JPH05106033A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPH05106033A
JPH05106033A JP26790391A JP26790391A JPH05106033A JP H05106033 A JPH05106033 A JP H05106033A JP 26790391 A JP26790391 A JP 26790391A JP 26790391 A JP26790391 A JP 26790391A JP H05106033 A JPH05106033 A JP H05106033A
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JP
Japan
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thin film
film forming
substrate
hydrogen
forming apparatus
Prior art date
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Application number
JP26790391A
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English (en)
Inventor
Makoto Tanaka
田中  誠
Makoto Tanabe
誠 田辺
Wasaburo Ota
和三郎 太田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】良好な膜構造を有するカーボン薄膜やシリコン
薄膜を、耐熱性の低い基板に対しても密着性良く形成で
きる薄膜形成装置を提供する。 【構成】本装置は、薄膜形成材料及び水素ガスが導入さ
れる成膜用真空槽1と、この真空槽内に配備され基板1
00を保持する基板ホルダー13と、基板13を加熱す
る手段13’と、真空槽内に薄膜形成材料を供給する手
段10,20と、基板近傍に水素原子を供給する手段
5,14,17とを有し、基板近傍において、水素原子
を高濃度に供給しながら成膜が行なえるような装置構成
及び手段がとられたことを特徴とする。 【効果】基板表面近傍に水素原子を高濃度に供給するこ
とによって、基板表面で材料物質の分解反応を促進する
ことができ、良好な膜構造を有するカーボン薄膜、シリ
コン薄膜の低温形成が容易となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカーボン薄膜あるいはシ
リコン薄膜を低温で良質に形成することのできる薄膜形
成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本出願人は先に、被薄膜形成基板上に種
々の薄膜を形成する薄膜形成装置として、基板を蒸発源
に対向させて保持する対向電極と蒸発源との間にグリッ
ドを配し、このグリッドと蒸発源との間に熱電子発生用
のフィラメントを配し、グリッドをフィラメントに対し
て正電位にして薄膜形成を行なう装置を提案した(特公
平1−53351号公報参照)。この装置では、蒸発源
から蒸発した蒸発物質は、先ず、フィラメントからの熱
電子により、イオン化される。このようにイオン化され
た蒸発物質がグリッドを通過すると、グリッドから対電
極に向かう電界の作用により加速されて基板に衝突し、
密着性の良い膜が形成される。また、この他、被薄膜形
成基板上にカーボン薄膜あるいはシリコン薄膜を形成す
る手段としては、従来よりCVD法やPVD法をはじめ
種々のものが提案されており、その方法も極めて多岐に
渡っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の薄膜形
成装置においては、形成される膜の基板への密着性が弱
かったり、また、良質な膜構造(結晶性、電気的特性、
硬度等)を有するカーボン薄膜やシリコン薄膜を形成す
るには、薄膜形成温度(基板温度)を高くする必要があ
り、耐熱性の低い基板への成膜が困難であったりする等
の問題があった。本発明は上記事情に鑑みてなされたも
のであって、従来装置に比べて反応性が高く、比較的低
い温度での成膜が可能で、良好な膜構造を有するカーボ
ン薄膜やシリコン薄膜を、耐熱性の低い基板に対しても
密着性良く形成できる新規な薄膜形成装置を提供するこ
