JPH05101601A - 磁気テープカセツト - Google Patents
磁気テープカセツトInfo
- Publication number
- JPH05101601A JPH05101601A JP26181891A JP26181891A JPH05101601A JP H05101601 A JPH05101601 A JP H05101601A JP 26181891 A JP26181891 A JP 26181891A JP 26181891 A JP26181891 A JP 26181891A JP H05101601 A JPH05101601 A JP H05101601A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic tape
- cassette
- tape cassette
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- tape
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Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気テ−プカセットのテ−プエンド検出の信頼
性向上 【構成】磁気テ−プカセット2内部に一部が収納される
発光素子9と、磁気テ−プカセット2の外部に設置され
た受光素子10とによって、テ−プエンド検出を行なう
磁気テ−プカセットにおいて、磁気テ−プカセット2の
外壁に設けられたテ−プエンド検出窓部6の板厚を、他
の部分の板厚よりも厚くした。 【効果】これにより、磁気テ−プカセット2内でテ−プ
弛みがあっても、確実にテ−プエンド検出を行なうこと
が可能であり、装置の信頼性を向上できる。
性向上 【構成】磁気テ−プカセット2内部に一部が収納される
発光素子9と、磁気テ−プカセット2の外部に設置され
た受光素子10とによって、テ−プエンド検出を行なう
磁気テ−プカセットにおいて、磁気テ−プカセット2の
外壁に設けられたテ−プエンド検出窓部6の板厚を、他
の部分の板厚よりも厚くした。 【効果】これにより、磁気テ−プカセット2内でテ−プ
弛みがあっても、確実にテ−プエンド検出を行なうこと
が可能であり、装置の信頼性を向上できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気テープカセットに
係り、特に高精度なテープエンド検出に好適な磁気テー
プカセットのテープエンド検出構造に関する。
係り、特に高精度なテープエンド検出に好適な磁気テー
プカセットのテープエンド検出構造に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、カセット式の磁気記録再生装置
において、磁気テ−プの始端、終端は、磁気テ−プカセ
ット内部に挿入された発光素子より照射される光を、磁
気テ−プを発光素子と挾みこむ状態で磁気テ−プカセッ
ト側面に配置された受光素子で検知することによって検
出される、所謂光学的検出手法が採用されている。つま
り、リ−ルに巻装された磁気テ−プの巻始め、巻き終わ
りに設けられた透明なリ−ダテ−プが発光、受光素子間
に到達したときに、発光素子より照射された光が磁気テ
−プを透過し、受光素子によって検知され、磁気テ−プ
始端、終端を判断する構造になっている。この時磁気テ
−プカセット側壁には、発光素子より照射された光が透
過可能なように、所定位置にテ−プエンド検出窓が設け
られている。一例として8ミリカセットの場合、規格に
より、磁気テ−プカセットの基準面より6.05mmの
高さに2.5mm角の角穴が空いている。通常、磁気テ
−プカセットの前蓋が閉じている時は、前記角穴は、前
蓋の側壁により塞がれており、磁気テ−プカセットが装
置に装着され、前蓋が開いた時のみ前記角穴が露出し、
照射光の光路が確保される。
において、磁気テ−プの始端、終端は、磁気テ−プカセ
ット内部に挿入された発光素子より照射される光を、磁
気テ−プを発光素子と挾みこむ状態で磁気テ−プカセッ
ト側面に配置された受光素子で検知することによって検
出される、所謂光学的検出手法が採用されている。つま
り、リ−ルに巻装された磁気テ−プの巻始め、巻き終わ
りに設けられた透明なリ−ダテ−プが発光、受光素子間
に到達したときに、発光素子より照射された光が磁気テ
−プを透過し、受光素子によって検知され、磁気テ−プ
始端、終端を判断する構造になっている。この時磁気テ
−プカセット側壁には、発光素子より照射された光が透
過可能なように、所定位置にテ−プエンド検出窓が設け
られている。一例として8ミリカセットの場合、規格に
より、磁気テ−プカセットの基準面より6.05mmの
