JPH05164989A - 形状計測における光量分布均一化方法 - Google Patents
形状計測における光量分布均一化方法Info
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- JPH05164989A JPH05164989A JP35138591A JP35138591A JPH05164989A JP H05164989 A JPH05164989 A JP H05164989A JP 35138591 A JP35138591 A JP 35138591A JP 35138591 A JP35138591 A JP 35138591A JP H05164989 A JPH05164989 A JP H05164989A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 レーザ光などを用いた形状計測に際し、スペ
ックルなどによる反射光の微視的な強度むらを簡便な方
法で均一化し、測定値の安定化を図る手段を提供するこ
とである。 【構成】 光源からの入射光を反射する被測定面と反射
光検出用の受光素子との間に反射光の位相を一定とする
厚さの多数の半透明反射膜を介在させることにより、受
光素子に入射する光の強度分布を均一化し、測定値の正
確性を高めるようにしている。
ックルなどによる反射光の微視的な強度むらを簡便な方
法で均一化し、測定値の安定化を図る手段を提供するこ
とである。 【構成】 光源からの入射光を反射する被測定面と反射
光検出用の受光素子との間に反射光の位相を一定とする
厚さの多数の半透明反射膜を介在させることにより、受
光素子に入射する光の強度分布を均一化し、測定値の正
確性を高めるようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光などを用いて
形状計測を行う過程で、光の光量分布を均一化する方法
に関する。
形状計測を行う過程で、光の光量分布を均一化する方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】光量分布の均一化方法として、従来から
拡散板を入れる方式や受光素子の出力を電気的に処理す
る方法が利用されている。前者の拡散板を入れる方式で
は、光の減衰や過大な散乱などで光学的特性が悪化する
傾向にある。また、後者の受光素子の出力を電気的に処
理する方法では、受光素子の各セルの出力を積分するた
め、光の強度の高い位置がずれて、認識されるという問
題がある。また、受光素子の出力をＡ／Ｄ変換した後、
平滑する方法も考えられるが、計算時間が長く、リアル
タイムの計測には不向きであるなどの問題がある。
拡散板を入れる方式や受光素子の出力を電気的に処理す
る方法が利用されている。前者の拡散板を入れる方式で
は、光の減衰や過大な散乱などで光学的特性が悪化する
傾向にある。また、後者の受光素子の出力を電気的に処
理する方法では、受光素子の各セルの出力を積分するた
め、光の強度の高い位置がずれて、認識されるという問
題がある。また、受光素子の出力をＡ／Ｄ変換した後、
平滑する方法も考えられるが、計算時間が長く、リアル
タイムの計測には不向きであるなどの問題がある。
【０００３】
【発明の目的】本発明の目的は、例えばレーザ光を用い
た形状計測に際し、スペックル干渉などによる反射光の
微視的な強度むらを簡便な方法で均一化し、測定値の安
定化を図る手段を提供することである。
た形状計測に際し、スペックル干渉などによる反射光の
微視的な強度むらを簡便な方法で均一化し、測定値の安
定化を図る手段を提供することである。
【０００４】
【発明の解決手段】上記目的の下に、本発明は、光源か
らの入射光を反射する被測定面と反射光検出用の受光素
子との間に反射光の位相を一定とする厚さの多数の半透
明反射膜を介在させることにより、受光素子に入射する
光の強度分布を均一化し、測定値の正確性を高めるよう
にしている。
らの入射光を反射する被測定面と反射光検出用の受光素
子との間に反射光の位相を一定とする厚さの多数の半透
明反射膜を介在させることにより、受光素子に入射する
光の強度分布を均一化し、測定値の正確性を高めるよう
にしている。
【０００５】
【実施例】図１は、測定システムの全体を示している。
測定器１の内部の光源２から出たレーザ光などの入射光
３は、被測定物４の測定面で反射し、反射光５となって
測定器１の内部のミラー６で反射し、受光素子７の受光
面に入る。この過程で、入射光３は、通常、被測定物４
の被測定面でスペックル干渉を起こし、面粗度に対応す
る光の強度むらを有する反射光５となる。
測定器１の内部の光源２から出たレーザ光などの入射光
３は、被測定物４の測定面で反射し、反射光５となって
測定器１の内部のミラー６で反射し、受光素子７の受光
面に入る。この過程で、入射光３は、通常、被測定物４
の被測定面でスペックル干渉を起こし、面粗度に対応す
る光の強度むらを有する反射光５となる。
【０００６】そして、この反射光５は、ミラー６で反射
される過程で、多数の反射面８で少しずつ反射される。
図２は、反射面８の構成を示している。入射光５は、積
層された複数の半透明反射膜８１、８２、８３、８４、
８５で少しずつ反射されることにより、反射膜８１、８
２、８３、８４、８５の数で決定される幅の光束となる
ので、被測定面からの反射光５の光線群が少しずつ重な
って強弱差が均一化され、強度差が減少する。
される過程で、多数の反射面８で少しずつ反射される。
