JPH0518042B2 - - Google Patents
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- JPH0518042B2 JPH0518042B2 JP60140666A JP14066685A JPH0518042B2 JP H0518042 B2 JPH0518042 B2 JP H0518042B2 JP 60140666 A JP60140666 A JP 60140666A JP 14066685 A JP14066685 A JP 14066685A JP H0518042 B2 JPH0518042 B2 JP H0518042B2
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- Japan
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- detector
- computer
- level
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は二つの対象物の間の相対的位置を決定
するための測定装置で、特にバーコードを遠隔的
に読み取るための光学的測定装置に関する。
するための測定装置で、特にバーコードを遠隔的
に読み取るための光学的測定装置に関する。
（従来の技術）
相互に運動可能な２つの部分の相対位置の非接
触測定のための技術は種々の分野で必要とされ
る。両部分はその位置が精度の高いレベル又はダ
イヤルゲージ、例えば光学的読み取り機によつて
確定されるべき精密機械の部分でありうる。この
ようにして例えば従来からあるレベル又はレベル
に接続された望遠鏡又はテレビカメラを使用する
ものでは遠くにある標尺上の高い個所にある読み
取りスケールが読み取られなければならない。
触測定のための技術は種々の分野で必要とされ
る。両部分はその位置が精度の高いレベル又はダ
イヤルゲージ、例えば光学的読み取り機によつて
確定されるべき精密機械の部分でありうる。この
ようにして例えば従来からあるレベル又はレベル
に接続された望遠鏡又はテレビカメラを使用する
ものでは遠くにある標尺上の高い個所にある読み
取りスケールが読み取られなければならない。
しかし望遠鏡による遠隔の高い個所の読み取り
スケールの観察者に高度の集中力を要求すること
になる。このようにしてこの方法では常に読み取
り誤差が特に観察者が未熟な場合に生ずる。
スケールの観察者に高度の集中力を要求すること
になる。このようにしてこの方法では常に読み取
り誤差が特に観察者が未熟な場合に生ずる。
種々な方法で公知のレベルの誤差の生じ易さを
消去するための研究が成された。標尺の読み取り
は従来使用されて来た受信器によつて置換される
ことになる。しかし標尺は非常に複雑でかつ野外
又は建物敷地内での乱暴な使用のためには実際上
不適当である。これに加えて、この標尺による測
定には不利なかなりの労力を伴う。
消去するための研究が成された。標尺の読み取り
は従来使用されて来た受信器によつて置換される
ことになる。しかし標尺は非常に複雑でかつ野外
又は建物敷地内での乱暴な使用のためには実際上
不適当である。これに加えて、この標尺による測
定には不利なかなりの労力を伴う。
オーストラリア特許2542／77によれば標尺は白
黒の縦縞及び三角形の組合せを備えている。これ
らのマークの走査によつて標尺に直角にかつ適当
なコードの選択により、走査されたパルス長から
高さの測定値が求められる。しかし大きな距離隔
てられた標尺を読み取る場合に伴う限定された測
定精度及び低感度は非常に不利である。
黒の縦縞及び三角形の組合せを備えている。これ
らのマークの走査によつて標尺に直角にかつ適当
なコードの選択により、走査されたパルス長から
高さの測定値が求められる。しかし大きな距離隔
てられた標尺を読み取る場合に伴う限定された測
定精度及び低感度は非常に不利である。
（発明の課題）
本発明は望遠鏡による遠隔の高い個所の読み取