高さに2.5mm角の角穴が空いている。通常、磁気テ
−プカセットの前蓋が閉じている時は、前記角穴は、前
蓋の側壁により塞がれており、磁気テ−プカセットが装
置に装着され、前蓋が開いた時のみ前記角穴が露出し、
照射光の光路が確保される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
テ−プエンド検出構造においては、発光部より照射され
る光は直進して受光素子に直接検知される光と、磁気テ
−プカセットの内壁に反射し間接的に検知される光とが
ある。通常上記磁気テ−プカセットの内壁に反射する光
は上記直進する光と同じ様に磁気テ−プによって遮ら
れ、テ−プエンド検出に悪影響は及ぼさない。しかし、
リ−ルの位置決め高さのバラツキや、テ−プロ−ディン
グ直後のテ−プ弛みによるカセット内テ−プの倒れによ
って、磁気テ−プカセットの内壁に反射した光がテ−プ
に遮られずテ−プエンド検出窓より漏れでて、テ−プエ
ンドを誤検出し、装置のシステムコントロ−ルマイコン
がモ−ド操作を受け付けないといった問題があった。本
発明の目的は、簡単な構造で高精度にテ−プエンドを検
出できる磁気テ−プカセットを提供することにある。
テ−プエンド検出構造においては、発光部より照射され
る光は直進して受光素子に直接検知される光と、磁気テ
−プカセットの内壁に反射し間接的に検知される光とが
ある。通常上記磁気テ−プカセットの内壁に反射する光
は上記直進する光と同じ様に磁気テ−プによって遮ら
れ、テ−プエンド検出に悪影響は及ぼさない。しかし、
リ−ルの位置決め高さのバラツキや、テ−プロ−ディン
グ直後のテ−プ弛みによるカセット内テ−プの倒れによ
って、磁気テ−プカセットの内壁に反射した光がテ−プ
に遮られずテ−プエンド検出窓より漏れでて、テ−プエ
ンドを誤検出し、装置のシステムコントロ−ルマイコン
がモ−ド操作を受け付けないといった問題があった。本
発明の目的は、簡単な構造で高精度にテ−プエンドを検
出できる磁気テ−プカセットを提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明では、発光素子と、受光素子とを備え、光学的に
テ−プエンド検出を行なう磁気テ−プカセットにおい
て、前記磁気テ−プカセットはカセット外壁に設けられ
たテ−プエンド検出窓を備え、前記テ−プエンド検出窓
部の板厚が他の部分の板厚よりも厚いカセットハ−フに
より構成した。
本発明では、発光素子と、受光素子とを備え、光学的に
テ−プエンド検出を行なう磁気テ−プカセットにおい
て、前記磁気テ−プカセットはカセット外壁に設けられ
たテ−プエンド検出窓を備え、前記テ−プエンド検出窓
部の板厚が他の部分の板厚よりも厚いカセットハ−フに
より構成した。
【0005】また、前記テ−プエンド検出窓部を、別部
材の圧入もしくは接着にて構成し、さらに検出窓を光が
透過可能な透明部材で塞ぐ構成とした。
材の圧入もしくは接着にて構成し、さらに検出窓を光が
透過可能な透明部材で塞ぐ構成とした。
【0006】さらに、前記テ−プエンド検出窓を、受光
素子に近づくにつれて窓の断面積が大きくなる様にし
た。
素子に近づくにつれて窓の断面積が大きくなる様にし
た。
【0007】
【作用】上記の如く磁気テ−プカセットを構成すること
により、磁気テ−プカセット内に張架された磁気テ−プ
が弛んでも、発光素子より照射され磁気テ−プカセット
内壁に反射した検出光は、増加した板厚部によってその
殆どを遮られ、受光素子に誤検出される心配は無くな
る。よって従来構造に対して、高精度にテ−プエンド検
出が行え、信頼性が向上する。
により、磁気テ−プカセット内に張架された磁気テ−プ
が弛んでも、発光素子より照射され磁気テ−プカセット
内壁に反射した検出光は、増加した板厚部によってその
殆どを遮られ、受光素子に誤検出される心配は無くな
る。よって従来構造に対して、高精度にテ−プエンド検
出が行え、信頼性が向上する。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面によって説明す
る。図1は、本発明の一実施例の磁気テ−プカセットの
斜視図を示している。同図において、1は、テ−プカセ
ット2の開口部3の前面に張架された磁気テ−プを外気
及び触手等から保護する前蓋であり、テ−プカセットハ
−フ4の側壁に回動自在に軸支されている。5は、前蓋
1を図示する如く閉じた状態で保持する前蓋係止部材で
あり、カセットハ−フ4の側壁の凹部4aに配置され、
前蓋1の側壁1aとで挾み込まれる状態で保持されてい
る。6はカセットハ−フ4の側壁4bに設けられた、テ
−プの始端、終端検出用のテ−プエンド検出窓であり、
カセットハ−フ4のテ−プ供給側及び巻取り側の2箇所
に空けられている。7は、テ−プエンド検出用の発光素
子が挿入される検出穴である。
