JPH05102783A - 弾性表面波装置及びその製造方法 - Google Patents
弾性表面波装置及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH05102783A JPH05102783A JP26381191A JP26381191A JPH05102783A JP H05102783 A JPH05102783 A JP H05102783A JP 26381191 A JP26381191 A JP 26381191A JP 26381191 A JP26381191 A JP 26381191A JP H05102783 A JPH05102783 A JP H05102783A
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- Japan
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- electrode structure
- surface acoustic
- acoustic wave
- wave device
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Abstract
(57)【要約】
【目的】入力IDTと出力IDTを有する電極構造列を
複数個縦続接続した弾性表面波装置において、高周波側
の帯域外減衰量の劣化を低減させる。 【構成】少なくとも入力IDT21、42、43、61
と出力IDT22、23、41、62、63とを有する
電極構造列20、40、60を圧電基板10上に複数個
縦続接続した弾性表面波装置において、電極構造列2
0、40、60間に、表面波を吸収又は散乱する遮断手
段80、90を設けるように構成する。
複数個縦続接続した弾性表面波装置において、高周波側
の帯域外減衰量の劣化を低減させる。 【構成】少なくとも入力IDT21、42、43、61
と出力IDT22、23、41、62、63とを有する
電極構造列20、40、60を圧電基板10上に複数個
縦続接続した弾性表面波装置において、電極構造列2
0、40、60間に、表面波を吸収又は散乱する遮断手
段80、90を設けるように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は入力IDTと出力IDT
を有する電極構造列を圧電基板上に複数個縦続接続した
弾性表面波装置及びその製造方法に関する。
を有する電極構造列を圧電基板上に複数個縦続接続した
弾性表面波装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、移動体通信等の分野で弾性表面波
を利用した帯域フィルタとしての弾性表面波装置が用い
られるようになっている。このような分野の弾性表面波
装置は、非常に高性能な帯域特性を求められ、特に、帯
域外において大きく減衰するような減衰特性が求められ
ている。
を利用した帯域フィルタとしての弾性表面波装置が用い
られるようになっている。このような分野の弾性表面波
装置は、非常に高性能な帯域特性を求められ、特に、帯
域外において大きく減衰するような減衰特性が求められ
ている。
【0003】そのような帯域外減衰特性を得るために、
移動体通信等の分野では、入力IDTと出力IDTを有
する電極構造列を2個以上縦続接続した弾性表面波装置
が用いられている。
移動体通信等の分野では、入力IDTと出力IDTを有
する電極構造列を2個以上縦続接続した弾性表面波装置
が用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電極構
造列を2個以上縦続接続すると高周波側の帯域外減衰量
が予想よりも劣化して、満足すべき帯域特性を得ること
ができないという問題があった。本発明の目的は、高周
波側の帯域外減衰量の劣化を低減した弾性表面波装置及
びその製造方法を提供することにある。
造列を2個以上縦続接続すると高周波側の帯域外減衰量
が予想よりも劣化して、満足すべき帯域特性を得ること
ができないという問題があった。本発明の目的は、高周
波側の帯域外減衰量の劣化を低減した弾性表面波装置及
びその製造方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願発明者は、入力ID
Tと出力IDTを有する電極構造列を2個以上縦続接続
した弾性表面波装置の減衰特性を測定し、高周波側の帯
域外減衰量が劣化している原因を種々検討した結果、縦
続接続された一方の電極構造列において発生した弾性表
面波が漏れて隣接する他方の電極構造列に影響を及ぼし
ていることが主な原因であることを見出した。
Tと出力IDTを有する電極構造列を2個以上縦続接続
した弾性表面波装置の減衰特性を測定し、高周波側の帯
域外減衰量が劣化している原因を種々検討した結果、縦
続接続された一方の電極構造列において発生した弾性表
面波が漏れて隣接する他方の電極構造列に影響を及ぼし
ていることが主な原因であることを見出した。
【0006】そこで、本願発明者は電極構造列間におけ
