JPH05173077A - 走査型レーザー顕微鏡 - Google Patents

走査型レーザー顕微鏡

Info

Publication number
JPH05173077A
JPH05173077A JP3343318A JP34331891A JPH05173077A JP H05173077 A JPH05173077 A JP H05173077A JP 3343318 A JP3343318 A JP 3343318A JP 34331891 A JP34331891 A JP 34331891A JP H05173077 A JPH05173077 A JP H05173077A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
shutter
sample
laser beam
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3343318A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3187898B2 (ja
Inventor
Toru Kakubari
通 角張
Masahiko Yazawa
雅彦 矢沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP34331891A priority Critical patent/JP3187898B2/ja
Publication of JPH05173077A publication Critical patent/JPH05173077A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3187898B2 publication Critical patent/JP3187898B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】レーザービームの走査に要する時間の短い走査
型レーザー顕微鏡を提供する。 【構成】光源12から射出されたレーザービームは、こ
れをx方向とy方向に走査する走査ユニット16に入射
する。走査ユニット16からのレーザービームはシャッ
ター18を介してレンズ20に入射し試料22に集光さ
れる。シャッター18の開閉は、走査開始後に開いてビ
ームを通過させ、走査終了前に閉じてビームを遮断する
よう走査コントローラー44により制御される。試料2
2からの光はレンズ24に入射し、補正ユニット26で
光軸ずれが補正された後、レンズ28で集光され、ピン
ホール30を通過して光検出器32に入射する。コント
ローラー46は光検出器32の出力と走査コントローラ
ー44からの位置情報とに基づいて試料観察像を構築
し、TVモニター50に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は走査型レーザー顕微鏡に
関する。
【0002】
【従来の技術】走査型レーザー顕微鏡はレーザービーム
を走査して試料を観察する装置で、その一つが例えば特
開昭63−306414号に開示されている。このよう
な走査型レーザー顕微鏡は蛍光顕微鏡として利用される
ことが多い。
【0003】蛍光顕微鏡は、強力な光(励起光)を試料
に照射し、試料の発する蛍光を利用して、試料の構造を
観察したり、蛍光の有無を調べて物質を判別したりす
る。この蛍光顕微鏡では生物試料の動的な観察も行なわ
れ、近年では生体イオンの刺激に対する時間的応答の解
析等にも応用されている。特にindo−1を用いたカ
ルシウムイオンの解析などに多く用いられるようになっ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように走査型レー
ザー顕微鏡で生細胞を蛍光観察する場合、励起光と蛍光
の波長が異なるため、走査機構にはガルバノスキャナー
等のミラーを用いた機械的なものを使用する必要があ
る。このような機械的な走査機構では初期駆動時に応答
遅れが生じるため、取り込み画像の歪みが発生する。こ
れを防止するため通常は、例えばx方向のスキャナーに
対して4〜6回の予備駆動を行なった後に画像を入力し
ている。このため、生体イオンの解析において刺激に対
する試料の反応を観察することが難しい。つまり、これ
を観察するには刺激を与えるタイミングに合わせて画像
を取り込まなければならず、これを行なうことは上述し
たように難しいためである。
【0005】また、走査型レーザー顕微鏡では、蛍光顕
微鏡で照射する光に比べて遥かに光強度の高いレーザー
光を試料に照射するので、試料に与えるダメージが大き
く褪色を引き起こし易いため、長時間に亙って試料の観
察を行なうことができない。
【0006】本発明は、レーザービームの走査に要する
時間が短く、比較的長い時間に亙って試料を観察できる
走査型レーザー顕微鏡を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の走査型レーザー
顕微鏡は、レーザービームを射出する光源と、反射面を
機械的に駆動してレーザービームを走査する走査手段
と、レーザービームを試料に照射する照射手段と、試料
