JPH0513554A - 半導体ウエハ保持ハンド - Google Patents

半導体ウエハ保持ハンド

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JPH0513554A
JPH0513554A JP18404791A JP18404791A JPH0513554A JP H0513554 A JPH0513554 A JP H0513554A JP 18404791 A JP18404791 A JP 18404791A JP 18404791 A JP18404791 A JP 18404791A JP H0513554 A JPH0513554 A JP H0513554A
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semiconductor wafer
hand
storage carrier
holding hand
turntable
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Shiro Haga
史郎 芳賀
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K I SYST YUGEN
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K I SYST YUGEN
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 略円板状で周縁部に切欠縁(オリフラ)が形
成された半導体ウェハを保持する半導体ウェハ保持ハン
ドに半導体ウェハの周方向における位置合わせ機能を持
たせる。 【構成】 半導体ウェハ保持ハンド9のうち収納キャリ
ア3に挿入される部分(ハンド部10a、17、29
b)の厚さを該収納キャリアに収納され上下に隣接した
半導体ウェハ1、1間の間隔より薄い厚さにして、上記
ハンド部の先端部にステッピングモータ24により回転
するターンテーブル17を配置すると共に、該ターンテ
ーブルに載置された半導体ウェハのオリフラ2を検出す
る光学センサ32を設けて、オリフラの位置を検出して
ターンテーブルを回転することにより半導体ウェハの位
置合わせをする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は新規な半導体ウェハ保持
ハンドに関する。
【0002】詳しくは、収納キャリアに階層状に収納さ
れる半導体ウェハを保持して収納キャリアに出し入れす
るための半導体ウェハ保持ハンドに関するものであり、
半導体ウェハの位置合わせを行なう機能を備えた新規な
半導体ウェハ保持ハンドを提供しようとするものであ
る。
【0003】
【従来の技術】半導体ウェハの移送は、一般に、略箱形
をしており、多数段の棚を有する収納キャリアに数10
枚の半導体ウェハを階層状に収納した状態で行なわれ、
また、そのような収納キャリアに収納された半導体ウェ
ハを各工程における装置に着脱するための半導体ウェハ
の移動は水平方向及び上下方向へ移動自在な半導体ウェ
ハ保持ハンドを備えたロボットによって行なわれる。
【0004】ところで、半導体ウェハに対する各工程で
の処理を行なう場合、半導体ウェハが一定の向きとなっ
ていることが必要である。
【0005】このため、半導体ウェハには、通常、周方
向における位置合わせを行なうために円形の周縁部を直
線状に切り取った切欠縁、即ち、オリフラが設けられて
いる。 そして、従来IC等の半導体の製造プロセスに
おける半導体ウェハの搬送系には、その随所に位置合わ
せ装置を配置し、収納キャリアに収納された半導体ウェ
ハを1枚づつ取り出してその向きを所定の向きに合わせ
て収納キャリアに戻すという作業を行なっていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
は、半導体ウェハの搬送系の随所に半導体ウェハの位置
合わせを行なうための位置合わせ装置を配置していたの
で、搬送系には多数の位置合わせ装置が必要であり、ま
た、これを配置するための特別なスペースが必要にな
り、しかも、各位置合わせ装置による作業はそれ自体独
立した工程となるので、その分、半導体の製造プロセス
の工程数が増えてしまうという問題があった。
【0007】そして、各位置合わせ装置による作業は、
収納キャリアから半導体ウェハを1枚づつ取り出して所
定の向きに合わせて収納キャリアに戻すという作業であ
るため、位置合わせに多くの時間がかかる上に、半導体
ウェハを頻繁に出し入れすることは、埃の付着や表面の
摩耗の機会が多くなることを意味する。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明半導体ウ
ェハ保持ハンドは、上記した課題を解決するために、収
納キャリアに収納され上下に隣接する半導体ウェハ間の
間隔よりも薄い厚さをしたハンド部と、該ハンド部の先
端部に回転自在に支持され、その上面がハンド部の上面
よりも稍突出して位置されたターンテーブルと、該ター
ンテーブルを回転させる駆動手段と、上記ターンテーブ
ルに載置された半導体ウェハの周縁部に形成されたオリ
フラを検出するオリフラ検出手段とを設けたものであ
る。
【0009】
【作用】従って、本発明半導体ウェハ保持ハンドは、半
導体ウェハを保持するという本来の機能の他に、半導体
ウェハの位置合わせを行なう機能も備えており、半導体
ウェハの位置合わせを当該半導体ウェハ保持ハンド上で
行うことができ、半導体ウェハの搬送系に半導体ウェハ
の位置合わせを行なうための専用の位置合わせ装置を設
ける必要が無く、その分、搬送系を小型化することがで
きると共に、位置合わせ専用の工程や装置の数を減らす
ことができる。
【0010】しかも、半導体ウェハの位置合わせは各工
程における初期あるいは終期、即ち、収納キャリアから
半導体ウェハを取り出す際又は所定の処理が為された半
導体ウェハを収納キャリアに戻す際あるいは移送中に、
収納キャリヤに対する取出や戻しを行う半導体ウェハ保
持ハンドにより行うことができるので、半導体ウェハの
位置合わせだけに要する時間が不要となり、その分、半
導体の製造プロセスの処理時間を短縮することができ、
更に、半導体ウェハの収納キャリアからの取出回数を少
なくすることができるため、埃の付着をかなり低減する
ことができる。
【0011】
【実施例】以下に、本発明半導体ウェハ保持ハンドの詳
細を添付図面に示した実施例に従って説明する。
【0012】先ず、半導体ウェハ及び多数の半導体ウェ
ハが階層状に収納される収納キャリアの一例を説明す
る。
【0013】1は略円板状をした半導体ウェハ(図1、
図3及び図4等参照)であり、例えば、直径約6インチ
乃至8インチ程度の円柱状をしたシリコン結晶体をその
軸方向と直交する方向にスライスすることにより形成さ
れ、例えば、0.5乃至0.8mm程度の厚さを有し、
その周縁部の一部には直線状のオリフラ2が形成されて
いる。
【0014】そして、このような半導体ウェハ1は、半
導体の製造プロセスにおける各種の処理、即ち、表面研
磨、エピタキシャル成長、酸化、パターン形成、ブロー
ビング等の各処理を施された後、所定の大きさにカッテ
ィングされ、これにより、多数のICチップが形成され
る。
【0015】3は多数の半導体ウェハ1、1、・・・を
階層状に収納するための収納キャリア(図1、図3及び
図4参照)であり、半導体ウェハ1、1、・・・の上記
した各処理工程の間での搬送はこの収納キャリア3に収
納した状態で行なわれる。
【0016】収納キャリア3は前後両面が開口した略箱
形をしており、互いに平行に対向した左右両側壁4、4
と、該左右両側壁4、4の上端縁の各中間部間を連結し
た天板5と、側壁4、4の下端縁の各後側部間を連結し
た底板6とが合成樹脂により一体に形成されて成る。
【0017】7、7、・・・は側壁4、4の互いに対向
した面に形成された略横倒V字状をした溝であり該溝
7、7、・・・は略前後方向に延びる向きで形成され、
また、上下方向に一定のピッチで配列されており、これ
により、各溝7と7との間には棚8が形成されている。
【0018】そして、溝7、7、・・・の上下方向での
配列ピッチは例えば、略5mmになっている。
【0019】そして、半導体ウェハ1は、その周縁のう
ち中心を挟んで略反対側に位置した2つの部分が同じ高
さにある左右2つの溝7と7に各別に位置されることで
左右一対の棚8、8に架渡状に載置され、これにより、
多数の半導体ウェハ1、1、・・・が収納キャリア3に
階層状に、一定の配列ピッチで収納される。
【0020】9は上記収納キャリア3に対する半導体ウ
ェハ1、1、・・・の取出及び収納を行なうための半導
体ウェハ保持ハンドであり、該半導体ウェハ保持ハンド
9は後述するように半導体ウェハ1の周方向における位
置合わせ機能も備えている。
【0021】10は半導体ウェハ保持ハンド9のベース
板であり、半導体ウェハ1の直径の略半分位の幅を有
し、かつ、半導体ウェハ1の直径の略1.5倍の長さを
有する平板状をしており、その先端縁10aは半円状に
形成されていると共に、その上面の先端部であって上記
先端縁10aに沿う円の略中心には比較的薄い円板状を
した突部11が、また、基端部には円筒状をした継手部
12がそれぞれ突設されている。
【0022】尚、このようなベース板10はセラミック
材料により一体に形成されている。
【0023】13はベース板10の下面に形成された浅
い凹部であり、その先端は上記突部11が形成された部
位の下方まで、また、基端は上記継手部12が形成され
た部位の下方までそれぞれ達するように形成されてお
り、また、その開口周縁には下方及び内方を向く切欠縁
13aが形成されている。
【0024】14は上記凹部13を覆う蓋板であり、該
蓋板14は上記切欠縁13aに略ぴったり嵌合された状
態でベース板10に固定され、これにより、ベース板1
0の下部に密閉された薄い空間15(以下、「吸気空
間」と言う。)が画成される。
【0025】11aは前記突部11の中心部に形成され
た吸気孔であり、その下端は吸気空間15に開口されて
いる。
【0026】また、継手部12の孔12aの下端は吸気
空間15に開口されており、その上半部は螺孔に形成さ
れている。
【0027】16は突部11に外嵌状に固定された軸受
である。
【0028】17は円板状をしたターンテーブルであ
り、その上半部17aの直径はベース板10の幅より小
さく、また、下半部17bの直径は上半部17aの直径
より一回り更に小さく形成され、この下半部17b(以
下、「従動プーリ」と言う。)はその肉厚が上記突部1
1のベース板10の上面からの突出量より稍小さく形成
されていると共にその外周面にベルト巻付溝18が形成
されている。
【0029】19はターンテーブル17の中心部に形成
された孔であり、該孔19の上半部19aの内径はター
ンテーブル17の下半部17bの外径より一回り小さ
く、また、下半部19bの内径は上記軸受16の外径と
略同じに形成されている。
【0030】そして、このようなターンテーブル17は
その孔19の下半部19bが軸受16に外嵌されること
により該軸受16を介してベース板10の突部11に回
転自在に支持される。
【0031】20は円板状をした押え板であり、ターン
テーブル17の孔19の上半部19aの内径より稍小さ
い外径で、かつ、その肉厚は上半部19aの高さよりも
稍小さく形成されていて、孔19の上半部19a内に位
置した状態でネジ止などにより突部11の上面に固定さ
れ、これにより、ターンテーブル17はベース板10の
突部11から上方への抜けが防止される。
【0032】また、押え板20の中心部には孔20aが
形成されていて、前記突部11に形成された吸気孔11
aはこの孔20aを通して上方に開口される。
【0033】21は上記突部11の上端面に吸気孔11
aを囲むように形成された環状の溝11bに嵌合わされ
たOリングであり、該Oリング21は押え板20が突部
11の上端面に取着されたときに押え板20の下面に密
着する。
【0034】22、22、・・・はベース板10の継手
部12側の上面であって、継手部12よりも中央寄り位
置に上方へ向って突設された支柱(図5参照)であり、
該支柱22、22、・・・の上端面間に架け渡すように
モータ支持板23が固定されている。
【0035】24は上記モータ支持板23の上面に固定
されたステッピングモータであり、そのケーシングから
下方へ突出した回転軸24aは上記モータ支持板23を
貫通してその下端部には駆動プーリ25が固定されてい
る。
【0036】ステッピングモータ24がモータ支持板2
3を介してベース板10の支柱22、22、・・・に支
持された状態においては、駆動プーリ25のベルト巻付
溝25aとターンテーブル17の従動プーリ17bに形
成されたベルト巻付溝18とが略同じ高さに位置され、
これらプーリ25と17bとの間に無端状のベルト26
が架け渡されている。
【0037】そして、ステッピングモータ24が回転す
ると、駆動プーリ25−ベルト26−従動プーリ17b
とその回転が伝達され、ターンテーブル17が回転され
る。
【0038】27はエアホースであり、その一端部には
継手部12に螺着される管継手28が取着されており、
エアホース27は管継手28を介して継手部12に接続
されると共に、その他端は図示しない流体バルブを介し
てエア吸引装置の吸気口と接続されている。
【0039】そして、エア吸引装置による吸気が行なわ
れるとエアホース28内、吸気空間15内及びこれと連
通した吸気孔11a内の空気が吸引されて、ターンテー
ブル17の孔19の上面付近が負圧にされる。
【0040】29は下面が開口した扁平な箱状をしたカ
バーであり、該カバー29は上方から見た形状が前記ベ
ース板10の形状と略同じに形成されており、また、カ
バー29の長さ方向における中央より基端寄り位置から
基端縁までの基端側部分29aはその余の先端側部分2
9bより略2倍の高さを有するように上方に突出してい
る。
【0041】29c、29d、29eは上記カバー29
の上面に形成された孔であり、孔29cはターンテーブ
ル17の上半部17aがカバー29の上面より稍上方へ
突出するように、孔29dはステッピングモータ24が
配置されるように、29eは管継手28がカバー29の
上面より突出するようにするために形成されたものであ
る。
【0042】29fはカバー29のうち先端側部分29
bの基端部に形成されたセンサ配置孔であり、該センサ
配置孔29fは上方から見て凸状をしており、該凸状の
上方突出部が先端を向く向きで形成されており、該上方
突出部は後述するように光通過孔29gになっている。
【0043】30はカバー29にその上記センサ配置孔
29fのうち上記光通過孔29gを除く部分を略覆うよ
うに載置されたガイド板であり、該ガイド板30はその
幅がベース板10の幅と略同じで上方から見て略矩形状
を為すと共に、その先端側を向く辺30a(以下、「ガ
イド部」と言う。)が半導体ウェハ1の円周と略同じ曲
率で、かつ、前記ターンテーブル17の中心を中心とす
る円弧状に形成され、また、その肉厚は半導体ウェハ1
の肉厚よりも稍厚く形成されている。
【0044】31はベース板10の上面のうちカバー2
9のセンサ配置孔29fに対向する部位に固定されたセ
ンサ支持部材であり、該センサ支持部材31には光学セ
ンサ32(図面では先端部のみ示す。)が支持されてい
る。
【0045】該光学センサ32の先端部に位置されたセ
ンサ部32aは前記センサ配置孔29fの光通過孔29
gに対応するように配置されており、従って、光学セン
サ32はその殆どが上記ガイド板30に覆われていて、
そのセンサ部32aを含む先端部のみが光通過孔29g
を通して上方に臨んでいる。
【0046】半導体ウェハ保持ハンド9は以上のように
構成されており、ガイド板30のガイド部30aから前
端側の部分(以下、「ハンド部」と言う。)の厚さは収
納キャリア3内に収納された半導体ウェハ1、1、・・
・の上下に隣接する2つの半導体ウェハ1と半導体ウェ
ハ1との間の間隔より薄く形成されている。
【0047】33は、例えば、多腕型ロボットのアーム
の先端であり、半導体ウェハ保持ハンド9はそのベース
板10の基端側部分がアームの先端33に固定されるこ
とで当該ロボットにより水平方向及び上下方向に移動自
在になるように支持される。
【0048】そこで、半導体ウェハ保持ハンド9により
半導体ウェハ1の収納キャリア3に対する取出及び収納
と半導体ウェハ1の位置合わせは次のように行なわれ
る。
【0049】収納キャリア3に収納されている半導体ウ
ェハ1の取出を行なうときは、半導体ウェハ保持ハンド
9を、先ず、図1に示すように、収納キャリア3の前方
に位置させると共に、取り出すべき半導体ウェハ1とそ
の下方に位置する半導体ウェハ1との間に移動させて、
その状態から、図3及び図4に示すように、半導体ウェ
ハ保持ハンド9のハンド部を収納キャリア3内に挿入す
る。
【0050】半導体ウェハ保持ハンド9のハンド部の収
納キャリア3内への挿入はガイド板30のガイド部30
aが当該半導体ウェハ1の外周縁に当接したところで終
了する。
【0051】これにより、ターンテーブル17が当該半
導体ウェハ1の下方にそれと同軸に位置される。
【0052】次に、半導体ウェハ保持ハンド9を稍上方
へ移動させて当該半導体ウェハ1を相対的にターンテー
ブル17上に載置する。
【0053】これと略同時に、吸気空間15に対する吸
気を開始して、当該半導体ウェハ1をターンテーブル1
7に吸着保持する。
【0054】また、この状態では、半導体ウェハ1はそ
の両側部が収納キャリア3の棚8、8から稍上方に離間