る。図1は、本発明の一実施例の磁気テ−プカセットの
斜視図を示している。同図において、1は、テ−プカセ
ット2の開口部3の前面に張架された磁気テ−プを外気
及び触手等から保護する前蓋であり、テ−プカセットハ
−フ4の側壁に回動自在に軸支されている。5は、前蓋
1を図示する如く閉じた状態で保持する前蓋係止部材で
あり、カセットハ−フ4の側壁の凹部4aに配置され、
前蓋1の側壁1aとで挾み込まれる状態で保持されてい
る。6はカセットハ−フ4の側壁4bに設けられた、テ
−プの始端、終端検出用のテ−プエンド検出窓であり、
カセットハ−フ4のテ−プ供給側及び巻取り側の2箇所
に空けられている。7は、テ−プエンド検出用の発光素
子が挿入される検出穴である。
【0009】図2は、図1に示す本発明の磁気テ−プカ
セットに採用しているテ−プエンド検出の原理を、判り
易く説明するために構成要素を簡略化して示した平面図
である。また、図3は図2の断面A−Aを示している。
図1に対応する部分には、同一符号を付けている。図
2、図3によりまず概略構成を説明する。カセット2
は、装置の基板8上の所定位置に高さ決めされている。
9は、装置にカセット2を装着時、カセット2の検出穴
7に挿入される発光素子であり、装置の基板8上に固定
されている。10は、カセットハ−フ4の側壁4b側に
配置された受光素子であり、カセット2のテ−プエンド
検出窓6の位置に受光部10aがくるように基板上に配
置されている。
セットに採用しているテ−プエンド検出の原理を、判り
易く説明するために構成要素を簡略化して示した平面図
である。また、図3は図2の断面A−Aを示している。
図1に対応する部分には、同一符号を付けている。図
2、図3によりまず概略構成を説明する。カセット2
は、装置の基板8上の所定位置に高さ決めされている。
9は、装置にカセット2を装着時、カセット2の検出穴
7に挿入される発光素子であり、装置の基板8上に固定
されている。10は、カセットハ−フ4の側壁4b側に
配置された受光素子であり、カセット2のテ−プエンド
検出窓6の位置に受光部10aがくるように基板上に配
置されている。
【0010】次に検出原理を説明する。図2、図3にお
いて、発光素子9の発光部9aから光が照射される。光
は、検出穴7に予め設けられているスリット7aを通過
し、図示する矢印の光路を通り、テ−プエンド検出窓6
へと到達する。この時、カセット2内部に張架されたテ
−プ11が受光素子10と発光素子9との中間に位置
し、光路を塞ぐ形となる。ここで、テ−プ11が巻始
め、もしくは巻き終わり状態になると、テ−プエンドに
設けられた透明のリ−ダ−テ−プが発光素子9と受光素
子の間に到り、塞いでいた障害物が無くなった光は図4
に示す様に、テ−プエンド検出窓6を通過し、受光素子
10に受光され、テ−プの始端、もしくは終端が検出さ
れる。
いて、発光素子9の発光部9aから光が照射される。光
は、検出穴7に予め設けられているスリット7aを通過
し、図示する矢印の光路を通り、テ−プエンド検出窓6
へと到達する。この時、カセット2内部に張架されたテ
−プ11が受光素子10と発光素子9との中間に位置
し、光路を塞ぐ形となる。ここで、テ−プ11が巻始
め、もしくは巻き終わり状態になると、テ−プエンドに
設けられた透明のリ−ダ−テ−プが発光素子9と受光素
子の間に到り、塞いでいた障害物が無くなった光は図4
に示す様に、テ−プエンド検出窓6を通過し、受光素子
10に受光され、テ−プの始端、もしくは終端が検出さ
れる。
【0011】図5は本発明による磁気テ−プカセットの
テ−プエンド検出窓6の拡大断面図であり、磁気テ−プ
カセットを装置に装着した状態での受光可能な検出光の
範囲を示している。図2、3に対応する部分には、同一
符号を付けている。同図において、β度は、従来の磁気
テ−プカセット2の構造における、テ−プエンド検出光
の検出可能範囲を示し、α度は、本発明の磁気テ−プカ
セット2の構造における、テ−プエンド検出光の検出可
能範囲を示している。図より明らかな様に、砂点部12
は、誤検出の原因となる外乱光の遮断範囲である。この
場合、テ−プエンド検出窓部の板厚が厚ければ厚いほ
ど、上記外乱光の遮断効果は大きい。
テ−プエンド検出窓6の拡大断面図であり、磁気テ−プ
カセットを装置に装着した状態での受光可能な検出光の
範囲を示している。図2、3に対応する部分には、同一
符号を付けている。同図において、β度は、従来の磁気
テ−プカセット2の構造における、テ−プエンド検出光
の検出可能範囲を示し、α度は、本発明の磁気テ−プカ
セット2の構造における、テ−プエンド検出光の検出可
能範囲を示している。図より明らかな様に、砂点部12
は、誤検出の原因となる外乱光の遮断範囲である。この
場合、テ−プエンド検出窓部の板厚が厚ければ厚いほ