る弾性表面波の影響を遮断するために、縦続接続された
電極構造列間に、表面波を吸収又は散乱する遮断手段を
設けるようにすればよいことに思い至った。表面波を吸
収又は散乱する遮断手段としては、粘性の高いエポキシ
系樹脂を電極構造列間に塗布する等、種々の手段が考え
られるが、電極構造列間に溝を設けることが望ましい手
段である。
る弾性表面波の影響を遮断するために、縦続接続された
電極構造列間に、表面波を吸収又は散乱する遮断手段を
設けるようにすればよいことに思い至った。表面波を吸
収又は散乱する遮断手段としては、粘性の高いエポキシ
系樹脂を電極構造列間に塗布する等、種々の手段が考え
られるが、電極構造列間に溝を設けることが望ましい手
段である。
【0007】これは、電極構造列間に単に溝を掘るだけ
でよいので、化学的影響による他の特性に対する劣化を
招く虞れがないからである。また、切断装置により弾性
表面波装置を圧電基板から切り離す際に、弾性表面波装
置内の電極構造列間に切断装置の切断刃を浅く切り込ん
で溝を形成すればよいので、新たな工程を増加させるこ
とがないからである。
でよいので、化学的影響による他の特性に対する劣化を
招く虞れがないからである。また、切断装置により弾性
表面波装置を圧電基板から切り離す際に、弾性表面波装
置内の電極構造列間に切断装置の切断刃を浅く切り込ん
で溝を形成すればよいので、新たな工程を増加させるこ
とがないからである。
【0008】
【作用】本発明によれば、電極構造列間に表面波を吸収
又は散乱する遮断手段を設けたので、電極構造列間にお
ける弾性表面波の影響を遮断して、高周波側の帯域外減
衰量の劣化を低減させることができる。図1に、遮断手
段として電極構造列間に溝を設けた場合において、溝の
深さと高周波側の帯域外減衰量との関係を示す。横軸は
表面波波長により規格化された溝の深さ[波長]であ
り、縦軸は高周波側の帯域外減衰量[dB]である。
又は散乱する遮断手段を設けたので、電極構造列間にお
ける弾性表面波の影響を遮断して、高周波側の帯域外減
衰量の劣化を低減させることができる。図1に、遮断手
段として電極構造列間に溝を設けた場合において、溝の
深さと高周波側の帯域外減衰量との関係を示す。横軸は
表面波波長により規格化された溝の深さ[波長]であ
り、縦軸は高周波側の帯域外減衰量[dB]である。
【0009】図1のグラフから、溝の深さが深くなれば
帯域外減衰量の劣化も低減することがわかった。また、
移動体通信機等で必要とされる50dB以上の帯域外減
衰量を得るためには、溝の深さがλ/8でもよく、λ/
2以上にすればより確実であることがわかった。
帯域外減衰量の劣化も低減することがわかった。また、
移動体通信機等で必要とされる50dB以上の帯域外減
衰量を得るためには、溝の深さがλ/8でもよく、λ/
2以上にすればより確実であることがわかった。
【0010】
【実施例】本発明の一実施例による弾性表面波装置につ
いて図2を用いて説明する。約400μm厚の45°回
転XカットZ伝搬のLi2 B4 O7 圧電基板10上に、
規格化膜厚が約1%のアルミニウム層による3つの電極
構造列20、40、60が形成されている。電極構造列
20、40、60は、それぞれ同一の構造であり弾性表
面波の伝搬波長をλとして約20λの間隔をあけて伝搬
方向が平行になるように形成されている。本実施例では
弾性表面波の速度が約3510m/sec、中心周波数
が90MHzであるので、波長λは39μmとなり、電
極構造列20、40、60間は約780μmの間隔をあ
けて形成されている。
いて図2を用いて説明する。約400μm厚の45°回
転XカットZ伝搬のLi2 B4 O7 圧電基板10上に、
規格化膜厚が約1%のアルミニウム層による3つの電極
構造列20、40、60が形成されている。電極構造列
20、40、60は、それぞれ同一の構造であり弾性表
面波の伝搬波長をλとして約20λの間隔をあけて伝搬
方向が平行になるように形成されている。本実施例では
弾性表面波の速度が約3510m/sec、中心周波数
が90MHzであるので、波長λは39μmとなり、電
極構造列20、40、60間は約780μmの間隔をあ
けて形成されている。
【0011】第1段目の電極構造列20は、中央の入力
IDT21の両側に出力IDT22、23が設けられ、
これらIDT21、22、23を一対の反射器24、2
5により挟んだ構造をしている。入力IDT21の外側
には入力用ボンディングパッド26が設けられ、電極構
造列40側には接地用ボンディングパッド27が設けら
れている。出力IDT22、23の外側には接地用ボン
ディングパッド28、29が設けられ、電極構造列40
側には出力用ボンディングパッド30、31が設けられ
ている。
IDT21の両側に出力IDT22、23が設けられ、
これらIDT21、22、23を一対の反射器24、2
5により挟んだ構造をしている。入力IDT21の外側
には入力用ボンディングパッド26が設けられ、電極構
造列40側には接地用ボンディングパッド27が設けら
れている。出力IDT22、23の外側には接地用ボン
ディングパッド28、29が設けられ、電極構造列40