図２は、反射面８の構成を示している。入射光５は、積
層された複数の半透明反射膜８１、８２、８３、８４、
８５で少しずつ反射されることにより、反射膜８１、８
２、８３、８４、８５の数で決定される幅の光束となる
ので、被測定面からの反射光５の光線群が少しずつ重な
って強弱差が均一化され、強度差が減少する。
【０００７】図３は、受光素子７の出力波形の例を示し
ている。一般の出力波形は、ミラー６の反射面８を経て
いないため、鋭い鋸刃状の形状となっているが、本発明
のように、ミラー６の反射面８で反射させると、受光素
子７の出力波形は、鋭い山や谷がなくなり、滑らかな波
形となる。
ている。一般の出力波形は、ミラー６の反射面８を経て
いないため、鋭い鋸刃状の形状となっているが、本発明
のように、ミラー６の反射面８で反射させると、受光素
子７の出力波形は、鋭い山や谷がなくなり、滑らかな波
形となる。
【０００８】
【他の実施例】上記実施例は１つのミラー６で複数の半
透明反射膜８１、８２、８３、８４、８５を積層状態で
形成しているが、単一の透明反射膜からなるミラー６を
複数組み合わせることによって、複数の半透明反射膜８
１、８２、８３、８４、８５を形成するようにしてもよ
い。また、反射方向を反射光５の進む直角２方向に分割
することにより、エリアセンサーに適応することも可能
となる。
透明反射膜８１、８２、８３、８４、８５を積層状態で
形成しているが、単一の透明反射膜からなるミラー６を
複数組み合わせることによって、複数の半透明反射膜８
１、８２、８３、８４、８５を形成するようにしてもよ
い。また、反射方向を反射光５の進む直角２方向に分割
することにより、エリアセンサーに適応することも可能
となる。
【０００９】
【発明の効果】本発明では、次の特有の効果が得られ
る。光学部品としてのミラーの半透明反射膜形成のみで
対処するため、小型軽量化が可能となる。光学的な処理
が中心であり、電気的な処理が伴わないため、データ処
理が簡素化される。光路の途中で拡散板など光の減衰や
過大な散乱を起こす光学要素が存在しないため、受光素
子への受光量が低下せず、また光学的特性も悪化しない
ため、光学的な測定精度が高められる。レーザ光に限ら
ず、通常の光学的測定にも利用できるため、広い計測測
定分野で応用が可能となる。
る。光学部品としてのミラーの半透明反射膜形成のみで
対処するため、小型軽量化が可能となる。光学的な処理
が中心であり、電気的な処理が伴わないため、データ処
理が簡素化される。光路の途中で拡散板など光の減衰や
過大な散乱を起こす光学要素が存在しないため、受光素
子への受光量が低下せず、また光学的特性も悪化しない
ため、光学的な測定精度が高められる。レーザ光に限ら
ず、通常の光学的測定にも利用できるため、広い計測測
定分野で応用が可能となる。
【図１】測定システムの概略的な平面図である。
【図２】ミラーの半透明反射膜の構造および反射光の反
射状況の説明図である。
射状況の説明図である。
【図３】反射光の波形の説明図である。
１ 測定器 ２ 光源 ３ 入射光 ４ 被測定物 ５ 反射光 ６ ミラー ７ 受光素子 ８ 反射面 ８１、８２、８３、８４、８５ 半透明反射膜
Claims (1)
- 【請求項１】 光源からの入射光を反射する被測定面
と、被測定面からの反射光検出用の受光素子との間に、
反射光の位相がほぼ一定となる厚さの多数の半透明反射
膜を介在させることにより、受光素子に入射する反射光
の強度分布を均一化することを特徴とする形状計測にお
ける光量分布均一化方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35138591A JP3195813B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 形状計測における光量分布均一化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35138591A JP3195813B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 形状計測における光量分布均一化方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164989A true JPH05164989A (ja) | 1993-06-29 |
| JP3195813B2 JP3195813B2 (ja) | 2001-08-06 |
Family
ID=18416936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35138591A Expired - Fee Related JP3195813B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 形状計測における光量分布均一化方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3195813B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-13 JP JP35138591A patent/JP3195813B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3195813B2 (ja) | 2001-08-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |