JPH05166992A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH05166992A
JPH05166992A JP3330742A JP33074291A JPH05166992A JP H05166992 A JPH05166992 A JP H05166992A JP 3330742 A JP3330742 A JP 3330742A JP 33074291 A JP33074291 A JP 33074291A JP H05166992 A JPH05166992 A JP H05166992A
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JP
Japan
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semiconductor device
protective frame
frame member
semiconductor
protective
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Withdrawn
Application number
JP3330742A
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English (en)
Inventor
Kazuto Tsuji
和人 辻
Junichi Kasai
純一 河西
Tetsuo Taniguchi
哲生 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings

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  • Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は保護枠に取り付けられた状態で出荷さ
れる半導体装置に関し、保護枠により高精度の位置決め
を行うことを目的とする。 【構成】半導体装置本体16と、アウターリード14b
より外側位置に半導体装置本体16を囲繞するように配
設される枠体部18と、この枠体部18と半導体装置本
体16との間に配設れさており半導体装置本体16を枠
体部18に支持させる支持部19とを有すると共に、枠
体部18と支持部19とが金属材により一体的に形成さ
れてなる保護枠17により構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に係り、特に
保護枠に取り付けられた状態で出荷される半導体装置に
関する。
【0002】一般に半導体装置は、製品として出荷する
際、リードフレームを切り落とし、かつアウターリード
を所定形状に折曲加工した状態で出荷している。
【0003】しかるに、近年の半導体装置の高集積化及
び多ピン化に伴いアウターリードは狭ピッチ化してきて
おり、その機械的強度は弱くなってきている。
【0004】そこで、所定形状に成形されたアウターリ
ードを保護するため、半導体装置本体の外周を囲繞する
よう保護枠を設けると共に、保護枠と半導体装置本体と
をサポートバーで接続し、この保護枠によりアウターリ
ードを保護することが行われている。
【0005】
【従来の技術】図14は、従来における半導体装置1を
示している。同図において、2は半導体装置本体であ
り、また3は半導体装置本体を保護するための樹脂で形
成された保護枠である。
【0006】半導体装置本体2は、半導体チップ(図に
現れず)を封止する樹脂パッケージ4の側部より複数の
リード5が延出した構成とされている。また、保護枠3
はリード5より外側位置で上記半導体装置本体2を囲繞
するように配設される。
【0007】また、平面的に見て方形状を有するパッケ
ージ4の四隅位置からは保護枠3に向け延出するサポー
トバー6が形成されており、このサポートバー6が保護
枠3に接続されることにより、半導体装置本体2は保護
枠3に支承される構成とされていた。これにより、狭ピ
ッチとされたリード5であっても、保護枠3によりリー
ド5を保護することができる。また、図中7は後述する
位置決め用のガイドホールである。
【0008】従来、上記の樹脂パッケージ4,保護枠
3,サポートバー6は、樹脂パッケージ4のモールド成
型時に一体的に樹脂形成される構成とされていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記従来の
半導体装置1では、保護枠3及びサポートバー6が樹脂
により形成されていたため、次のような問題点があっ
た。
【0010】上記のように、半導体装置本体2を保護枠
3により保護する構成の半導体装置1では、半導体装置
本体2を電子機器に搭載する前にサポートバー6を切り
落とし、半導体装置本体2を保護枠3から分離した状態
で電子機器に搭載する必要がある。また、この半導体装
置本体2を保護枠3から分離するプレス切断工程におい
ては、リード5の折り曲げ加工が同時に実施される(出
荷状態では、リード5は水平状態となっている)。
【0011】リード5の折り曲げ加工は高精度の加工で
あり、従って半導体装置1をプレス装置の金型に高精度
に位置決めした状態で装着する必要がある。この位置決
めは保護枠3に形成されているガイドホール7を用いて
行われるが、保護枠3及びサポートバー6が樹脂により
形成された構成では、樹脂の収縮によりガイドホール7
に位置ずれが発生し、高精度の位置決めを行うことがで
きないという問題点があった。
【0012】また、樹脂パッケージ4は、リードフレー
ムに接続された状態のダイパッドに搭載された半導体チ
ップを樹脂封止することにより形成されるが、この際、
リードフレームと成型された樹脂(樹脂パッケージ4,
保護枠3,サポートバー6)との間に型ずれがあるた
め、保護枠3を基準にして半導体装置本体2の位置決め
を行うことができないという問題点があった。
【0013】更に、前記したように従来の半導体装置1
では、出荷時において半導体装置1は保護枠3が配設さ
れており、かつリード5は水平状態となっているため、
ユーザ側で保護枠3及びサポートバー6の除去作業及び
上記高精度のリード5の折り曲げ加工を行う必要があ
り、ユーザ側の作業負担が増大するという問題点があっ
た。
【0014】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、保護枠により高精度の位置決めを行うことを可能
とした半導体装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、半導体素
子と、この半導体素子を搭載するダイパッドと、半導体
素子を封止する樹脂製パッケージと、半導体素子に接続
されるインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出
したアウターリードとにより構成される複数のリードと
を有する半導体装置本体と、上記アウターリードより外
側位置に半導体装置本体を囲繞するように配設される枠
体部と、この枠体部と該半導体装置本体との間に配設れ
さており半導体装置本体を上記枠体部に支持させる支持
部とを有すると共に、枠体部と支持部とが金属材により
前記ダイパッドと一体的に形成されてなる保護枠と、に
より構成されることを特徴とする半導体装置により解決
することができる。
【0016】また、上記保護枠に半導体装置本体の位置
決めを行うためのガイドホールを形成することにより、
また、上記保護枠に折り曲げ部を形成することにより、
また、上記アウターリードを所定形状に折曲形成し、上
記折り曲げ部をアウターリードを保護する方向に折曲方
向することにより、更に、上記枠体部の一部に絶縁性の
樹脂部材を配設することにより一層効果的に解決するこ
とができる。
【0017】また、上記課題は、半導体素子と、この半
導体素子を搭載するダイパッドと、上記半導体素子を封
止する樹脂製パッケージと、上記半導体素子と接続され
るインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出した
アウターリードとにより構成される複数のリードとを有
する半導体装置本体と、この半導体装置本体より一体的
に外側に向け延出するよう形成された金属製の支持部材
と、上記アウターリードより外側位置に上記半導体装置
本体を囲繞するように配設されると共に、上記支持部材
が固定されることによりこの支持部材を介して半導体装
置本体を支持する金属製の保護枠部材と、により構成さ
れることを特徴とする半導体装置により解決することが
できる。
【0018】また、上記保護枠部材または支持部材に上
記半導体装置本体の位置決めを行うためのガイドホール
を形成することにより、また、上記保護枠部材に折り曲
げ部を形成することにより、また、上記アウターリード
を所定形状に折曲形成し、上記折り曲げ部をアウターリ
ードを保護する方向に折曲することにより、また、上記
保護枠部材の一部に絶縁性の樹脂部材を配設することに
より、更に、上記支持部材を保護枠部材に溶接手段によ
り固定することにより一層効果的に解決することができ
る。
【0019】更に、上記課題は、半導体素子と、この半
導体素子を搭載するダイパッドと、上記半導体素子を封
止する樹脂製パッケージと、上記半導体素子と接続され
るインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出した
アウターリードとにより構成される複数のリードとを有
する半導体装置本体と、上記アウターリードより外側位
置に上記半導体装置本体を囲繞するように配設される枠
体部と、この枠体部と半導体装置本体との間に配設れさ
ており半導体装置本体を枠体部に支持させる支持部とを
有すると共に、上記枠体部と支持部とが金属材により一
体的に形成されてなる第1の保護枠部材と、上記枠体部
を挟んでその上部と下部に夫々と重畳するよう配設され
る第2及び第3の保護枠部材とにより構成されることを
特徴とする半導体装置により解決することができる。
【0020】また、上記第1乃至第3の保護枠部材また
は支持部材に、上記半導体装置本体の位置決めを行うた
めのガイドホールを形成することにより、また、上記第
2または第3の保護枠部材の少なくとも一方に折り曲げ
部を形成することにより、また、上記アウターリードを
所定形状に折曲形成し、上記折り曲げ部をアウターリー
ドを保護する方向に折曲することにより、また、上記第
1乃至第3の保護枠部材の一部に絶縁性の樹脂テープを
配設したことにより、また、第1乃至第3の保護枠部材
を溶接手段により一体的に固定することにより一層効果
的に解決することができる。更には、上記第1の保護枠
部材と第2の保護枠部材との溶接位置と、第1の保護枠
部材と該第3の保護枠部材との溶接位置を異なる位置に
選定し、上記第3の保護枠部材の上記第1の保護枠部材
と第2の保護枠部材との溶接位置と対向する位置に第1
の逃げ孔を形成し、上記第2の保護枠部材の上記第1の
保護枠部材と第3の保護枠部材との溶接位置と対向する
位置に第2の逃げ孔を形成し、第1及び第2の逃げ孔を
通過するようレーザ光を照射し、この第1の保護枠部材
と第2の保護枠部材、及び第1の保護枠部材と第3の保
護枠部材とをレーザ溶接する構成としても良い。
【0021】
【作用】上記構成とされた半導体装置では、保護枠部材
及び支持部材が金属材料により構成されるため、従来の
樹脂製の保護枠に比べて保護枠部材の収縮を少なくする
ことができる。よって、ガイドホールの位置を高精度に
決めることができ、自動プレス加工時等における半導体
装置の位置決めを高精度に行うことができる。
【0022】また、樹脂モールドは樹脂パッケージ形成
にのみに実施され、寸法精度を要する保護枠部材及び支
持部材に樹脂はモールドされないため、樹脂による寸法
ずれが発生することもない。
【0023】また、支持部材を半導体装置本体に接続す
ると共に、保護枠部材を支持部と別体構造し、支持部材
を保護枠部材に固定することにより半導体装置本体を保
護枠部材に支持させる構成とすることにより、保護枠部
材を支持部材の材質に拘わらず選定することができる。
支持部材は、リードフレーム,ダイパッド等と同質の材
料とする必要がある。一方、保護枠部材は機械的強度の
強い材料とする必要がある。支持部材と保護枠部材とを
別体構造とすることにより、各部材の機能に適した材料
を選定する事が可能となる。また、支持部材を固定する
前に保護枠部材に折り曲げ部を形成することができるた
め、折り曲げ部の加工を容易に行うことができる。
【0024】更に、半導体装置本体が配設された第1の
保護枠部材の枠体部を挟んで、その上部と下部に重畳す
るよう第2及び第3の保護枠部材を配設することによ
り、より機械的強度を向上させることができる。
【0025】また、保護枠或いは保護枠部材に折り曲げ
部を形成することにより、保護枠或いは保護枠部材の剛
性は高まり機械的強度を向上させることができる。これ
により、半導体装置本体の保護をより確実に行うことが
できる。
【0026】また、折り曲げ部の折曲方向をアウターリ
ードの折曲方向と同方向とすることにより、上方或いは
下方に折り曲げられて突出したアウターリードを折り曲
げ部により保護することができる。
【0027】また、枠体部の一部に絶縁性の樹脂テープ
を配設することにより、半導体装置のハンドリングを容
易に行うことができる。
【0028】
【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。図1は本発明の第1実施例である半導体装置10
を示しており、(A)は半導体装置10の部分切截平面
図であり、(B)は部分切截正面図である。半導体装置
10は、大略すると半導体装置本体16と、保護枠17
とにより構成されている。
【0029】先ず、半導体装置本体16の構成について
説明する。同図において、11は半導体素子であり、ダ
イパッド12上にダイボンディングされている。この半
導体素子11は、樹脂製のパッケージ13により封止さ
れることにより保護されている。
【0030】また図中、14はリードであり、インナー
リード14aとアウターリード14bとにより構成され
ている。インナーリード14aは半導体素子11に形成
されているボンディングパッド(図示せず)とワイヤ1
5により接続されており、またアウターリード14bは
パッケージ13の外部に延出すると共に、ガルウイング
状に成形されている。半導体装置本体16は、リード1
4がパッケージ13の四側面より延出されたQFP(Qu
ad Flat Package)タイプの半導体装置である。上記各構
成要素により半導体装置本体16が構成される。
【0031】一方、保護枠17は、前記したアウターリ
ード14bの先端部より外側位置において、半導体装置
本体16を囲繞するように配設される枠体部18と、こ
の枠体部18と半導体装置本体16との間に配設されて
おり半導体装置本体16を枠体部18に支持させる支持
部19とにより構成されている。
【0032】この枠体部18と支持部19は一体的な構
成とされており、更にこの枠体部18と支持部19はダ
イパッド12とも一体的な構成とされている。従って、
半導体装置本体16は支持部19により確実に枠体部1
8に支持される。また、支持部19は、半導体装置本体
16の四隅位置から延出するよう構成されているため、
支持部19が複数配設されるリード14の邪魔となるよ
うなことはない。
【0033】また、枠体部18及び支持部19は共に平
板状とされており、枠体部18及び支持部19の幅寸法
は、半導体装置10の出荷後において半導体装置本体1
6支持及び保護するのに十分耐えられるよう選定されて
いる。尚、同図において20で示すのはガイドホールで
あり、枠体部18の四隅位置に夫々形成されている。
【0034】上記構成において、本発明では保護枠17
を金属により構成したことを特徴とするものである。具
体的な保護枠17の材料としては鉄−ニッケル合金(Fe
-Ni合金:例えば42alloy)等が考えられる。上記のよう
に、保護枠17として金属を用いることにより、従来用
いられていた樹脂製の保護枠に比べて保護枠17の収縮
を極めて少なくすることができる。よって、ガイドホー
ル20の位置を高精度に決めることができ、ユーザにお
いて実施される自動プレス加工時(保護枠17を取り外
すために実施される)における半導体装置10の位置決
めを高精度に行うことができ、加工精度を向上でき歩留
りの向上を図ることができる。
【0035】また、樹脂モールドはパッケージ13を形
成するためにのみに実施され、位置決めの基準となるガ
イドホール20が形成されるため寸法精度が要求される
保護枠17に樹脂はモールドされない。これにより、樹
脂製の保護枠と異なり、樹脂モールド時に寸法ずれが発
生することはなく、半導体装置10の信頼性を向上させ
ることができる。
【0036】図2は第1実施例の変形例である半導体装
置21を示しており、(A)は半導体装置21の平面図
であり、(B)は部分切截正面図である。尚、同図にお
いて図1に示した構成と同一構成部分については同一符
号を付してその説明を省略する。
【0037】図1に示した半導体装置10では、保護枠
17を構成する枠体部18及び支持部19の形状が共に
平板形状であった。このように、枠体部18及び支持部
19を平板形状とした場合、その機械的強度は弱く、外
力が印加された場合に容易に曲がってしまい、半導体装
置本体16を十分に保護できないおそれがある。
【0038】そこで、半導体装置21では、枠体部23
の外側位置及び内側位置の所定範囲を折曲して折り曲げ
部22を形成したことを特徴とするものである。このよ
うに枠体部23に折り曲げ部22を形成することによ
り、枠体部23の剛性を高めることができ、保護枠24
の機械的強度を向上させることができ、半導体装置本体
16の保護をより確実に行うことができる。
【0039】また、前記したように半導体装置本体16
を構成するリード14はガルウイング状に成形されてい
るため下方に向け突出している。図1に示した半導体装
置10では、保護枠17が平板形状であったため、面方
向に対する半導体装置本体16の保護は出来たものの、
リード14の下方に向け突出した部位の保護を確実に行
うことができなかった。
【0040】しかるに、半導体装置21では、折り曲げ
部22をリード14の突出方向と同じ方向に向けて折曲
されており、その折り曲げ深さはリード14の突出量よ
りも若干長くなるよう設定されている。従って、半導体
装置21に図2(B)において下方から上方に向け他物
が当接したような場合でも、この他物は折り曲げ部22
の先端と当接しリード14と当接することはない。よっ
て、所定形状に成形されたリード14を確実に保護する
ことができる。
【0041】図3(A)は、図2におけるA−A断面を
示している。図2に示した半導体装置21では、折り曲
げ部22の形状を同図に示すように断面コ字状の形状と
したが、折り曲げ部22の形状はこれに限定されるもの
ではなく、同図(B)に示すように枠体部23の両側部
を上下方向に夫々折曲した形状としても良く、また、同
図(C)に示すように枠体部23の一側部のみを折曲し
た形状としても良い。
【0042】図4は半導体装置21において、枠体部2
3の所定四箇所にポリイミド等の絶縁テープ25を配設
した構成を示しており、同図(A)は絶縁テープ25を
配設した半導体装置21の平面図であり、(B)は
(A)のB−B線に沿う断面図である。
【0043】上記のように枠体部23の所定位置に絶縁
テープ25を配設することにより、ハンドリング時にお
ける電気的破壊を防止することができる。即ち、ハンド
リング時にアームにより半導体装置21を把持する際、
アームが電荷を帯びている場合があり、このようなアー
ムで金属製の枠体部23を把持した場合半導体素子11
が破壊されてしまうおそれがある。しかるに、アームに
把持される部位に絶縁テープ25を配設することによ
り、このような破壊を確実に防止することができる。
【0044】第5図は、本発明の第2実施例である半導
体装置30を示す図であり、また図6は半導体装置30
を分解した状態を示している。尚、各図においても図1
を用いて説明した第1実施例に係る半導体装置10と同
一構成部分については同一符号を付してその説明を省略
する。
【0045】本実施例では、第1実施例に係る半導体装
置10において一体化されていた保護枠17を構成する
枠体部18と支持部19とを分離させたことを特徴とす
るものである。具体的には、半導体装置本体16より一
体的に外側に向け延出するよう形成された金属製の支持
部材31を設けると共に、アウターリード14bより外
側位置に半導体装置本体16を囲繞するように保護枠部
材32を設け、この支持部材31と保護枠部材32とを
溶接等により一体化したことを特徴とするものである。
【0046】本実施例においても支持部材31及び保護
枠部材32は金属材料により構成されている。また、支
持部材31はダイパッド(同図には現れず)と一体化さ
れており、従ってその材質はダイパッド及びリード14
と同一材質(42alloy等)とされている。一方、保護枠部
材32は図6に示すように4本の枠構成部材32a〜3
2dにより構成されている。本実施例では、支持部材3
1と保護枠部材32を分離させて別体構成としたことに
より、支持部材31の材質に拘わらず保護枠部材32の
材質を選定すること可能となった。
【0047】前記したように、保護枠部材32は半導体
装置本体16を支持する必要があるため、所定の機械的
強度を持たせる必要がある。従って、上記構成とするこ
とにより保護枠部材32の材質として強度の高い材質を
選定する事が可能となり、半導体装置本体16の保護を
より確実に行うことができ、半導体装置30の信頼性を
向上させることができる。
【0048】一方、上記した図6に示す半導体装置30
では、保護枠部材32を4本の枠構成部材32a〜32
dにより構成したが、保護枠部材32は必ずしも4本の
枠構成部材32a〜32dにより構成する必要はなく、
例えば図7に示すように、予め枠形状を有した保護枠部
材33を用いてもよい。この構成とすることにより、4
本の枠構成部材32a〜32dにより構成される保護枠
部材32に比べて溶接箇所が減るため、半導体装置の製
造工程を簡単化することができる。
【0049】また、図6及び図7に示す保護枠部材3
2,33では、共にその形状が平板形状であるため、材
質的な強度は向上されたとしても形状的な強度はまだ弱
い。従って、図8に示す保護枠部材34のように折り曲
げ部35を形成することにより、保護枠部材34の剛性
を高め機械的強度をより向上させた構成としてもよい。
また前記したように、折り曲げ部35の折曲方向及び折
り曲げ深さを適宜選定することにより、リード14の保
護をより確実に行うこともできる。更に、保護枠部材3
4は支持部材31と分離した構成であるため、折り曲げ
部35を容易に加工することができ、加工性を向上させ
ることもできる。尚、同図(B)は折り曲げ部35の形
状を示すため、(A)におけるC−C断面を示してい
る。
【0050】一方、上記の図5乃至図8に示す各半導体
装置では、保護枠部材32〜34がリードフレームとは
異なる単独した部品として製造される構成であったた
め、保護枠部材32〜34と支持部材31を接合する場
合における位置決めが面倒であり、また組み立て後の精
度が低下するおそれがあった。
【0051】図9に示すのは上記の問題に対処するため
の構成であり、支持部材36及び保護枠部材37を共に
リードフレーム38,39により構成したことを特徴と
するものである。同図において、(B)は(A)の断面
を示しており、(D)は(C)の断面を示している。
【0052】上記構成において支持部材36と保護枠部
材37の位置合わせを行うには、各リードフレーム3
8,39に形成されているガイドホール40,41を位
置合わせすれば良い。よって、支持部材36と保護枠部
材37の位置合わせを容易に、かつ高い精度で行うこと
が可能となり、この方法により製造される半導体装置の
信頼性を向上させることができる。尚、リードフレーム
38,39は従来より行われている半導体製造技術によ
り容易に製造することができるため、支持部材36及び
保護枠部材37をリードフレーム38,39で形成して
も困難を伴うものではない。
【0053】図10は、本発明の第3実施例である半導
体装置50を示している。同図において(B)は(A)
におけるF−F線に沿う断面を示しており、(C)は
(A)におけるG−G線に沿う断面を示している。
【0054】半導体装置50は、半導体装置本体16
と、図1で示した第1実施例に係る半導体装置10の保
護枠17と同一構成とされた第1の保護枠部材51と、
図8で示した保護枠部材34と同一構成を有する第2及
び第3の保護枠部材52,53とにより構成されてい
る。そして、第2及び第3の保護枠部材52,53は第
1の保護枠部材51を挟むように配置された上で溶接に
より接合させている。
【0055】上記構成とされた半導体装置50では、第
1の保護枠部材51を挟んで第2及び第3の保護枠部材
52,53が配設されるため、機械的強度をより向上さ
せることができる。また、第2実施例に係る半導体装置
30と同様に第1乃至第3の保護枠部材51〜53を夫
々の機能に適した材質に選定することができるため、こ
れによっても半導体装置本体16の保護をより確実に行
うことができる。
【0056】ここで、第1乃至第3の保護枠部材51〜
53の溶接方法について説明する。本実施例では、第1
の保護枠部材51と第2の保護枠部材52との溶接位置
と、第1の保護枠部材51と第3の保護枠部材53との
溶接位置を異なる位置に選定した。
【0057】そして、第3の保護枠部材53の、上記第
1の保護枠部材51と第2の保護枠部材52との溶接位
置と対向する位置に第1の逃げ孔54を形成し、第2の
保護枠部材52の、上記第1の保護枠部材51と第3の
保護枠部材53との溶接位置と対向する位置に第2の逃
げ孔55を形成すると共に、第1及び第2の逃げ孔5
4,55を通過するようレーザ光を照射し、第1の保護
枠部材51と第2の保護枠部材52、及び第1の保護枠
部材51と第3の保護枠部材53とをレーザ溶接するこ
とにより、第1乃至第3の保護枠部材51〜53を接合
する構成とした。
【0058】レーザ溶接の場合、第1乃至第3の保護枠
部材51〜53を一括的に溶接することは困難で、仮に
第1乃至第3の保護枠部材51〜53を一括的に溶接し
ても溶接不良が発生し、半導体装置50の信頼性が大き
く低下してしまう。
【0059】しかるに、上記溶接方法により第1乃至第
3の保護枠部材51〜53を接合することにより、各保
護枠部材51〜53を確実に接合することができ、半導
体装置50の信頼性を向上させることができる。また、
そのための手段としては、単に所定位置に逃げ孔54,
55を形成するだけでよいため、上記溶接方法を行うに
際し困難を伴うものではない。
【0060】図11〜図13は本発明を種々の構造を有
する半導体装置に適用した例を示している。図11は本
発明を通常のディップタイプの半導体装置に適用した例
を示しており、図12は本発明をチップオンボードタイ
プの半導体装置に適用した例を示しており、更に図13
は本発明をTAB(Tape Automatic Bonding)タイプの
半導体装置に適用した例を示している。各図において、
(A)は本発明の第1実施例の変形例に係る構造を示し
ており、(B)は本発明の第3実施例に係る構造を示し
ている。
【0061】尚、上記した第2及び第3実施例では詳述
しなかったが、第2及び第3実施例においても第1実施
例で実現できる種々の効果を実現できることは、上記し
た説明より明白である。
【0062】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、保護枠部材
及び支持部材が金属材料により構成されるため、従来の
樹脂に比べて保護枠部材の収縮を少なくすることができ
る。よって、ガイドホールの位置を高精度に決めること
ができ、自動プレス加工時等における半導体装置の位置
決めを高精度に行うことができる。
【0063】また、樹脂モールドは樹脂パッケージ形成
にのみに実施され、寸法精度を要する保護枠部材及び支
持部材に樹脂はモールドされないため、樹脂による寸法
ずれが発生することもない。
【0064】また、支持部材を半導体装置本体に接続す
ると共に、保護枠部材を支持部と別体構造し、支持部材
を保護枠部材に固定することにより半導体装置本体を保
護枠部材に支持させる構成とすることにより、保護枠部
材を支持部材の材質に拘わらず選定することができる。
支持部材は、リードフレーム,ダイパッド等と同質の材
料とする必要がある。一方、保護枠部材は機械的強度の
強い材料とする必要がある。支持部材と保護枠部材とを
別体構造とすることにより、各部材の機能に適した材料
を選定する事が可能となる。また、支持部材を固定する
前に保護枠部材に折り曲げ部を形成することができるた
め、折り曲げ部の加工を容易に行うことができる。
【0065】更に、半導体装置本体が配設された第1の
保護枠部材の枠体部を挟んで、その上部と下部に夫々と
重畳するよう第2及び第3の保護枠部材を配設すること
により、より機械的強度を向上させることができる。
【0066】また、保護枠或いは保護枠部材に折り曲げ
部を形成することにより、保護枠或いは保護枠部材の剛
性は高まり機械的強度を向上させることができる。これ
により、半導体装置本体の保護をより確実に行うことが
できる。
【0067】また、折り曲げ部の折曲方向をアウターリ
ードの折曲方向と同方向とすることにより、折曲された
ことにより保護枠或いは保護枠部材より上方或いは下方
に突出したアウターリードを折り曲げ部により保護する
ことができる。
【0068】また、枠体部の一部に絶縁性の樹脂テープ
を配設することにより、半導体装置のハンドリングを容
易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例である半導体装置を示す図
である。
【図2】本発明の第1実施例である半導体装置の変形例
を示す図である。
【図3】折り曲げ部の一例を示す図である。
【図4】図2に示す半導体装置に絶縁テープを配設した
状態を示す図である。
【図5】本発明の第2実施例である半導体装置を示す図
である。
【図6】本発明の第2実施例である半導体装置を示す分
解図である。
【図7】保護枠部材の他の構成例を示す図である。
【図8】保護枠部材の他の構成例を示す図である。
【図9】支持部材及び保護枠部材をリードフレーム構造
とした例を示す図である。
【図10】本発明の第3実施例である半導体装置を示す
図である。
【図11】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
【図12】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
【図13】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
【図14】従来の半導体装置の一例を説明するための図
である。
【符号の説明】
10,21,30,50 半導体装置 11 半導体素子 12 ダイパッド 13 パッケージ 14 リード 14a インナーリード 14b アウターリード 15 ワイヤ 16 半導体装置本体 17,24 保護枠 18,23 枠体部 19 支持部 20,40,41 ガイドホール 22,35 折り曲げ部 25 絶縁テープ 31,36 支持部材 32,33,34,37 保護枠部材 38,39 リードフレーム 51 第1の保護枠部材 52 第2の保護枠部材 53 第3の保護枠部材 54 第1の逃げ孔 55 第2の逃げ孔

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子(11)と、該半導体素子
    (11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
    子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
    半導体素子(11)に接続されるインナーリード(14
    a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
    ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
    ド(14)とを有する半導体装置本体(16)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
    置本体(16)を囲繞するように配設される枠体部(1
    8,23)と、該枠体部(18,23)と該半導体装置
    本体(16)との間に配設れさており該半導体装置本体
    (16)を該枠体部(18,23)に支持させる支持部
    (19)とを有すると共に、該枠体部(18,23)と
    該支持部(19)とが金属材により前記ダイパッド(1
    2)と一体的に形成されてなる保護枠(17,24)
    と、 により構成されることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 該保護枠(17)に、該半導体装置本体
    (16)の位置決めを行うためのガイドホール(20)
    を形成してなることを特徴とする請求項1の半導体装
    置。
  3. 【請求項3】 該保護枠(24)に、折り曲げ部(2
    2)を形成してなることを特徴とする請求項1又は2の
    半導体装置。
  4. 【請求項4】 該アウターリード(14b)は所定形状
    に折曲形成されており、該折り曲げ部(22)は該アウ
    ターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選定
    されてなることを特徴とする請求項3の半導体装置。
  5. 【請求項5】 該枠体部(18,24)の一部に、絶縁
    性の樹脂テープ(25)を配設したことを特徴とする請
    求項1乃至4の内いずれかに記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 半導体素子(11)と、該半導体素子
    (11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
    子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
    半導体素子(11)と接続されるインナーリード(14
    a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
    ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
    ド(14)とを有する半導体装置本体(16)と、 該半導体装置本体(16)より一体的に外側に向け延出
    するよう形成された金属製の支持部材(31)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
    置本体(16)を囲繞するように配設されると共に、該
    支持部材(31)が固定されることにより該支持部材
    (31)を介して該半導体装置本体(16)を支持する
    金属製の保護枠部材(32〜34,37)と、 により構成されることを特徴とする半導体装置。
  7. 【請求項7】 該保護枠部材(32〜34,37)また
    は該支持部材(31)に、該半導体装置本体(16)の
    位置決めを行うためのガイドホール(20)を形成して
