JPH05161075A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPH05161075A JPH05161075A JP3323451A JP32345191A JPH05161075A JP H05161075 A JPH05161075 A JP H05161075A JP 3323451 A JP3323451 A JP 3323451A JP 32345191 A JP32345191 A JP 32345191A JP H05161075 A JPH05161075 A JP H05161075A
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- 230000010354 integration Effects 0.000 description 15
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
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- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 各画素の信号電荷蓄積時間を全画素の読み出
しに要する時間よりも短くでき、また、強い光信号が照
射されても撮像が行える固体撮像装置を提供することを
目的とする。 【構成】 フォトダイオード11(画素)は2次元に配
列され、これらの各カソードにはリセット用,読み出し
用MOSFET12,13の各ソースが共通接続されて
いる。読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,16
によって選択された画素に積分された電荷は読み出しア
ンプ17で読み出される。また、リセット用垂直,水平
シフトレジスタ18,20によって選択された画素はリ
セット用電源21によって信号読み出し動作とは独立に
リセットされる。
しに要する時間よりも短くでき、また、強い光信号が照
射されても撮像が行える固体撮像装置を提供することを
目的とする。 【構成】 フォトダイオード11(画素)は2次元に配
列され、これらの各カソードにはリセット用,読み出し
用MOSFET12,13の各ソースが共通接続されて
いる。読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,16
によって選択された画素に積分された電荷は読み出しア
ンプ17で読み出される。また、リセット用垂直,水平
シフトレジスタ18,20によって選択された画素はリ
セット用電源21によって信号読み出し動作とは独立に
リセットされる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光入射量に対応した電荷
量を生成する受光素子が2次元に配列されて構成される
固体撮像装置に関するものである。
量を生成する受光素子が2次元に配列されて構成される
固体撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の固体撮像装置としては、
例えば、MOSFET(MOS型電界効果トランジス
タ)を用いて構成されたMOS型固体撮像装置がある。
このMOS型固体撮像装置は、画素を選択する選択用M
OSFETと、この選択スイッチを順次断続制御するM
OSシフトレジスタとから構成されている。このような
MOS型撮像装置の中には信号読み出しのためのプリア
ンプが同一チップ上に形成されたものもあり、図6はこ
の場合のMOS型固体撮像装置の構成を示している。
例えば、MOSFET(MOS型電界効果トランジス
タ)を用いて構成されたMOS型固体撮像装置がある。
このMOS型固体撮像装置は、画素を選択する選択用M
OSFETと、この選択スイッチを順次断続制御するM
OSシフトレジスタとから構成されている。このような
MOS型撮像装置の中には信号読み出しのためのプリア
ンプが同一チップ上に形成されたものもあり、図6はこ
の場合のMOS型固体撮像装置の構成を示している。
【0003】各フォトダイオード1は2次元に配列され
ており、各フォトダイオード1には選択スイッチである
MOSFET2のソースが接続されている。これら各M
OSFET2のゲートは行ごとに共通に接続され、読み
出し用垂直レジスタ3によって制御される。また、各ド
レインは列ごとに共通に接続され、これら各列ごとにラ
イン選択用MOSFET4が設けられている。このライ
ン選択用MOSFET4は読み出し用水平シフトレジス
タ5によって制御される。
ており、各フォトダイオード1には選択スイッチである
MOSFET2のソースが接続されている。これら各M
OSFET2のゲートは行ごとに共通に接続され、読み
出し用垂直レジスタ3によって制御される。また、各ド
レインは列ごとに共通に接続され、これら各列ごとにラ
イン選択用MOSFET4が設けられている。このライ
ン選択用MOSFET4は読み出し用水平シフトレジス
タ5によって制御される。
【0004】フォトダイオード1は電荷蓄積部を兼ねて
おり、入射光信号の積分期間中にフォトダイオード1に
発生した電荷はフォトダイオード1自身の容量に蓄積さ
れる。この蓄積電荷は、読み出し用垂直シフトレジスタ
3および水平シフトレジスタ5によってMOSFET2
が選択された時に読み出しアンプ6に導かれ、画像信号
が読み出される。この時の読み出しタイミングは図7の
タイミングチャートに示される。
おり、入射光信号の積分期間中にフォトダイオード1に
発生した電荷はフォトダイオード1自身の容量に蓄積さ
れる。この蓄積電荷は、読み出し用垂直シフトレジスタ
3および水平シフトレジスタ5によってMOSFET2
が選択された時に読み出しアンプ6に導かれ、画像信号
が読み出される。この時の読み出しタイミングは図7の
タイミングチャートに示される。
【0005】同図(a)〜(c)は読み出し用垂直シフ
トレジスタ3から各行ラインへ出力される電圧パルス信
号ΦV1〜ΦV3、同図(d)〜(f)は読み出し用水平シ
フトレジスタ5から各列ラインへ出力される電圧パルス
信号ΦH1〜ΦH3を示している。また、同図(g)は1行
1列目の座標(1,1)に位置するフォトダイオード1
のフォトダイオード電位VPD(1,1) 、同図(h)は1行
2列目の座標(1,2)に位置するフォトダイオード1
のフォトダイオード電位VPD(1,2) を示している。垂直
シフトレジスタ3からパルス信号ΦV1が出力されること
により、1行目の行ラインに電圧が印加され、その間に
水平シフトレジスタ5からパルス信号ΦH1,ΦH2,ΦH3
…が出力されることにより、1行目に位置する各列のM
OSFET2が順次選択され、1行目の画素について信
号読み出しが行われる。以下、これと同様に選択する行
ラインを垂直シフトレジスタ3によって順次シフトして
行くことにより、2次元の画像読み出しが行われる。
トレジスタ3から各行ラインへ出力される電圧パルス信
号ΦV1〜ΦV3、同図(d)〜(f)は読み出し用水平シ
フトレジスタ5から各列ラインへ出力される電圧パルス
信号ΦH1〜ΦH3を示している。また、同図(g)は1行
1列目の座標(1,1)に位置するフォトダイオード1
のフォトダイオード電位VPD(1,1) 、同図(h)は1行
2列目の座標(1,2)に位置するフォトダイオード1
のフォトダイオード電位VPD(1,2) を示している。垂直
シフトレジスタ3からパルス信号ΦV1が出力されること
により、1行目の行ラインに電圧が印加され、その間に
水平シフトレジスタ5からパルス信号ΦH1,ΦH2,ΦH3
…が出力されることにより、1行目に位置する各列のM
OSFET2が順次選択され、1行目の画素について信
号読み出しが行われる。以下、これと同様に選択する行
ラインを垂直シフトレジスタ3によって順次シフトして
行くことにより、2次元の画像読み出しが行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の固体撮像装置においては、フォトダイオード1に生
成した電荷を放電させる信号読み出しと、放電したフォ
トダイオード1の電荷をもとの電荷量に充電するリセッ
トとは同時に行われている。このため、ある1画素につ
いての2度目の信号読み出しは全画素についての1度目
の信号読み出しが終了してからでないと行えない。従っ
て、光入射による信号電荷の蓄積時間は、2次元の画素
全てについての読み出しが終了する時間よりも長くなっ
てしまう。すなわち、図7の時間t1でリセットされた
座標(1,1)に位置するフォトダイオード1は、次の
読み出しのために選択される時間t3まで信号電荷の蓄
積を行うことになる。これと同様に座標(1,2)に位
置するフォトダイオード1は時間t2でリセットされて
時間t4で読み出されることになる。また、1画素当た
