JPH05162175A - Mold device for resin encapsulation - Google Patents

Mold device for resin encapsulation

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Publication number
JPH05162175A
JPH05162175A JP32936991A JP32936991A JPH05162175A JP H05162175 A JPH05162175 A JP H05162175A JP 32936991 A JP32936991 A JP 32936991A JP 32936991 A JP32936991 A JP 32936991A JP H05162175 A JPH05162175 A JP H05162175A
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JP
Japan
Prior art keywords
resin
escape groove
air escape
cavity
mold
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP32936991A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsutoshi Takahashi
勝敏 高橋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH05162175A publication Critical patent/JPH05162175A/en
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂封止用金型装置に関し、空気逃げ溝に樹
脂が密着して残ることを防ぐことを目的とする。 【構成】 キャビティ1と空気逃げ溝2を有し、前記キ
ャビティ1は樹脂封止成形品を賦形するものであって、
互いに衝合する下型10と上型20の少なくとも一方に設け
られているものであり、前記空気逃げ溝2は、前記キャ
ビティ1の少なくとも一つの側壁と交わる分割面3に彫
られた凹部3aと、対向して衝合する衝合面4とに囲まれ
て形成されており、かつ内表面に非粘着処理が施されて
いるように構成する。
(57) [Abstract] [Purpose] An object of the present invention is to prevent a resin from being left in intimate contact with an air escape groove in a mold device for resin encapsulation. [Structure] A cavity 1 and an air escape groove 2 are provided, and the cavity 1 is for molding a resin-sealed molded product,
The air escape groove 2 is provided in at least one of the lower mold 10 and the upper mold 20 that abut against each other, and the air escape groove 2 has a concave portion 3a carved in a dividing surface 3 that intersects at least one side wall of the cavity 1. , Is formed so as to be surrounded by the abutting surface 4 that abuts and faces each other, and the inner surface is subjected to a non-adhesive treatment.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止用金型装置に係
わり、特に樹脂封止半導体装置の封止に用いる金型装置
において、空気逃げ溝に樹脂が密着して残らないように
なした樹脂封止用金型装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-sealing mold device, and particularly to a mold device used for sealing a resin-sealed semiconductor device so that the resin does not remain in close contact with the air escape groove. The present invention relates to a mold device for resin sealing.

【0002】近年、半導体装置の進展は目ざましいもの
があり、利用される分野がどんどん広がるに伴って、半
導体装置の生産数量も飛躍的に拡大している。そして、
この半導体装置の大量生産は、ウェーハの段階から半導
体装置として製品に仕上げるまでの一連の製造プロセス
の製造技術に負うところが大きい。
In recent years, the progress of semiconductor devices has been remarkable, and the number of semiconductor devices produced has increased dramatically as the fields of use have expanded. And
The mass production of this semiconductor device largely depends on the manufacturing technology of a series of manufacturing processes from the wafer stage to the completion of the product as a semiconductor device.

【0003】半導体装置の製造プロセスは、前工程と後
工程に分けることができるが、前工程は、ウェーハの段
階から多数の微細な素子を形成するまでで、後工程は、
ウェーハをチップに切断してから製品に仕上がるまでで
ある。そして、後工程は、組立工程と検査工程に分けら
れる。
The manufacturing process of a semiconductor device can be divided into a pre-process and a post-process. The pre-process is from the wafer stage to the formation of many fine elements, and the post-process is
It is from cutting the wafer into chips to finishing the product. The post-process is divided into an assembly process and an inspection process.

【0004】組立工程の中でチップの封止は、素子を保
護したり導出端子を取り出したりするためのいわゆるパ
ッケージを行うものである。そして、パッケージにはい
ろいろな形態と方法が採られているが、製造効率がよく
原価も安いことから、モールド技術を応用した樹脂封止
によるプラスチックパッケージが多用されている。そし
て、樹脂封止技術とそれを行うための封止装置の効率化
にはまだまだ検討の余地がある。
In the assembly process, the sealing of the chip is a so-called package for protecting the element and taking out the lead-out terminal. Although various forms and methods are adopted for the package, a plastic package by resin molding to which a molding technique is applied is often used because of high manufacturing efficiency and low cost. Further, there is still room for study on the efficiency of the resin encapsulation technology and the encapsulation device for carrying out it.

【0005】[0005]

【従来の技術】半導体装置の樹脂封止に例を採ると、例
えばリードフレームと呼ばれる枠状支持部材が用いら
れ、このリードフレームのステージにチップがマウント
され、インナーリードと呼ばれる端子部に金線などでワ
イヤボンディングされる。このリードフレームを封止金
型にセットして封止樹脂を流し込む一種のインサートモ
ールドによって樹脂封止が行われる。
2. Description of the Related Art For example, in a resin sealing of a semiconductor device, a frame-shaped supporting member called a lead frame is used, a chip is mounted on a stage of the lead frame, and a gold wire is attached to a terminal portion called an inner lead. Wire-bonded by etc. Resin sealing is performed by a kind of insert molding in which this lead frame is set in a sealing die and a sealing resin is poured.

【0006】ところで、半導体装置の樹脂封止は他の電
子部品などと同様、精密でしかも低い成形圧力で成形す
る必要がある。そのため、例えばエポキシ樹脂のような
熱硬化性の樹脂を用いたトランスファ成形が用いられ
る。そして、電子部品用として特に低圧成形が可能な低
圧封入成形法によって行われるのが一般的である。
By the way, the resin encapsulation of the semiconductor device needs to be carried out with high precision and low molding pressure, like other electronic parts. Therefore, transfer molding using a thermosetting resin such as an epoxy resin is used. Then, it is generally performed by a low-pressure encapsulation molding method capable of particularly low-pressure molding for electronic parts.

【0007】図3は樹脂封止用金型装置の一例の一部を
拡大した斜視図である。図において、1はキャビティ、
2 は空気逃げ溝、7は樹脂、8は成形品、9は金型装
置、10は下型、11はカル、12はランナ、13はゲート、20
は上型、21はポット、22はスプルー、30はリードフレー
ムである。
FIG. 3 is an enlarged perspective view of a part of an example of the resin sealing mold device. In the figure, 1 is a cavity,
2 is an air escape groove, 7 is a resin, 8 is a molded product, 9 is a mold device, 10 is a lower mold, 11 is a cull, 12 is a runner, 13 is a gate, 20
Is an upper die, 21 is a pot, 22 is a sprue, and 30 is a lead frame.

【0008】こゝで例示した金型装置9は、半導体装置
などの電子部品の封止に用いられる金型であり、熱硬化
性のエポキシ樹脂成形材料を用いた低圧トランスファ成
形用の金型の一例である。下型10の上に上型20が衝合し
合う構成になっている。そして、例えば半導体チップを
樹脂封止してプラスチックパッケージ型の半導体装置を
作る場合には、チップがマウントされたリードフレーム
30がローディングフレームと呼ばれる保持具によって運
ばれ、2つの型10、20に挟持されて樹脂封止が行われ
る。
The mold device 9 exemplified here is a mold used for sealing electronic parts such as semiconductor devices, and is a mold for low pressure transfer molding using a thermosetting epoxy resin molding material. This is an example. The upper mold 20 abuts on the lower mold 10. Then, for example, when a semiconductor chip is resin-sealed to make a plastic package type semiconductor device, the lead frame on which the chip is mounted is mounted.
30 is carried by a holder called a loading frame, and is sandwiched between two molds 10 and 20, and resin sealing is performed.

【0009】上型20には、投入された樹脂7を加熱して
溶融軟化させ可塑化させて金型に押し込むためのポット
21(材料室)が設けられている。そのポット21の下には
スプルー22と呼ばれる注入孔を介して下型10にカル11が
設けられている。
The upper die 20 is a pot for heating the injected resin 7 to melt and soften it, plasticize it and push it into the die.
21 (materials room) is provided. Below the pot 21, a cull 11 is provided in the lower mold 10 through an injection hole called a sprue 22.