    なることを特徴とする請求項6の半導体装置。
  8. 【請求項8】 該保護枠部材(34)に、折り曲げ部
    (35)を形成してなることを特徴とする請求項6又は
    7の半導体装置。
  9. 【請求項9】 該アウターリード(14b)は所定形状
    に折曲形成されており、該折り曲げ部(35)は該アウ
    ターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選定
    されてなることを特徴とする請求項8の半導体装置。
  10. 【請求項10】 該保護枠部材(32〜34,37)の
    一部に、絶縁性の樹脂テープ(25)を配設したことを
    特徴とする請求項6乃至9の半導体装置。
  11. 【請求項11】 該支持部材(31)は保護枠部材(3
    2〜34,37)に溶接手段により固定されることを特
    徴とする請求項6乃至10の半導体装置。
  12. 【請求項12】 半導体素子(11)と、該半導体素子
    (11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
    子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
    半導体素子(11)と接続されるインナーリード(14
    a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
    ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
    ドとを有する半導体装置本体(16)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
    置本体(16)を囲繞するように配設される枠体部(1
    8)と、該枠体部(18)と該半導体装置本体(16)
    との間に配設れさており該半導体装置本体(16)を該
    枠体部(18)に支持させる支持部(19)とを有する
    と共に、該枠体部(18)と該支持部(19)とが金属
    材により一体的に形成されてなる第1の保護枠部材(5
    1)と、 該枠体部(18)を挟んでその上部と下部に夫々と重畳
    するよう配設される第2及び第3の保護枠部材(52,
    53)とにより構成されることを特徴とする半導体装
    置。
  13. 【請求項13】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
    53)または該支持部(19)に、該半導体装置本体
    (16)の位置決めを行うためのガイドホール(20)
    を形成してなることを特徴とする請求項12の半導体装
    置。
  14. 【請求項14】 該第2または第3の保護枠部材(5
    2,53)の少なくとも一方に、折り曲げ部(35)を
    形成してなることを特徴とする請求項12又は13の半
    導体装置。
  15. 【請求項15】 該アウターリード(14b)は所定形
    状に折曲形成されており、該折り曲げ部(35)は該ア
    ウターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選
    定されてなることを特徴とする請求項14の半導体装
    置。
  16. 【請求項16】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
    53)の一部に、絶縁性の樹脂テープ(25)を配設し
    たことを特徴とする請求項12乃至15の内いずれかに
    記載の半導体装置。
  17. 【請求項17】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
    53)は溶接手段により一体的に固定されてなることを
    特徴とする請求項12乃至16の内いずれかに記載の半
    導体装置。
  18. 【請求項18】 該第1の保護枠部材(51)と該第2
    の保護枠部材(52)との溶接位置と、該第1の保護枠
    部材(51)と該第3の保護枠部材(53)との溶接位
    置を異なる位置に選定し、 該第3の保護枠部材(53)の、上記第1の保護枠部材
    (51)と該第2の保護枠部材(52)との溶接位置と
    対向する位置に第1の逃げ孔(54)を形成し、 該第2の保護枠部材(52)の、上記第1の保護枠部材
    (51)と該第3の保護枠部材(53)との溶接位置と
    対向する位置に第2の逃げ孔(55)を形成し、 該第1及び第2の逃げ孔(54,55)を通過するよう
    レーザ光を照射し、該第1の保護枠部材(51)と該第
    2の保護枠部材(52)、及び該第1の保護枠部材(5
    1)と該第3の保護枠部材(53)とをレーザ溶接して
    なることを特徴とする請求項17記載の半導体装置。
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