JPH051407B2 - - Google Patents
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- JPH051407B2 JPH051407B2 JP24288783A JP24288783A JPH051407B2 JP H051407 B2 JPH051407 B2 JP H051407B2 JP 24288783 A JP24288783 A JP 24288783A JP 24288783 A JP24288783 A JP 24288783A JP H051407 B2 JPH051407 B2 JP H051407B2
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- Japan
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- temperature
- furnace
- infrared
- emissivity
- calculating
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、各種の炉において、炉内を連続的に
通過する搬送材料の温度を赤外線を利用して測定
する材料温度測定法に関するものである。
通過する搬送材料の温度を赤外線を利用して測定
する材料温度測定法に関するものである。
従来、この種の材料温度測定は、第１図に示す
ように炉１の出口側外部に放射温度計２１，２２
を設置し、この放射温度計２１，２２により炉１
内に上下２段に設けたノズルヘツダ２の間を図中
左から右へ通過する搬送材料３からの赤外線強度
を測定することにより行つていた。
ように炉１の出口側外部に放射温度計２１，２２
を設置し、この放射温度計２１，２２により炉１
内に上下２段に設けたノズルヘツダ２の間を図中
左から右へ通過する搬送材料３からの赤外線強度
を測定することにより行つていた。
このように放射温度計２１，２２を炉内、ある
いは炉外のいずれに設置するにしても、各部の放
射率の影響を受けにくくする手段が採用されてい
たが、測定できる条件が全て満たされる場合が限
られており、測定対象の変化で材料温度指示の変
動が生じるという欠点を有している。
いは炉外のいずれに設置するにしても、各部の放
射率の影響を受けにくくする手段が採用されてい
たが、測定できる条件が全て満たされる場合が限
られており、測定対象の変化で材料温度指示の変
動が生じるという欠点を有している。
特に、炉出口で測定する場合は、炉出口のエア
シールを通過した後の搬送材料３の温度測定を行
つているため、炉１内における真の材料到達温度
を測定することは困難であつた。
シールを通過した後の搬送材料３の温度測定を行
つているため、炉１内における真の材料到達温度
を測定することは困難であつた。
さらに、放射温度計２１，２２から、その検出
部に至る光の経路が長いため、油煙、その他の雰
囲気による影響で測定誤差を生じ、経時変化が大
きいという欠点を有している。
部に至る光の経路が長いため、油煙、その他の雰
囲気による影響で測定誤差を生じ、経時変化が大
きいという欠点を有している。
その他、材料表面の粗度、表面の色、前処理状
態、圧延歴等の影響を受ける搬送材料３固有の放
射率による補正を、材料が変わつても一定値とし
ているため、測定温度が不正確でもあつた。
態、圧延歴等の影響を受ける搬送材料３固有の放
射率による補正を、材料が変わつても一定値とし
ているため、測定温度が不正確でもあつた。
本発明は、前記従来の欠点に鑑みてなされたも
ので、炉内各部での連続的に搬送される材料の温
度を炉内雰囲気に影響されることなく、正確かつ
迅速に測定することを可能とした材料温度測定法
を提供することを目的とするものである。
ので、炉内各部での連続的に搬送される材料の温
度を炉内雰囲気に影響されることなく、正確かつ
迅速に測定することを可能とした材料温度測定法
を提供することを目的とするものである。
斯る目的を達成するために、本発明は、炉入口
の低温域に設けた基準黒体炉から搬送材料に放射