りの信号読み出し最低時間は、読み出しアンプ6につな
がるビデオラインの容量やMOSFET2のオン抵抗、
読み出しアンプ6のスピードなどで決まる。従って、画
素全部についての信号読み出しに最低かかる時間は、こ
の1画素当たりの読み出し最低時間に全画素数を掛けた
ものとなる。このため、各画素における信号電荷の蓄積
時間は、少なくとも、全画素を読み出すのに必要とされ
る上記1周期分の時間となる。この結果、信号電荷蓄積
時間の最小値は全画素を読み出すのに必要とされる時間
によって規定され、信号電荷蓄積時間を全画素の読み出
しに必要とされる時間以下に設定することはできなかっ
た。
来の固体撮像装置においては、フォトダイオード1に生
成した電荷を放電させる信号読み出しと、放電したフォ
トダイオード1の電荷をもとの電荷量に充電するリセッ
トとは同時に行われている。このため、ある1画素につ
いての2度目の信号読み出しは全画素についての1度目
の信号読み出しが終了してからでないと行えない。従っ
て、光入射による信号電荷の蓄積時間は、2次元の画素
全てについての読み出しが終了する時間よりも長くなっ
てしまう。すなわち、図7の時間t1でリセットされた
座標(1,1)に位置するフォトダイオード1は、次の
読み出しのために選択される時間t3まで信号電荷の蓄
積を行うことになる。これと同様に座標(1,2)に位
置するフォトダイオード1は時間t2でリセットされて
時間t4で読み出されることになる。また、1画素当た
りの信号読み出し最低時間は、読み出しアンプ6につな
がるビデオラインの容量やMOSFET2のオン抵抗、
読み出しアンプ6のスピードなどで決まる。従って、画
素全部についての信号読み出しに最低かかる時間は、こ
の1画素当たりの読み出し最低時間に全画素数を掛けた
ものとなる。このため、各画素における信号電荷の蓄積
時間は、少なくとも、全画素を読み出すのに必要とされ
る上記1周期分の時間となる。この結果、信号電荷蓄積
時間の最小値は全画素を読み出すのに必要とされる時間
によって規定され、信号電荷蓄積時間を全画素の読み出
しに必要とされる時間以下に設定することはできなかっ
た。
【0007】また、フォトダイオード1に蓄積すること
の出来る電荷量Qは、フォトダイオード1自身の容量C
およびリセット電圧Vが決まれば定まる。ここで、強い
光がフォトダイオード1に入射した場合には、このフォ
トダイオード1に蓄積することの出来る電荷量Q以上に
電荷が生成される。このため、フォトダイオード1に蓄
積される電荷は飽和してフォトダイオード1から溢れ出
してしまう。従って、強い光が受光部全体に照射された
場合には、全てのフォトダイオード1が飽和して撮像す
ることが出来なくなってしまう。
の出来る電荷量Qは、フォトダイオード1自身の容量C
およびリセット電圧Vが決まれば定まる。ここで、強い
光がフォトダイオード1に入射した場合には、このフォ
トダイオード1に蓄積することの出来る電荷量Q以上に
電荷が生成される。このため、フォトダイオード1に蓄
積される電荷は飽和してフォトダイオード1から溢れ出
してしまう。従って、強い光が受光部全体に照射された
場合には、全てのフォトダイオード1が飽和して撮像す
ることが出来なくなってしまう。
【0008】本発明はこのような課題を解消するために
なされたもので、各画素の信号電荷蓄積時間を全画素の
読み出しに要する時間よりも短くすることが出来、ま
た、強い光信号が照射されても撮像を行うことが出来る
固体撮像装置を提供することを目的とする。
なされたもので、各画素の信号電荷蓄積時間を全画素の
読み出しに要する時間よりも短くすることが出来、ま
た、強い光信号が照射されても撮像を行うことが出来る
固体撮像装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、光入射量に応
じた電荷を生成する2次元に配列された複数個の受光素
子と、これら各受光素子に対する電荷の流れを断続する
各受光素子ごとに設けられた第1および第2の各切り換
え素子と、これら各第1の切り換え素子のうち行方向に
配列された第1の切り換え素子群を信号読み出しのため
に選択する読み出し行選択回路と、各第1の切り換え素
子のうち列方向に配列された第1の切り換え素子群を信
号読み出しのために選択する読み出し列選択回路と、こ
れら読み出し行選択回路および読み出し列選択回路によ
って選択された1個の第1の切り換え素子に対応した受
光素子に生成した電荷量を読み出す信号読み出し回路
と、各第2の切り換え素子のうち行方向に配列された第
2の切り換え素子群を信号リセットのために選択するリ
セット行選択回路と、各第2の切り換え素子のうち列方
向に配列された第2の切り換え素子群を信号リセットの
ために選択するリセット列選択回路と、これらリセット
行選択回路およびリセット列選択回路によって選択され
た1個の第2の切り換え素子に対応した受光素子の電荷
をリセットする信号リセット用電源とを備えて固体撮像
装置を構成したものである。
じた電荷を生成する2次元に配列された複数個の受光素
子と、これら各受光素子に対する電荷の流れを断続する
各受光素子ごとに設けられた第1および第2の各切り換
え素子と、これら各第1の切り換え素子のうち行方向に
配列された第1の切り換え素子群を信号読み出しのため
に選択する読み出し行選択回路と、各第1の切り換え素
子のうち列方向に配列された第1の切り換え素子群を信
号読み出しのために選択する読み出し列選択回路と、こ
れら読み出し行選択回路および読み出し列選択回路によ
って選択された1個の第1の切り換え素子に対応した受
光素子に生成した電荷量を読み出す信号読み出し回路
と、各第2の切り換え素子のうち行方向に配列された第
2の切り換え素子群を信号リセットのために選択するリ
セット行選択回路と、各第2の切り換え素子のうち列方
向に配列された第2の切り換え素子群を信号リセットの
ために選択するリセット列選択回路と、これらリセット
行選択回路およびリセット列選択回路によって選択され
た1個の第2の切り換え素子に対応した受光素子の電荷
をリセットする信号リセット用電源とを備えて固体撮像
装置を構成したものである。
【0010】
【作用】各受光素子についての信号読み出しは読み出し
行選択回路,読み出し列選択回路および信号読み出し回
路によってなされ、各受光素子についての信号リセット
はリセット行選択回路、リセット列選択回路および信号
リセット用電源によってなされる。従って、信号読み出
しと信号リセットとは別個独立の回路によって行われ
る。
行選択回路,読み出し列選択回路および信号読み出し回
路によってなされ、各受光素子についての信号リセット
はリセット行選択回路、リセット列選択回路および信号
リセット用電源によってなされる。従って、信号読み出
しと信号リセットとは別個独立の回路によって行われ
る。
【0011】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例によるMOS型
固体撮像装置の構成を示す図である。
固体撮像装置の構成を示す図である。
【0012】フォトダイオード11は光入射量に応じた
電荷を生成する受光素子であり、行方向(X方向)およ
び列方向(Y方向)の2次元に配列されている。これら
各フォトダイオード11のカソードにはソースが共通接
続されたリセット用MOSFET12および読み出し用
MOSFET13が接続されている。これら各MOSF
ET12,13は、各フォトダイオード11に対する電
荷の流れを断続する。
電荷を生成する受光素子であり、行方向(X方向)およ
び列方向(Y方向)の2次元に配列されている。これら
各フォトダイオード11のカソードにはソースが共通接
続されたリセット用MOSFET12および読み出し用
MOSFET13が接続されている。これら各MOSF
ET12,13は、各フォトダイオード11に対する電
荷の流れを断続する。
【0013】X方向に配列された各フォトダイオード1
1に対して設けられた各読み出し用MOSFET13の
ゲートは、読み出しゲート制御ラインL1によって共通
に接続されている。この読み出しゲート制御ラインL1
は、信号読み出し時に読み出し用垂直シフトレジスタ1
4によってその中の1本が選択される。また、Y方向に
配列された各フォトダイオード11に対して設けられた
各読み出し用MOSFET13のドレインは、読み出し
ラインL2によって共通に接続されている。これら各読
み出しラインL2には読み出しライン選択用MOSFE
T15が設けられており、これら読み出しライン選択用
MOSFET15は読み出し用水平シフトレジスタ16
によってそのゲートが制御される。つまり、この読み出
し用水平シフトレジスタ16により、ビデオラインVL
に接続する読み出しラインL2が選択される。
1に対して設けられた各読み出し用MOSFET13の
ゲートは、読み出しゲート制御ラインL1によって共通
に接続されている。この読み出しゲート制御ラインL1
は、信号読み出し時に読み出し用垂直シフトレジスタ1
4によってその中の1本が選択される。また、Y方向に
配列された各フォトダイオード11に対して設けられた
各読み出し用MOSFET13のドレインは、読み出し
ラインL2によって共通に接続されている。これら各読
み出しラインL2には読み出しライン選択用MOSFE
T15が設けられており、これら読み出しライン選択用
MOSFET15は読み出し用水平シフトレジスタ16
によってそのゲートが制御される。つまり、この読み出
し用水平シフトレジスタ16により、ビデオラインVL
に接続する読み出しラインL2が選択される。
【0014】読み出し用垂直シフトレジスタ14によっ
て選択された読み出しゲート制御ラインL1には、信号
読み出し用MOSFET13のゲート電圧が印加され
る。また、読み出し用水平シフトレジスタ16によって
選択された読み出しライン選択用MOSFET15のゲ
ートには電圧が印加され、この読み出しライン選択用M
OSFET15に接続された読み出しラインL2はビデ
オラインVLに接続される。従って、読み出し用垂直シ
フトレジスタ14によって選択された読み出しゲート制
御ラインL1および読み出し用水平シフトレジスタ16
によって選択された読み出しラインL2の交差位置に配
置された信号読み出し用MOSFET13はオンし、こ
の交差位置に配置されたフォトダイオード11に生成し
た電荷は読み出しラインL2を経てビデオラインVLに
導かれ、読み出しアンプ17によって増幅出力される。
て選択された読み出しゲート制御ラインL1には、信号
読み出し用MOSFET13のゲート電圧が印加され
る。また、読み出し用水平シフトレジスタ16によって
選択された読み出しライン選択用MOSFET15のゲ
ートには電圧が印加され、この読み出しライン選択用M
OSFET15に接続された読み出しラインL2はビデ
オラインVLに接続される。従って、読み出し用垂直シ
フトレジスタ14によって選択された読み出しゲート制
御ラインL1および読み出し用水平シフトレジスタ16
によって選択された読み出しラインL2の交差位置に配
置された信号読み出し用MOSFET13はオンし、こ
の交差位置に配置されたフォトダイオード11に生成し
た電荷は読み出しラインL2を経てビデオラインVLに
導かれ、読み出しアンプ17によって増幅出力される。
【0015】また、X方向に配列された各フォトダイオ
ード11に対して設けられた各リセット用MOSFET
12のゲートは、リセットゲート制御ラインL3に共通
に接続されている。このリセットゲート制御ラインL3
は、リセット時にリセット用垂直シフトレジスタ18に
よってその中の1本が選択される。また、Y方向に配列
された各フォトダイオード11に対して設けられた各リ
セット用MOSFET12のドレインは、リセットライ
ンL4によって共通に接続されている。これら各リセッ
トラインL4にはリセットライン選択用MOSFET1
9が設けられており、これらリセットライン選択用MO
SFET19はリセット用水平シフトレジスタ20によ
ってそのゲートが制御される。つまり、このリセット用
水平シフトレジスタ20により、リセット信号線RSL
に接続するリセットラインL4が選択される。
ード11に対して設けられた各リセット用MOSFET
12のゲートは、リセットゲート制御ラインL3に共通
に接続されている。このリセットゲート制御ラインL3
は、リセット時にリセット用垂直シフトレジスタ18に
よってその中の1本が選択される。また、Y方向に配列
された各フォトダイオード11に対して設けられた各リ
セット用MOSFET12のドレインは、リセットライ
ンL4によって共通に接続されている。これら各リセッ
トラインL4にはリセットライン選択用MOSFET1
9が設けられており、これらリセットライン選択用MO
SFET19はリセット用水平シフトレジスタ20によ
ってそのゲートが制御される。つまり、このリセット用
水平シフトレジスタ20により、リセット信号線RSL
に接続するリセットラインL4が選択される。
【0016】リセット用垂直シフトレジスタ18によっ
て選択されたリセットゲート制御ラインL3にはリセッ
ト用MOSFET12のゲート電圧が印加される。ま
た、リセット用水平シフトレジスタ20によって選択さ
れたリセットライン選択用MOSFET19のゲートに
は電圧が印加され、このリセットライン選択用MOSF
ET19に接続されたリセットラインL4はリセット信
号線RSLに接続される。このため、リセット用垂直シ
フトレジスタ18によって選択されたリセットゲート制
御ラインL3およびリセット用水平シフトレジスタ20
によって選択されたリセットラインL4の交差位置に配
置されたリセット用MOSFET12はオンする。従っ
て、この交差位置に配置されたフォトダイオード11が
信号読み出し時に放電した電荷量に相当する電荷が、リ
セット信号線RSLからリセットラインL4を介してこ
のフォトダイオード11に充電され、フォトダイオード
11はリセット用電源21によってリセットされる。
て選択されたリセットゲート制御ラインL3にはリセッ
ト用MOSFET12のゲート電圧が印加される。ま
た、リセット用水平シフトレジスタ20によって選択さ
れたリセットライン選択用MOSFET19のゲートに
は電圧が印加され、このリセットライン選択用MOSF
ET19に接続されたリセットラインL4はリセット信
号線RSLに接続される。このため、リセット用垂直シ
フトレジスタ18によって選択されたリセットゲート制
御ラインL3およびリセット用水平シフトレジスタ20
によって選択されたリセットラインL4の交差位置に配
置されたリセット用MOSFET12はオンする。従っ
て、この交差位置に配置されたフォトダイオード11が
信号読み出し時に放電した電荷量に相当する電荷が、リ
セット信号線RSLからリセットラインL4を介してこ
のフォトダイオード11に充電され、フォトダイオード
11はリセット用電源21によってリセットされる。
【0017】このような構成における各部信号のタイミ
ングチャートは図2に示される。同図(a)〜(c)は
リセット用垂直シフトレジスタ18から各リセットゲー
ト制御ラインL3へ出力される電圧パルス信号ΦVRES1
〜ΦVRES3 、同図(d),(e)は読み出し用垂直シフ
トレジスタ14から各読み出しゲート制御ラインL1へ
出力される電圧パルス信号ΦVRO1,ΦVRO2、同図(f)
〜(h)はリセット用水平シフトレジスタ20から各リ
セットラインL4に接続された各リセットライン選択用
MOSFET19へ出力される電圧パルス信号ΦHRES1
〜ΦHRES3 、同図(i)〜(k)は読み出し用水平シフ
トレジスタ16から各読み出しラインL2に接続された
各読み出しライン選択用MOSFET15へ出力される
電圧パルス信号ΦHRO1〜ΦHRO3を示している。なお、こ
れら各分図の時間軸は同一の時間目盛によって表わされ
ているものとする。
ングチャートは図2に示される。同図(a)〜(c)は
リセット用垂直シフトレジスタ18から各リセットゲー
ト制御ラインL3へ出力される電圧パルス信号ΦVRES1
〜ΦVRES3 、同図(d),(e)は読み出し用垂直シフ
トレジスタ14から各読み出しゲート制御ラインL1へ
出力される電圧パルス信号ΦVRO1,ΦVRO2、同図(f)
〜(h)はリセット用水平シフトレジスタ20から各リ
セットラインL4に接続された各リセットライン選択用
MOSFET19へ出力される電圧パルス信号ΦHRES1
〜ΦHRES3 、同図(i)〜(k)は読み出し用水平シフ
トレジスタ16から各読み出しラインL2に接続された
各読み出しライン選択用MOSFET15へ出力される
電圧パルス信号ΦHRO1〜ΦHRO3を示している。なお、こ
れら各分図の時間軸は同一の時間目盛によって表わされ
ているものとする。
【0018】時間t1では、同図(a)に示されるよう
に、図1において最上段に位置する1行目のリセットゲ
ート制御ラインL3へハイレベルの電圧パルス信号ΦVR
ES1が出力されており、また、図2(f)に示されるよ
うに、図1において最も左に位置する1列目のリセット
ラインL4に接続されたリセットライン選択用MOSF
ETF19へハイレベルの電圧パルス信号ΦHRES1が出
力されている。このため、時間t1では座標(1,1)
に位置するフォトダイオード11に対して設けられたリ
セット用MOSFET12がオンし、このフォトダイオ
ード11からリセットラインL4およびリセット信号線
RSLを介してリセット用電源21への経路が形成さ
れ、フォトダイオード11はリセット用電源21によっ
てリセットされる。また、この時間t1では、同図
(i)に示されるように、1列目の読み出しラインL2
に接続された読み出しライン選択用MOSFET15へ