【0010】ところで、半導体装置を含めた電子部品の
樹脂封止の場合には、1回の成形によって多数の成形品
8が得られるいわゆる多数個取りが行われる。そこで、
カル11からは例えば2本とか4本とか、さらに途中から
枝分かれしたりして放射状に広がったランナ12が設けら
れている。このランナ12は、湯道とも呼ばれ文字どうり
融けた樹脂が流れる道となっている。そして、ランナ12
の先には、ゲート13を介して20個とか50個とかいった多
数のキャビティ1が並設されている。
By the way, in the case of resin sealing of electronic parts including semiconductor devices, so-called multi-cavity picking is performed in which a large number of molded products 8 are obtained by one molding. Therefore,
From the cull 11, for example, two or four, or a runner 12 that is radially expanded by branching from the middle is provided. This runner 12, which is also called a runner, is a path through which the resin melted like letters flow. And runner 12
A large number of cavities 1, such as 20 cavities and 50 cavities, are arranged side by side through the gate 13 at the tip of the.

【0011】キャビティ1を構成している凹部(狭義の
キャビテイ)や凸部(コア)などは成形品の形状に応じ
て下型10と上型20とに適宜設けられ、2つの型10、20を
衝合させたとき、上に出っ張ったり下に出っ張ったりし
て所望の成形品8の形状を賦与するようになっている。
The concave portion (cavity in a narrow sense) and the convex portion (core) which form the cavity 1 are appropriately provided in the lower mold 10 and the upper mold 20 according to the shape of the molded product, and the two molds 10, 20 are provided. When they are abutted against each other, they are projected upward or downward to give a desired shape of the molded product 8.

【0012】ポット21で加熱溶融され可塑化した樹脂7
は、図示してないプランジャによって加圧されながらス
プルー22を通ってカル11に押し出される。そして、樹脂
7はカル11から放射状に方々に枝分かれしたランナ12を
通り、ランナ12からさらに小枝状に分岐したゲート13を
介してそれぞれのキャビティ1に充てんされる。
Resin 7 which is heated and melted in a pot 21 to be plasticized
Is extruded into the cull 11 through the sprue 22 while being pressurized by a plunger (not shown). Then, the resin 7 passes through the runners 12 radially branched from the cull 11 and is filled in the respective cavities 1 through the gates 13 branched further into small branches from the runners 12.

【0013】ところで、熱硬化性樹脂の成形過程は、可
塑化、賦形、硬化の三つの段階を経て行われる。そこ
で、この3つの段階をトランスファ成形法に当てはめて
みると、まず第一段階では、ペレット状に整形されてい
る固形の樹脂7は、ポット21の中で加熱され可塑化され
て粘度が低下し流動し易くなり、ノズル状のスプルー22
を通って一旦カル11まで吐出される。そして、複数本の
ランナ12を通ってキャビティ1の中に充てんされる。第
二段階では、樹脂7はキャビティ1の隅々まで十分に充
てんされて所定の成形圧力に達し、キャビティ1の形状
に応じた所望の形状が賦与される。第三段階において
は、熱硬化性の樹脂7は、例えば縮合重合とか付加重合
とかいった化学反応が起って硬化が行われる。
By the way, the thermosetting resin molding process is carried out through three steps of plasticizing, shaping and curing. Then, applying these three steps to the transfer molding method, first, in the first step, the solid resin 7 shaped into pellets is heated in the pot 21 and plasticized to lower the viscosity. Easy to flow, nozzle-shaped sprue 22
It is once discharged up to Cull 11 through. Then, the cavity 1 is filled through a plurality of runners 12. In the second stage, the resin 7 is sufficiently filled in every corner of the cavity 1 to reach a predetermined molding pressure, and a desired shape according to the shape of the cavity 1 is imparted. In the third stage, the thermosetting resin 7 is cured by a chemical reaction such as condensation polymerization or addition polymerization.