と共役な位置に置かれたピンホールと、ピンホールを通
過した光を受光する光検出器と、光検出器の出力を取り
込み画像を形成する画像形成手段とを備え、照射手段が
レーザービームを適宜遮断するシャッターとシャッター
の開閉を制御する手段とを備えており、走査手段は、シ
ャッターが開く前にビームの走査を開始し、シャッター
が閉じた後も走査を続けることを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明では、シャッターが開かれてレーザービ
ームが試料に照射される以前にレーザービームの走査が
開始される。レーザービームの走査速度はシャッターが
開かれるまでの間に所定の速度に達する。従って、機械
的な機構に起因する走査開始時の応答遅れがなくなる。
走査手段はシャッターが閉じられた後もレーザービーム
の走査を続ける。シャッターが開いている間、実質的に
画像形成に必要な情報すなわち光検出器の出力が画像形
成手段に取り込まれ、これに基づいて画像が形成され
る。
【0009】
【実施例】本発明による走査型レーザー顕微鏡の一実施
例の構成を図1に示す。図には透過型の光学系を示して
いる。
【0010】光源12から射出されたレーザー光はレン
ズ14により平行ビームとなり走査ユニット16に入射
する。走査ユニット16は、ガルバノスキャナー等で構
成したxスキャナー16aとyスキャナー16bとを有
し、これらのスキャナー16aと16bはそれぞれこれ
に入射したレーザービームをx方向とy方向に走査す
る。走査ユニット16からのレーザービームは、開閉動
作によりこれを適宜遮断するシャッター18に入射す
る。シャッター18の開閉はシャッター駆動回路38に
より行なわれる。シャッター18を通過したレーザービ
ームはレンズ20に入射し試料22に集光される。試料
22の表面または内部に形成されるビームスポットは、
走査ユニット16によるレーザービームの走査に応じ
て、光軸に直交する面方向(すなわちxy方向)に走査
される。試料22からの光(例えば蛍光)はレンズ24
に入射し、走査ユニット16により生じた光軸中心から
のずれを補正する補正ユニット26に入射する。補正ユ
ニット26は、ガルバノスキャナー等で構成したyスキ
ャナー26aとxスキャナー26bとを有し、yスキャ
ナー26aが走査ユニット16のyスキャナー16bに
より生じたy方向のずれを、xスキャナー26bが走査
ユニット16のxスキャナー16aにより生じたx方向
のずれを補正する。補正ユニット26からの光はレンズ
28により集光され、ピンホール30を通過して光検出
器32に入射する。
【0011】走査ユニット16のxスキャナー16aと
yスキャナー16bはそれぞれxスキャナー駆動回路3
4とyスキャナー駆動回路36によって制御され、補正
ユニット26のyスキャナー26aとxスキャナー26
bはそれぞれyスキャナー駆動回路40とxスキャナー
駆動回路42によって制御される。これらのスキャナー
駆動回路34と36と40と42は走査コントローラー
44からの信号に応じて駆動される。また、シャッター
駆動回路38は走査コントローラー44からの信号に応
じてシャッター18を開閉させる。コントローラー46
は、操作パネル48からの命令に応じて走査範囲の決定
した上で走査コントローラー44に走査開始や終了など
の指令を出す。さらにコントローラー46は、走査コン
トローラー44からビームスポットの位置情報を入力す
ると共に、光検出器の出力信号を入力し、これらの情報
に基づいて試料22の観察像を構築してTVモニター5
0に表示する。
【0012】次に本実施例の動作について説明する。そ
のタイミングチャートを図2に示す。また図3に試料上
における走査時のビームスポットの座標を示す。
【0013】図2(C)に示すように、パルス状の走査
開始信号がコントローラー46から走査コントローラー
44に入力されると、スキャナー駆動回路34と36が
駆動され走査が開始される。このとき、試料の表面また
は内部に形成されるビームスポットの位置のx座標とy
座標は図2の(A)と(B)に仮想的に示される。ここ
で、仮想的と表現したのは、シャッターが閉じられてい
てレーザービームが実際に試料に照射されていない場合
も含めているからである。最初、ビームスポットはX
0,Y0の位置を始点として、図2(B)の区間Aに示
すように、y座標は変わらずx方向のみに往復移動され
る。
【0014】続いて、図2(D)に示すように、パルス
状の画像読み取り信号が走査コントローラー44に入力
されると、丁度x方向の往復移動が終了した時にビーム
スポットが図3のX1,Y1の位置に移動されると同時
にシャッター18が開かれる。図2(B)の区間Bに示
されるように、ビームスポットはx方向に一往復する度
にy座標が一画素分だけ移動される。この動作はビーム
スポットが図3のXn,Ynの位置に達するまで続けら
れる。その間、コントローラー46は、光検出器32の
出力を入力するとともに、そのときのビームスポットの
位置信号を走査コントローラー44から取り込み、これ
らの情報を基に観察像を構築し、走査終了後(ビームス
ポットがXn,Ynに達した後)に観察像をTVモニタ
ー50に表示する。
【0015】ビームスポットがXn,Ynの位置に達す