りスケールの観察者に高度の集中力を要求するこ
とになく、測定者に高度な熟練度を要求せずに、
高精度の水準測量を行うことができる測定装置を
創造することを課題とする。
りスケールの観察者に高度の集中力を要求するこ
とになく、測定者に高度な熟練度を要求せずに、
高精度の水準測量を行うことができる測定装置を
創造することを課題とする。
（課題の解決のための手段）
本発明によれば、この課題は特許請求の範囲第
１項に記載された構成によつて解決される。
１項に記載された構成によつて解決される。
（実施例）
第１図は水準測量装置を示し、この装置はレベ
ル１並びにレベル１から距離Ｚにセツトされた標
尺２から成る。好適な実施例によれば、横向きの
バーコード３は標尺２上に配設され、レベル１は
標尺２を読むために使用される。
ル１並びにレベル１から距離Ｚにセツトされた標
尺２から成る。好適な実施例によれば、横向きの
バーコード３は標尺２上に配設され、レベル１は
標尺２を読むために使用される。
第２図において、レベル１は対物レンズ４、ピ
ント合わせ駆動機構６と連動するピント合わせレ
ンズ５、ビームスプリツタ７、十字線８及び接眼
鏡９を含む。ビームスプリツタ７によつて主光線
から分けられた光線の範囲に検出器群１０があ
る。検出器群１０は光軸に対して直角に曲げられ
た光を受けてコード要素の像を形成するために使
用されるトランスジユーサであり、かつ従来の方
法に相応した電気信号を発生させるために使用さ
れる。標尺２上のコード要素が対物レンズ４を通
して検出器群１０の平面内に結像されるように構
成される。第３図に詳示された信号処理装置１１
は検出器群１０と直列に接続されている。
ント合わせ駆動機構６と連動するピント合わせレ
ンズ５、ビームスプリツタ７、十字線８及び接眼
鏡９を含む。ビームスプリツタ７によつて主光線
から分けられた光線の範囲に検出器群１０があ
る。検出器群１０は光軸に対して直角に曲げられ
た光を受けてコード要素の像を形成するために使
用されるトランスジユーサであり、かつ従来の方
法に相応した電気信号を発生させるために使用さ
れる。標尺２上のコード要素が対物レンズ４を通
して検出器群１０の平面内に結像されるように構
成される。第３図に詳示された信号処理装置１１
は検出器群１０と直列に接続されている。
第３図によれば信号処理装置１１において検出
器群１０内の検出器要素Qiの受光した光の強度qi
に依存する信号が増幅器１２、デジタル化段であ
るサンプリング及び保持手段１３及びアナログデ
ジタルコンバータ１４を経てコンピユータ１５に
入力される。測定結果のデイスプレー装置１６は
コンピユータの出力側に接続されている。
器群１０内の検出器要素Qiの受光した光の強度qi
に依存する信号が増幅器１２、デジタル化段であ
るサンプリング及び保持手段１３及びアナログデ
ジタルコンバータ１４を経てコンピユータ１５に
入力される。測定結果のデイスプレー装置１６は
コンピユータの出力側に接続されている。
レベル１のピント合わせ駆動機構６に位置検出
器１７、例えば回転ノブに連結された変位トラン
スジユーサ又は角度検出器が接続されている。こ
の位置検出器１７は標尺２上にレベル１のピント
合わせが行われた時ピント合わせ駆動機構６の位
置（即ちレンズの移動量）を決定できるようにさ
れる。位置検出器１７の出力信号は別の入力信号
としてコンピユータ１５に入力される。
器１７、例えば回転ノブに連結された変位トラン
スジユーサ又は角度検出器が接続されている。こ
の位置検出器１７は標尺２上にレベル１のピント
合わせが行われた時ピント合わせ駆動機構６の位
置（即ちレンズの移動量）を決定できるようにさ
れる。位置検出器１７の出力信号は別の入力信号
としてコンピユータ１５に入力される。
コンピユータ１５にはROM１８が接続されて
おり、ROM１８には標尺２上のバーコードに相
当する参照コードが記憶されている。
おり、ROM１８には標尺２上のバーコードに相
当する参照コードが記憶されている。
コンピユータ１５は標尺２上のコード要素の位
置従つて後で詳細に記載するように水準高さを検
