２０６でシミュレーションを実行し、ステ
ップ２０７で実行結果の自動判定を行う。

【００３２】そして、ステップ２０８において、判定結
果がＮＧだったら処理を終了し、不良解析を行う。一
方、判定結果がＯＫだったら、ステップ２０９で指定し
たテスト命令列群２の範囲を全て実行したかどうかを判
定し、全て実行したら処理を終了する。もし、全て実行
していなければ、ステップ２０２から処理を繰り返す。

【００３３】次に、図３のフローチャートに基づき、同
一原因論理不良でスキップされたテスト命令列を再度実
行する場合における処理の流れを説明する。

【００３４】まず、ステップ３０１において、不良対策
されたテスト命令の試験内容コードを論理不良情報ファ
イル６から削除する。そして、ステップ３０２で再実行
モードに初期設定する。

【００３５】さらに、ステップ３０３において、不良対
策されたテスト命令の内容コードにより同一原因論理不
良となったテスト命令列をスキップ命令列ファイル７か
ら１つずつ取り出し、そのテスト命令列をスキップ命令
列ファイル７から削除する。

【００３６】そして、ステップ３０４において、別論理
不良で同一原因論理不良となる試験内容コードがあれ
ば、ステップ３０５で再度、スキップ命令列ファイル７
に格納し、ステップ３０３から処理を繰り返す。一方、
同一原因論理不良となる試験内容コードがなければ、ス
テップ３０６でシミュレーションを実行し、ステップ３
０７で実行結果の判定を行う。

【００３７】そして、ステップ３０８において、判定結
果がＮＧだったら処理を終了し、不良解析を行う。一
方、判定結果がＯＫだったら、ステップ３０９で該当す
るテスト命令列を全て実行したかどうか判定し、全て実
行したら処理を終了する。もし、全て実行していなけれ
ば、ステップ３０３から処理を繰り返す。

【００３８】次に、図２の処理ステップにおける要部の
処理例、たとえばテスト命令列を実施したときのシミュ
レーション処理例を、従来技術と対応させて図４により
具体的に説明する。

【００３９】始めに、この処理例は、図２の処理ステッ
プ２０２〜２０８における処理であり、ここでは、テス
ト命令列群２に対してＡＲ命令の動作に対し、論理不良
があった場合を例とする。

【００４０】本実施例では、テスト命令列群２からテス
ト命令列取り出し装置３を介して１つずつ取り出したテ
スト命令列１２を、各テスト命令の試験内容をコード変
換してテスト命令コード１３とする。

【００４１】同時に、既に摘出された論理不良に対する
テスト命令の試験内容コードを論理不良情報ファイル６
に入力しておくことで、同一原因論理不良判定装置５が
自動で判定し、同一原因論理不良となるテスト命令列１
２のをスキップ命令列ファイル７に格納する。

【００４２】従って、同一原因論理不良とならないテス
ト命令列１２のだけ論理回路１でシミュレーション実
行１４するので、新規論理不良となるコンペアエラーリ
スト１５のみ不良解析を行うため、不良解析工数が低減
され、シミュレーション効率が向上する。

【００４３】これに対して、従来は、指定されたテスト
命令列群２を実行結果ＯＫ／ＮＧにかかわらず全て実行
していたため、テスト命令列１２のとをシミュレー
ション実行１４すると、コンペアエラーリスト１５と１
６が発生し、この２件において不良解析を行い、コンペ
アエラーリスト１６は同一原因論理不良、コンペアエラ
ーリスト１５は新規論理不良となり、コンペアエラーリ
スト１６の解析工数は無駄となる。

【００４４】従って、本実施例の論理シミュレーション
・システムによれば、コード変換装置４、同一原因論理
不良判定装置５、論理不良情報ファイル６およびスキッ
プ命令列ファイル７などを備えることにより、次のテス
ト命令列が、既に摘出された論理不良と同一原因の不良
を摘出しようとする場合に、従来と異なりこのテスト命
令列の実行をスキップして次のテスト命令列のシミュレ
ーションを実行することができる。

【００４５】また、このスキップされたテスト命令列
を、不良対策後に再度シミュレーションを実行すること
ができるので、確認シミュレーションが容易となる。

【００４６】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。

【００４７】たとえば、本実施例の論理シミュレーショ
ン・システムについては、試験プログラムを利用したシ
ミュレーションに適用した場合について説明したが、本
発明は前記実施例に限定されるものではなく、他のプロ
グラムによるシミュレーションについても広く適用可能
である。

【００４８】

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。

【００４９】すなわち、次に印加しようとするテスト命
令列が、既に印加済みのテスト命令列で摘出された論理
不良と同一原因の不良を摘出しようとする場合、論理回
路モデルにこのテスト命令列の印加をスキップし、次の
新しいテスト命令列に処理を移してシミュレーションを
実行することにより、同一原因となる論理不良の発生を
抑止することができるので、シミュレーション結果の不
良解析工数を低減すると同時に、ＣＰＵ使用時間の無駄
の削減が可能となる。

【００５０】また、同一原因の論理不良でスキップされ
たテスト命令列を、摘出された論理不良に対する不良対
策が行われた時に再度シミュレーションを実行すること
により、不良対策後の確認シミュレーションが容易とな
り、試験プログラムを利用した論理シミュレーションを
行う場合のシミュレーション効率を向上させることがで
きる。

【００５１】この結果、試験プログラムを利用した論理
シミュレーションを行う場合に、同一原因論理不良の発
生を抑止し、論理シミュレーション効率の向上と工数の
低減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の論理シミュレーション方式の一実施例
である論理シミュレーション・システムを示すブロック
図である。

【図２】本実施例の論理シミュレーション・システムに
おける処理の流れを示すフロー図である。

【図３】本実施例において、同一原因論理不良でスキッ
プされたテスト命令列を再度実行する処理の流れを示す
フロー図である。

【図４】本実施例において、テスト命令列群のシミュレ
ーション処理を具体的に示す説明図である。

【符号の説明】

１ 論理回路（論理回路モデル） ２ テスト命令列群 ３ テスト命令列取り出し装置 ４ コード変換装置 ５ 同一原因論理不良判定装置 ６ 論理不良情報ファイル ７ スキップ命令列ファイル ８ テスト命令列取り出し制御装置 ９ 結果判定装置 １０ スキップ命令列取り出し装置 １１ コンソールディスプレイ １２ テスト命令列 １３ テスト命令コード １４ シミュレーション実行 １５，１６ コンペアエラーリスト

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 11/26 ３１０ 9072−5Ｂ (72)発明者 本間 和行 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立製作所神奈川工場内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 シミュレーション用にモデル化された論
   理回路モデルに対してその論理不良を摘出するテスト命
   令列群を備え、該テスト命令列群の中からテスト命令列
   を１つずつ取り出し、該テスト命令列を前記論理回路モ
   デルに印加してシミュレーションを実施し、該実施結果
   をもとに次のテスト命令列の取り出しを制御する論理シ
   ミュレーション方式であって、次に印加しようとするテ
   スト命令列が、既に印加済みのテスト命令列で摘出され
   た論理不良と同一原因の不良を摘出しようとする場合、
   前記論理回路モデルに該テスト命令列の印加をスキップ
   し、次の新しいテスト命令列に処理を移してシミュレー
   ションを実行することを特徴とする論理シミュレーショ
   ン方式。
2. 【請求項２】 前記同一原因の論理不良を自動判定する
   ことを特徴とする請求項１記載の論理シミュレーション
   方式。
3. 【請求項３】 前記同一原因の論理不良でスキップされ
   たテスト命令列を、前記摘出された論理不良に対する不
   良対策が行われた時に、再度シミュレーションを実行す
   ることを特徴とする請求項１記載の論理シミュレーショ
   ン方式。