ると、シャッター18が閉じられるとともに、図2
(B)の区間A’に示されるように、ビームスポットの
y座標は図3のY0に戻り、再び画像取り込み待ちの状
態になる。
【0016】このように画像取り込み開始前にxスキャ
ナーを駆動させているので、従来では反応遅れ防止のた
めに必要であった4〜6回の予備駆動が不要となり、レ
ーザービームの走査に要する時間の短縮することができ
る。
【0017】以上は走査範囲の全部を画像として取り込
むときの説明であるが、走査範囲の一部分のみを画像と
して取り込んでもよい。この場合、画像の取り込み開始
位置を図3のX0’,Y0’に、終了位置をXn’,Y
n’に変えてもよい。このときのタイミングチャートを
図4に示す。画像取り込み待ちの状態において、ビーム
スポットはそのy座標がY0’の位置でx方向に往復移
動している。画像取り込み信号が入力されると、シャッ
ター18が開くとともに、上述したのと同じ動作でビー
ムスポットがXn’,Yn’の位置に達するまで走査が
続けられる。走査が終了すると、ビームスポットは再び
X0’,Y0’の位置に戻り、画像取り込み待ちの状態
になる。このように画像入力範囲の取り込み開始位置と
終了位置を適当に設定することにより、任意幅の画像入
力が可能である。
【0018】上述した画像入力では、ビームスポットが
x方向に往復移動する際の往路の時のみに画像を取り込
んでいる。従って、復路時のレーザー照射は不要であ
る。と言うよりは、レーザー照射は試料にダメージを与
えるので、この様な不要なレーザー照射は無い方が好ま
しい。このため、シャッターに反応速度の早い光音響素
子で構成したものを用い、ビームスポットのx方向の走
査の復路時にはシャッターを閉じて試料にレーザー光が
照射されないようにすることもできる。画像取り込み時
のビームスポットのx座標を拡大したものを図5に示
す。図に示すように、x座標が最大になったときにシャ
ッターが閉じられ、復路の間は不要なレーザーは遮断さ
れる。ただし、復路の残り3〜4ステップとなった段階
で、次のラインの入力に備えてシャッターが開かれる。
【0019】この一連の動作により試料に照射される不
要なレーザー光は遮断され、試料に与えるダメージを少
なくでき、観察可能な時間を長くすることができる。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、従来では必要であった
xスキャナーの4〜6回の予備駆動が不要となり、レー
ザービームの走査に要する時間の短縮することができ
る。さらに、不要なレーザー光は遮断されるので、試料
の受けるダメージが少なくなり、従って試料の観察可能
な時間を長くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】走査型レーザー顕微鏡の一実施例の構成を示
す。
【図2】図1の走査型レーザー顕微鏡の動作を説明する
ためのタイミングチャートである。
【図3】試料上でのビームスポットの位置を示す。
【図4】画像を部分的に取り込むときのタイミングチャ
ートである。
【図5】x方向に一往復する間のビームスポットのx座
標を示す。
【符号の説明】
12…光源、16…走査ユニット、18…シャッター、
30…ピンホール、32…光検出器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザービームを射出する光源と、反射
    面を機械的に駆動してレーザービームを走査する走査手
    段と、レーザービームを試料に照射する照射手段と、試
    料と共役な位置に置かれたピンホールと、ピンホールを
    通過した光を受光する光検出器と、光検出器の出力を取
    り込み画像を形成する画像形成手段とを備えている走査
    型レーザー顕微鏡において、 照射手段がレーザービームを適宜遮断するシャッターと
    シャッターの開閉を制御する手段とを有し、 走査手段は、シャッターが開く前にビームの走査を開始
    し、シャッターが閉じた後も走査を続けることを特徴と
    する走査型レーザー顕微鏡。
  2. 【請求項2】 シャッターは光音響素子を用いて作られ
    ていることを特徴とする請求項1記載の走査型レーザー
    顕微鏡。
JP34331891A 1991-12-25 1991-12-25 走査型レーザー顕微鏡 Expired - Lifetime JP3187898B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34331891A JP3187898B2 (ja) 1991-12-25 1991-12-25 走査型レーザー顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34331891A JP3187898B2 (ja) 1991-12-25 1991-12-25 走査型レーザー顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05173077A true JPH05173077A (ja) 1993-07-13
JP3187898B2 JP3187898B2 (ja) 2001-07-16

Family

ID=18360596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34331891A Expired - Lifetime JP3187898B2 (ja) 1991-12-25 1991-12-25 走査型レーザー顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3187898B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002131649A (ja) * 2000-08-03 2002-05-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法
JP2007010354A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Opcell Co Ltd 物体の表面形状を観察測定する装置
JP2008015554A (ja) * 2007-09-28 2008-01-24 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
US10816474B2 (en) 2016-06-07 2020-10-27 Tohoku University Optical information detection apparatus and microscope system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002131649A (ja) * 2000-08-03 2002-05-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法
JP2007010354A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Opcell Co Ltd 物体の表面形状を観察測定する装置
JP2008015554A (ja) * 2007-09-28 2008-01-24 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
US10816474B2 (en) 2016-06-07 2020-10-27 Tohoku University Optical information detection apparatus and microscope system
DE112017002847B4 (de) 2016-06-07 2022-06-02 Tohoku University Optische Informationsdetektionsvorrichtung und Mikroskopsystem

Also Published As

Publication number Publication date
JP3187898B2 (ja) 2001-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4854691A (en) Laser beam scanning type eye fundus camera
US7564621B2 (en) Examination apparatus and focusing method of examination apparatus
US6717723B2 (en) Scanning laser microscope
JP4468507B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
WO2000057231A1 (en) Scanning confocal microscope
EP1785761B1 (en) Microscope apparatus
JPH05173077A (ja) 走査型レーザー顕微鏡
WO2014112085A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP6134249B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置の画像取得方法
JP2008114059A (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2013127579A (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP5848596B2 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JPS63278692A (ja) レ−ザ−加工装置に於ける自動焦点機構
US7390998B2 (en) Raster microscope and method for the analysis of biological samples by means of a raster microscope having a manipulation light beam and excitation light beam successively illuminated with a temporal interval
JPH1068901A (ja) 2次元スキャナ装置
WO2014112084A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP4477170B2 (ja) 走査型顕微鏡装置
JPH07181394A (ja) 走査型レーザー顕微鏡
JPH04159510A (ja) レーザ走査型観察装置
JP2006003805A (ja) 共焦点観察システム、光照射方法、及び光照射プログラム
JPH095630A (ja) 光走査方法
EP4537969A1 (en) Laser processing apparatus
JP2001079674A (ja) マーキング装置
JP2009025632A (ja) 走査型顕微鏡
JPH09329749A (ja) 光走査型顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19991214

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080511

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090511

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100511

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100511

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511

Year of fee payment: 11