JPH05159351A - 光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法 - Google Patents
光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法Info
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- JPH05159351A JPH05159351A JP32608691A JP32608691A JPH05159351A JP H05159351 A JPH05159351 A JP H05159351A JP 32608691 A JP32608691 A JP 32608691A JP 32608691 A JP32608691 A JP 32608691A JP H05159351 A JPH05159351 A JP H05159351A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、光ヘッドの記録/再生特性を検査す
る光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法に関し、高信
頼性の検査結果を得ることができ、不良光ヘッドの不良
原因が記録特性にあるのか、再生特性にあるのかを判断
できる光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法を提供す
ることを目的とする。 【構成】光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対し、
光磁気ヘッドの記録/再生特性を検査するための基準デ
ータを記録/再生し、また、光磁気ヘッドにより記録さ
れた記録特性検査用データを再生する基準光磁気ヘッド
7と、光磁気ヘッドを取換え可能に支持する光磁気ヘッ
ド支持手段(図示せず)とを有し、光磁気ヘッドの記録
/再生特性を検査するように構成する。
る光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法に関し、高信
頼性の検査結果を得ることができ、不良光ヘッドの不良
原因が記録特性にあるのか、再生特性にあるのかを判断
できる光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法を提供す
ることを目的とする。 【構成】光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対し、
光磁気ヘッドの記録/再生特性を検査するための基準デ
ータを記録/再生し、また、光磁気ヘッドにより記録さ
れた記録特性検査用データを再生する基準光磁気ヘッド
7と、光磁気ヘッドを取換え可能に支持する光磁気ヘッ
ド支持手段(図示せず)とを有し、光磁気ヘッドの記録
/再生特性を検査するように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ヘッドの記録/再生
特性を検査する光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法
に関する。
特性を検査する光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】光磁気ディスク等は、磁気ディスクやフ
ロッピーディスク等に代わりコンピュータシステムの記
憶装置としての用途が注目されていることから、特に高
寿命、高信頼性が要求される。そのために、出荷段階に
おいて光磁気ディスク等の検査が行われている。光磁気
ディスクの検査を例にとれば、従来より、一つ又は複数
の記録/再生ヘッドを搭載した光磁気ディスク検査装置
により、光磁気ディスクの検査を行っている。
ロッピーディスク等に代わりコンピュータシステムの記
憶装置としての用途が注目されていることから、特に高
寿命、高信頼性が要求される。そのために、出荷段階に
おいて光磁気ディスク等の検査が行われている。光磁気
ディスクの検査を例にとれば、従来より、一つ又は複数
の記録/再生ヘッドを搭載した光磁気ディスク検査装置
により、光磁気ディスクの検査を行っている。
【0003】この光磁気ディスクの検査において、光磁
気ディスク検査装置に搭載された記録/再生ヘッドの性
能のばらつきが問題となる。例えば、所定のビットエラ
ーレート(BER)を有する標準光磁気ディスクを用意
し、複数の検査対象光ヘッドのそれぞれについて同一の
標準光磁気ディスクに対して記録/再生を行わせ、その
BERを調べると、各検査対象光ヘッドで得られる標準
光磁気ディスクのBERの値にばらつきがあることがわ
かる。これは、各検査対象光ヘッド間に記録/再生特性
のばらつきがあるからである。
気ディスク検査装置に搭載された記録/再生ヘッドの性
能のばらつきが問題となる。例えば、所定のビットエラ
ーレート(BER)を有する標準光磁気ディスクを用意
し、複数の検査対象光ヘッドのそれぞれについて同一の
標準光磁気ディスクに対して記録/再生を行わせ、その
BERを調べると、各検査対象光ヘッドで得られる標準