ハイレベルの電圧パルス信号ΦHRO1が出力されている。
しかし、読み出し用垂直シフトレジスタ14からはパル
スが出力されていないため、フォトダイオード11から
読み出しアンプ17への経路は形成されない。従って、
フォトダイオード11からの信号電荷の読み出しは行わ
れない。
に、図1において最上段に位置する1行目のリセットゲ
ート制御ラインL3へハイレベルの電圧パルス信号ΦVR
ES1が出力されており、また、図2(f)に示されるよ
うに、図1において最も左に位置する1列目のリセット
ラインL4に接続されたリセットライン選択用MOSF
ETF19へハイレベルの電圧パルス信号ΦHRES1が出
力されている。このため、時間t1では座標(1,1)
に位置するフォトダイオード11に対して設けられたリ
セット用MOSFET12がオンし、このフォトダイオ
ード11からリセットラインL4およびリセット信号線
RSLを介してリセット用電源21への経路が形成さ
れ、フォトダイオード11はリセット用電源21によっ
てリセットされる。また、この時間t1では、同図
(i)に示されるように、1列目の読み出しラインL2
に接続された読み出しライン選択用MOSFET15へ
ハイレベルの電圧パルス信号ΦHRO1が出力されている。
しかし、読み出し用垂直シフトレジスタ14からはパル
スが出力されていないため、フォトダイオード11から
読み出しアンプ17への経路は形成されない。従って、
フォトダイオード11からの信号電荷の読み出しは行わ
れない。
【0019】時間t2では、時間t1と同様に、リセッ
トゲート制御ラインL3へ出力される電圧パルス信号Φ
VRES1 はハイレベルのままで変わらないが、同図(g)
に示されるように、2列目のリセットラインL4に接続
されたリセットライン選択用MOSFET19へハイレ
ベルの電圧パルス信号ΦHRES2 が出力される。このた
め、時間t2では座標(1,2)に位置するフォトダイ
オード11に対して設けられたリセット用MOSFET
12がオンし、この座標(1,2)に位置するフォトダ
イオード11がリセット用電源21によってリセットさ
れる。また、この時間t2では、同図(j)に示される
ように、2列目の読み出しラインL2に接続された読み
出しライン選択用MOSFET15へハイレベルの電圧
パルス信号ΦHRO2が出力される。しかし、時間t2で
は、時間t1と同様に、読み出し用垂直シフトレジスタ
14からはパルスが出力されていないため、信号電荷の
読み出しは行われない。
トゲート制御ラインL3へ出力される電圧パルス信号Φ
VRES1 はハイレベルのままで変わらないが、同図(g)
に示されるように、2列目のリセットラインL4に接続
されたリセットライン選択用MOSFET19へハイレ
ベルの電圧パルス信号ΦHRES2 が出力される。このた
め、時間t2では座標(1,2)に位置するフォトダイ
オード11に対して設けられたリセット用MOSFET
12がオンし、この座標(1,2)に位置するフォトダ
イオード11がリセット用電源21によってリセットさ
れる。また、この時間t2では、同図(j)に示される
ように、2列目の読み出しラインL2に接続された読み
出しライン選択用MOSFET15へハイレベルの電圧
パルス信号ΦHRO2が出力される。しかし、時間t2で
は、時間t1と同様に、読み出し用垂直シフトレジスタ
14からはパルスが出力されていないため、信号電荷の
読み出しは行われない。
【0020】時間t3ではこれと同様に1行n列目の座
標(1,n)に位置するフォトダイオード11が同図
(h)に示される電圧パルス信号ΦHRESn によってリセ
ットされ、読み出し処理は行われない。終には、1行目
に位置する各フォトダイオード11がリセットされるこ
とになる。なお、時間t4はブランク期間である。
標(1,n)に位置するフォトダイオード11が同図
(h)に示される電圧パルス信号ΦHRESn によってリセ
ットされ、読み出し処理は行われない。終には、1行目
に位置する各フォトダイオード11がリセットされるこ
とになる。なお、時間t4はブランク期間である。
【0021】次に、時間t5では、リセット用垂直シフ
トレジスタ18から出力されていた電圧パルス信号ΦVR
ES1 は立ち下がり、同図(b)に示される電圧パルス信
号ΦVRES2 が立ち上がる。また、この時、リセット用水
平シフトレジスタ20からは同図(f)に示される電圧
パルス信号ΦHRES1 が出力される。このため、電圧パル
ス信号ΦVRES2 により2行目のリセットゲート制御ライ
ンL3の電位が立上がり、電圧パルス信号ΦHRES1 によ
り1列目のリセットラインL4がリセット信号線RSL
に接続される。従って、2行1列目の座標(2,1)に
位置するフォトダイオード11に対して設けられたリセ
ット用MOSFET12がオンし、このフォトダイオー
ド11がリセット用電源21によってリセットされる。
また、この時間t5では、読み出し用垂直シフトレジス
タ14から1行目の読み出しゲート制御ラインL1へ同
図(d)に示されるハイレベルの電圧パルス信号ΦVRO1
が出力されている。また、読み出し用水平シフトレジス
タ16から同図(i)に示される電圧パルス信号ΦHRO1
が出力され、1列目の読み出しラインL2がビデオライ
ンVLに接続される。このため、座標(1,1)に位置
するフォトダイオード11に対して設けられた読み出し
用MOSFET13がオンする。従って、このフォトダ
イオード11は1列目の読み出しラインL2およびビデ
オラインVLを介して読み出しアンプ17につながり、
座標(1,1)に位置するフォトダイオード11に蓄積
された電荷が読み出される。
トレジスタ18から出力されていた電圧パルス信号ΦVR
ES1 は立ち下がり、同図(b)に示される電圧パルス信
号ΦVRES2 が立ち上がる。また、この時、リセット用水
平シフトレジスタ20からは同図(f)に示される電圧
パルス信号ΦHRES1 が出力される。このため、電圧パル
ス信号ΦVRES2 により2行目のリセットゲート制御ライ
ンL3の電位が立上がり、電圧パルス信号ΦHRES1 によ
り1列目のリセットラインL4がリセット信号線RSL
に接続される。従って、2行1列目の座標(2,1)に
位置するフォトダイオード11に対して設けられたリセ
ット用MOSFET12がオンし、このフォトダイオー
ド11がリセット用電源21によってリセットされる。
また、この時間t5では、読み出し用垂直シフトレジス
タ14から1行目の読み出しゲート制御ラインL1へ同
図(d)に示されるハイレベルの電圧パルス信号ΦVRO1
が出力されている。また、読み出し用水平シフトレジス
タ16から同図(i)に示される電圧パルス信号ΦHRO1
が出力され、1列目の読み出しラインL2がビデオライ
ンVLに接続される。このため、座標(1,1)に位置
するフォトダイオード11に対して設けられた読み出し
用MOSFET13がオンする。従って、このフォトダ
イオード11は1列目の読み出しラインL2およびビデ
オラインVLを介して読み出しアンプ17につながり、
座標(1,1)に位置するフォトダイオード11に蓄積
された電荷が読み出される。
【0022】この結果、座標(1,1)に位置するフォ
トダイオード11は時間t1でリセットされ、時間t5
で信号読み出しされることになり、光電流積分時間は
(t5−t1)になる。従って、この光電流積分時間
は、1行目水平方向に位置する各フォトダイオード11
を走査する水平1スキャン時間に相当する時間になる。
トダイオード11は時間t1でリセットされ、時間t5
で信号読み出しされることになり、光電流積分時間は
(t5−t1)になる。従って、この光電流積分時間
は、1行目水平方向に位置する各フォトダイオード11
を走査する水平1スキャン時間に相当する時間になる。
【0023】時間t6では、時間t5と同様に、リセッ
ト用水平シフトレジスタ20から2列目のリセットライ
ンL4に接続されたリセットライン選択用MOSFET
19へ同図(g)に示されるハイレベルの電圧パルス信
号ΦHRES2が出力される。この時間t6においても2行
目のリセットゲート制御ラインL3の電位は立ち上がっ
た状態にあるため、座標(2,2)に位置するフォトダ
イオード11がリセット信号線RSLを介してリセット
される。また、この時間t6では、読み出し用水平シフ
トレジスタ16から同図(j)に示される電圧パルス信
号ΦHRO2が出力され、2列目の読み出しラインL2がビ
デオラインVLに接続される。1行目の読み出しゲート
制御ラインL1の電位は立ち上がっているため、この時
間t6においては、時間t5と同様に、座標(1,2)
に位置するフォトダイオード11に蓄積された電荷が読
み出される。
ト用水平シフトレジスタ20から2列目のリセットライ
ンL4に接続されたリセットライン選択用MOSFET
19へ同図(g)に示されるハイレベルの電圧パルス信