【0014】トランスファ成形においては、多数のキャ
ビティ1の全てに樹脂7が行きわたり、所定の成形圧力
が全てのキャビティ1に一様に掛かって第二段階が終了
したあとに第三段階の硬化が始まることが望ましい。そ
して、キャビティ1の中の隅々まで樹脂7が行きわたる
ためには、キャビティ1の中の空気や樹脂7から発生す
るガスを完全に抜き取ることが不可欠である。
In the transfer molding, the resin 7 spreads over all of the many cavities 1, and a predetermined molding pressure is uniformly applied to all the cavities 1, and after the second step is completed, the third step of curing is performed. It is desirable to start. In order for the resin 7 to reach every corner of the cavity 1, it is essential to completely remove the air generated in the cavity 1 and the gas generated from the resin 7.

【0015】そのために、キャビティ1の一部にエアベ
ントとも呼ばれる空気逃げ溝2が設けられている。この
空気逃げ溝2は空気やガスが最も逃げにくい場所に設け
るのでよく、一般には金型の分割面上でゲート13から最
も遠い位置に設けられる。
Therefore, an air escape groove 2 which is also called an air vent is provided in a part of the cavity 1. The air escape groove 2 may be provided at a place where air and gas are most unlikely to escape, and is generally provided at a position farthest from the gate 13 on the dividing surface of the mold.

【0016】この空気逃げ溝2は空気やガス分のみが逃
げて、樹脂分がばりとなって流れ出てしまわないように
考慮されており、例えば深さが30〜50μm、幅が3〜5
mm程度の溝となっている。
The air escape groove 2 is designed so that only the air and gas components escape and the resin component does not flow out as a flash. For example, the depth is 30 to 50 μm and the width is 3 to 5.
The groove is about mm.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】このように、半導体装
置の樹脂封止などで行われるトランスファ成形において
は、キャビティ1に空気やガスなどを逃がすための空気
逃げ溝2を設けられている。そして、この空気逃げ溝2
に樹脂7がばりとなってある程度入り込むことは避けら
れない。
As described above, in the transfer molding performed by resin sealing of the semiconductor device, the cavity 1 is provided with the air escape groove 2 for letting air or gas escape. And this air escape groove 2
It is unavoidable that the resin 7 becomes a flash and gets into the resin to some extent.

【0018】ところで、金型装置9の衝合し合う表面に
は一般にハードクロムと呼ばれる硬質のクロムめっきが
施されている。このハードクロムは耐磨耗性に富んでい
るが例えばエポキシ樹脂成形材料に対して粘着性が強く
離型性がよい訳ではない。
By the way, the abutting surfaces of the die unit 9 are plated with hard chrome generally called hard chrome. Although this hard chrome has a high abrasion resistance, it has a strong adhesiveness to, for example, an epoxy resin molding material and does not have a good releasability.

【0019】一方、樹脂封止によく用いられるエポキシ
樹脂成形材料は、接着材として用いられるほど粘着性に
優れており、リードフレーム30などに対する密着性もよ
い特長をもっている。
On the other hand, the epoxy resin molding material that is often used for resin encapsulation has excellent adhesiveness as it is used as an adhesive material, and also has good adhesiveness to the lead frame 30 and the like.

【0020】そのため、キャビティ1の中に形成された
肉厚のある成形品8自体は比較的容易に離型することが
できるが、空気逃げ溝2に薄く入り込んだ樹脂7は密着
してこびり着き離型せずに残ってしまうことが間々起こ
る。
Therefore, the molded product 8 itself having a large thickness formed in the cavity 1 can be released from the mold relatively easily, but the resin 7 that has entered thinly into the air escape groove 2 adheres and sticks. It often happens that they are left without being released.