光磁気ディスクのBERの値にばらつきがあることがわ
かる。これは、各検査対象光ヘッド間に記録/再生特性
のばらつきがあるからである。
【0004】この光磁気ディスク検査装置に用いられる
複数の記録/再生ヘッド間のBERのばらつきを抑える
ために、BERが低い良好な記録/再生ヘッドの記録パ
ワーを作為的に最適値から外し、BERが高い他の記録
/再生ヘッドに合わせることにより、光磁気ディスク検
査装置の複数の記録/再生ヘッド間のばらつきを低減さ
せていたが、この方法では記録/再生ヘッドの記録パワ
ーの調整範囲にも限界があり、また、BERが低い良好
な記録/再生ヘッドは、最適な記録パワーで使用できな
いので安定性に関しても問題がある。
複数の記録/再生ヘッド間のBERのばらつきを抑える
ために、BERが低い良好な記録/再生ヘッドの記録パ
ワーを作為的に最適値から外し、BERが高い他の記録
/再生ヘッドに合わせることにより、光磁気ディスク検
査装置の複数の記録/再生ヘッド間のばらつきを低減さ
せていたが、この方法では記録/再生ヘッドの記録パワ
ーの調整範囲にも限界があり、また、BERが低い良好
な記録/再生ヘッドは、最適な記録パワーで使用できな
いので安定性に関しても問題がある。
【0005】さらに、上記方法では複数の光磁気ディス
ク検査装置で同一の光磁気ディスクを検査しても、光磁
気ディスク検査装置に搭載された記録/再生ヘッド間の
記録/再生特性のばらつきにより、光磁気ディスクのB
ERの測定にばらつきが生じてしまい、各光磁気ディス
ク検査装置によって検査される光磁気ディスクのBER
の値が異なってしまうという問題も生じる。
ク検査装置で同一の光磁気ディスクを検査しても、光磁
気ディスク検査装置に搭載された記録/再生ヘッド間の
記録/再生特性のばらつきにより、光磁気ディスクのB
ERの測定にばらつきが生じてしまい、各光磁気ディス
ク検査装置によって検査される光磁気ディスクのBER
の値が異なってしまうという問題も生じる。
【0006】このように、光磁気ディスクを初めとし
て、光ディスクに対する記録/再生を行う光ヘッドの記
録/再生特性を検査することは、極めて重要なことであ
るが、従来は、上述のように、予め用意され、所定のB
ER等を有する標準ディスクに対して、検査対象の複数
の光ヘッドに記録/再生を行わせ、各検査対象の光ヘッ
ドの記録/再生特性を検査していた。即ち、検査対象光
ヘッドを用い、標準ディスクに対して記録/再生を行っ
て、標準ディスクに設定された検査項目であるBERの
値から所定量だけ値がずれた検査対象光ヘッドを不良と
して処理するというように検査していた。
て、光ディスクに対する記録/再生を行う光ヘッドの記
録/再生特性を検査することは、極めて重要なことであ
るが、従来は、上述のように、予め用意され、所定のB
ER等を有する標準ディスクに対して、検査対象の複数
の光ヘッドに記録/再生を行わせ、各検査対象の光ヘッ
ドの記録/再生特性を検査していた。即ち、検査対象光
ヘッドを用い、標準ディスクに対して記録/再生を行っ
て、標準ディスクに設定された検査項目であるBERの
値から所定量だけ値がずれた検査対象光ヘッドを不良と
して処理するというように検査していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この光ヘッド
検査方法によると、検査に用いる標準ディスクに二次欠
陥(Secondary Defect)が生じると、予め設定しておい
た所定のBER値がずれてしまうことになり、もはや標
準ディスクの役に供することができなくなると共に、各
検査対象光ヘッドの検査結果の信頼性が低下してしまう
という問題や、改めて別の標準ディスクを用意し直さな
ければならないという不便も生じる。さらに、この光ヘ
ッド検査方法では、検査結果として不良と評価された検
査対象光ヘッドにおいて、その不良の原因が記録特性に
あるのか、再生特性にあるのか判断できないという問題
があった。
検査方法によると、検査に用いる標準ディスクに二次欠
陥(Secondary Defect)が生じると、予め設定しておい
た所定のBER値がずれてしまうことになり、もはや標
準ディスクの役に供することができなくなると共に、各
検査対象光ヘッドの検査結果の信頼性が低下してしまう
という問題や、改めて別の標準ディスクを用意し直さな
ければならないという不便も生じる。さらに、この光ヘ
ッド検査方法では、検査結果として不良と評価された検
査対象光ヘッドにおいて、その不良の原因が記録特性に
あるのか、再生特性にあるのか判断できないという問題
があった。
【0008】本発明の目的は、信頼性の高い光ヘッドの
検査結果を得ることができ、また、不良と評価された光
ヘッドの不良原因が記録特性にあるのか、再生特性にあ
るのかを判断することのできる光ヘッド検査装置及び光
ヘッド検査方法を提供することにある。
検査結果を得ることができ、また、不良と評価された光
ヘッドの不良原因が記録特性にあるのか、再生特性にあ
るのかを判断することのできる光ヘッド検査装置及び光
ヘッド検査方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的は、光ヘッドの