した状態になっているので半導体ウェハ保持ハンド9を
収納キャリア3外へ退出させることにより当該半導体ウ
ェハ1が収納キャリア3から取り出されることになる。
【0055】半導体ウェハ1を収納キャリア3内に収納
するときは、半導体ウェハ1を保持した半導体ウェハ保
持ハンド9を、先ず、収納キャリア3の前方の位置に移
動させると共に、保持している半導体ウェハ1を収納す
べき左右一対の溝7、7と対応した高さに移動して、そ
の状態から収納キャリア3内に半導体ウェハ保持ハンド
9のハンド部を挿入する。
【0056】次に、吸気空間15に対する吸気が停止さ
れた後、半導体ウェハ保持ハンド9を稍下降させて、当
該半導体ウェハ1を当該溝7、7の下に位置した左右一
対の棚8、8上に載置する。
【0057】また、半導体ウェハ1の周方向における位
置合わせは、半導体ウェハ1がターンテーブル17に吸
着保持された状態でターンテーブル17を回転させてオ
リフラ2の有無を検出し、その検出結果に応じてターン
テーブル17の位置を制御することによって行なわれ
る。
【0058】以下、このような位置合わせ動作の一例を
図7乃至図9に従って説明する。
【0059】半導体ウェハ1の位置合わせを行なうとき
は、先ず、ターンテーブル17を回転させて半導体ウェ
ハ1を回転させると共に、光学センサ32からは検出光
を出射する。
【0060】すると、ターンテーブル17上の半導体ウ
ェハ1が、例えば、図7に示すように、そのオリフラ2
が光学センサ32のセンサ部32aと対向していない位
置に来ている間は光学センサ32から出射された検出光
は半導体ウェハ1で反射されてその一部が戻り光となっ
て光学センサ32の受光部に受光され、これにより、光
学センサ32はオリフラ2以外の部分がセンサ部32a
に対向していることを検出する。
【0061】また、半導体ウェハ1が回転されて、図8
に示すように、そのオリフラ2の一端部が光学センサ3
2のセンサ部32aと対向した位置に来ると、上記検出
光は半導体ウェハ1で反射されること無く上方へ出射す
ることになるので、光学センサ32は半導体ウェハ1の
オリフラ2の周方向における一端部が位置したことを検
出する。
【0062】そして、半導体ウェハ1が更に回転され
て、図9に示すように、当該半導体ウェハ1のオリフラ
2の他端部が光学センサ32のセンサ部32aと対向し
た位置に来ると、検出光の一部は戻り光となって光学セ
ンサ32の受光部に照射されるので、光学センサ32は
半導体ウェハ1のオリフラ2の周方向における他端部が
位置したことを検出する。
【0063】しかして、このようにして、半導体ウェハ
保持ハンド9は保持した半導体ウェハ1のオリフラ2の
位置を検出することができ、更に、ステッピングモータ
24を所定の回転角で回転させることにより、半導体ウ
ェハ1のオリフラ2を所定の向きにすること、即ち、半
導体ウェハ1の位置合わせをすることができる。
【0064】尚、このような位置合わせは、収納キャリ
ア3の外又はその中のいずれの場所でも行なうことがで
きる。
【0065】
【発明の効果】以上に記載したところから明らかなよう
に、本発明半導体ウェハ保持ハンドは、複数の半導体ウ
ェハを階層状に所定のピッチで収納する収納キャリアに
収納された半導体ウェハを挿脱する半導体ウェハ保持ハ
ンドであって、上記収納キャリアに収納され上下に隣接
した半導体ウェハ間の間隔よりも薄い厚さをしたハンド
部と、該ハンド部の先端部に回転自在に支持され、その
上面がハンド部の上面よりも稍突出して位置されたター
ンテーブルと、該ターンテーブルを回転させ駆動手段
と、上記ターンテーブルに載置された半導体ウェハの周
縁部に形成された切欠縁(オリフラ)を検出するオリフ
ラ検出手段とを備えたことを特徴をする。
【0066】従って、本発明半導体ウェハ保持ハンド
は、半導体ウェハを保持するという本来の機能の他に、
半導体ウェハの位置合わせを行なう機能も備えており、
半導体ウェハの位置合わせを当該半導体ウェハ保持ハン
ド上で行うことができ、半導体ウェハの搬送系に半導体
ウェハの位置合わせを行なうための専用の位置合わせ装
置を設ける必要が無く、その分、搬送系を小型化するこ
とができると共に、位置合わせ専用の工程や装置の数を
減らすことができる。
【0067】しかも、半導体ウェハの位置合わせは各工
程における初期あるいは終期、即ち、収納キャリアから
半導体ウェハを取り出す際又は所定の処理が為された半
