JPH0512917U - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Ｉｃ試験装置

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JPH0512917U
JPH0512917U JP6051691U JP6051691U JPH0512917U JP H0512917 U JPH0512917 U JP H0512917U JP 6051691 U JP6051691 U JP 6051691U JP 6051691 U JP6051691 U JP 6051691U JP H0512917 U JPH0512917 U JP H0512917U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣ試験装置の恒温槽の入口シャッタ又は出
口シャッタの周辺がシャッタの開口より吹き出す冷却用
流体によって冷却されて露及び霜が付くのを防止する。 【構成】 低温試験のために冷却用流体３０を恒温槽９
内に供給するバルブ３２は、入口シャッタ３６及び出口
シャッタ３７が共に閉であるときのみ開とされる。その
ため制御部３３では、入口及び出口シャッタの開閉用信
号ＳＡ及びＳＢをそれぞれインバータ４２，４３を介し
て３入力アンドゲート４１に入力し、信号発生器２１よ
りバルブ開閉用に出力された信号ＳＶ′とアンドをとり
３入力アンドゲート４１の出力ＳＶでバルブ３２を開閉
制御する。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案はＩＣ試験装置に関し、特に恒温槽内に冷却用流体を供給するタイミ ングに関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１Ａはこの考案のＩＣ試験装置の概略の構成を示す図であるが、従来の装置 も制御部の内部を除いて同様の構成であるので、図１Ａを流用して、装置の概要 を説明する。 図示していない供給側マガジンストッカに格納された多数のマガジン１が１本 ずつ取り出され、昇降手段で上方に運ばれ、マガジン支持部３に支持されて斜め 左下りの姿勢で試験装置１００のＩＣ供給口４に装着される。
【０００３】 マガジン１からＩＣ５が自重によって流れ出し、ＩＣ分配部２０のエスケープ 機構６で１個ずつに分離され、分配部２０の分配機７に１個ずつ流し込まれる。 分配機７は１本のＩＣ案内レールを通じて供給されたＩＣ５を例えば８本のＩ Ｃ案内レールに分配するものである。即ちＩＣ試験装置の内部には８本〜３６本 のＩＣ案内レールが平行して設けられ、テスト部８において同時に多数のＩＣを 試験できるようにしている。分配機７は１本のマガンジン１から流れ出したＩＣ ５をこれら複数のＩＣ案内レールに分配する動作を行っている。
【０００４】 分配されたＩＣは入口シャッタ３６を通じて恒温槽９内の予熱部１１に供給さ れる。この予熱部１１はＩＣ案内レール自体に加熱手段及び吸熱手段が付設され 、ＩＣ案内レール自体が恒温槽の温度に加熱又は吸熱されテスト部８に送り出す ＩＣ５の温度を急速に恒温槽の温度に近づけるようにしている。 予熱部１１の下流側に姿勢変換機１２が設けられ、この姿勢変換機１２によっ てＩＣ５は斜めの姿勢からＩＣの端子ピンが水平となる姿勢まで回転されて、垂 直案内レール１３に落し込まれる。
【０００５】 テスト部８には例えば８本の垂直案内レール１３に対して８×４＝３２個のＩ Ｃソケットが用意され、一度に３２個のＩＣをテストできるようにしている。テ ストが終了したＩＣ５は出口シャッタ３７を通じて姿勢変換機１４に供給されて 斜め下向の姿勢に再び変換され、選別機１５に流し込まれる。 選別機１５はテスト部８のテストの結果により良品と不良品とを仕分けし、マ ガジン支持部１６に支持されたマガジン１８に流し込まれる。マガジン１８がＩ Ｃで満杯になると、特に図示しないが昇降装置によって上方に運ばれ受取側のマ ガジンストッカに格納される。これと共にマガジン支持部１６には空のマガジン が装着される。
【０００６】 低温試験を行う際には恒温槽内を例えば−５５℃に保持する必要があるため、 流管３１の先端より液体窒素などの冷却用流体３０が噴射される。流管３１には 途中にバルブ３２が取付けられており、バルブ３２を開閉させるための制御信号 ＳＶ（図３Ｂ）が制御部３３よりバルブ３２に供給される。恒温槽９内の温度が 図３Ａに示すように設定温度Ｔｓを中心として所定の誤差内に入るように、制御 部３３は、バルブ３２に制御信号ＳＶ（ＳＶのオン又はオフによりバルブ３２が それぞれ開又は閉となる。）を供給する。
【０００７】 入口シャッタ３６、出口シャッタ３７はそれぞれシリンダ３８，３９によって 開閉される。シリンダ３８，３９は制御部３３から供給される制御信号ＳＡ（図 ３Ｃ）、ＳＢ（図３Ｄ）がオンのとき各シリンダのピストンが所定の方向に移動 され、そのピストンの移動により入口シャッタ３６、出口シャッタ３７がそれぞ れ開かれる。また制御信号ＳＡ，ＳＢがオフすれば、シリンダのピストンは前と 反対方向に移動され、入口シャッタ３６、出口シャッタ３７が閉じられる。