記録/再生特性を検査するための光ヘッド検査用光ディ
スクと、前記光ヘッド検査用光ディスクに対し、前記光
ヘッドの記録/再生特性を検査するための基準データを
記録/再生し、また、前記光ヘッドにより記録された記
録特性検査用データを再生する基準光ヘッドと、前記光
ヘッドを取換え可能に支持する光ヘッド支持手段とを有
し、前記基準光ヘッドにより再生された前記基準データ
と、前記光ヘッド支持手段により支持された前記光ヘッ
ドにより再生された前記基準データとを比較して、前記
光ヘッドの再生特性を検査し、前記基準光ヘッドにより
再生された前記基準データと前記記録特性検査用データ
とを比較して、前記検査対象光ヘッドの記録特性を検査
することを特徴とする光ヘッド検査装置によって達成さ
れる。
記録/再生特性を検査するための光ヘッド検査用光ディ
スクと、前記光ヘッド検査用光ディスクに対し、前記光
ヘッドの記録/再生特性を検査するための基準データを
記録/再生し、また、前記光ヘッドにより記録された記
録特性検査用データを再生する基準光ヘッドと、前記光
ヘッドを取換え可能に支持する光ヘッド支持手段とを有
し、前記基準光ヘッドにより再生された前記基準データ
と、前記光ヘッド支持手段により支持された前記光ヘッ
ドにより再生された前記基準データとを比較して、前記
光ヘッドの再生特性を検査し、前記基準光ヘッドにより
再生された前記基準データと前記記録特性検査用データ
とを比較して、前記検査対象光ヘッドの記録特性を検査
することを特徴とする光ヘッド検査装置によって達成さ
れる。
【0010】また、上記目的は、光ヘッドの再生特性の
基準となる基準光ヘッドにより、光ヘッド検査用光ディ
スクに対して基準データを記録し、前記基準光ヘッドに
より前記基準データを再生して再生特性参照データと
し、再生特性が検査される前記光ヘッドにより前記基準
データを再生して再生特性検査データとし、前記再生特
性参照データと前記再生特性検査データとを比較して、
前記光ヘッドの再生特性を検査することを特徴とする光
ヘッド検査方法によって達成される。
基準となる基準光ヘッドにより、光ヘッド検査用光ディ
スクに対して基準データを記録し、前記基準光ヘッドに
より前記基準データを再生して再生特性参照データと
し、再生特性が検査される前記光ヘッドにより前記基準
データを再生して再生特性検査データとし、前記再生特
性参照データと前記再生特性検査データとを比較して、
前記光ヘッドの再生特性を検査することを特徴とする光
ヘッド検査方法によって達成される。
【0011】さらに、上記目的は、光ヘッドの記録特性
の基準となる基準光ヘッドにより、光ヘッド検査用光デ
ィスクに対して基準データを記録し、前記基準光ヘッド
により前記基準データを再生して記録特性参照データと
し、記録特性が検査される前記光ヘッドにより記録特性
検査用データを記録し、前記基準光ヘッドにより前記記
録特性検査用データを再生して記録特性検査データと
し、前記記録特性参照データと前記記録特性検査データ
とを比較して、前記光ヘッドの記録特性を検査すること
を特徴とする光ヘッド検査方法によって達成される。
の基準となる基準光ヘッドにより、光ヘッド検査用光デ
ィスクに対して基準データを記録し、前記基準光ヘッド
により前記基準データを再生して記録特性参照データと
し、記録特性が検査される前記光ヘッドにより記録特性
検査用データを記録し、前記基準光ヘッドにより前記記
録特性検査用データを再生して記録特性検査データと
し、前記記録特性参照データと前記記録特性検査データ
とを比較して、前記光ヘッドの記録特性を検査すること
を特徴とする光ヘッド検査方法によって達成される。
【0012】
【作用】本発明によれば、基準光ヘッドの記録/再生特
性を光ヘッドの検査基準としているので、信頼性の高い
光ヘッドの検査結果を得ることができ、また、検査結果
により不良と評価された光ヘッドの不良原因が記録特性
にあるのか、再生特性にあるのかを判断することができ
る。
性を光ヘッドの検査基準としているので、信頼性の高い
光ヘッドの検査結果を得ることができ、また、検査結果
により不良と評価された光ヘッドの不良原因が記録特性
にあるのか、再生特性にあるのかを判断することができ
る。
【0013】
【実施例】本発明の一実施例による光ヘッド検査装置及
び光ヘッド検査方法を図1を用いて説明する。図1
(a)(b)は、本実施例の光ヘッド検査装置の主要部
の平面図及び断面図である。本実施例は、光磁気ディス
ク装置に搭載される光磁気ヘッドを検査する場合につい
て本発明を適用したものである。
び光ヘッド検査方法を図1を用いて説明する。図1
(a)(b)は、本実施例の光ヘッド検査装置の主要部
の平面図及び断面図である。本実施例は、光磁気ディス
ク装置に搭載される光磁気ヘッドを検査する場合につい
て本発明を適用したものである。
【0014】まず、本実施例の光磁気ヘッド検査装置の
構造について説明する。光磁気ヘッドの検査に用いられ
る光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1は、スピンドル
モータ2の回転軸に取付けられ、クランパ4により上か