【0021】そして、この密着した樹脂7の残渣を取り
除かなければ成形品8にボイド(空洞) や欠けなどの不
具合が生じたり、あるいは密着した樹脂7を剥離するた
めに手間隙が掛かって作業効率が低下したりする問題が
あった。
If the residue of the adhered resin 7 is not removed, defects such as voids (cavities) and chippings will occur in the molded product 8, or a space will be taken to separate the adhered resin 7, resulting in work efficiency. There was a problem of deterioration.

【0022】そこで本発明は、空気逃げ溝に樹脂が密着
して残らないように非粘着処理を施してなる樹脂封止用
金型装置を提供することを目的としている。
Therefore, an object of the present invention is to provide a resin-sealing mold device which is subjected to a non-adhesive treatment so that the resin does not remain in close contact with the air escape groove.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】上で述べた課題は、キャ
ビティと、空気逃げ溝を有し、前記キャビティは、樹脂
封止成形品を賦形するものであって、互いに衝合する下
型と上型の少なくとも一方に設けられているものであ
り、前記空気逃げ溝は、前記キャビティの少なくとも一
つの側壁と交わる分割面に彫られた凹部と対向して衝合
する衝合面に囲まれて形成されており、かつ内表面に非
粘着処理が施されているように構成された樹脂封止用金
型装置によって解決される。
[Means for Solving the Problems] The above-mentioned problem has a cavity and an air escape groove, and the cavity is for molding a resin-sealed molded product, and the lower mold is abutting against each other. And the air escape groove is provided in at least one of the upper molds, and the air escape groove is surrounded by an abutting surface that abuts against a recess carved in a dividing surface that intersects at least one side wall of the cavity. This is solved by a resin-sealing mold device configured so that it is formed with a non-adhesive treatment on its inner surface.

【0024】[0024]

【作用】従来の樹脂封止用の金型装置においては、空気
逃げ溝に樹脂が入り込み、その樹脂が密着して残ってし
まい剥離するのに厄介があったが、本発明においては、
空気逃げ溝の内表面を非粘着処理して、入り込んだ樹脂
が密着しないようにしている。
In the conventional mold device for resin encapsulation, the resin enters into the air escape groove, and the resin remains in intimate contact and remains peeled off. However, in the present invention,
The inner surface of the air escape groove is non-adhesive processed so that the resin that has entered does not adhere.

【0025】そうすると、キャビティから成形品を取り
出す際、空気逃げ溝に入り込んで硬化した樹脂も同時に
剥離して取り出すことができるので、樹脂封止工程の効
率化と不具合の低減が図れる。
Then, when the molded product is taken out from the cavity, the resin which has entered the air escape groove and hardened can also be peeled off and taken out at the same time, so that the efficiency of the resin sealing step and the reduction of defects can be achieved.

【0026】[0026]

【実施例】図1は本発明の一実施例の一部を拡大した斜
視図、図2は本発明の他の実施例の要部の拡大斜視図で
ある。図において、1はキャビティ、2は空気逃げ溝、
3は分割面、3aは凹部、4は衝合面、5は離型膜、6は
入れ子、7は樹脂、8は成形品、10は下型、20は上型、
30はリードフレームである。
1 is an enlarged perspective view of a part of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main portion of another embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a cavity, 2 is an air escape groove,
3 is a dividing surface, 3a is a concave portion, 4 is an abutting surface, 5 is a release film, 6 is a nest, 7 is resin, 8 is a molded product, 10 is a lower mold, 20 is an upper mold,
30 is a lead frame.

【0027】実施例:1 図1において、キャビティ1は、例えば樹脂封止半導体
装置のパッケージを賦形するものである。そして、パッ
ケージの側壁からリードが突出している構成の場合に
は、キャビティ1が下型10と上型20の両方に対向して彫
られた構成になっている。そして、チップがマウントさ
れたリードフレーム30を下型10と上型20で挟んで樹脂封
止が行われる。
Embodiment 1 In FIG. 1, a cavity 1 is for shaping a package of a resin-sealed semiconductor device, for example. In the case where the leads are projected from the side wall of the package, the cavity 1 is carved so as to face both the lower mold 10 and the upper mold 20. Then, the lead frame 30 on which the chip is mounted is sandwiched between the lower mold 10 and the upper mold 20, and resin sealing is performed.