とを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の薄膜形成装置は、カーボン薄膜もしくは
シリコン薄膜形成用の薄膜形成装置であって、薄膜形成
材料及び水素ガスが導入される成膜用真空槽と、上記真
空槽内に配備され被薄膜形成基板を保持する基板ホルダ
ーと、被薄膜形成基板を加熱する手段と、上記真空槽内
に薄膜形成材料を供給する手段とを有し、被薄膜形成基
板近傍において、水素原子を高濃度に供給しながら成膜
が行なえるような装置構成及び手段がとられたことを特
徴とする。請求項2の薄膜形成装置では、上記薄膜形成
装置において、被薄膜形成基板近傍に水素原子を高濃度
に供給する方法として、被薄膜形成基板近傍に水素ガス
を供給する手段を有し、レーザ照射、あるいは水銀ラン
プ照射等により水素解離させ、被薄膜形成基板近傍の水
素原子濃度を高めるようにしたことを特徴とする。請求
項3の薄膜形成装置では、請求項2記載の薄膜形成装置
において、レーザ照射による水素解離を効率良く行なう
ため、全反射ミラーを被薄膜形成基板表面近傍に設置し
て照射効率の向上をはかったことを特徴とする。
【0005】請求項4の薄膜形成装置では、請求項1記
載の薄膜形成装置において、被薄膜形成基板近傍に水素
原子を高濃度に供給する方法として、被薄膜形成基板表
面の前方あるいは側面に、水素原子供給部を設置したこ
とを特徴とする。請求項5の薄膜形成装置では、請求項
4記載の薄膜形成装置において、水素原子供給部内に水
素解離用の熱フィラメントを設置し、成膜用真空槽に対
して高い圧力となるように水素ガスを水素原子供給部内
に導入し、水素原子供給部の噴射孔をノズル形状にし
て、水素原子を被薄膜形成基板表面に効率良く噴射させ
るようにしたことを特徴とする。請求項6の薄膜形成装
置では、請求項5記載の薄膜形成装置において、水素原
子供給部内の熱フィラメントを水素原子供給部本体内壁
に対し負電位にして、水素解離を促進させたことを特徴
とする。請求項7の薄膜形成装置では、請求項5あるい
は請求項6記載の薄膜形成装置において、水素原子供給
部内の熱フィラメント近傍部分にレーザ光を照射して、
水素解離を促進させたことを特徴とする。
【0006】請求項8の薄膜形成装置は、活性ガスもし
くは不活性ガスあるいはこれら両者の混合ガスが導入さ
れる成膜用真空槽と、上記真空槽内に配備され材料供給
路より真空外から蒸気又は霧状とした薄膜形成材料を方
向性良く且つ均一に基板に向けて噴射することができる
材料供給部と、上記真空槽内において上記材料供給部と
対向するように配備され被薄膜形成基板を保持する対電
極と、上記真空槽内において上記材料供給部と上記対電
極の間に配備され薄膜形成材料を通過させ得るグリッド
と、上記真空槽内において上記グリッドと上記材料供給
部の間に配備される熱電子発生用のフィラメントと、被
薄膜形成基板を加熱する手段と、上記フィラメントに対
し上記グリッドを正電位にする電位手段と、上記真空槽
内に所定の電位配分を実現するための電源手段と、上記
真空槽内と上記電源手段とを電気的に連結する導電手段
とを有し、被薄膜形成基板表面近傍において、水素原子
を高濃度に供給しながら成膜が行なえるような装置構成
及び手段がとられたことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明の薄膜形成装置においては、被薄膜形成
基板表面近傍に水素原子を高濃度に供給しながら成膜が
行なえるような装置構成及び手段がとられたことによ
り、基板表面近傍の水素原子アシストにより材料物質の
分解反応を促進することができ、従来難しいとされてい
た結晶性や電気的特性に優れたカーボン薄膜、シリコン
薄膜の低温形成が可能となる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の薄膜形成装置の構成及び作用
についてより具体的に説明する。請求項1のカーボン薄
膜、シリコン薄膜形成装置は、成膜用真空槽と、基板ホ
ルダーと、基板加熱手段と、材料供給手段と、水素原子
供給手段とを有する。成膜用真空槽には、材料物質であ
る反応性ガス、及び反応促進のための水素ガスが導入さ
れるようになっている。基板ホルダーは、被薄膜形成基
板(以下、基板という)を保持するようになっており、
上記成膜用真空槽内に配備される。基板加熱手段は、基
板を通電加熱あるいは間接加熱する手段であり、成膜状
況に応じて適宜使用される。材料供給手段は、成膜用真
空槽内に材料物質である反応性ガスを定量且つ安定に供
給する手段であり、シャワー放出、ノズル噴射など成膜
状況に応じて種々の方法が用いられる。水素原子供給手
段は、基板近傍に水素原子を高濃度に供給する手段であ
り、水素原子は材料物質の分解反応に有効に寄与する。
従って、この薄膜形成装置で蒸着プロセスを実行する
と、基板表面近傍の水素原子アシストにより材料物質の
分解反応が促進されるため、結晶性や電気的特性に優れ
たカーボン、シリコン薄膜の低温形成が、より一層容易
となる。
【0009】また、請求項2の薄膜形成装置は、上記薄
膜形成装置において、基板表面近傍に水素原子を高濃度
に供給する方法として、水素ガスを基板表面に噴射し、
レーザ照射、あるいは水銀ランプ照射等により水素解離
させて、基板近傍の水素原子濃度を高めたものであり、
これにより、基板表面近傍の水素原子アシストによる材
料物質の分解反応がより促進されるため、結晶性や電気
的特性に優れたカーボン、シリコン薄膜の低温形成が、
より一層容易となる。
【0010】次に上記請求項1,2の薄膜形成装置の実
施例として図1を挙げ、構成及び作用を説明する。図1
おいて、符号1は成膜用真空槽を示している。図1では
図示を省略されているが、真空槽1の側面にはパッキン
グを介して、真空槽内部の作業を行なうためのドア型の
蓋が一体化されている。また、真空槽1に設けられた孔
1Aは図示されない排気系に連結されている。材料供給
部10は材料供給路20によって支持され、真空槽外よ
り材料物質を供給できるようになっている。この材料供
給部10は複数個の小孔ノズル10a及びヒーター10
bを有し、材料物質を所望の運動エネルギーで方向性良
く且つ均一に基板に向けて放出できるようになってい
る。尚、図1の例ではノズル噴射となっているが、公知
のガス導入の方法を利用しても良く、この限りではな
い。
【0011】基板ホルダー13には、材料供給部10と
対向する側の面に基板100が適宜の方法で保持され
る。基板ヒータ13’は基板加熱に用いられるものであ
り、真空槽外から電力を供給するのであるが、簡単のた
め、図1では図示を省略している。水素ガス供給部14
は、符号5で示すような公知の適宜の方法により、真空
槽外より基板表面に水素ガスを供給する手段であり、図
1の例ではシャワー状となっている。真空槽1の側面に
設けられた窓16には石英ガラスが取り付けられてお
り、この窓16から基板あるいは基板表面近傍に向け
て、数eVのレーザ光、あるいは水銀ランプ等を照射で
きるようになっている。尚、レーザ光源17からのレー
ザ光は基板の面積をカバーできるように周期的に走査す
るなどの配慮がなされている。
【0012】上記水素ガス供給部14、石英窓16、レ
ーザ光源17は、基板表面近傍の水素を解離させて水素
原子濃度をたかめるための手段(水素原子供給手段)で
あり、水素原子は材料物質の分解反応を促進させる。従
って、この薄膜形成装置で蒸着プロセスを実行すると、
基板表面近傍の水素原子アシストにより材料物質の分解
反応が促進されるため、結晶性や電気的特性に優れたカ
ーボン薄膜、シリコン薄膜の低温形成が、より一層容易
となった。例えば、材料物質としてC22あるいはCH
4 を用いれば、比較的低温の基板上においても、良質な
カーボン薄膜またはダイヤモンド薄膜を、SiH4 を用
いれば、良質なシリコン薄膜を形成することができる。
【0013】次に、請求項3の薄膜形成装置は、請求項
2の薄膜形成装置において、レーザ照射による水素解離
を効率良く行なうため、反射ミラーを基板表面の前方あ
るいは側面に設置してレーザの照射効率の向上をはかっ
たものである。尚、この装置では、レーザ照射及び全反
射ミラーの部分を除いて、構成・作用は請求項2と同様
なので、基板近傍部分のみを図2(a)に示す。図2(a)
においては、円筒状の全反射ミラー18を基板表面近傍
に配置した例であり、全反射ミラー18は基板100の
表面近傍でレーザ光を閉じ込めて、レーザ光のパワーを
有効に利用するものであり、その様子を図2(b)に示
す。この装置では、レーザ光のパワーをミラー18によ
り有効に利用するばかりでなく、レーザ光の走査を必要
としない点でも請求項2の装置より有利である。尚、こ
のミラー18の形状は、図2の例では円筒状であるが、
多角形の筒状等にしてもよく、基板の形状や設置状況に
応じて適宜定められる。
【0014】次に、請求項4の薄膜形成装置は、請求項
1の薄膜形成装置において、基板表面近傍に水素原子を
高濃度に供給する方法として、基板表面の前方あるいは
側面に水素原子供給部を設置したものである。以下、上
記装置の実施例として図3を挙げ、構成及び作用を説明
する。図3において、符号1は成膜用真空槽を示してい
る。図3では図示を省略されているが、真空槽1の側面
にはパッキングを介して、真空槽内部の作業を行なうた
めのドア型の蓋が一体化されている。また、真空槽1に
設けられた孔1Aは図示されない排気系に連結されてい
る。材料供給部10は材料供給路20によって支持さ
れ、真空槽外より材料物質を供給できるようになってい
る。この材料供給部10は複数個の小孔ノズル10a及
びヒーター10bを有し、材料物質を所望の運動エネル
ギーで方向性良く且つ均一に基板に向けて放出できるよ
うになっている。尚、図3の例ではノズル噴射となって
いるが、公知のガス導入の方法を利用しても良く、この
限りではない。
【0015】基板ホルダー13には、材料供給部10と
対向する側の面に基板100が適宜の方法で保持され
る。基板ヒータ13’は基板加熱に用いられるものであ
り、真空槽外から電力を供給するのであるが、簡単のた
め、図3では図示を省略している。水素原子供給部15
には、符号5で示すような公知の適宜の方法により、真
空槽外より水素ガスが供給され、放出口から基板表面近
傍に向けて水素原子が放出されるようになっており、こ
の水素原子は材料物質の分解反応を促進させる。従っ
て、この薄膜形成装置で蒸着プロセスを実行すると、基
板表面近傍の水素原子アシストにより材料物質の分解反
応が促進されるため、結晶性や電気的特性に優れたカー
ボン薄膜、シリコン薄膜の低温形成が、より一層容易と
なった。例えば、材料物質としてC22あるいはCH4
を用いれば、比較的低温の基板上においても、良質なカ
ーボン薄膜またはダイヤモンド薄膜を、SiH4 を用い
れば、良質なシリコン薄膜を形成することができる。
【0016】次に、請求項5の薄膜形成装置は、請求項
4の薄膜形成装置において、水素原子供給部内に水素解
離用の熱フィラメントを設置し、成膜用真空槽に対して
高い圧力となるように水素ガスを水素原子供給部内に導
入し、水素原子供給部の噴射孔をノズル形状にして、水
素原子を基板表面に効率良く噴射させるようにしたもの
である。この装置は、水素原子供給部を除いて、構成・
作用は請求項4と同様なので、水素原子供給部のみを図
4に示す。図4において、水素原子供給部15内の熱フ
ィラメント15aは、水素の熱解離用であり、噴射孔1
5bの近傍に設置される。また、水素原子供給部15の
噴射孔15bは、水素原子を基板表面に効率良く噴射で
きるように、ノズル状になっている。このような構成の
水素原子供給部内に導入された水素ガスは、熱フィラメ
ント15aを通過する際にその一部が解離し、水素原子
となって噴射孔15bより基板に向けて効率良く放出さ
れる。
【0017】次に、請求項6の薄膜形成装置は、請求項
5の薄膜形成装置において、水素原子供給部内の熱フィ
ラメントを水素原子供給部本体内壁に対し負電位にし、
電子照射により水素解離を促進させたものである。この
装置は、水素原子供給部を除いて、構成・作用は請求項
4,5と同様なので、水素原子供給部のみを図5に示
す。図5において、水素原子供給部15内の熱フィラメ
ント15aは、水素の熱解離用であり、噴射孔15bの
近傍に設置される。本装置の場合、熱フィラメント15
aと水素原子供給部15の本体内壁との間に直流電源1
5cを接続して、熱フィラメント15aの電位を水素原
子供給部の本体内壁に対し負電位にし、熱フィラメント
15aからの熱電子を本体内壁に向かって加速させるこ
とにより、水素解離をさらに促進させるようになってい
る。また、水素原子供給部15の噴射孔15bは、水素
原子を基板表面に効率良く噴射できるようにノズル状に
なっている。このような構成の水素原子供給部内に導入
された水素ガスは、熱フィラメント15aを通過する際
にその一部が解離し、水素原子となって噴射孔15bよ
り基板に向けて効率良く放出される。
【0018】次に、請求項7の薄膜形成装置は、請求項
5、あるいは請求項6の薄膜形成装置において、水素原
子供給部内の熱フィラメント近傍部分にレーザを照射
し、水素解離を促進させたものである。この装置は、水
素原子供給部を除いて、構成・作用は請求項4,5,6
と同様なので、水素原子供給部のみを図6に示す。図6
において、水素原子供給部15内の熱フィラメント15