ら固定される。光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1は
通常の光磁気ディスクでよく、従来の標準ディスクのよ
うに特に所定のBER値等が設定されている必要はな
い。
構造について説明する。光磁気ヘッドの検査に用いられ
る光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1は、スピンドル
モータ2の回転軸に取付けられ、クランパ4により上か
ら固定される。光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1は
通常の光磁気ディスクでよく、従来の標準ディスクのよ
うに特に所定のBER値等が設定されている必要はな
い。
【0015】光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1の下
面側に、基準光磁気ヘッド7が設けられている。基準光
磁気ヘッド7は、所定の記録/再生特性を有し、光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対し、基準データを記
録/再生し、または光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク
1に記録された記録特性検査用データを再生することが
できる。
面側に、基準光磁気ヘッド7が設けられている。基準光
磁気ヘッド7は、所定の記録/再生特性を有し、光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対し、基準データを記
録/再生し、または光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク
1に記録された記録特性検査用データを再生することが
できる。
【0016】光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1の下
面側で、基準光磁気ヘッド7の両側に、基準光磁気ヘッ
ド7に対してほぼ直角に2つの検査対象光磁気ヘッド6
a、6bが設けられている。従って、本実施例の光磁気
ヘッド検査装置で同時に2個の光磁気ヘッドを検査する
ことができる。検査対象光磁気ヘッド6a、6bはそれ
ぞれぞれ、基準光磁気ヘッド7により光磁気ヘッド検査
用光磁気ディスク1に記録された基準データを再生し、
または記録特性検査用データを記録することができる。
面側で、基準光磁気ヘッド7の両側に、基準光磁気ヘッ
ド7に対してほぼ直角に2つの検査対象光磁気ヘッド6
a、6bが設けられている。従って、本実施例の光磁気
ヘッド検査装置で同時に2個の光磁気ヘッドを検査する
ことができる。検査対象光磁気ヘッド6a、6bはそれ
ぞれぞれ、基準光磁気ヘッド7により光磁気ヘッド検査
用光磁気ディスク1に記録された基準データを再生し、
または記録特性検査用データを記録することができる。
【0017】検査対象光磁気ヘッド6a、6bは取外し
可能に装置筐体の光磁気ヘッド取付手段(図示せず)に
取付けられている。したがって、この光磁気ヘッド検査
装置1台で多数の検査対象となる光磁気ヘッドを検査す
ることができる。基準光磁気ヘッド7及び検査対象光磁
気ヘッド6a、6bには、それぞれリニアモータ8a〜
8cが設けられ、各ヘッド7、6a、6cを光磁気ヘッ
ド検査用光磁気ディスク1の半径方向に直線駆動する。
光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1への磁界印加手段
として、基準光磁気ヘッド7及び検査対象光磁気ヘッド
6a、6bに相対する光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1の上面側に、半径方向に伸びた細長の永久磁石10
a〜10cが設けられている。これら永久磁石10a〜
10cは、クランパ4の中心から伸びる磁石保持部4a
〜4cに、ディスクの半径方向を回転軸として回転可能
に取付けられている。光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1への磁界印加手段として、この永久磁石10a〜1
0cの代わりに電磁石を用いることもできる。
可能に装置筐体の光磁気ヘッド取付手段(図示せず)に
取付けられている。したがって、この光磁気ヘッド検査
装置1台で多数の検査対象となる光磁気ヘッドを検査す
ることができる。基準光磁気ヘッド7及び検査対象光磁
気ヘッド6a、6bには、それぞれリニアモータ8a〜
8cが設けられ、各ヘッド7、6a、6cを光磁気ヘッ
ド検査用光磁気ディスク1の半径方向に直線駆動する。
光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1への磁界印加手段
として、基準光磁気ヘッド7及び検査対象光磁気ヘッド
6a、6bに相対する光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1の上面側に、半径方向に伸びた細長の永久磁石10