号ΦHRES2が出力される。この時間t6においても2行
目のリセットゲート制御ラインL3の電位は立ち上がっ
た状態にあるため、座標(2,2)に位置するフォトダ
イオード11がリセット信号線RSLを介してリセット
される。また、この時間t6では、読み出し用水平シフ
トレジスタ16から同図(j)に示される電圧パルス信
号ΦHRO2が出力され、2列目の読み出しラインL2がビ
デオラインVLに接続される。1行目の読み出しゲート
制御ラインL1の電位は立ち上がっているため、この時
間t6においては、時間t5と同様に、座標(1,2)
に位置するフォトダイオード11に蓄積された電荷が読
み出される。
【0024】時間t7でもこれと同様に座標(2,n)
に位置するフォトダイオード11がリセット用電源21
によってリセットされ、座標(1,n)に位置するフォ
トダイオード11が読み出しアンプ17によって読み出
される。終には、2行目のフォトダイオード11のリセ
ットと、1行目のフォトダイオード11の信号読み出し
とが終了する。
に位置するフォトダイオード11がリセット用電源21
によってリセットされ、座標(1,n)に位置するフォ
トダイオード11が読み出しアンプ17によって読み出
される。終には、2行目のフォトダイオード11のリセ
ットと、1行目のフォトダイオード11の信号読み出し
とが終了する。
【0025】以下、時間t9以降においても、これと同
様に、3行目各画素のリセット処理と2行目各画素の読
み出し処理とが行われ、終には、全画素についてのリセ
ット処理、信号読み出し処理が行われることになる。
様に、3行目各画素のリセット処理と2行目各画素の読
み出し処理とが行われ、終には、全画素についてのリセ
ット処理、信号読み出し処理が行われることになる。
【0026】このような第1の実施例によれば、1画素
当たりについてのリセットから読み出しまでに要する時
間、つまり、光電流積分時間は、リセット用垂直シフト
レジスタ18の1行当たりの1スキャン時間になる。こ
のため、本実施例による固体撮像装置における光電流積
分時間は、全画素の信号読み出し時間より長くなる従来
の固体撮像装置に比較し、格段に短くなる。
当たりについてのリセットから読み出しまでに要する時
間、つまり、光電流積分時間は、リセット用垂直シフト
レジスタ18の1行当たりの1スキャン時間になる。こ
のため、本実施例による固体撮像装置における光電流積
分時間は、全画素の信号読み出し時間より長くなる従来
の固体撮像装置に比較し、格段に短くなる。
【0027】なお、上記実施例の説明においては光電流
積分時間をリセット用垂直シフトレジスタ18の水平1
スキャン時間として説明したが、これに限定されるもの
ではない。例えば、図3のタイミングチャートを用いて
これを次のように説明することが出来る。なお、同図は
図2と同一または相当する部分については図2と同一の
符号を用いて描かれており、その説明は省略する。これ
ら各図の相違点は、図3のタイミングにおいては、読み
出し用垂直シフトレジスタ14の各出力パルスΦVRO が
リセット用垂直シフトレジスタ18の各出力パルスΦVR
ESから水平2スキャン時間分だけ遅れている点である。
すなわち、1行目の各画素についてリセットが行われて
からこの1行目の各画素について読み出しが行われるま
での時間は、垂直シフトレジスタ18の水平1スキャン
時間ではなく、この2倍の水平2スキャン時間になって
いる。例えば、座標(1,1)に位置するフォトダイオ
ード11に着目すると、このフォトダイオード11は時
間t1でリセットされ、時間t9で信号読み出しされて
いる。従って、リセット・読み出し間の時間間隔、つま
り、光電流積分時間は上記のように水平2スキャン時間
に相当する時間になり、光電流積分時間は上記実施例の
場合に比較して2倍に設定されたことになる。
積分時間をリセット用垂直シフトレジスタ18の水平1
スキャン時間として説明したが、これに限定されるもの
ではない。例えば、図3のタイミングチャートを用いて
これを次のように説明することが出来る。なお、同図は
図2と同一または相当する部分については図2と同一の
符号を用いて描かれており、その説明は省略する。これ
ら各図の相違点は、図3のタイミングにおいては、読み
出し用垂直シフトレジスタ14の各出力パルスΦVRO が
リセット用垂直シフトレジスタ18の各出力パルスΦVR
ESから水平2スキャン時間分だけ遅れている点である。
すなわち、1行目の各画素についてリセットが行われて
からこの1行目の各画素について読み出しが行われるま
での時間は、垂直シフトレジスタ18の水平1スキャン
時間ではなく、この2倍の水平2スキャン時間になって
いる。例えば、座標(1,1)に位置するフォトダイオ
ード11に着目すると、このフォトダイオード11は時
間t1でリセットされ、時間t9で信号読み出しされて
いる。従って、リセット・読み出し間の時間間隔、つま
り、光電流積分時間は上記のように水平2スキャン時間
に相当する時間になり、光電流積分時間は上記実施例の
場合に比較して2倍に設定されたことになる。
【0028】さらに、積分時間を長く設定したい場合に
は、1行目の各画素についてのリセットを行ってから1
行目の信号読み出しを行うまでの時間をさらに長くすれ
ばよい。例えば、リセット用垂直シフトレジスタ18の
水平1スキャン時間をTV とすれば、フォトダイオード
11の光電流積分時間を5TV に設定したい場合には、
1行目の各画素についてのリセットを行ってから1行目
の各画素についての読み出しにかかるまでに水平5スキ
ャンの時間間隔を置けばよいことになる。このように上
記の第1実施例によれば、光電流積分時間は、時間TV
の整数倍という制約があるものの、リセット処理から読
み出し処理までの時間を変えるだけで任意に設定するこ
とが可能になる。
は、1行目の各画素についてのリセットを行ってから1
行目の信号読み出しを行うまでの時間をさらに長くすれ
ばよい。例えば、リセット用垂直シフトレジスタ18の
水平1スキャン時間をTV とすれば、フォトダイオード
11の光電流積分時間を5TV に設定したい場合には、
1行目の各画素についてのリセットを行ってから1行目
の各画素についての読み出しにかかるまでに水平5スキ
ャンの時間間隔を置けばよいことになる。このように上
記の第1実施例によれば、光電流積分時間は、時間TV
の整数倍という制約があるものの、リセット処理から読
み出し処理までの時間を変えるだけで任意に設定するこ
とが可能になる。
【0029】次に、本発明の第2の実施例によるMOS
型固体撮像装置について説明する。この第2の実施例に
よる固体撮像装置の構成は図1に示される構成と同様で
あるが、リセット用垂直,水平シフトレジスタ18,2
0、並びに読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,
16から出力される各パルス信号のタイミングが図4に
示されるように異なっている。なお、同図において図2
と同一または相当する部分については同符号を用いてそ
の説明は省略する。すなわち、第1の実施例における固
体撮像装置においては、図2(a)〜(e)に示される
ように、リセット用垂直シフトレジスタ18から出力さ
れるパルス信号ΦVRES、読み出し用垂直シフトレジスタ
14から出力されるパルス信号ΦVRO の各立上がり,立
ち下がりタイミングは同じであった。しかし、図4
(a)〜(e)のタイミングチャートに示される本実施
例においては、これら各パルス信号ΦVRES,ΦVRO の立
上がり,立ち下がりタイミングは異なっている。また、
第1の実施例における固体撮像装置においては、図2
(f)〜(h)に示されるようにリセット用水平シフト
レジスタ20から出力されるパルス信号ΦHRESと、読み
出し用水平シフトレジスタ16から出力されるパルス信
号ΦHRO との各生成タイミングは同じであった。しか
し、図4(f)〜(j)のタイミングチャートに示され
る本実施例においては、各パルス信号ΦHRES,ΦHRO の
生成タイミングは異なっている。このようなパルス生成
タイミングで行われる本実施例における各画素の走査は
以下のように行われる。
型固体撮像装置について説明する。この第2の実施例に
よる固体撮像装置の構成は図1に示される構成と同様で
あるが、リセット用垂直,水平シフトレジスタ18,2
0、並びに読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,
16から出力される各パルス信号のタイミングが図4に
示されるように異なっている。なお、同図において図2
と同一または相当する部分については同符号を用いてそ
の説明は省略する。すなわち、第1の実施例における固
体撮像装置においては、図2(a)〜(e)に示される
ように、リセット用垂直シフトレジスタ18から出力さ
れるパルス信号ΦVRES、読み出し用垂直シフトレジスタ