側には出力用ボンディングパッド30、31が設けられ
ている。
【0012】第2段目の電極構造列40は、中央の出力
IDT41の両側に入力IDT42、43が設けられ、
これらIDT41、42、43を一対の反射器44、4
5により挟んだ構造をしている。出力IDT41の電極
構造列20側には接地用ボンディングパッド46が設け
られ、電極構造列60側には出力用ボンディングパッド
47が設けられている。入力IDT42、43の電極構
造列20側には入力用ボンディングパッド48、49が
設けられ、電極構造列60側には接地用ボンディングパ
ッド50、51が設けられている。
IDT41の両側に入力IDT42、43が設けられ、
これらIDT41、42、43を一対の反射器44、4
5により挟んだ構造をしている。出力IDT41の電極
構造列20側には接地用ボンディングパッド46が設け
られ、電極構造列60側には出力用ボンディングパッド
47が設けられている。入力IDT42、43の電極構
造列20側には入力用ボンディングパッド48、49が
設けられ、電極構造列60側には接地用ボンディングパ
ッド50、51が設けられている。
【0013】第3段目の電極構造列60は、中央の入力
IDT61の両側に出力IDT62、63が設けられ、
これらIDT61、62、63を一対の反射器64、6
5により挟んだ構造をしている。入力IDT61の電極
構造列40側には入力用ボンディングパッド66が設け
られ、外側には接地用ボンディングパッド67が設けら
れている。出力IDT62、63の電極構造列60側に
は接地用ボンディングパッド68、69が設けられ、外
側には出力用ボンディングパッド70、71が設けられ
ている。
IDT61の両側に出力IDT62、63が設けられ、
これらIDT61、62、63を一対の反射器64、6
5により挟んだ構造をしている。入力IDT61の電極
構造列40側には入力用ボンディングパッド66が設け
られ、外側には接地用ボンディングパッド67が設けら
れている。出力IDT62、63の電極構造列60側に
は接地用ボンディングパッド68、69が設けられ、外
側には出力用ボンディングパッド70、71が設けられ
ている。
【0014】電極構造列20のボンディングパッド2
7、30、31と、電極構造列40のボンディングパッ
ド46、48、49との間には、弾性表面波を吸収又は
散乱するために、幅200μm、深さ100μm(約
2.56λ)の溝80が弾性表面波の伝搬方向とほぼ平
行に形成されている。電極構造列20のボンディングパ
ッド27、30、31と、電極構造列40のボンディン
グパッド46、48、49とは、溝80を越えて、それ
ぞれワイヤ81により接続され、電極構造列20と電極
構造列40が縦続接続されている。
7、30、31と、電極構造列40のボンディングパッ
ド46、48、49との間には、弾性表面波を吸収又は
散乱するために、幅200μm、深さ100μm(約
2.56λ)の溝80が弾性表面波の伝搬方向とほぼ平
行に形成されている。電極構造列20のボンディングパ
ッド27、30、31と、電極構造列40のボンディン
グパッド46、48、49とは、溝80を越えて、それ
ぞれワイヤ81により接続され、電極構造列20と電極
構造列40が縦続接続されている。
【0015】同様に、電極構造列40のボンディングパ
ッド47、50、51と、電極構造列60のボンディン
グパッド66、68、69との間にも、弾性表面波を吸
収又は散乱するために、幅200μm、深さ100μm
(約2.56λ)の溝90が弾性表面波の伝搬方向とほ
ぼ平行に形成されている。電極構造列40のボンディン
グパッド47、50、51と、電極構造列60のボンデ
ィングパッド66、68、69とは、溝90を越えて、
それぞれワイヤ91により接続され、電極構造列40と
電極構造列60が縦続接続されている。
ッド47、50、51と、電極構造列60のボンディン
グパッド66、68、69との間にも、弾性表面波を吸
収又は散乱するために、幅200μm、深さ100μm
(約2.56λ)の溝90が弾性表面波の伝搬方向とほ
ぼ平行に形成されている。電極構造列40のボンディン
グパッド47、50、51と、電極構造列60のボンデ
ィングパッド66、68、69とは、溝90を越えて、
それぞれワイヤ91により接続され、電極構造列40と
電極構造列60が縦続接続されている。
【0016】本実施例による弾性表面波装置の通過帯域
特性を図3に示す。横軸は中心周波数f0 により規格化
された規格化周波数[f/f0 ]であり、縦軸は挿入損
失[dB]である。図4のグラフは、比較例として溝8
0、90を形成する前の弾性表面波装置の通過帯域特性
である。横軸は中心周波数f0 により規格化された規格
化周波数[f/f0 ]であり、縦軸は挿入損失[dB]
である。
特性を図3に示す。横軸は中心周波数f0 により規格化
された規格化周波数[f/f0 ]であり、縦軸は挿入損
失[dB]である。図4のグラフは、比較例として溝8
0、90を形成する前の弾性表面波装置の通過帯域特性
である。横軸は中心周波数f0 により規格化された規格