a〜10cが設けられている。これら永久磁石10a〜
10cは、クランパ4の中心から伸びる磁石保持部4a
〜4cに、ディスクの半径方向を回転軸として回転可能
に取付けられている。光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1への磁界印加手段として、この永久磁石10a〜1
0cの代わりに電磁石を用いることもできる。
【0018】このように、本実施例による光磁気ヘッド
検査装置は、基準光磁気ヘッドにより再生された基準デ
ータと、検査対象光磁気ヘッドにより再生された基準デ
ータとを比較して、検査対象光磁気ヘッドの再生特性検
査をし、基準光磁気ヘッドにより再生された基準データ
と記録特性検査用データとを比較して、検査対象光磁気
ヘッドの記録特性検査をすることを特徴とする光磁気ヘ
ッド検査装置である。
検査装置は、基準光磁気ヘッドにより再生された基準デ
ータと、検査対象光磁気ヘッドにより再生された基準デ
ータとを比較して、検査対象光磁気ヘッドの再生特性検
査をし、基準光磁気ヘッドにより再生された基準データ
と記録特性検査用データとを比較して、検査対象光磁気
ヘッドの記録特性検査をすることを特徴とする光磁気ヘ
ッド検査装置である。
【0019】次に、本実施例の光磁気ヘッド検査装置を
用いた光磁気ヘッドの検査方法について説明する。ま
ず、光磁気ヘッドの再生特性の検査方法について説明す
る。基準光磁気ヘッド7により、光磁気ヘッド検査用光
磁気ディスク1に対して基準データを記録する。次に、
記録した基準データを基準光磁気ヘッド7により再生す
る。この基準光磁気ヘッド7で再生された基準データを
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの再生特性を決定する
再生特性参照データとして用いる。
用いた光磁気ヘッドの検査方法について説明する。ま
ず、光磁気ヘッドの再生特性の検査方法について説明す
る。基準光磁気ヘッド7により、光磁気ヘッド検査用光
磁気ディスク1に対して基準データを記録する。次に、
記録した基準データを基準光磁気ヘッド7により再生す
る。この基準光磁気ヘッド7で再生された基準データを
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの再生特性を決定する
再生特性参照データとして用いる。
【0020】次に、基準光磁気ヘッド7で光磁気ヘッド
検査用光磁気ディスク1に記録した上述の基準データを
再生特性を検査すべき検査対象光磁気ヘッド6aにより
再生する。この検査対象光磁気ヘッド6aで再生された
基準データを検査対象光磁気ヘッド6aの再生特性検査
データとして用いる。同様にして、検査対象光磁気ヘッ
ド6bの再生特性検査データを得る。
検査用光磁気ディスク1に記録した上述の基準データを
再生特性を検査すべき検査対象光磁気ヘッド6aにより
再生する。この検査対象光磁気ヘッド6aで再生された
基準データを検査対象光磁気ヘッド6aの再生特性検査
データとして用いる。同様にして、検査対象光磁気ヘッ
ド6bの再生特性検査データを得る。
【0021】基準光磁気ヘッド7により得られた再生特
性参照データと検査対象光磁気ヘッド6a、6bにより
得られた再生特性検査データとを比較することにより、
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの再生特性を検査する
ことができる。例えば、再生特性参照データ及び再生特
性検査データから、検査項目としてビットエラーレート
(BER)を知ることができれば、基準光磁気ヘッド7
を基準とした検査対象光磁気ヘッド6a、6bそれぞれ
の光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するBER
のバラツキを知ることができる。
性参照データと検査対象光磁気ヘッド6a、6bにより
得られた再生特性検査データとを比較することにより、
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの再生特性を検査する
ことができる。例えば、再生特性参照データ及び再生特
性検査データから、検査項目としてビットエラーレート
(BER)を知ることができれば、基準光磁気ヘッド7
を基準とした検査対象光磁気ヘッド6a、6bそれぞれ
の光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するBER
のバラツキを知ることができる。
【0022】次に、光磁気ヘッドの記録特性の検査方法
について説明する。基準光磁気ヘッド7により、光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して基準データを記
録する。次に、記録した基準データを基準光磁気ヘッド
7により再生する。この基準光磁気ヘッド7で再生した
基準データが、検査対象光磁気ヘッド6a、6bの記録
特性を決定する記録特性参照データとなる。
について説明する。基準光磁気ヘッド7により、光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して基準データを記
録する。次に、記録した基準データを基準光磁気ヘッド
7により再生する。この基準光磁気ヘッド7で再生した
基準データが、検査対象光磁気ヘッド6a、6bの記録
特性を決定する記録特性参照データとなる。
【0023】次に、検査対象光磁気ヘッド6aにより、
光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して検査対象
光磁気ヘッド6aの記録特性検査用データを記録する。
記録特性検査用データは、基準光磁気ヘッド7で記録し
た基準データと同一データであり、光磁気ヘッド検査用
光磁気ディスク1の基準データを記録した記録領域と同
一の領域に記録される。
光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して検査対象
光磁気ヘッド6aの記録特性検査用データを記録する。
記録特性検査用データは、基準光磁気ヘッド7で記録し
た基準データと同一データであり、光磁気ヘッド検査用
光磁気ディスク1の基準データを記録した記録領域と同
一の領域に記録される。
【0024】次に、基準光磁気ヘッド7により、検査対
象光磁気ヘッド6aで光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1に記録された検査対象光磁気ヘッド6aの記録特性
検査用データを再生する。この再生された記録特性検査
用データを検査対象光磁気ヘッド6aの記録特性検査デ
ータとして用いる。基準光磁気ヘッド7により得られた
記録特性参照データと検査対象光磁気ヘッド6aの記録
特性検査データとを比較して、検査対象光磁気ヘッド6
aの記録特性の検査をすることができる。再生特性の検
査の場合と同様に、例えば、記録特性参照データ及び記
録特性検査データから、BERを知ることができれば、
基準光磁気ヘッド7を基準とした検査対象光磁気ヘッド
6aの光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するB
ERのバラツキを知ることができる。
象光磁気ヘッド6aで光磁気ヘッド検査用光磁気ディス
ク1に記録された検査対象光磁気ヘッド6aの記録特性
検査用データを再生する。この再生された記録特性検査
用データを検査対象光磁気ヘッド6aの記録特性検査デ
ータとして用いる。基準光磁気ヘッド7により得られた
記録特性参照データと検査対象光磁気ヘッド6aの記録
特性検査データとを比較して、検査対象光磁気ヘッド6
aの記録特性の検査をすることができる。再生特性の検
査の場合と同様に、例えば、記録特性参照データ及び記
録特性検査データから、BERを知ることができれば、
基準光磁気ヘッド7を基準とした検査対象光磁気ヘッド
6aの光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するB
ERのバラツキを知ることができる。
【0025】同様にして、検査対象光磁気ヘッド6bに
より、光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して検
査対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査用データを記録
し、基準光磁気ヘッド7により、検査対象光磁気ヘッド
6bで光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に記録され
た検査対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査用データを
再生する。この再生された記録特性検査用データを検査
対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査データとして用い
ることにより、基準光磁気ヘッド7により得られた記録
特性参照データと検査対象光磁気ヘッド6bの記録特性
検査データとを比較して、検査対象光磁気ヘッド6bの
記録特性の検査をすることができる。例えば、記録特性
参照データ及び記録特性検査データから、基準光磁気ヘ
ッド7を基準とした検査対象光磁気ヘッド6bの光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するBERのバラツ
キを知ることができる。
より、光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に対して検
査対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査用データを記録
し、基準光磁気ヘッド7により、検査対象光磁気ヘッド
6bで光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク1に記録され
た検査対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査用データを
再生する。この再生された記録特性検査用データを検査
対象光磁気ヘッド6bの記録特性検査データとして用い
ることにより、基準光磁気ヘッド7により得られた記録