14から出力されるパルス信号ΦVRO の各立上がり,立
ち下がりタイミングは同じであった。しかし、図4
(a)〜(e)のタイミングチャートに示される本実施
例においては、これら各パルス信号ΦVRES,ΦVRO の立
上がり,立ち下がりタイミングは異なっている。また、
第1の実施例における固体撮像装置においては、図2
(f)〜(h)に示されるようにリセット用水平シフト
レジスタ20から出力されるパルス信号ΦHRESと、読み
出し用水平シフトレジスタ16から出力されるパルス信
号ΦHRO との各生成タイミングは同じであった。しか
し、図4(f)〜(j)のタイミングチャートに示され
る本実施例においては、各パルス信号ΦHRES,ΦHRO の
生成タイミングは異なっている。このようなパルス生成
タイミングで行われる本実施例における各画素の走査は
以下のように行われる。
【0030】まず、時間t1で、同図(a)に示される
パルス信号ΦVRES1 および同図(f)に示されるパルス
信号ΦHRES1 により、座標(1,1)にあるフォトダイ
オード11のリセットが行われる。次に、時間t2で
は、同図(a)に示されるパルス信号ΦVRES1 の電位が
立ち上がったままの状態で、同図(g)に示されるパル
ス信号ΦHRES2 が出力されることにより、座標(1,
2)にあるフォトダイオード11のリセットが行われ
る。時間t3では、同図(h)に示されるパルス信号Φ
HRES3 が出力されることにより、座標(1,3)にある
フォトダイオード11のリセットが行われる。時間t4
では、同図(i)に示されるパルス信号ΦHRES4 が出力
されることにより、座標(1,4)にあるフォトダイオ
ード11のリセットが行われる。また、時間t3,t4
では、同図(k),(l)に示されるように読み出し用
水平シフトレジスタ16からパルス信号ΦHRO1,ΦHRO2
が出力されるが、読み出し用垂直シフトレジスタ14か
らパルスが出力されないため、信号読み出し処理は実行
されない。時間t5でリセット用水平シフトレジスタ2
0からパルス信号ΦHRESn が出力され、座標(1,n)
に位置するフォトダイオード11がリセットされる。こ
の結果、1行目の各画素についてのリセット動作が終了
する。
パルス信号ΦVRES1 および同図(f)に示されるパルス
信号ΦHRES1 により、座標(1,1)にあるフォトダイ
オード11のリセットが行われる。次に、時間t2で
は、同図(a)に示されるパルス信号ΦVRES1 の電位が
立ち上がったままの状態で、同図(g)に示されるパル
ス信号ΦHRES2 が出力されることにより、座標(1,
2)にあるフォトダイオード11のリセットが行われ
る。時間t3では、同図(h)に示されるパルス信号Φ
HRES3 が出力されることにより、座標(1,3)にある
フォトダイオード11のリセットが行われる。時間t4
では、同図(i)に示されるパルス信号ΦHRES4 が出力
されることにより、座標(1,4)にあるフォトダイオ
ード11のリセットが行われる。また、時間t3,t4
では、同図(k),(l)に示されるように読み出し用
水平シフトレジスタ16からパルス信号ΦHRO1,ΦHRO2
が出力されるが、読み出し用垂直シフトレジスタ14か
らパルスが出力されないため、信号読み出し処理は実行
されない。時間t5でリセット用水平シフトレジスタ2
0からパルス信号ΦHRESn が出力され、座標(1,n)
に位置するフォトダイオード11がリセットされる。こ
の結果、1行目の各画素についてのリセット動作が終了
する。
【0031】時間t6ではリセット回路からみればブラ
ンク期間であるが、読み出し回路からみればn列目のビ
デオラインVLを選択することになる。
ンク期間であるが、読み出し回路からみればn列目のビ
デオラインVLを選択することになる。
【0032】次に、時間t7で、同図(b)に示される
パルス信号ΦVRES2 が立上がり、2行目のリセットゲー
ト制御ラインL3の電位が上り、同図(f)に示される
パルス信号ΦHRES1 が出力されることによって、1列目
のリセットラインL4がリセット信号線RSLに接続さ
れる。従って、座標(2,1)にあるフォトダイオード
11がリセットされ、2行目の各画素についてのリセッ
トが開始される。なお、この時間t7では読み出し回路
からみればブランク期間である。次に、時間t8では、
同図(b)に示されるパルス信号ΦVRES2 の電位が立ち
上がったままの状態で、同図(d)に示されるパルス信
号ΦVRO1が立ち上がる。同図(g)に示されるパルス信
号ΦHRES2 が出力されることにより、座標(2,2)に
あるフォトダイオード11のリセットが行われる。次
に、時間t9になると、読み出し用水平シフトレジスタ
16から同図(k)に示されるパルス信号ΦHRO1が出力
される。読み出し用垂直シフトレジスタ14から出力さ
れるパルス信号ΦVRO1は立ち上がっているため、座標
(1,1)にあるフォトダイオード11についての信号
読み出しが行われる。また、座標(2,3)に位置する
フォトダイオード11はリセットされる。時間t10で
はこれと同様に座標(1,2)にあるフォトダイオード
11の信号読み出しと、座標(2,4)に位置するフォ
トダイオード11のリセットが行われる。以下、同様に
各行単位の画素について、リセット処理と読み出し処理
とが順次時系列で行われる。
パルス信号ΦVRES2 が立上がり、2行目のリセットゲー
ト制御ラインL3の電位が上り、同図(f)に示される
パルス信号ΦHRES1 が出力されることによって、1列目
のリセットラインL4がリセット信号線RSLに接続さ
れる。従って、座標(2,1)にあるフォトダイオード
11がリセットされ、2行目の各画素についてのリセッ
トが開始される。なお、この時間t7では読み出し回路
からみればブランク期間である。次に、時間t8では、
同図(b)に示されるパルス信号ΦVRES2 の電位が立ち
上がったままの状態で、同図(d)に示されるパルス信
号ΦVRO1が立ち上がる。同図(g)に示されるパルス信
号ΦHRES2 が出力されることにより、座標(2,2)に
あるフォトダイオード11のリセットが行われる。次
に、時間t9になると、読み出し用水平シフトレジスタ
16から同図(k)に示されるパルス信号ΦHRO1が出力
される。読み出し用垂直シフトレジスタ14から出力さ
れるパルス信号ΦVRO1は立ち上がっているため、座標
(1,1)にあるフォトダイオード11についての信号
読み出しが行われる。また、座標(2,3)に位置する
フォトダイオード11はリセットされる。時間t10で
はこれと同様に座標(1,2)にあるフォトダイオード
11の信号読み出しと、座標(2,4)に位置するフォ
トダイオード11のリセットが行われる。以下、同様に
各行単位の画素について、リセット処理と読み出し処理
とが順次時系列で行われる。
【0033】すなわち、この第2の実施例によれば、座
標(1,1)にあるフォトダイオード11の光信号蓄積
時間は、時間t1〜t9までの時間に相当する。この時
間は、リセット用垂直シフトレジスタ18に対する読み
出し用垂直シフトレジスタ14の各立上がり時間の遅延
時間に相当している。つまり、この第2の実施例におい
ては、リセット用垂直シフトレジスタ18と読み出し用
垂直シフトレジスタ14とから出力される各パルス信号
ΦVRESおよびΦVRO が同時に立ち上がらないという条件
の下で、光電流積分時間をリセット用垂直シフトレジス
タ18の水平1スキャン時間以上の任意の時間に設定す
ることが可能である。従って、この第2の実施例による
固体撮像装置によれば、光電流積分時間は上記の第1実
施例のようにリセット用垂直シフトレジスタ18の1ス
キャン時間の整数倍に制約されなくなり、任意の時間に
設定することが可能になる。
標(1,1)にあるフォトダイオード11の光信号蓄積
時間は、時間t1〜t9までの時間に相当する。この時
間は、リセット用垂直シフトレジスタ18に対する読み
出し用垂直シフトレジスタ14の各立上がり時間の遅延
時間に相当している。つまり、この第2の実施例におい
ては、リセット用垂直シフトレジスタ18と読み出し用
垂直シフトレジスタ14とから出力される各パルス信号
ΦVRESおよびΦVRO が同時に立ち上がらないという条件
の下で、光電流積分時間をリセット用垂直シフトレジス
タ18の水平1スキャン時間以上の任意の時間に設定す
ることが可能である。従って、この第2の実施例による
固体撮像装置によれば、光電流積分時間は上記の第1実
施例のようにリセット用垂直シフトレジスタ18の1ス
キャン時間の整数倍に制約されなくなり、任意の時間に
設定することが可能になる。
【0034】次に、本発明の第3の実施例によるMOS
型固体撮像装置について説明する。この第3の実施例に
よる固体撮像装置の構成は図1に示される構成と同様で
あるが、リセット用垂直,水平シフトレジスタ18,2
0、並びに読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,
16から出力される各パルス信号のタイミングが図5に
示されるように異なっている。同図(a)〜(c)はリ
セット用垂直シフトレジスタ18から出力される電圧パ
ルス信号ΦVRES1 〜ΦVRES3 、同図(d)〜(f)は読
み出し用垂直シフトレジスタ14から出力される電圧パ
ルス信号ΦVRO1〜ΦVRO3、同図(g)は座標(1,1)
に位置するフォトダイオード11の端子間電圧を表して
おり、これら各分図の時間軸は同一の時間目盛によって
表わされているものとする。また、リセット用水平シフ
トレジスタ20から出力される各電圧パルス信号ΦHRES
は同図(a)〜(c)の各電圧パルス信号ΦVRES1 〜Φ
VRES3 のハイレベル期間に生成され、また、読み出し用
水平シフトレジスタ16から出力される電圧パルス信号
ΦHRO は同図(d)〜(f)の各電圧パルス信号ΦVRO1
〜ΦVRO3のハイレベル期間に生成されのであるが、同図
においては省略している。
型固体撮像装置について説明する。この第3の実施例に
よる固体撮像装置の構成は図1に示される構成と同様で
あるが、リセット用垂直,水平シフトレジスタ18,2
0、並びに読み出し用垂直,水平シフトレジスタ14,
16から出力される各パルス信号のタイミングが図5に
示されるように異なっている。同図(a)〜(c)はリ
セット用垂直シフトレジスタ18から出力される電圧パ
ルス信号ΦVRES1 〜ΦVRES3 、同図(d)〜(f)は読
み出し用垂直シフトレジスタ14から出力される電圧パ
ルス信号ΦVRO1〜ΦVRO3、同図(g)は座標(1,1)
に位置するフォトダイオード11の端子間電圧を表して
おり、これら各分図の時間軸は同一の時間目盛によって
表わされているものとする。また、リセット用水平シフ
トレジスタ20から出力される各電圧パルス信号ΦHRES
は同図(a)〜(c)の各電圧パルス信号ΦVRES1 〜Φ
VRES3 のハイレベル期間に生成され、また、読み出し用
水平シフトレジスタ16から出力される電圧パルス信号
ΦHRO は同図(d)〜(f)の各電圧パルス信号ΦVRO1
〜ΦVRO3のハイレベル期間に生成されのであるが、同図
においては省略している。
【0035】この第3の実施例による固体撮像装置が前
述の第1の実施例と異なる点は、1枚の2次元画像を読
み出す間に各画素のリセットを1回ではなく、数回繰り
返す点である。以下このリセット方式をマルチリセット
方式と呼ぶ。この第3の実施例によれば次の効果が得ら
れる。つまり、1画面を読み出す時間以下の光信号積分
時間が求められるほど強い光が装置に入射している場
合、全画素について1回走査するごとに各画素について
1回のリセットしか行われないと、いわゆるブルーミン
グと呼ばれる現象が生じる。このブルーミングは、ある
画素について信号読み出しが行われて次にリセットされ
るまでの時間が長くなると、その間にフォトダイオード
に入射した光によって生成される電荷がフォトダイオー
ドから溢れだし、他のフォトダイオードに流れ出す現象
である。また、溢れ出した電荷がビデオラインVLに流
れ出して生じるスミアといった現象も生じてしまう。し
かし、この第3の実施例によれば、以下に説明するよう
に1画面を読み出す間に各画素について数回リセットが
行われるため、フォトダイオードが飽和する前にリセッ
トが行われる。従って、強い光が照射されても、フォト
ダイオードから電荷が溢れ出すことはなくなり、ブルー
ミングやスミアといった現象が生じなくなる。
述の第1の実施例と異なる点は、1枚の2次元画像を読
み出す間に各画素のリセットを1回ではなく、数回繰り
返す点である。以下このリセット方式をマルチリセット
方式と呼ぶ。この第3の実施例によれば次の効果が得ら
れる。つまり、1画面を読み出す時間以下の光信号積分
時間が求められるほど強い光が装置に入射している場
合、全画素について1回走査するごとに各画素について
1回のリセットしか行われないと、いわゆるブルーミン
グと呼ばれる現象が生じる。このブルーミングは、ある
画素について信号読み出しが行われて次にリセットされ
るまでの時間が長くなると、その間にフォトダイオード
に入射した光によって生成される電荷がフォトダイオー
ドから溢れだし、他のフォトダイオードに流れ出す現象
である。また、溢れ出した電荷がビデオラインVLに流
れ出して生じるスミアといった現象も生じてしまう。し
かし、この第3の実施例によれば、以下に説明するよう
に1画面を読み出す間に各画素について数回リセットが
行われるため、フォトダイオードが飽和する前にリセッ
トが行われる。従って、強い光が照射されても、フォト
ダイオードから電荷が溢れ出すことはなくなり、ブルー
ミングやスミアといった現象が生じなくなる。
【0036】すなわち、座標(1,1)に位置するフォ
トダイオード11に着目すると、図5(g)に示される
ように、時間t1において、同図(a)に示されるパル
スΦVRES1 およびこのハイレベル期間に生じる図示しな
いパルスΦHRES1 によってこのフォトダイオード11は
リセットされる。この後、このフォトダイオード11に
は入射される光信号によって電荷の蓄積が開始される。
次に、時間t2において、このフォトダイオード11
は、同図(d)に示されるパルス信号ΦVRO1およびこの
ハイレベル期間に生じる図示しないパルスΦHRO1によっ
て信号読み出しが行われ、また、これと同時に読み出し
アンプ17によってプルアップリセットされる。この
後、従来の撮像装置のように座標(1,1)にあるフォ
トダイオード11についてリセットが行われない場合
(シングルリセットの場合)には、強い光入射によって
生じる多量の電荷により、フォトダイオード電位は同図
(g)に示される二点鎖線に沿って下降して行き、終に
は時間t5で電荷が飽和してフォトダイオード11から
溢れ出す。しかし、この第3実施例によるマルチリセッ
ト方式によれば、時間t2で信号読み出しが行われた
後、時間t3,t4,t6においてもこのフォトダイオ
ード11についてリセットが行われる。このため、フォ
トダイオード11の電位が下降しきる以前にその都度リ
セットされ、フォトダイオード11からは電荷が溢れ出
さなくなる。従って、この第3の実施例によれば、上述
したブルーミングやスミアといった現象が生じなくな
り、強い光が照射された場合においても画像を撮像する
ことが可能になる。
トダイオード11に着目すると、図5(g)に示される
ように、時間t1において、同図(a)に示されるパル
スΦVRES1 およびこのハイレベル期間に生じる図示しな
いパルスΦHRES1 によってこのフォトダイオード11は
リセットされる。この後、このフォトダイオード11に
は入射される光信号によって電荷の蓄積が開始される。
次に、時間t2において、このフォトダイオード11
は、同図(d)に示されるパルス信号ΦVRO1およびこの
ハイレベル期間に生じる図示しないパルスΦHRO1によっ
て信号読み出しが行われ、また、これと同時に読み出し
アンプ17によってプルアップリセットされる。この
後、従来の撮像装置のように座標(1,1)にあるフォ
トダイオード11についてリセットが行われない場合
(シングルリセットの場合)には、強い光入射によって
生じる多量の電荷により、フォトダイオード電位は同図
(g)に示される二点鎖線に沿って下降して行き、終に
は時間t5で電荷が飽和してフォトダイオード11から
溢れ出す。しかし、この第3実施例によるマルチリセッ
ト方式によれば、時間t2で信号読み出しが行われた
後、時間t3,t4,t6においてもこのフォトダイオ
ード11についてリセットが行われる。このため、フォ
トダイオード11の電位が下降しきる以前にその都度リ
セットされ、フォトダイオード11からは電荷が溢れ出
さなくなる。従って、この第3の実施例によれば、上述
したブルーミングやスミアといった現象が生じなくな
り、強い光が照射された場合においても画像を撮像する
ことが可能になる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、各
受光素子についての信号読み出しは読み出し行選択回
路,読み出し列選択回路および信号読み出し回路によっ
てなされ、各受光素子についての信号リセットはリセッ
ト行選択回路、リセット列選択回路および信号リセット
回路によってなされる。従って、信号読み出しと信号リ
セットとは別個独立の回路によって行われる。このた
め、各画素の信号電荷蓄積時間を全画素の読み出しに要
する時間よりも短くすることが出来、しかも、強い光信
号が照射されても各画素が飽和することなく撮像を行う
ことが可能になる。
受光素子についての信号読み出しは読み出し行選択回
路,読み出し列選択回路および信号読み出し回路によっ
てなされ、各受光素子についての信号リセットはリセッ