化周波数[f/f0 ]であり、縦軸は挿入損失[dB]
である。
【0017】図3と図4を比較すれば明らかなように、
高周波側の帯域外減衰量が溝80、90を形成すること
により飛躍的に改善され、低周波側の帯域外減衰量と同
程度になっている。本発明の一実施例による弾性表面波
装置の製造方法を図5を用いて説明する。図5は、図2
に示す弾性表面波装置の電極構造列20、40、60の
中央のIDT21、41、61を通る切断線により切断
した断面形状を工程毎に示したものである。
高周波側の帯域外減衰量が溝80、90を形成すること
により飛躍的に改善され、低周波側の帯域外減衰量と同
程度になっている。本発明の一実施例による弾性表面波
装置の製造方法を図5を用いて説明する。図5は、図2
に示す弾性表面波装置の電極構造列20、40、60の
中央のIDT21、41、61を通る切断線により切断
した断面形状を工程毎に示したものである。
【0018】まず、約400μm厚の45°回転Xカッ
トZ伝搬のLi2 B4 O7 圧電基板10上に、規格化膜
厚が約1%のアルミニウム層による電極構造列20、4
0、60を形成する(図5(a))。次に、レジストに
よる保護膜100を全面に塗布する(図5(b))。次
に、ダイシング工程において、回転するダイシングソー
により弾性表面波装置間を切断する際に、弾性表面波装
置内の電極構造列20、40、60間にダイシングソー
を浅く切り込んで約100μm深さの溝80、90を形
成する(図5(c))。
トZ伝搬のLi2 B4 O7 圧電基板10上に、規格化膜
厚が約1%のアルミニウム層による電極構造列20、4
0、60を形成する(図5(a))。次に、レジストに
よる保護膜100を全面に塗布する(図5(b))。次
に、ダイシング工程において、回転するダイシングソー
により弾性表面波装置間を切断する際に、弾性表面波装
置内の電極構造列20、40、60間にダイシングソー
を浅く切り込んで約100μm深さの溝80、90を形
成する(図5(c))。
【0019】次に、保護膜100を除去した後、電極構
造列20のボンディングパッド27、30、31と、電
極構造列40のボンディングパッド46、48、49と
を、それぞれワイヤ81により接続し、電極構造列40
のボンディングパッド47、50、51と、電極構造列
60のボンディングパッド66、68、69とを、それ
ぞれワイヤ91により接続すると共に、電極構造列20
のボンディングパッド26、28、29をワイヤ101
により、それぞれ外部電極102に接続し、電極構造列
60のボンディングパッド67、68、69をワイヤ1
03により、それぞれ外部電極104に接続する(図5
(d))。
造列20のボンディングパッド27、30、31と、電
極構造列40のボンディングパッド46、48、49と
を、それぞれワイヤ81により接続し、電極構造列40
のボンディングパッド47、50、51と、電極構造列
60のボンディングパッド66、68、69とを、それ
ぞれワイヤ91により接続すると共に、電極構造列20
のボンディングパッド26、28、29をワイヤ101
により、それぞれ外部電極102に接続し、電極構造列
60のボンディングパッド67、68、69をワイヤ1
03により、それぞれ外部電極104に接続する(図5
(d))。
【0020】このように本実施例によれば、圧電基板か
ら弾性表面波装置を切断して切り出すダイシング工程に
おいて、ダイシングソーを浅く切り込むように制御する
だけで表面波を吸収させるための溝を簡単に形成するこ
とができる。本発明は上記実施例に限らず種々の変形が
可能である。例えば、上記実施例では表面波を吸収又は
散乱する遮断手段として電極構造列間に溝を形成した
が、粘性の高いエポキシ系樹脂等の吸音剤を塗布しても
よい。
ら弾性表面波装置を切断して切り出すダイシング工程に
おいて、ダイシングソーを浅く切り込むように制御する
だけで表面波を吸収させるための溝を簡単に形成するこ
とができる。本発明は上記実施例に限らず種々の変形が
可能である。例えば、上記実施例では表面波を吸収又は
散乱する遮断手段として電極構造列間に溝を形成した
が、粘性の高いエポキシ系樹脂等の吸音剤を塗布しても
よい。
【0021】また、上記実施例では、ダイシングソーを
浅く切り込むことにより溝を形成したが、エッチングに
より溝を形成してもよい。
浅く切り込むことにより溝を形成したが、エッチングに
より溝を形成してもよい。
【0022】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、電極構造
列間に表面波を吸収又は散乱する遮断手段を設けたの
で、電極構造列間における弾性表面波の影響を遮断し
て、高周波側の帯域外減衰量を低減させることができ
る。
列間に表面波を吸収又は散乱する遮断手段を設けたの
で、電極構造列間における弾性表面波の影響を遮断し
て、高周波側の帯域外減衰量を低減させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による弾性表面波装置における、溝の深
さと高周波側の帯域外減衰量との関係を示すグラフであ
る。
さと高周波側の帯域外減衰量との関係を示すグラフであ
る。
【図2】本発明の一実施例による弾性表面波装置の斜視
図である。
図である。
【図3】本発明の一実施例による弾性表面波装置の通過
帯域特性を示すグラフである。
帯域特性を示すグラフである。
【図4】比較例の通過帯域特性を示すグラフである。
【図5】本発明の一実施例による弾性表面波装置の製造
方法の工程断面図である。
方法の工程断面図である。
10…圧電基板 20、40、60…電極構造列 21…入力IDT 22、23…出力IDT 24、25…反射器 26…入力用ボンディングパッド 27、28、29…接地用ボンディングパッド 30、31…出力用ボンディングパッド 41…出力IDT 42、43…入力IDT 44、45…反射器 46、50、51…接地用ボンディングパッド 47…出力用ボンディングパッド 48、49…入力用ボンディングパッド 61…入力IDT 62、63…出力IDT 64、65…反射器 66…入力用ボンディングパッド 67、68、69…接地用ボンディングパッド 70、71…出力用ボンディングパッド 80、90…溝 81、82、83、91、92、93…ワイヤ 100…保護膜 101、103…ワイヤ 102、104…外部電極
Claims (3)
- 【請求項1】 少なくとも入力IDTと出力IDTとを
有する電極構造列を圧電基板上に複数個縦続接続した弾
性表面波装置において、 前記電極構造列間に、表面波を吸収又は散乱する遮断手
段を設けたことを特徴とする弾性表面波装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の弾性表面波装置におい
て、 前記遮断手段は、前記電極構造列間の圧電基板表面に形
成された溝であることを特徴とする弾性表面波装置。 - 【請求項3】 圧電基板上に、入力IDTと出力IDT
とを有する電極構造列を複数個有する弾性表面波装置を
複数個形成する工程と、 切断装置の切断刃により前記複数個の弾性表面波装置間
を切断すると共に、前記切断装置の切断刃を浅く切り込
んで前記弾性表面波装置内の前記電極構造列間に表面波
を吸収又は散乱するための溝を形成する工程と、 前記電極構造列間を電気的に接続することにより前記電
極構造列を縦続接続する工程とを有することを特徴とす
る弾性表面波装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26381191A JPH05102783A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 弾性表面波装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26381191A JPH05102783A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 弾性表面波装置及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05102783A true JPH05102783A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17394572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26381191A Pending JPH05102783A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | 弾性表面波装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05102783A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002232261A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-16 | Kinseki Ltd | 弾性表面波装置 |
| US6911881B2 (en) | 2002-06-13 | 2005-06-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd | Surface acoustic wave device |
| US7180388B2 (en) | 2004-01-20 | 2007-02-20 | Fujitsu Media Devices Limited | Surface acoustic wave device |
| CN110426122A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-08 | 扬州大学 | 一种表面声波波束散射检测芯片 |
-
1991
- 1991-10-11 JP JP26381191A patent/JPH05102783A/ja active Pending
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