導体ウェハを収納キャリアに戻す際あるいは移送中に、
収納キャリヤに対する取出や戻しを行う半導体ウェハ保
持ハンドにより行うことができるので、半導体ウェハの
位置合わせだけに要する時間が不要となり、その分、半
導体の製造プロセスの処理時間を短縮することができ、
更に、半導体ウェハの収納キャリアからの取出回数を少
なくすることができるため、埃の付着をかなり低減する
ことができる。
【0068】尚、上記実施例においては、ターンテーブ
ルに載置された半導体ウェハをエア吸引手段によって該
ターンテーブルに吸着保持するようにしたが、このよう
にすることにより、半導体ウェハの保持及び位置合わせ
を確実に行なうことができる。
【0069】また、前記実施例において示した具体的な
形状ないしは構造は、本発明半導体ウェハ保持ハンドを
実施するに当ってのほんの一例を示したものにすぎず、
これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈され
てはならない。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1乃至図9は本発明半導体ウェハ保持ハンド
の実施の一例を示すものであり、図1は半導体ウェハ保
持ハンドと収納キャリアを示す斜視図である。
【図2】カバーの一部を切り欠き、かつ、ターンテーブ
ルを分解した状態を示す拡大斜視図である。
【図3】収納キャリアに半導体ウェハ保持ハンドのハン
ド部が挿入された状態を示す平面図である。
【図4】収納キャリアに半導体ウェハ保持ハンドのハン
ド部が挿入された状態を示す側面図である。
【図5】一部を切り欠いて示す要部の拡大側面図であ
る。
【図6】一部を切り欠いて示す別の要部の拡大側面図で
ある。
【図7】図7乃至図9は半導体ウェハの位置合わせを行
なうためのオリフラ検出動作の一例を経時的に示すもの
で、図7は初期状態を示す要部の拡大平面図である。
【図8】オリフラ検出動作の途中の状態を示す要部の拡
大平面図である。
【図9】オリフラ検出動作の終りの状態を示す要部の拡
大平面図である。
【符号の説明】
1 半導体ウェハ 2 切欠縁(オリフラ) 3 収納キャリア 9 半導体ウェハ保持ハンド 10a、17、29b ハンド部 17 ターンテーブル 24、25、26 駆動手段 32 オリフラ検出手段

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 複数の半導体ウェハを階層状に所定のピ
    ッチで収納する収納キャリアに収納された半導体ウェハ
    を挿脱する半導体ウェハ保持ハンドであって、上記収納
    キャリアに収納され上下に隣接した半導体ウェハ間の間
    隔よりも薄い厚さをしたハンド部と、該ハンド部の先端
    部に回転自在に支持され、その上面がハンド部の上面よ
    りも稍突出して位置されたターンテーブルと、該ターン
    テーブルを回転させ駆動手段と、上記ターンテーブルに
    載置された半導体ウェハの周縁部に形成された切欠縁
    (オリフラ)を検出するオリフラ検出手段とを備えたこ
    とを特徴をする半導体ウェハ保持ハンド。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5824185A (en) * 1995-08-18 1998-10-20 Kabushiki Kaisha Shinkawa Wafer ring supply and return device
JP2002151576A (ja) * 2000-07-27 2002-05-24 Applied Materials Inc ウェハ処理ロボット用の、基板搬送時の中心検出及びノッチ整列装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5824185A (en) * 1995-08-18 1998-10-20 Kabushiki Kaisha Shinkawa Wafer ring supply and return device
JP2002151576A (ja) * 2000-07-27 2002-05-24 Applied Materials Inc ウェハ処理ロボット用の、基板搬送時の中心検出及びノッチ整列装置

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