した赤外線の反射強度、および搬送材料からの自
然放射赤外線から搬送材料の放射率を演算するス
テツプと、前記放射率を演算した搬送材料の位置
を追跡するステツプと、集光部、光フアイバ、赤
外線センサからなる赤外線検出器により炉内の適
宜位置における搬送材料からの赤外線放射エネル
ギを演算するステツプと、前記集光部近傍の温度
を測定して、この検出温度に基づいて炉内のノズ
ルヘツダからの赤外線放射エネルギを演算するス
テツプ、前記放射率、前記両赤外線放射エネル
ギ、および前記赤外線検出器等の特性による係数
で実験により近似的に算出することにより予め求
めておいた補正係数に基づいて搬送材料の前記放
射エネルギを補正演算するステツプと、放射エネ
ルギと温度との関係から搬送材料の温度を求める
ステツプとから構成した。
の低温域に設けた基準黒体炉から搬送材料に放射
した赤外線の反射強度、および搬送材料からの自
然放射赤外線から搬送材料の放射率を演算するス
テツプと、前記放射率を演算した搬送材料の位置
を追跡するステツプと、集光部、光フアイバ、赤
外線センサからなる赤外線検出器により炉内の適
宜位置における搬送材料からの赤外線放射エネル
ギを演算するステツプと、前記集光部近傍の温度
を測定して、この検出温度に基づいて炉内のノズ
ルヘツダからの赤外線放射エネルギを演算するス
テツプ、前記放射率、前記両赤外線放射エネル
ギ、および前記赤外線検出器等の特性による係数
で実験により近似的に算出することにより予め求
めておいた補正係数に基づいて搬送材料の前記放
射エネルギを補正演算するステツプと、放射エネ
ルギと温度との関係から搬送材料の温度を求める
ステツプとから構成した。
次に、本発明の一実施例を図面にしたがつて説
明する。
明する。
第２図は、本発明に係る材料温度測定法の適用
例である材料温度測定装置を備えた連続加熱炉を
示し、炉１内に上下２段に、かつ水平方向に適宜
間隔をあけて適宜数のノズルヘツダ２が設けてあ
り、このノズルヘツダ２の間を連続的に薄板状の
搬送材料３が図中左から右へと搬送されている。
例である材料温度測定装置を備えた連続加熱炉を
示し、炉１内に上下２段に、かつ水平方向に適宜
間隔をあけて適宜数のノズルヘツダ２が設けてあ
り、このノズルヘツダ２の間を連続的に薄板状の
搬送材料３が図中左から右へと搬送されている。
炉１の入口側の低温域には、基準黒体炉４、赤
外線検出器L1、センサS1、およびこれと少し離
れて赤外線検出器L2、センサS2が設けてある。
そして、これらの少い下方の搬送材料３の位置に
おける赤外線を検出し、後述する搬送材料３の任
意の位置Ａ（図示せず）からの自然放射の赤外線
の強度を検出するとともに、所定温度に加熱され
た基準黒体炉４から放射されて、搬送材料３にて
反射して来た赤外線の強度を赤外線検出器L1の
センサS1により算出するようになつている。
外線検出器L1、センサS1、およびこれと少し離
れて赤外線検出器L2、センサS2が設けてある。
そして、これらの少い下方の搬送材料３の位置に
おける赤外線を検出し、後述する搬送材料３の任
意の位置Ａ（図示せず）からの自然放射の赤外線
の強度を検出するとともに、所定温度に加熱され
た基準黒体炉４から放射されて、搬送材料３にて
反射して来た赤外線の強度を赤外線検出器L1の
センサS1により算出するようになつている。
このセンサS1，S2は、ここからの信号S1，S2
をＡ／Ｄ変換処理するセンサ信号処理部５に接続
し、このセンサ信号処理部５は搬送材料３固有の
放射率εs′を演算する放射率演算部７に接続する
とともに、この演算結果は、搬送材料３のガイド
用に設けたローラ８の軸に取付けたパルスジエネ
レータ９に接続した位置移動処理部１０に入力さ
れ、パルスジエネレータ９からの信号を基にし
て、進行してゆく搬送材料の任意の位置Ａ（すな
わち、前記演算結果に対応する位置）を追跡でき
るようになつている。
をＡ／Ｄ変換処理するセンサ信号処理部５に接続
し、このセンサ信号処理部５は搬送材料３固有の
放射率εs′を演算する放射率演算部７に接続する
とともに、この演算結果は、搬送材料３のガイド
用に設けたローラ８の軸に取付けたパルスジエネ