出器群１０によつてつくられるコード像とROM
１８から読み出された参照コードとの比較により
得られた判別値Piについての相互相関関数KL
（ｍ，△）に基づいて決定する。
置従つて後で詳細に記載するように水準高さを検
出器群１０によつてつくられるコード像とROM
１８から読み出された参照コードとの比較により
得られた判別値Piについての相互相関関数KL
（ｍ，△）に基づいて決定する。
実際上の水準測量操作は標尺２にレベル１の望
遠鏡を向けること、及びピント合わせ駆動機構６
によりピント合わせをすることとから成る。位置
検出器１７の位置によつて入力された望遠鏡のピ
ント位置によつてコンピユータ１５は先ずレベル
１と標尺２との間の距離Ｚを決定する。これと関
連して、ROM１８はピント位置の関数として距
離Ｚに関する相応した校正定数を含む。
遠鏡を向けること、及びピント合わせ駆動機構６
によりピント合わせをすることとから成る。位置
検出器１７の位置によつて入力された望遠鏡のピ
ント位置によつてコンピユータ１５は先ずレベル
１と標尺２との間の距離Ｚを決定する。これと関
連して、ROM１８はピント位置の関数として距
離Ｚに関する相応した校正定数を含む。
好ましくはROM１８にも記憶された望遠鏡対
物レンズの焦点距離ｆとレベル１と標尺２との間
の予め設定された距離Ｚとに基づいてコンピユー
タ１５は等式ｍ＝−ｆ／Ｚにより像倍率を計算す
る。標尺２はこの像倍率ｍで検出器群１０上に結
像される。
物レンズの焦点距離ｆとレベル１と標尺２との間
の予め設定された距離Ｚとに基づいてコンピユー
タ１５は等式ｍ＝−ｆ／Ｚにより像倍率を計算す
る。標尺２はこの像倍率ｍで検出器群１０上に結
像される。
信号処理装置１１の操作を第４Ａ図〜第４Ｃ図
に基づいて説明する。第４Ａ図は参照コードＲ
（ｒ；ｍ，△）のための信号を示し、この信号は
ROM１８から読み出され、理解を容易にするた
めに検出器群１０の平面内に示されている。この
平面内で個々の検出器要素Qiの位置ｒの関数であ
る。ｒは変数であり、一方像倍率ｍはパラメータ
である。ずれ△もパラメータであり、かつ第４Ｂ
図による個々の検出器要素Qiのスタート位置に対
するメモリから読み出される参照コードのスター
ト位置のずれを示す。
に基づいて説明する。第４Ａ図は参照コードＲ
（ｒ；ｍ，△）のための信号を示し、この信号は
ROM１８から読み出され、理解を容易にするた
めに検出器群１０の平面内に示されている。この
平面内で個々の検出器要素Qiの位置ｒの関数であ
る。ｒは変数であり、一方像倍率ｍはパラメータ
である。ずれ△もパラメータであり、かつ第４Ｂ
図による個々の検出器要素Qiのスタート位置に対
するメモリから読み出される参照コードのスター
ト位置のずれを示す。
コード表示又は検出器要素配置の選択はずれ△
が隣接した２つの検出器要素Qiの間の間隔h′より
も常に小さい値となるように行われる（第４Ｂ
図）。
が隣接した２つの検出器要素Qiの間の間隔h′より
も常に小さい値となるように行われる（第４Ｂ
図）。
位置ｒの関数として、第４Ｂ図は個々の検出器
要素Qi（ｉ＝１，２，…Ｎ）の感度曲線Ｄ(r)を示
す。
要素Qi（ｉ＝１，２，…Ｎ）の感度曲線Ｄ(r)を示
す。
相応して選択された制御プログラムにより、コ
ンピユータ１５は第４Ａ図及び第４Ｂ図による検
出器の感度曲線Ｄ(r)の各値を参照コードＲ（ｒ；
ｍ，△）の値に連続的に掛算しかつ位置ｒについ
てこれを積分する。
ンピユータ１５は第４Ａ図及び第４Ｂ図による検
出器の感度曲線Ｄ(r)の各値を参照コードＲ（ｒ；
ｍ，△）の値に連続的に掛算しかつ位置ｒについ
てこれを積分する。
結果は第４Ｃ図にプロツトされた第１の判別値
P1（ｍ，△）、第２の判別値P2（ｍ，△）等々で表
わされる。
P1（ｍ，△）、第２の判別値P2（ｍ，△）等々で表
わされる。
P1（ｍ，△）＝∞
∫0
Ｒ（ｒ；ｍ，△）・D1（ｒ）・dr
感度D1はその後適当なコンピユータ操作により
検出器要素間隔h′だけシフトされ、Ｒ（ｒ；ｍ，
△）倍されかつｒについて積分される。第２の判
別値P2（ｍ，△）はこういう操作によつて得られ
る。第３の判別値以降も同様れ操作によつて得ら
れる。これは全参照コードについて処理が終了す
るまで繰り返される。結果は第４Ｃ図に図式的に
表されている。
検出器要素間隔h′だけシフトされ、Ｒ（ｒ；ｍ，
△）倍されかつｒについて積分される。第２の判
別値P2（ｍ，△）はこういう操作によつて得られ
る。第３の判別値以降も同様れ操作によつて得ら
れる。これは全参照コードについて処理が終了す
るまで繰り返される。結果は第４Ｃ図に図式的に
表されている。
プログラム制御された方法でコンピユータ１５
は最終的に検出器群１０の個々の検出器要素Qiに
おいて例えばq1については下記の等式 ｑ(一)１＝∞ ∫0 Ｂ(r)・D1(r)dr で求められ、それからこのqi（この場合qiは各検出
器要素Qiの受光した光の強度であり、Ｂ(r)は照度
である。）と判別値Pi+L（ｍ，△）との間の相互相
関関数KL（ｍ，△）をプログラム制御された方法
によつて次の等式により計算し、その最大値を求
める。この式でＮは使用された検出器要素の数で
ある。
は最終的に検出器群１０の個々の検出器要素Qiに
おいて例えばq1については下記の等式 ｑ(一)１＝∞ ∫0 Ｂ(r)・D1(r)dr で求められ、それからこのqi（この場合qiは各検出
器要素Qiの受光した光の強度であり、Ｂ(r)は照度
である。）と判別値Pi+L（ｍ，△）との間の相互相
関関数KL（ｍ，△）をプログラム制御された方法
によつて次の等式により計算し、その最大値を求
める。この式でＮは使用された検出器要素の数で
ある。
こうして計算された相互相関関数の値に基づい
て、即ちコンピユータ１５は予め求められた相互
相関関数の値が最大となつた場合のシフトＬを求
める。その際パラメータｍと△は数学的方法によ
つて変えられ、相互相関関数KL（ｍ，△）の最大
値におけるＬ，ｍ，及び△が特定される。
て、即ちコンピユータ１５は予め求められた相互
相関関数の値が最大となつた場合のシフトＬを求
める。その際パラメータｍと△は数学的方法によ
つて変えられ、相互相関関数KL（ｍ，△）の最大
値におけるＬ，ｍ，及び△が特定される。
像倍率ｍ、及び前記ずれ△の値からこのように
計算された相互相関関数の最大値を有するずれ△
が求められ、そして相応したパラメータから読み
取り位置即ち本実施例では水準高さが算出され
る。各検出器要素Qiの受光した光の強度qiと判別
値Pi+L（ｍ，△）とから前記の等式によつて求め
られる相互相関関数KL（ｍ，△）の値は、qi＝
Pi+Lの場合にはKL＝１、qi≠Pi+Lの場合にはKL＜
１である。
計算された相互相関関数の最大値を有するずれ△
が求められ、そして相応したパラメータから読み
取り位置即ち本実施例では水準高さが算出され
る。各検出器要素Qiの受光した光の強度qiと判別
値Pi+L（ｍ，△）とから前記の等式によつて求め
られる相互相関関数KL（ｍ，△）の値は、qi＝
Pi+Lの場合にはKL＝１、qi≠Pi+Lの場合にはKL＜
１である。
次にレベル１と標尺２との間の距離Ｚの測定精
度について述べる。レベル１と標尺２との間の距
離Ｚの最初に行われる決定については次の式に基
づいて精度△Ｚ／Ｚが得られる。
度について述べる。レベル１と標尺２との間の距
離Ｚの最初に行われる決定については次の式に基
づいて精度△Ｚ／Ｚが得られる。
△Ｚ／Ｚ＝OPD・８・Ｚ／D2
Ｄはレベル１の対物レンズの口径、OPDは光学
的位相差である。もしもOPD≦λ／２かつＤ＝
400mmと仮定すれば、相対的距離精度△Ｚ／Ｚ＝
100ｍの場合に対して±14％よりもよく、Ｚ＝５
ｍに対する±0.78％よりもよい。
的位相差である。もしもOPD≦λ／２かつＤ＝
400mmと仮定すれば、相対的距離精度△Ｚ／Ｚ＝
100ｍの場合に対して±14％よりもよく、Ｚ＝５
ｍに対する±0.78％よりもよい。
記載の使用及びプロセスのために好適にするた
めにバーコード３は次の条件を充足しなければな
らない。
めにバーコード３は次の条件を充足しなければな
らない。
標尺２の像倍率 ｍがレベル１と標尺２の間の
距離Ｚによつて検出器群の平面内で変わるので、
像倍率ｍはかなりの変化をうける。
距離Ｚによつて検出器群の平面内で変わるので、
像倍率ｍはかなりの変化をうける。
例えば距離Ｚを1.5から100ｍに変える場合に像
倍率の変化は66.6倍になる。
倍率の変化は66.6倍になる。
検出器要素Qi上へコード要素の投影は検出器群
１０の個々の検出器要素Qiの相互間隔h′よりも大
きくなければならず、そうすれば検出器要素Qiは
コード要素を解像することができる。こうにし
て、通信工学上のナイキスト理論に基づいてコー
ド要素G′の投影は検出器要素の相互間距離h′の少
なくとも２倍であるべきである。
１０の個々の検出器要素Qiの相互間隔h′よりも大
きくなければならず、そうすれば検出器要素Qiは
コード要素を解像することができる。こうにし
て、通信工学上のナイキスト理論に基づいてコー
ド要素G′の投影は検出器要素の相互間距離h′の少
なくとも２倍であるべきである。
この条件は標尺２のために選択されたコード格
子Ｇの大きさをＧ≧2h′mとする。この際ｍは検
出器群１０の平面内への標尺２の最大測定距離Ｚ
に対する像倍率である。
子Ｇの大きさをＧ≧2h′mとする。この際ｍは検
出器群１０の平面内への標尺２の最大測定距離Ｚ
に対する像倍率である。
レベル１と標尺２との間の距離Ｚが短い場合、
望遠鏡への実用可能な検出器要素の数の減少のた
めに視野は検出器群１０の視野に２，３の格子要
素Ｇしかない程狭くなる。格子要素のこの数はコ
ード情報の明確な特定従つてコードキヤリアの明
白かつ正確な読み取りが不充分な程小さい。この
実施例においてレベル１にズームレンズ又は拡大
変換器のような可変焦点距離の光学系が使用され
る。視野の走査装置もこの目的に適合する。
望遠鏡への実用可能な検出器要素の数の減少のた
めに視野は検出器群１０の視野に２，３の格子要
素Ｇしかない程狭くなる。格子要素のこの数はコ
ード情報の明確な特定従つてコードキヤリアの明
白かつ正確な読み取りが不充分な程小さい。この
実施例においてレベル１にズームレンズ又は拡大
変換器のような可変焦点距離の光学系が使用され
る。視野の走査装置もこの目的に適合する。
前述の問題の他の解決法は精密格子系によつ
て、明縞又暗縞のいずれか又は両方をコードの格
子要素を細分化することがあり、その結果より細
かいコードが形成される。この細コードは大きい
距離Ｚに対しては検出器群１０によつて読み取る
ことができず、グレーバリユーとして判断され
る。短い距離Ｚの場合、細コードは視野が制限さ
れている場合における検出器群上の位置の決定に
役立つ。コード格子は粗いコードとして適切であ
ることが実証され、粗いコードは実際の最大測定
距離Ｚに対するコードキヤリア上の線間隔の像の
大きさの略1.5倍である。
て、明縞又暗縞のいずれか又は両方をコードの格
子要素を細分化することがあり、その結果より細
かいコードが形成される。この細コードは大きい
距離Ｚに対しては検出器群１０によつて読み取る
ことができず、グレーバリユーとして判断され
る。短い距離Ｚの場合、細コードは視野が制限さ
れている場合における検出器群上の位置の決定に
役立つ。コード格子は粗いコードとして適切であ
ることが実証され、粗いコードは実際の最大測定
距離Ｚに対するコードキヤリア上の線間隔の像の
大きさの略1.5倍である。
コードキヤリアは走査装置によつて特定される
ことができる任意の形を有することができる、例
えば円形でもありうる。
ことができる任意の形を有することができる、例
えば円形でもありうる。
このことはコードキヤリアのコード要素の角度
位置を自動的にかつ非常に正確に走査することを
可能にする。必要な計算操作は、コードキヤリア
と読み取り機との間に距離が確定しているなら
ば、像倍率ｍは光学系に関して確定して量とみな
されることができるように簡単化される。
位置を自動的にかつ非常に正確に走査することを
可能にする。必要な計算操作は、コードキヤリア
と読み取り機との間に距離が確定しているなら
ば、像倍率ｍは光学系に関して確定して量とみな
されることができるように簡単化される。
好適な実施例に記載された相互相関関数の代わ
りにコンピユータで行われる比較操作は任意の積
分比較操作から成ることができる。コードパター
ンが結像される検出器要素の多くの又は殆どが参
照コードとの比較のために使用される。
りにコンピユータで行われる比較操作は任意の積
分比較操作から成ることができる。コードパター
ンが結像される検出器要素の多くの又は殆どが参
照コードとの比較のために使用される。
（発明の効果）
本発明によれば、望遠鏡による遠隔の高い個所
の読み取りスケールの観察者に高度の集中力、従
つて観察者に必要以上の熟練度を要求することな
く高精度で水準高さを測定することができる。
の読み取りスケールの観察者に高度の集中力、従
つて観察者に必要以上の熟練度を要求することな
く高精度で水準高さを測定することができる。
本発明によれば測定精度が視準された唯一のコ
ード要素の解像力にのみ依存するのではなく、視
野にある全てのコード要素についての相互相関関
数の演算を経て水準高さが決定されるために高精
度の測定が達成される。
ード要素の解像力にのみ依存するのではなく、視
野にある全てのコード要素についての相互相関関
数の演算を経て水準高さが決定されるために高精
度の測定が達成される。
第１図はレベル、これから離して配置された標
尺及び標尺に沿つて設けられたバーコードの詳
細、第２図は第１図のレベルの断面図、第３図は
第１図のレベルに接続される評価及び表示装置の
ブロツク図、そして第４図は本発明の作用の説明
に有用な信号ダイヤグラムＡ，Ｂ及びＣを示す図
である。 図中符号、１…レベル、２…標尺、６…ピント
合わせ駆動機構、１０…検出器群、１３…デイジ
タル化段（サンプリング及び保持手段）、１４…
デイジタル化段（アナログデジタルコンバータ）、
１５…コンピユータ、１７…位置検出器、１８…
メモリ（ROM）、ｍ…像倍率、Di…像感度、Qi…
検出器要素。
尺及び標尺に沿つて設けられたバーコードの詳
細、第２図は第１図のレベルの断面図、第３図は
第１図のレベルに接続される評価及び表示装置の
ブロツク図、そして第４図は本発明の作用の説明
に有用な信号ダイヤグラムＡ，Ｂ及びＣを示す図
である。 図中符号、１…レベル、２…標尺、６…ピント
合わせ駆動機構、１０…検出器群、１３…デイジ
タル化段（サンプリング及び保持手段）、１４…
デイジタル化段（アナログデジタルコンバータ）、
１５…コンピユータ、１７…位置検出器、１８…
メモリ（ROM）、ｍ…像倍率、Di…像感度、Qi…
検出器要素。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 望遠鏡を備えたレベル１と標尺２とから成
る、水準測量装置にして、絶対位置測定のための
標尺２は縦方向に亘つてコードを備え、更にレベ
ルはコード読み取り機を有しその際コード読み取
り機はコードを解像するための検出器要素Qiから
成る検出器群１０を有しかつ測定結果の評価のた
めのコンピユータ１５が設けられている二つの対
象物の間の相対的位置を決定するための測定装置
において、 検出器群１０上にコードの少なくとも一部分が
結像され、検出器の測定結果はデジタル化段１
３，１４を介してコンピユータ１５に導入されか
つこれとメモリ１８からの比較値とが積分比較操
作によつて比較され、望遠鏡のピント合わせ装置
６には位置検出器１７が設けられており、前記ピ
ント合わせ装置におけるピント合わせ部材の移動
量又は回動角度はコード上への望遠鏡のピント合
わせが行われた際に同様にコンピユータ１５に供
給されかつ距離の検出に使用されそしてコンピユ
ータ１５に入力された前記距離に相応してコード
の像倍率ｍが算出されかつメモリされた参照コー
ドとの比較の際に考慮されその後検出器群１０で
測定された測定値qiと判別値Pi+Lとの間の相互相
関関数KL（ｍ、△）の最大値がプログラム制御さ
れた最適化計算によつて求められ、相互相関関数
KL（ｍ、△）が最大値となつた場合におけるシフ
トＬ、像倍率ｍ及びずれ△の関数として水準高さ
が算出されるように構成されていることを特徴と
する二つの対象物の間の相対的位置を決定するた
め測定装置。 ２ コンピユータ１５が検出器群１０のデジタル
化された測定値と参照コードに相応するメモリ１
８からの比較値との間の相互相関比較の実施のた
めに設けられている、特許請求の範囲第１項記載
の二つの対象物の間の相対的位置を決定するため
の測定装置。 ３ コンピユータ１５が検出器群１０の隣接した
検出器要素Qiの間の距離h′の分数△だけ検出器群
１０の測定値に対する参照コードをずらすために
形成されている特許請求の範囲第１項又は第２項
記載の二つの対象物の間の相対的位置を決定する
ための測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14066685A JPS623610A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 二つの対象物の間の相対的位置を決定するための測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14066685A JPS623610A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 二つの対象物の間の相対的位置を決定するための測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS623610A JPS623610A (ja) | 1987-01-09 |
| JPH0518042B2 true JPH0518042B2 (ja) | 1993-03-10 |
Family
ID=15273935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14066685A Granted JPS623610A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 二つの対象物の間の相対的位置を決定するための測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS623610A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07119608B2 (ja) * | 1987-01-22 | 1995-12-20 | 株式会社オプテック | 比高測定用水準儀 |
| JPH0726843B2 (ja) * | 1987-03-12 | 1995-03-29 | 株式会社オプテツク | 距離計及び距離測定用標尺 |
| JP4648033B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2011-03-09 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測量機の自動焦点機構 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57172210A (en) * | 1981-04-16 | 1982-10-23 | Tokyo Optical Co Ltd | Measuring machine |
| JPS6025413A (ja) * | 1983-07-22 | 1985-02-08 | Asahi Seimitsu Kk | 水準測量における標尺目盛検出方法及びその装置 |
-
1985
- 1985-06-28 JP JP14066685A patent/JPS623610A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS623610A (ja) | 1987-01-09 |
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Legal Events
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