特性参照データと検査対象光磁気ヘッド6bの記録特性
検査データとを比較して、検査対象光磁気ヘッド6bの
記録特性の検査をすることができる。例えば、記録特性
参照データ及び記録特性検査データから、基準光磁気ヘ
ッド7を基準とした検査対象光磁気ヘッド6bの光磁気
ヘッド検査用光磁気ディスク1に対するBERのバラツ
キを知ることができる。
【0026】このように、同時に2個の光磁気ヘッドに
対して記録/再生特性を検査することができ、また、検
査すべき光磁気ヘッドを取替えて、順次上記方法で検査
を行うことにより、多数の検査対象光磁気ヘッドに対し
て、記録/再生特性を検査することができる。特に再生
特性の検査においては、基準光磁気ヘッド7で基準デー
タを記録後、基準光磁気ヘッド7による再生特性参照デ
ータの収集及び検査対象光磁気ヘッド6a、6bによる
再生特性検査データの収集を同時に行うことができるの
で、再生特性の検査時間も従来に比べて大幅に短縮する
ことができる。
対して記録/再生特性を検査することができ、また、検
査すべき光磁気ヘッドを取替えて、順次上記方法で検査
を行うことにより、多数の検査対象光磁気ヘッドに対し
て、記録/再生特性を検査することができる。特に再生
特性の検査においては、基準光磁気ヘッド7で基準デー
タを記録後、基準光磁気ヘッド7による再生特性参照デ
ータの収集及び検査対象光磁気ヘッド6a、6bによる
再生特性検査データの収集を同時に行うことができるの
で、再生特性の検査時間も従来に比べて大幅に短縮する
ことができる。
【0027】また、本実施例の光磁気ヘッド検査装置に
よれば、記録/再生特性の検査基準は基準光磁気ヘッド
7の記録/再生特性であるから、光磁気ヘッド検査用光
磁気ディスク1を従来の検査方法において使用していた
標準ディスクとする必要はない。従って、光磁気ヘッド
検査用光磁気ディスク1の記録面に二次欠陥が発生する
等の状態変化に無関係に光磁気ヘッドの検査が可能であ
る。この検査により、記録/再生の一方のみ不良として
判定された光磁気ヘッドは、良好な特性を有する記録ま
たは再生専用の光磁気ヘッドとして使用可能である。
よれば、記録/再生特性の検査基準は基準光磁気ヘッド
7の記録/再生特性であるから、光磁気ヘッド検査用光
磁気ディスク1を従来の検査方法において使用していた
標準ディスクとする必要はない。従って、光磁気ヘッド
検査用光磁気ディスク1の記録面に二次欠陥が発生する
等の状態変化に無関係に光磁気ヘッドの検査が可能であ
る。この検査により、記録/再生の一方のみ不良として
判定された光磁気ヘッドは、良好な特性を有する記録ま
たは再生専用の光磁気ヘッドとして使用可能である。
【0028】さらに、このような光磁気ヘッドの検査方
法をとることにより、検査対象光磁気ヘッドの再生特性
と記録特性を別個に検査することができ、検査対象光磁
気ヘッドが記録時または再生時のどちらに不良があるか
も評価することができる。本発明は、上記実施例に限ら
ず種々の変形が可能である。例えば、上記実施例におけ
る光磁気ヘッド検査装置では、同時に2個の検査対象光
磁気ヘッドを搭載して検査することができるが、1個、
または3個以上の光磁気ヘッドを搭載できるようにして
本発明を適用することももちろん可能である。
法をとることにより、検査対象光磁気ヘッドの再生特性
と記録特性を別個に検査することができ、検査対象光磁
気ヘッドが記録時または再生時のどちらに不良があるか
も評価することができる。本発明は、上記実施例に限ら
ず種々の変形が可能である。例えば、上記実施例におけ
る光磁気ヘッド検査装置では、同時に2個の検査対象光
磁気ヘッドを搭載して検査することができるが、1個、
または3個以上の光磁気ヘッドを搭載できるようにして
本発明を適用することももちろん可能である。
【0029】また、本実施例における光磁気ヘッド検査
装置では、基準光磁気ヘッド7の両側に、基準光磁気ヘ
ッド7に対してほぼ直角に2つの検査対象光磁気ヘッド
6a、6bが設けられているが、基準光磁気ヘッド7と
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの位置関係はこれに拘
束されるものではなく、例えば図1中、基準光磁気ヘッ
ド7と検査対象光磁気ヘッド6aの位置が入れ替っても
よい。また、検査対象光磁気ヘッド6a、6bが対向し
て設けられている必要もない。
装置では、基準光磁気ヘッド7の両側に、基準光磁気ヘ
ッド7に対してほぼ直角に2つの検査対象光磁気ヘッド
6a、6bが設けられているが、基準光磁気ヘッド7と
検査対象光磁気ヘッド6a、6bの位置関係はこれに拘
束されるものではなく、例えば図1中、基準光磁気ヘッ
ド7と検査対象光磁気ヘッド6aの位置が入れ替っても
よい。また、検査対象光磁気ヘッド6a、6bが対向し
て設けられている必要もない。
【0030】本実施例では、光磁気ディスク装置に搭載
される光磁気ヘッドの検査装置及び光磁気ヘッドの検査
方法について説明したが、本発明は、他の光ディスク装
置に搭載される光ヘッド、例えば、光磁気ディスク検査
装置に用いられる光磁気ヘッド、或いは追記型光ディス