aは、水素の熱解離用であり、噴射孔15bの近傍に設
置される。レーザ17光源からのレーザ光は、真空槽外
より石英窓16及び水素原子供給部15の石英ガラス部
15dを通じて熱フィラメント15aの付近に照射さ
れ、水素解離の促進に用いられる。本装置の場合、水素
原子供給部の内壁を反射ミラーにすることによって、レ
ーザ光を内部に閉じ込め、効率良く利用できるようにな
っている。また、水素原子供給部15の噴射孔15b
は、水素原子を基板表面に効率良く噴射できるようにノ
ズル状になっている。このような構成の水素原子供給部
内に導入された水素ガスは、水素原子供給部内で、熱フ
ィラメント15aの熱輻射及びレーザ光源17からのレ
ーザ照射によりその一部が解離し、水素原子となって噴
射孔15bより基板に向けて効率良く放出される。
【0019】次に、請求項8の薄膜形成装置は、成膜用
真空槽と、材料供給部と、対電極と、グリッドと、フィ
ラメントと、水素原子供給手段と、電源手段と、導電手
段とを有する。上記成膜用真空槽には、活性ガスもしく
は不活性ガス、あるいはこれら両者の混合ガスが導入さ
れるようになっており、材料供給部、対電極、グリッ
ド、フィラメント、水素原子供給手段としての水素原子
供給部等はこの真空槽内に配備される。対電極、材料供
給部は互いに対向するように配備され、対電極は基板ホ
ルダーを兼ねて材料供給部と対向する側に基板を保持す
るようになっている。材料供給部には、対電極と対向す
る面に材料物質の吐出孔として小口径のノズルが複数個
設けられ、また材料物質加熱用のヒーターが取り付けら
れており、材料供給部内外の圧力差を調整可能にし、材
料物質を適当な運動エネルギーを持たせて方向性良く且
つ均一に基板に向けて噴射できるようになっている。
【0020】グリッドは材料物質を通過させうるもので
あって、材料供給部と対電極の間に配備され、フィラメ
ントに対し正電位にされる。従って、発生する電界はグ
リッドからフィラメントに向かう。フィラメントは熱電
子を供給するものであり、材料供給部とグリッドの間に
配備される。水素原子供給手段は、基板近傍に水素原子
を高濃度に供給する手段であり、水素原子供給部は基板
表面の前方あるいは側面に設置されるもので水素原子供
給手段の一手法である。電源手段は、真空槽内に所定の
電気的状態を実現するための手段であり、この電源手段
と真空槽内部が導電手段により電気的に連結される。
【0021】以下、請求項8の薄膜形成装置の実施例と
して図7を挙げ、その構成及び作用を説明する。図7に
おいて、符号1は成膜用真空槽を示しており、図7では
図示を省略されているが、真空槽1の側面には、パッキ
ングを介して、真空槽内部の作業を行なうためのドア型
の蓋が一体化されている。また、真空槽1に設けられた
孔1Aは図示されない排気系に連結されている。成膜用
真空槽1の内部空間には、符号4で示すような公知の適
宜の方法により、活性ガス及び/または不活性ガスが導
入できるようになっている。成膜用真空槽1には、内部
の気密性を保ち、且つ電気的絶縁性を保ちつつ、支持体
を兼ねた電極21a,21b,22,23と、材料供給
路20、及び水素ガス供給路24が配設されており、こ
れら電極21a,21b,22,23と、材料供給路2
0、及び水素ガス供給路24は、真空槽内部と外部とを
電気的に連結するものであって、他の配線具と共に、導
電手段を構成する。
【0022】材料供給部10は、上記材料供給路20に
よって支持され、真空槽外より材料物質を供給できるよ
うになっている。また、この材料供給部10は複数個の
小孔ノズル10a及びヒーター10bを有し、材料物質
を所望の運動エネルギーで方向性良く且つ均一に基板1
00に向けて放出できるようになっている。フィラメン
ト11は熱電子発生用であり蒸発物質の拡がりをカバー
できるようになっている。このフィラメント11を支持
する一対の電極21a,21bには交流電源31が接続
されているが、この交流電源31の代わりに直流電源を
用いてもよく、その場合には正負の向きはどちらでもよ
い。グリッド12を支持する電極22は直流電圧電源3
2の正極側に接続され、直流電圧電源32の負極側は電
極21aに接続される。このグリッド12は蒸発物質を
対電極13側へ通過させうるように形状を定めるのであ
るが、この例においては網目状である。
【0023】対電極13を支持する電極23は、図7の
例ではそのまま電極21aに接続されているが、この間
に直流電源をいれて対電極13にバイアスをかけてもよ
い。この対電極13は基板ホルダーを兼ねており、材料
供給部10と対向する側の面には基板100が適宜の方
法で保持される。対電極13に設置された基板ヒーター
13’は、基板100の加熱に用いられるものであり、
真空槽外から電力を供給するのであるが、簡単のため図
7では図示を省略している。水素原子供給部15は、水
素原子を基板表面近傍に供給する手段であり、水素ガス
供給路24によって支持され、真空槽外部から供給され
た水素ガスを解離させて基板近傍に放出するようになっ
ている。この水素原子供給手段は、装置形状、成膜条件
等に応じて請求項1〜7の水素原子供給手段を適宜使用
することができる。尚、図7の例では、材料供給路20
は電気的に電極21aに接続されているが、これは必ず
しも必要ではない。また、図中の接地も必ずしも必要で
はない。
【0024】さて、上記の電源手段により、グリッド1
2はフィラメント11に対して正電位となり、電界はグ
リッド12からフィラメント11へ向かう。また、図7
の例のように、対電極13をグリッド12に対して負電
位にした場合には、グリッド12から対電極13へも電
界が発生する。従って、この薄膜形成装置では、フィラ
メント加熱用電源31とグリッド用直流電圧電源32の
調節により、グリッド−フィラメント間、グリッド−対
電極間に安定なプラズマ状態を作ることができる。尚、
実際には、上記電気的接続は導電手段の一部を構成する
スイッチを含み、これらのスイッチ操作により蒸着プロ
セスを実行するのであるが、これらのスイッチ類は、図
示を省略されている。
【0025】さて、以上のように構成された薄膜形成装
置で蒸着プロセスを実行すると、材料供給部10から放
出された材料物質はプラズマ中でイオン化され、電界に
より基板100に向かって加速される。そして、このイ
オン粒子の運動エネルギーの効果と、水素原子供給部1
5から供給された基板表面近傍の水素原子のアシストに
よる材料物質の分解反応の促進の効果により、基板10
0への密着性に優れ、結晶性も良好なカーボン薄膜、シ
リコン薄膜を、より低温で得ることができる。例えば、
導入ガスとしてAr等を選択し、水素原子供給部15に
より基板近傍に水素原子を供給し、真空槽1内の圧力を
10〜1/102 Paに調整する。そして、材料物質と
してC22、CH4 を用いれば、比較的低温の基板上に
おいても、良質なカーボン薄膜またはダイヤモンド薄膜
を形成でき、また、材料物質としてSiH4 を用いれ
ば、良質なシリコン薄膜を形成することができる。同様
に、導入ガスとしてN2 及び/またはArを選択し、基
板近傍に水素原子を供給し、材料物質としてSiH4
NH3を用いれば、SiNX 薄膜のような良質な化合物
薄膜の形成も可能である。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の薄膜形成
装置においては、基板表面近傍に水素原子を高濃度に供
給しながら成膜プロセスを実行できるため、基板表面近
傍の水素原子アシストにより材料物質の分解反応を促進
することができ、従来難しいとされていた、結晶性や電
気的特性に優れたカーボン薄膜、シリコン薄膜の形成
が、高い成膜温度(結晶化温度、反応温度)を与えずに
実現でき、より一層容易となる。従って、本発明の薄膜
形成装置によれば、結晶性や電気的特性に優れた良好な
膜構造を有するカーボン薄膜、シリコン薄膜を、耐熱性
の低い基板等に対しても密着性良く容易に形成すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1,2の一実施例を示す薄膜形成装置の
概略構成図である。
【図2】請求項3の一実施例を示す図であって、(a)
は薄膜形成装置の基板近傍部分のみを示す側断面図、
(b)は基板近傍部分の平面図である。
【図3】請求項4の一実施例を示す薄膜形成装置の概略
構成図である。
【図4】請求項5の一実施例を示す図であって、薄膜形
成装置の水素原子供給部の概略構成を示す図である。
【図5】請求項6の一実施例を示す図であって、薄膜形
成装置の水素原子供給部の概略構成を示す図である。
【図6】請求項7の一実施例を示す図であって、薄膜形
成装置の水素原子供給部の概略構成を示す図である。
【図7】請求項8の一実施例を示す薄膜形成装置の概略
構成図である。
【符号の説明】
1・・・成膜用真空槽 5・・・水素ガス導入手段 10・・・材料供給部 11・・・フィラメント 12・・・グリッド 13・・・基板ホルダー(対電極) 13’・・・基板加熱手段 14・・・水素ガス供給部 15・・・水素原子供給部 16・・・窓 17・・・レーザ光源 18・・・全反射ミラー 20・・・材料供給路 21a,21b,22,23・・・支持体兼用電極 31・・・フィラメント加熱用電源 32・・・直流電圧電源 100・・・被薄膜形成基板

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】カーボン薄膜もしくはシリコン薄膜形成用
    の薄膜形成装置であって、薄膜形成材料及び水素ガスが
    導入される成膜用真空槽と、上記真空槽内に配備され被
    薄膜形成基板を保持する基板ホルダーと、被薄膜形成基
    板を加熱する手段と、上記真空槽内に薄膜形成材料を供
    給する手段とを有し、被薄膜形成基板近傍において、水
    素原子を高濃度に供給しながら成膜が行なえるような装
    置構成及び手段がとられたことを特徴とする薄膜形成装
    置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の薄膜形成装置において、被
    薄膜形成基板近傍に水素原子を高濃度に供給する方法と
    して、被薄膜形成基板近傍に水素ガスを供給する手段を
    有し、レーザ照射、あるいは水銀ランプ照射等により水
    素解離させ、被薄膜形成基板近傍の水素原子濃度を高め
    るようにしたことを特徴とする薄膜形成装置。
  3. 【請求項3】請求項2記載の薄膜形成装置において、レ
    ーザ照射による水素解離を効率良く行なうため、全反射
    ミラーを被薄膜形成基板表面近傍に設置して照射効率の
    向上をはかったことを特徴とする薄膜形成装置。
  4. 【請求項4】請求項1記載の薄膜形成装置において、被
    薄膜形成基板近傍に水素原子を高濃度に供給する方法と
    して、被薄膜形成基板表面の前方あるいは側面に、水素
    原子供給部を設置したことを特徴とする薄膜形成装置。
  5. 【請求項5】請求項4記載の薄膜形成装置において、水
    素原子供給部内に水素解離用の熱フィラメントを設置
    し、成膜用真空槽に対して高い圧力となるように水素ガ
    スを水素原子供給部内に導入し、水素原子供給部の噴射
    孔をノズル形状にして、水素原子を被薄膜形成基板表面
    に効率良く噴射させるようにしたことを特徴とする薄膜
    形成装置。
  6. 【請求項6】請求項5記載の薄膜形成装置において、水
    素原子供給部内の熱フィラメントを水素原子供給部本体
    内壁に対し負電位にして、水素解離を促進させたことを
    特徴とする薄膜形成装置。
  7. 【請求項7】請求項5あるいは請求項6記載の薄膜形成
    装置において、水素原子供給部内の熱フィラメント近傍
    部分にレーザ光を照射して、水素解離を促進させたこと
    を特徴とする薄膜形成装置。
  8. 【請求項8】活性ガスもしくは不活性ガスあるいはこれ
    ら両者の混合ガスが導入される成膜用真空槽と、上記真
    空槽内に配備され材料供給路より真空外から蒸気又は霧
    状とした薄膜形成材料を方向性良く且つ均一に基板に向
    けて噴射することができる材料供給部と、上記真空槽内
    において上記材料供給部と対向するように配備され被薄
    膜形成基板を保持する対電極と、上記真空槽内において
    上記材料供給部と上記対電極の間に配備され薄膜形成材
    料を通過させ得るグリッドと、上記真空槽内において上
    記グリッドと上記材料供給部の間に配備される熱電子発
    生用のフィラメントと、被薄膜形成基板を加熱する手段
    と、上記フィラメントに対し上記グリッドを正電位にす
    る電位手段と、上記真空槽内に所定の電位配分を実現す
    るための電源手段と、上記真空槽内と上記電源手段とを
    電気的に連結する導電手段とを有し、被薄膜形成基板表
    面近傍において、水素原子を高濃度に供給しながら成膜
    が行なえるような装置構成及び手段がとられたことを特
    徴とする薄膜形成装置。
JP26790391A 1991-10-16 1991-10-16 薄膜形成装置 Pending JPH05106033A (ja)

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