ト行選択回路、リセット列選択回路および信号リセット
回路によってなされる。従って、信号読み出しと信号リ
セットとは別個独立の回路によって行われる。このた
め、各画素の信号電荷蓄積時間を全画素の読み出しに要
する時間よりも短くすることが出来、しかも、強い光信
号が照射されても各画素が飽和することなく撮像を行う
ことが可能になる。
【図1】本発明の第1の実施例によるMOS型固体撮像
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図2】第1の実施例による固体撮像装置における各部
信号のタイミングチャートである。
信号のタイミングチャートである。
【図3】第1の実施例を変形した固体撮像装置における
各部信号のタイミングチャートである。
各部信号のタイミングチャートである。
【図4】本発明の第2の実施例による固体撮像装置にお
ける各部信号のタイミングチャートである。
ける各部信号のタイミングチャートである。
【図5】本発明の第3の実施例による固体撮像装置にお
ける各部信号のタイミングチャートである。
ける各部信号のタイミングチャートである。
【図6】従来の固体撮像装置の構成図である。
【図7】従来の固体撮像装置における各部信号のタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
11…フォトダイオード、12…リセット用MOSFE
T、13…読み出し用MOSFET、14…読みだし用
垂直シフトレジスタ、15…読み出しライン選択用MO
SFET、16…読みだし用水平シフトレジスタ、17
…読み出しアンプ、18…リセット用垂直シフトレジス
タ、19…リセットライン選択用MOSFET、20…
リセット用水平シフトレジスタ、21…リセット用電
源。
T、13…読み出し用MOSFET、14…読みだし用
垂直シフトレジスタ、15…読み出しライン選択用MO
SFET、16…読みだし用水平シフトレジスタ、17
…読み出しアンプ、18…リセット用垂直シフトレジス
タ、19…リセットライン選択用MOSFET、20…
リセット用水平シフトレジスタ、21…リセット用電
源。
Claims (2)
- 【請求項1】 光入射量に応じた電荷を生成する2次元
に配列された複数個の受光素子と、これら各受光素子に
対する電荷の流れを断続する前記各受光素子ごとに設け
られた第1および第2の各切り換え素子と、 これら各第1の切り換え素子のうち行方向に配列された
第1の切り換え素子群を信号読み出しのために選択する
読み出し行選択回路と、前記各第1の切り換え素子のう
ち列方向に配列された第1の切り換え素子群を信号読み
出しのために選択する読み出し列選択回路と、これら読
み出し行選択回路および読み出し列選択回路によって選
択された1個の第1の切り換え素子に対応した受光素子
に生成した電荷量を読み出す信号読み出し回路と、 前記各第2の切り換え素子のうち行方向に配列された第
2の切り換え素子群を信号リセットのために選択するリ
セット行選択回路と、前記各第2の切り換え素子のうち
列方向に配列された第2の切り換え素子群を信号リセッ
トのために選択するリセット列選択回路と、これらリセ
ット行選択回路およびリセット列選択回路によって選択
された1個の第2の切り換え素子に対応した受光素子の
電荷をリセットする信号リセット用電源とを備えて構成
された固体撮像装置。 - 【請求項2】 2次元に配列された複数個のフォトダイ
オードと、これら各フォトダイオードのカソードにソー
スが共通接続されたリセット用MOSFETおよび読み
出し用MOSFETと、 行方向に配列された前記各フォトダイオードに設けられ
た各読み出し用MOSFETのゲートを共通接続する読
み出しゲート制御ラインを選択する読み出し用垂直選択
回路と、列方向に配列された前記各フォトダイオードに
設けられた各読み出し用MOSFETのドレインを共通
接続する読み出しラインごとに設けられた読み出しライ
ン選択用MOSFETと、この読み出しライン選択用M
OSFETのゲート制御を行ってビデオラインに接続す
る前記各読み出しラインを選択する読み出し用水平選択
回路と、前記読み出し用垂直選択回路によって選択され
た読み出しゲート制御ラインおよび前記読み出し用水平
選択回路によって選択された読み出しラインが交差する
位置に配置されたフォトダイオードに生成した電荷量を
前記ビデオラインを介して読み出す信号読み出し回路
と、 行方向に配列された前記各フォトダイオードに設けられ
た各リセット用MOSFETのゲートを共通接続するリ
セットゲート制御ラインを選択するリセット用垂直選択
回路と、列方向に配列された前記各フォトダイオードに
設けられた各リセット用MOSFETのドレインを共通
接続するリセットラインごとに設けられたリセットライ
ン選択用MOSFETと、このリセットライン選択用M
OSFETのゲート制御を行ってリセット信号線に接続
する前記各リセットラインを選択するリセット用水平選
択回路と、前記リセット用垂直選択回路によって選択さ
れたリセットゲート制御ラインおよび前記リセット用水
平選択回路によって選択されたリセットラインが交差す
る位置に配置されたフォトダイオードの電荷を前記リセ
ット信号線を介してリセットする信号リセット用電源と
を備えて構成された固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323451A JPH05161075A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323451A JPH05161075A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05161075A true JPH05161075A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18154818
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3323451A Pending JPH05161075A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05161075A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007043487A1 (en) | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, control method thereof, and radiation imaging system using radiation imaging apparatus |
| JP2011130471A (ja) * | 2011-01-21 | 2011-06-30 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
-
1991
- 1991-12-06 JP JP3323451A patent/JPH05161075A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007043487A1 (en) | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, control method thereof, and radiation imaging system using radiation imaging apparatus |
| JP2007104219A (ja) * | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
| US7839977B2 (en) | 2005-10-03 | 2010-11-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, system, and control method thereof |
| US7965817B2 (en) | 2005-10-03 | 2011-06-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, control method thereof, and radiation imaging system using radiation imaging apparatus |
| JP2011130471A (ja) * | 2011-01-21 | 2011-06-30 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
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