ど、上記外乱光の遮断効果は大きい。
【0012】図6は本発明の磁気テ−プカセットの他の
実施例を示す拡大断面図である。同図において、13は
カセットハ−フ4の側壁4bに圧入もしくは接着にて装
着されたテ−プエンド検出窓部であり、装着後の形状は
先に述べた実施例と同一となり、同一の機能を果たす。
本実施例では、カセットハ−フ4の型構造が簡素化さ
れ、磁気テ−プカセット2の信頼性向上につながる。
実施例を示す拡大断面図である。同図において、13は
カセットハ−フ4の側壁4bに圧入もしくは接着にて装
着されたテ−プエンド検出窓部であり、装着後の形状は
先に述べた実施例と同一となり、同一の機能を果たす。
本実施例では、カセットハ−フ4の型構造が簡素化さ
れ、磁気テ−プカセット2の信頼性向上につながる。
【0013】また図7は、図6に示す磁気テ−プカセッ
トの防塵防滴構造を示した拡大断面図である。図6に対
し図7では、テ−プエンド検出窓6に光が透過可能な透
明部材14を装着したものである。これにより外部から
の塵や水滴がカセット内部に侵入することは無く、ドロ
ップアウト等を防止できる。
トの防塵防滴構造を示した拡大断面図である。図6に対
し図7では、テ−プエンド検出窓6に光が透過可能な透
明部材14を装着したものである。これにより外部から
の塵や水滴がカセット内部に侵入することは無く、ドロ
ップアウト等を防止できる。
【0014】また図8は、本発明の磁気テ−プカセット
の他の実施例を示す拡大断面図である。同図においてテ
−プエンド検出穴6aは、カセット内面側の検出窓の面
積を極力小さく抑え、受光素子10に近づくにつれてそ
の断面積が大きくなるテ−パ形状をしており、受光素子
10に対面する検出窓の面積は先に述べた検出窓6と同
等であり、磁気テ−プカセット2と受光素子10の位置
決め精度は従来のままで、カセット内反射光の受光素子
10への誤検知を大幅にカットでき、テ−プエンド検出
の高精度化を図れる。また、図9は、従来の板厚のまま
でテ−プエンド検出穴6aを図8と同様に、発光素子か
らの光路にそってテ−パ形状にしたものである。本構成
においても、従来の円筒状のテ−プエンド検出穴よりも
反射光の遮断効果はある。以上説明してきたように、本
実施例によれば、磁気テ−プカセット内壁に反射する検
出光を大幅にカットし、もし磁気テ−プが弛んでも、確
実にテ−プエンド検出を行うことが可能である。また、
テ−プエンド検出窓は、カセットハ−フと一体で成形す
ることはもちろん可能であるが、別部材で構成すること
によりカセットハ−フの型構造の簡素化を図れる。さら
に、テ−プエンド検出窓を透明部材で塞ぐことにより、
防塵防滴を図ることも可能である。また、テ−プエンド
検出精度を一層向上させるために、テ−プエンド検出窓
の大きさを小さくする必要があるが、実施例に示すテ−
パ状の穴構造によりカセットと受光素子との位置決め精
度を、従来同等に確保すれば良く、特別な高精度位置決
め機構は不要となり、メカニズムの簡素化を図れる。
の他の実施例を示す拡大断面図である。同図においてテ
−プエンド検出穴6aは、カセット内面側の検出窓の面
積を極力小さく抑え、受光素子10に近づくにつれてそ
の断面積が大きくなるテ−パ形状をしており、受光素子
10に対面する検出窓の面積は先に述べた検出窓6と同
等であり、磁気テ−プカセット2と受光素子10の位置
決め精度は従来のままで、カセット内反射光の受光素子
10への誤検知を大幅にカットでき、テ−プエンド検出
の高精度化を図れる。また、図9は、従来の板厚のまま
でテ−プエンド検出穴6aを図8と同様に、発光素子か
らの光路にそってテ−パ形状にしたものである。本構成
においても、従来の円筒状のテ−プエンド検出穴よりも
反射光の遮断効果はある。以上説明してきたように、本
実施例によれば、磁気テ−プカセット内壁に反射する検
出光を大幅にカットし、もし磁気テ−プが弛んでも、確
実にテ−プエンド検出を行うことが可能である。また、
テ−プエンド検出窓は、カセットハ−フと一体で成形す
ることはもちろん可能であるが、別部材で構成すること
によりカセットハ−フの型構造の簡素化を図れる。さら
に、テ−プエンド検出窓を透明部材で塞ぐことにより、
防塵防滴を図ることも可能である。また、テ−プエンド
検出精度を一層向上させるために、テ−プエンド検出窓
の大きさを小さくする必要があるが、実施例に示すテ−
パ状の穴構造によりカセットと受光素子との位置決め精
度を、従来同等に確保すれば良く、特別な高精度位置決
め機構は不要となり、メカニズムの簡素化を図れる。
【0015】
【発明の効果】以上の説明によって明らかなように、本
発明の磁気テ−プカセットによれば、最も簡単な手段
で、磁気テ−プカセットのテ−プエンド検出を、確実に
行なうことが可能であり、装置の信頼性が向上するとい
った効果がある。
発明の磁気テ−プカセットによれば、最も簡単な手段
で、磁気テ−プカセットのテ−プエンド検出を、確実に
行なうことが可能であり、装置の信頼性が向上するとい
った効果がある。
【図1】本発明による磁気テ−プカセットの一実施例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図2】テ−プエンド検出の原理を示す平面図である。
【図3】図2のA−A断面図である。
【図4】本発明によるテ−プエンド検出窓部の拡大窓部
である。
である。
【図5】本発明及び従来の検出光の受光範囲を示すテ−
プエンド検出窓の拡大断面図である。
プエンド検出窓の拡大断面図である。
【図6】本発明の他の実施例を示すテ−プエンド検出窓
の拡大断面図である。
の拡大断面図である。
【図7】図6の実施例の防塵防滴構造を示すテ−プエン
ド検出窓の拡大断面図である。
ド検出窓の拡大断面図である。
【図8】本発明の他の実施例を示すテ−プエンド検出窓
の拡大断面図である。
の拡大断面図である。
【図9】従来板厚のカセットに本発明のテ−パ状の検出
穴を採用した例を示すテ−プエンド検出窓の拡大断面図
である。
穴を採用した例を示すテ−プエンド検出窓の拡大断面図
である。
1…前蓋 1a…側壁 2…テ−プカセット 3…開口部 4…カセットハ−フ 4a…凹部 4b…側壁 5…前蓋係止部材 6…テ−プエンド検出窓 6a…テ−プエンド検出穴 7…検出穴 8…基板 9…発光素子 10…受光素子 11…磁気テ−プ 12…外乱光の遮断範囲 13…テ−プエンド検出窓部 14…透明部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前原 克生 大阪府茨木市丑寅一丁目1番88号日立マク セル株式会社内 (72)発明者 井上 幹久 大阪府茨木市丑寅一丁目1番88号日立マク セル株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】磁気テープカセット内部に一部が収納され
る発光部と、 磁気テープカセットの外部に設置された受光部と、 によって、テープエンド検出を行う磁気テープカセット
において、 前記磁気テープカセットはカセット外壁に設けられたテ
ープエンド検出窓を備え、前記テープエンド検出窓部の
板厚が他の部分の板厚よりも厚いカセットハーフによっ
て構成されたことを特徴とする磁気テ−プカセット。 - 【請求項2】請求項1において、 前記磁気テープカセットの前記テープエンド検出窓部
を、別部材の圧入もしくは接着にて構成したことを特徴
とする磁気テープカセット。 - 【請求項3】請求項1または請求項2において、 前記磁気テープカセットの前記テープエンド検出窓を光
を透過可能な透明部材で塞いだことを特徴とする磁気テ
ープカセット。 - 【請求項4】請求項1または請求項2において、 前記磁気テープカセットの前記テープエンド検出窓を、
受光素子に近づくにつれて窓の断面積を大きくしたこと
を特徴とする磁気テープカセット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26181891A JPH05101601A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | 磁気テープカセツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26181891A JPH05101601A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | 磁気テープカセツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05101601A true JPH05101601A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17367154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26181891A Withdrawn JPH05101601A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | 磁気テープカセツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05101601A (ja) |
-
1991
- 1991-10-09 JP JP26181891A patent/JPH05101601A/ja not_active Withdrawn
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990107 |