ク装置に搭載される光ヘッド、さらに再生専用のコンパ
クトディスクに用いられる光ヘッド等の検査にも適用す
ることができる。
される光磁気ヘッドの検査装置及び光磁気ヘッドの検査
方法について説明したが、本発明は、他の光ディスク装
置に搭載される光ヘッド、例えば、光磁気ディスク検査
装置に用いられる光磁気ヘッド、或いは追記型光ディス
ク装置に搭載される光ヘッド、さらに再生専用のコンパ
クトディスクに用いられる光ヘッド等の検査にも適用す
ることができる。
【0031】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、簡便に、
信頼性の高い光ヘッドの検査結果を得ることができ、ま
た、不良と評価された光ヘッドの不良原因が記録特性に
あるのか、再生特性にあるのかを判断することができる
光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法を実現できる。
信頼性の高い光ヘッドの検査結果を得ることができ、ま
た、不良と評価された光ヘッドの不良原因が記録特性に
あるのか、再生特性にあるのかを判断することができる
光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法を実現できる。
【図1】本発明の一実施例による光ヘッド検査装置を示
す図である。
す図である。
1…光磁気ヘッド検査用光磁気ディスク 2…スピンドルモータ 4…クランパ 4a〜4c…磁石保持部 6a、6b…検査対象光磁気ヘッド 7…基準光磁気ヘッド 8a〜8c…リニアモータ 10a〜10c…永久磁石
Claims (3)
- 【請求項1】 光ヘッドの記録/再生特性を検査するた
めの光ヘッド検査用光ディスクと、 前記光ヘッド検査用光ディスクに対し、前記光ヘッドの
記録/再生特性を検査するための基準データを記録/再
生し、また、前記光ヘッドにより記録された記録特性検
査用データを再生する基準光ヘッドと、 前記光ヘッドを取換え可能に支持する光ヘッド支持手段
とを有し、 前記基準光ヘッドにより再生された前記基準データと、
前記光ヘッド支持手段により支持された前記光ヘッドに
より再生された前記基準データとを比較して、前記光ヘ
ッドの再生特性を検査し、前記基準光ヘッドにより再生
された前記基準データと前記記録特性検査用データとを
比較して、前記検査対象光ヘッドの記録特性を検査する
ことを特徴とする光ヘッド検査装置。 - 【請求項2】 光ヘッドの再生特性の基準となる基準光
ヘッドにより、光ヘッド検査用光ディスクに対して基準
データを記録し、 前記基準光ヘッドにより前記基準データを再生して再生
特性参照データとし、 再生特性が検査される前記光ヘッドにより前記基準デー
タを再生して再生特性検査データとし、 前記再生特性参照データと前記再生特性検査データとを
比較して、前記光ヘッドの再生特性を検査することを特
徴とする光ヘッド検査方法。 - 【請求項3】 光ヘッドの記録特性の基準となる基準光
ヘッドにより、光ヘッド検査用光ディスクに対して基準
データを記録し、 前記基準光ヘッドにより前記基準データを再生して記録
特性参照データとし、 記録特性が検査される前記光ヘッドにより記録特性検査
用データを記録し、 前記基準光ヘッドにより前記記録特性検査用データを再
生して記録特性検査データとし、 前記記録特性参照データと前記記録特性検査データとを
比較して、前記光ヘッドの記録特性を検査することを特
徴とする光ヘッド検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32608691A JPH05159351A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | 光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32608691A JPH05159351A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | 光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05159351A true JPH05159351A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18183952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32608691A Pending JPH05159351A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | 光ヘッド検査装置及び光ヘッド検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05159351A (ja) |
-
1991
- 1991-12-10 JP JP32608691A patent/JPH05159351A/ja active Pending
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