【0028】空気逃げ溝2は、下型10のキャビティ1の
少なくとも一つの側壁と交わる分割面3に凹部3aとして
設けられている場合が多い。この凹部3aは、深さが30μ
m程度、幅が5mm程度に彫られており、この凹部3aと
対向する上型20の衝合面4とで囲まれて空気逃げ溝2を
構成している。
The air escape groove 2 is often provided as a recess 3a in the dividing surface 3 that intersects at least one side wall of the cavity 1 of the lower mold 10. The recess 3a has a depth of 30 μm.
The air escape groove 2 is formed by being carved to have a width of about m and a width of about 5 mm, and is surrounded by the recess 3a and the abutting surface 4 of the upper die 20 facing the recess 3a.

【0029】この空気逃げ溝2を構成している凹部3aの
内表面と、その凹部3aに衝合する衝合面4には、ふっ素
樹脂またはシリコン樹脂を例えば焼付け塗装した離型膜
5が被着されている。
The inner surface of the concave portion 3a forming the air escape groove 2 and the abutting surface 4 that abuts the concave portion 3a are covered with a release film 5 made of, for example, baking coated with fluororesin or silicon resin. It is worn.

【0030】こうすると、樹脂封止が終了して上下の型
10、20を解合して成形品8を離型する際、空気逃げ溝2
に流入した樹脂7が密着して残ってしまうことがなくな
り、ばりとして成形品8とともに離型することができ
る。
In this way, the resin sealing is completed and the upper and lower molds are
When releasing 10 and 20 by releasing the molded product 8, the air escape groove 2
The resin 7 that has flowed into the mold will not be left in close contact, and can be released as a flash together with the molded product 8.

【0031】実施例:2 図2において、下型10のキャビティ1の側壁に連なるよ
うに、凹部3aを設けたふっ素系の樹脂製の入れ子6を嵌
着させる。また、対向する上型20の衝合面4にもふっ素
系の樹脂製の入れ子6を嵌着させる。
Embodiment 2 In FIG. 2, a fluorine resin resin insert 6 having a recess 3a is fitted so as to be continuous with the side wall of the cavity 1 of the lower mold 10. Further, a fluorine resin nest 6 is fitted on the abutting surface 4 of the upper mold 20 facing each other.

【0032】こゝで用いるふっ素系の樹脂は、耐熱性や
非粘着性の最も優れたポリ4ふっ化エチレンがよく、ガ
ラス繊維や炭素繊維などを充填して耐磨耗性を向上させ
た材料が好ましい。そして、例えば切削加工によって入
れ子6を製作し、金型に接着ないしは螺着して、所定の
空気逃げ溝2が構成できるようにする。
The fluorine-based resin used here is preferably polytetrafluoroethylene, which is the most excellent in heat resistance and non-adhesiveness, and is a material that is filled with glass fiber or carbon fiber to improve abrasion resistance. Is preferred. Then, the nest 6 is manufactured by, for example, cutting, and is adhered or screwed to the mold so that the predetermined air escape groove 2 can be formed.

【0033】こうして、空気逃げ溝2の内表面がふっ素
系の樹脂で構成されているので、樹脂封止が終了して成
形品を離型する際、空気逃げ溝2に流入した樹脂が密着
して残ってしまうことがなくなる。
In this way, since the inner surface of the air escape groove 2 is made of a fluorine-based resin, the resin that has flowed into the air escape groove 2 comes into close contact when the molded product is released after the resin sealing is completed. Will not be left behind.