【０００８】
【考案が解決しようとする課題】
入口シャッタ３６又は出口シャッタ３７が開であるとき、バルブ３２が開にな ると、シャッタの開口から外部へ冷却用流体３０が吹き出してしまい、シャッタ の周辺が冷却されて、結露や霜が発生し、そのため入口シャッタ３６、出口シャ ッタ３７の開閉動作不良や、これらシャッタを通過するＩＣのジャム（ＩＣが貼 り付いて流れなくなること）の原因となっていた。この考案は、このような従来 の欠点を解決して、シャッタの周辺に結露や霜が発生しないようにすることを目 的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
マガジンより連続的に供給される被試験ＩＣをＩＣ分配部において複数のＩＣ 案内レールに分配し、入口シャッタを通じて恒温槽内に搬入し、所定の試験を行 った後、出口シャッタを通じて前記恒温槽より取り出し、試験結果により良品と 不良品とを仕分けしてマガジンに収納するＩＣ試験装置において、この考案では 、低温試験のために冷却用流体を前記恒温槽内に供給するバルブが、前記入口シ ャッタ及び出口シャッタが共に閉であるときのみ開とされる。
【００１０】
【実施例】
この考案ではバルブ３２を開にする制御信号ＳＶは、シャッタ開閉の制御信号 ＳＡ，ＳＢがオフである期間にのみオンとされる。 そのため制御部３３には３入力アンドゲート４１とインバータ４２，４３とか ら成る論理回路４４が追加される。信号発生器２１のバルブ制御用の出力ＳＶ′ （図２Ｅ）は３入力アンドゲート４１の一つの入力端子に入力され、信号発生器 ２２の入口シャッタ開閉用の出力ＳＡは、シリンダ３８に供給される他、インバ ータ４２を介してアンドゲート４１の他の入力端子に供給される。また信号発生 器２３の出口シャッタ開閉用の出力ＳＢは、シリンダ３９に供給される他、イン バータ４３を介してアンドゲート４１の更に他の入力端子に供給される。
【００１１】 アンドゲート４１の出力には信号ＳＶ′がオンで、かつ信号ＳＡ，ＳＢがオフ であるときのみオンとなる信号ＳＶが得られる。信号発生器２１の出力ＳＶ′（ 図２Ｅ）の方形パルスＰ1 ，Ｐ5 は、Ｐ1 ，Ｐ5 の存在する時間に信号ＳＡ又は ＳＢが存在しているので、信号ＳＶ（図２Ｂ）からは除かれている。
【００１２】
【考案の効果】
この考案によれば、低温試験のための冷却用流体３０を恒温槽内に供給するバ ルブ３２は、入口シャッタ３６及び出口シャッタ３７が共に閉であるときのみ開 とされる。このため、バルブ３２を通じて噴射された冷却用流体が、それらシャ ッタの開口から外部に吹き出するのが防止され、それによってシャッタ周辺の結 露や霜が発生しなくなり、従来の結露や霜が原因で生ずるシャッタの開閉動作不 良や、シャッタを通過するＩＣのジャムが防止される。
【００１３】 また、冷却用流体３０の無駄な消費をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】Ａはこの考案の実施例の概要を示す縦断面図。
ＢはＡの制御部３３の要部を示す回路図。
【図２】図１の要部の動作波形図。
【図３】従来のＩＣ試験装置の要部の動作波形図。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 マガジンより連続的に供給される被試験
    ＩＣをＩＣ分配部において複数のＩＣ案内レールに分配
    し、入口シャッタを通じて恒温槽内に搬入し、所定の試
    験を行った後、出口シャッタを通じて前記恒温槽より取
    り出し、試験結果により良品と不良品とを仕分けしてマ
    ガジンに収納するＩＣ試験装置において、 低温試験のために冷却用流体を前記恒温槽内に供給する
    バルブが、前記入口シャッタ及び出口シャッタが共に閉
    であるときのみ開とされることを特徴とするＩＣ試験装
    置。
JP6051691U 1991-07-31 1991-07-31 Ｉｃ試験装置 Expired - Lifetime JP2556920Y2 (ja)

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JPH0512917U true JPH0512917U (ja) 1993-02-19
JP2556920Y2 JP2556920Y2 (ja) 1997-12-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0364216U (ja) * 1989-10-23 1991-06-24

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JPH0364216U (ja) * 1989-10-23 1991-06-24

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