レータ９に接続した位置移動処理部１０に入力さ
れ、パルスジエネレータ９からの信号を基にし
て、進行してゆく搬送材料の任意の位置Ａ（すな
わち、前記演算結果に対応する位置）を追跡でき
るようになつている。
また、炉１内の搬送材料３からの放射赤外線を
測定するために、搬送材料３の進行方向に沿つて
複数個の赤外線検出器L3，……，Lnが設けてあ
る。すなわち、この赤外線検出器L3，……，Ln
は、それぞれ適宜レンズを組合わせて形成した集
光部１１と、集光部１１で捕捉した光を伝送する
光フアイバ１２と、各光フアイバ１２からの光信
号を受信するセンサS3，……，Snとからなり、
ノズルヘツダ２同志、あるいはノズルヘツダ２と
炉壁との間のわずかな空〓部に集光部１１を、前
記放射赤外線を捕捉させるように設置して、光フ
アイバ１２を介して炉外のセンサS3，……，Sn
にて放射赤外線の強度を検出させるようにしてあ
る。
測定するために、搬送材料３の進行方向に沿つて
複数個の赤外線検出器L3，……，Lnが設けてあ
る。すなわち、この赤外線検出器L3，……，Ln
は、それぞれ適宜レンズを組合わせて形成した集
光部１１と、集光部１１で捕捉した光を伝送する
光フアイバ１２と、各光フアイバ１２からの光信
号を受信するセンサS3，……，Snとからなり、
ノズルヘツダ２同志、あるいはノズルヘツダ２と
炉壁との間のわずかな空〓部に集光部１１を、前
記放射赤外線を捕捉させるように設置して、光フ
アイバ１２を介して炉外のセンサS3，……，Sn
にて放射赤外線の強度を検出させるようにしてあ
る。
これらのセンサS3，……，Snは前記センサ信
号処理部５と同種のセンサ信号処理部６に接続し
ており、センサS3，……，Snからの信号s3，…
…，snを入力して、Ａ／Ｄ変換処理させている。
号処理部５と同種のセンサ信号処理部６に接続し
ており、センサS3，……，Snからの信号s3，…
…，snを入力して、Ａ／Ｄ変換処理させている。
また、各ノズルヘツダ２の集光部１１の近傍の
位置に、ノズルヘツダ２の温度測定用として熱電
対１３が設けてあり、ここからの信号はセンサ信
号処理部６に入力され、前記同様Ａ／Ｄ変換処理
される。
位置に、ノズルヘツダ２の温度測定用として熱電
対１３が設けてあり、ここからの信号はセンサ信
号処理部６に入力され、前記同様Ａ／Ｄ変換処理
される。
さらに、前記位置移動処理部１０およびセンサ
信号処理部６は位置同期処理部１４に接続すると
ともに、これに続いて放射率変化補正部１５、材
料温度表示部１６の順序で接続してある。そし
て、位置同期処理部１４にて前記位置Ａの進行に
合わせて赤外線検出器L3，……，Lnにより測定
した信号から赤外線放射エネルギＥ（Tn）を演算
し、この演算結果を放射率変化補正部１５にて補
正して温度による（すなわち、温度により支配さ
れる）赤外線放射エネルギＥ（Ts）を算出し、材
料温度表示部１６にて材料温度Tsを求めるよう
に形成してある。
信号処理部６は位置同期処理部１４に接続すると
ともに、これに続いて放射率変化補正部１５、材
料温度表示部１６の順序で接続してある。そし
て、位置同期処理部１４にて前記位置Ａの進行に
合わせて赤外線検出器L3，……，Lnにより測定
した信号から赤外線放射エネルギＥ（Tn）を演算
し、この演算結果を放射率変化補正部１５にて補
正して温度による（すなわち、温度により支配さ
れる）赤外線放射エネルギＥ（Ts）を算出し、材
料温度表示部１６にて材料温度Tsを求めるよう
に形成してある。
次に、本発明に係る材料温度測定法の適用例で
ある前記構成はからなる材料温度測定装置による
材料温度測定手順を、第３図にしたがつて説明す
る。
ある前記構成はからなる材料温度測定装置による
材料温度測定手順を、第３図にしたがつて説明す
る。
まず、基準黒体炉４から放射され、搬送材料３
から反射された赤外線を受けたセンサS1の信号s1
と、搬送材料３からの自然放射赤外線を受けたセ
ンサS2の信号s2とをセンサ信号処理部５で処理し
た後、放射率演算装置７で搬送材料３の放射率
εs′を求める（第３図、ステツプ〜）。
から反射された赤外線を受けたセンサS1の信号s1
と、搬送材料３からの自然放射赤外線を受けたセ
ンサS2の信号s2とをセンサ信号処理部５で処理し
た後、放射率演算装置７で搬送材料３の放射率
εs′を求める（第３図、ステツプ〜）。
この演算とともに、パルスジエネレータ９を作
動させて炉１の入口で前記放射率εs′を測定した
位置Ａを追跡する（第３図、ステツプ）。位置
Ａが炉１内の赤外線検出器L3，……，Lnのそれ
ぞれの集光部１１の直下に達したとき、それぞれ
のセンサS3，……，Snの信号s3，……，snをセン
サ信号処理部６で処理して位置Ａの赤外線検出器
L3，……，Lnの該当する赤外線放射エネルギEi
を演算する（第３図、ステツプ）。
動させて炉１の入口で前記放射率εs′を測定した
位置Ａを追跡する（第３図、ステツプ）。位置
Ａが炉１内の赤外線検出器L3，……，Lnのそれ
ぞれの集光部１１の直下に達したとき、それぞれ
のセンサS3，……，Snの信号s3，……，snをセン
サ信号処理部６で処理して位置Ａの赤外線検出器
L3，……，Lnの該当する赤外線放射エネルギEi
を演算する（第３図、ステツプ）。
さらに、集光部１１の近傍のノズルヘツダ２の
温度を熱電対１３により測定して、赤外線放射エ
ネルギＥ（Tn）を演算する（第３図、ステツプ
）。
温度を熱電対１３により測定して、赤外線放射エ
ネルギＥ（Tn）を演算する（第３図、ステツプ
）。
ついで、前記演算結果の他、予め求めておいた
補正係数Ｋを用いて次式により、温度による赤外
線放射エネルギＥ（Ts）を求める（第３図、ステ
ツプ）。
補正係数Ｋを用いて次式により、温度による赤外
線放射エネルギＥ（Ts）を求める（第３図、ステ
ツプ）。
Ei＝εs・Ｅ（Ts）＋Ｋ・（１−εs′）
・εn・Ｅ（Tn） …(1)
各記号の意味は以下の通りである。
Ei：各集光部１１で集め、光フアイバ１２を通過
してきた位置Ａからの前記赤外線放射信号
（すなわち、放射エネルギ）。
してきた位置Ａからの前記赤外線放射信号
（すなわち、放射エネルギ）。
εs：搬送材料３の位置Ａにおける放射率。この放
射率εsは温度により変化するが、炉１の入
口温度と炉１内温度の差が小さい場合等、
変化が小さい場合は、 εs＝εs′＝ｆ（s1，s2） …(2) とし、前記差が大きい場合は、 εs＝ｆ（s1，s2，Ts） …(3) なる関数とする。
射率εsは温度により変化するが、炉１の入
口温度と炉１内温度の差が小さい場合等、
変化が小さい場合は、 εs＝εs′＝ｆ（s1，s2） …(2) とし、前記差が大きい場合は、 εs＝ｆ（s1，s2，Ts） …(3) なる関数とする。
Ｅ（Ts）：集光部１１で集められた赤外線のエネ
ルギのうち、温度により支配される分で、
計算により算出する。
ルギのうち、温度により支配される分で、
計算により算出する。
Ｋ：赤外線検出器Ｌ３，……，Ln等の特性によ
る補正係数で実験により近似的に算出す
る。
る補正係数で実験により近似的に算出す
る。
εs′：前記のように、炉１の入口における搬送材
料３の放射率。
料３の放射率。
εn：ノズルヘツダ２の放射率で、予めノズルヘ
ツダ２の温度Tnと放射率εnとの関係を求
めておき、熱電対１３で測定した温度Tn
に対応する放射率εnを用いる。
ツダ２の温度Tnと放射率εnとの関係を求
めておき、熱電対１３で測定した温度Tn
に対応する放射率εnを用いる。
Ｅ（Tn）：前記のように、温度Tnのノズルヘツダ
２から放射される赤外線エネルギの計算
値。
２から放射される赤外線エネルギの計算
値。
(1)式より、
Ｅ（Ts）＝（１／εs）・｛Ei−Ｋ・
（１−εs′）・εn・Ｅ（Tn）｝ …(4)
と変形して、赤外線放射エネルギＥ（Ts）を計算
する（第３図、ステツプ）。そして、予め求め
ておいた赤外線放射エネルギＥ（Ts）と温度Ts
との関係から搬送材料３の温度Tsを求める（第
３図、ステツプ）。
する（第３図、ステツプ）。そして、予め求め
ておいた赤外線放射エネルギＥ（Ts）と温度Ts
との関係から搬送材料３の温度Tsを求める（第
３図、ステツプ）。
すなわち、以上のようにして、低温域である炉
入口部での搬送材料１の基準となる放射率を算出
しておき、高温のために黒体炉による直接測定で
きない炉１内での搬送材料の放射率を、炉１内か
らの温度データを用いて基準となる前記放射率を
補正演算することにより求め、この補正後の放射
率から炉１内の各部での材料温度を算出するよう
にしてある。
入口部での搬送材料１の基準となる放射率を算出
しておき、高温のために黒体炉による直接測定で
きない炉１内での搬送材料の放射率を、炉１内か
らの温度データを用いて基準となる前記放射率を
補正演算することにより求め、この補正後の放射
率から炉１内の各部での材料温度を算出するよう
にしてある。
なお、前記材料温度の測定は任意の位置Ａにつ
いて行つたが、測定点の数、間隔に制限はなく、
かつ前述の手順により搬送材料３の進行速度に同
期させて、温度測定ができる。
いて行つたが、測定点の数、間隔に制限はなく、
かつ前述の手順により搬送材料３の進行速度に同
期させて、温度測定ができる。
また、前記計算式は温度Tsを求めるための一
例であり、本発明は前記計算式に限るものではな
い。
例であり、本発明は前記計算式に限るものではな
い。
以上の説明より明らかなように、本発明によれ
ば、炉入口の低温域に設けた基準黒体炉から搬送
材料に放射した赤外線の反射強度、および搬送材
料からの自然放射赤外線から搬送材料の放射率を
演算するステツプと、前記放射率を演算した搬送
材料の位置を追跡するステツプと、集光部、光フ
アイバ、赤外線センサからなる赤外線検出器によ
り炉内の適宜位置における搬送材料からの赤外線
放射エネルギを演算するステツプと、前記集光部
近傍の温度を測定して、この検出温度に基づいて
炉内のノズルヘツダからの赤外線放射エネルギを
演算するステツプと、前記放射率、前記両赤外線
放射エネルギ、および予め求めておいた補正係数
に基づいて搬送材料の前記放射エネルギを補正演
算するステツプと、放射エネルギと温度との関係
から搬送材料の温度を求めるステツプとから構成
してある。
ば、炉入口の低温域に設けた基準黒体炉から搬送
材料に放射した赤外線の反射強度、および搬送材
料からの自然放射赤外線から搬送材料の放射率を
演算するステツプと、前記放射率を演算した搬送
材料の位置を追跡するステツプと、集光部、光フ
アイバ、赤外線センサからなる赤外線検出器によ
り炉内の適宜位置における搬送材料からの赤外線
放射エネルギを演算するステツプと、前記集光部
近傍の温度を測定して、この検出温度に基づいて
炉内のノズルヘツダからの赤外線放射エネルギを
演算するステツプと、前記放射率、前記両赤外線
放射エネルギ、および予め求めておいた補正係数
に基づいて搬送材料の前記放射エネルギを補正演
算するステツプと、放射エネルギと温度との関係
から搬送材料の温度を求めるステツプとから構成
してある。
このため、小型の集光部を炉内の微小間〓に設
置することにより、黒体炉を用いて放射率の直接
測定ができない高温の炉内でも、材料温度の測定
が可能になる結果、炉内搬送材料の複数の近接位
置から非接触で、炉内雰囲気に影響されることな
く。容易かつ正確に、さらに迅速に炉内各点での
搬送材料の連続測定が可能となる。
置することにより、黒体炉を用いて放射率の直接
測定ができない高温の炉内でも、材料温度の測定
が可能になる結果、炉内搬送材料の複数の近接位
置から非接触で、炉内雰囲気に影響されることな
く。容易かつ正確に、さらに迅速に炉内各点での
搬送材料の連続測定が可能となる。
また、CCL（連続塗装装置）においては、塗膜
厚測定システム（特開昭58−115306号公報）と組
合わせて、共通のデータ処理（マルチチヤンネル
式）が適用できる等の効果を有している。
厚測定システム（特開昭58−115306号公報）と組
合わせて、共通のデータ処理（マルチチヤンネル
式）が適用できる等の効果を有している。
さらに、光フアイバとして冷却式のものを用い
れば、高温、水蒸気、爆発性雰囲気、強電界、腐
食性雰囲気中にも設置できる。
れば、高温、水蒸気、爆発性雰囲気、強電界、腐
食性雰囲気中にも設置できる。
第１図は従来の材料温度測定装置を備えた連続
加熱炉の断面図、第２図は本発明に係る材料温度
測定法を適用した連続加熱炉の機器構成図、第３
図は第２図に示す装置における材料温度測定の手
順を示すフロー図である。 １…炉、３…搬送材料、４…基準黒体炉、１１
…集光部、１２…光フアイバ、L1，……，Ln…
赤外線検出器、S1，……，Snセンサ。
加熱炉の断面図、第２図は本発明に係る材料温度
測定法を適用した連続加熱炉の機器構成図、第３
図は第２図に示す装置における材料温度測定の手
順を示すフロー図である。 １…炉、３…搬送材料、４…基準黒体炉、１１
…集光部、１２…光フアイバ、L1，……，Ln…
赤外線検出器、S1，……，Snセンサ。
Claims (1)
- １ 炉入口の低温域に設けた基準黒体炉から搬送
材料に放射した赤外線の反射強度、および搬送材
料からの自然放射赤外線から搬送材料の放射率を
演算するステツプと、前記放射率を演算した搬送
材料の位置を追跡するステツプと、集光部、光フ
アイバ、赤外線センサからなる赤外線検出器によ
り炉内の適宜位置における搬送材料からの赤外線
放射エネルギを演算するステツプと、前記集光部
近傍の温度を測定して、この検出温度に基づいて
炉内のノズルヘツダからの赤外線放射エネルギを
演算するステツプと、前記放射率、前記両赤外線
放射エネルギ、および前記赤外線検出器等の特性
による係数で実験により近似的に算出することに
より予め求めておいた補正係数に基づいて搬送材
料の前記放射エネルギを補正演算するステツプ
と、放射エネルギと温度との関係から搬送材料の
温度を求めるステツプとからなることを特徴とす
る材料温度測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24288783A JPS60133325A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | 材料温度測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24288783A JPS60133325A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | 材料温度測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60133325A JPS60133325A (ja) | 1985-07-16 |
| JPH051407B2 true JPH051407B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=17095700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24288783A Granted JPS60133325A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | 材料温度測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60133325A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2555052Y2 (ja) * | 1991-06-12 | 1997-11-19 | 東洋化学株式会社 | ウオールキャップ |
| GB9928171D0 (en) * | 1999-11-29 | 2000-01-26 | Land Instr Int Ltd | Temperature measuring method |
| CN104316193A (zh) * | 2014-09-19 | 2015-01-28 | 蚌埠凯盛工程技术有限公司 | 一种可移动式玻璃板上温度测定机构 |
-
1983
- 1983-12-22 JP JP24288783A patent/JPS60133325A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60133325A (ja) | 1985-07-16 |
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