【0034】[0034]

【発明の効果】半導体装置などの樹脂封止に用いるトラ
ンスファ成形用の金型においては、キャビティに付設さ
れる空気逃げ溝に樹脂が流れ込むと密着してしまい、取
り去ることが厄介であるが、本発明によれば空気逃げ溝
の内表面を非粘着処理して樹脂が密着しないようにして
いる。
EFFECT OF THE INVENTION In a mold for transfer molding used for resin sealing of a semiconductor device or the like, if the resin flows into the air escape groove provided in the cavity, the resin adheres to the cavity and is difficult to remove. According to the invention, the inner surface of the air escape groove is subjected to a non-adhesive treatment so that the resin does not adhere to it.

【0035】そうすると、空気逃げ溝に密着した樹脂の
残渣に起因して成形品が不具合になったり、残渣を除去
するために手間隙が掛かって作業効率が低下したりする
ことが防げる。その結果、特に半導体装置の樹脂封止工
程の効率化に対して、本発明は寄与するところが大であ
る。
Then, it is possible to prevent the molded product from becoming defective due to the residue of the resin adhered to the air escape groove, and to prevent the work efficiency from being lowered due to a hand gap for removing the residue. As a result, the present invention greatly contributes particularly to the efficiency improvement of the resin sealing process of the semiconductor device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例の一部を拡大した斜視図で
ある。
FIG. 1 is a partially enlarged perspective view of an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の他の実施例の要部の拡大斜視図であ
る。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main part of another embodiment of the present invention.

【図3】 樹脂封止用金型装置の一例の一部を拡大した
斜視図である。
FIG. 3 is an enlarged perspective view of a part of an example of a resin sealing mold device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 キャビティ 2 空気逃げ溝 3 分割面 3a 凹部 4 衝合面 5 離型膜 6
入れ子 7 樹脂 8 成形品 9
金型装置 10 下型 20 上型 30
リードフレーム
1 Cavity 2 Air escape groove 3 Dividing surface 3a Recess 4 Abutting surface 5 Release film 6
Nesting 7 Resin 8 Molded product 9
Mold device 10 Lower mold 20 Upper mold 30
Lead frame

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャビティ(1) と、空気逃げ溝(2) を有
し、 前記キャビティ(1) は、樹脂封止成形品を賦形するもの
であって、互いに衝合する下型(10)と上型(20)の少なく
とも一方に設けられているものであり、 前記空気逃げ溝(2) は、前記キャビティ(1) の少なくと
も一つの側壁と交わる分割面(3) に彫られた凹部(3a)
と、対向して衝合する衝合面(4) とに囲まれて形成され
ており、かつ内表面に非粘着処理が施されていることを
特徴とする樹脂封止用金型装置。
1. A cavity (1) and an air escape groove (2) are provided, wherein the cavity (1) is for molding a resin-sealed molded product, and is a lower mold (10) that abuts each other. ) And the upper mold (20), and the air escape groove (2) is a recess carved in the dividing surface (3) intersecting at least one side wall of the cavity (1). (3a)
And an abutting surface (4) that abuts and faces each other, and a non-adhesive treatment is applied to the inner surface of the resin-sealing mold device.
【請求項2】 前記空気逃げ溝(2) は、内表面にふっ素
系の樹脂製またはシリコン系の樹脂製の離型膜(5) が被
着されている請求項1記載の樹脂封止用金型装置。
2. The resin sealing mold according to claim 1, wherein the air escape groove (2) has a release film (5) made of a fluorine resin or a silicon resin adhered to an inner surface thereof. Mold equipment.
【請求項3】 前記空気逃げ溝(2) は、前記分割面(3)
と衝合面(4) に嵌着するふっ素樹脂製の入れ子(6) から
なる請求項1記載の樹脂封止用金型装置。
3. The air escape groove (2) is provided with the dividing surface (3).
The mold device for resin encapsulation according to claim 1, further comprising a nest (6) made of a fluororesin fitted to the abutting surface (4).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100886479B1 (en) * 2007-09-17 2009-03-05 미크론정공 주식회사 Semiconductor Package Molding Device

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