JPH0518647Y2 - - Google Patents
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- JPH0518647Y2 JPH0518647Y2 JP1406388U JP1406388U JPH0518647Y2 JP H0518647 Y2 JPH0518647 Y2 JP H0518647Y2 JP 1406388 U JP1406388 U JP 1406388U JP 1406388 U JP1406388 U JP 1406388U JP H0518647 Y2 JPH0518647 Y2 JP H0518647Y2
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Description
［産業上の利用分野］
この考案は例えば探触子より被検材へ超音波パ
ルスを送信しその反転パルスを用いて被検材の厚
さ測定を行う超音波厚さ計の動作を点検する超音
波厚さ計用点検装置、特に測定に用いられる反射
パルスの点検に関する。 ［従来の技術］ 超音波厚さ計は探触子を被検材へ接触させ超音
波パルスを送信して、被検材からの反射パルスの
伝搬時間より厚さ測定が行われている。このとき
探触子と被検材との接触状態、力プラントの油膜
切れ、被検材表面の粗さによる音響結合、探触子
ケーブルの断線ならびに被検材内における超音波
減衰、超音波送信出力の低下、厚さ計の性能劣化
などを点検する超音波厚さ計用点検装置が用いら
れている。 第４図は従来の超音波厚さ計用点検装置の一例
を示す説明図で、送信ならびに受信用の分割探触
子を用いた例を示し、 図において、２−１は送信用ならびに受信用に
区分され一体構造をなす分割探触子、１１は電気
−音響変換を行う圧電振動子、１２−１は送信用
探触子、１２−２は受信探触子、１３は厚さ測定
される被検材である。 上記のように構成された超音波厚さ計用点検装
置においては、分割探触子２−１を例えば金属材
料よりなる被検材１３表面へ油または水などの力
プラントを用いて圧接し、送信用探触子１２−１
から超音波パルスＴを被検材１３内へ送信したと
き被検材１３表面からの第１反射パルスS1が受信
され、受信用探触子１２−２には被検材１３底面
からの第２反射パルスB1が受信される。 厚さ測定は第１反射パルスS1と第２反射パルス
B1との時間間隔を被検材１３の音速度にて校正
して行われる。このとき測定のため第１反射パル
スS1で立上り第２反射パルスB1にて動作が反射
するFFが用いられる。第２反射パルスB1が所定
レベルにて得られないとき上記FFは反転しない
ので、FFの反転動作の確認により第２反射パル
スB1の点検が行われている。 第５図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 １個の探触子を用いた一探法による単一反射パ
ルスを用いた例を示し、 図において、１１，１３は上記従来例と同一で
あり、２は超音波の送受信を行う探触子、 探触子２の圧電振動子１１を被検材１３へ圧接
し超音波パルスＴを被検材１３へ送信し、内部を
伝搬してその底面からの反射パルスB1を探触子
２にて受信する。被検材１３の厚さ測定は超音波
パルスＴと底面からの反射パルスB1との時間間
隔を被検材１３の音速度にて校正して行う。測定
を正しく行うには反射パルスB1のレベルを付属
のCRT表示器にて観測して確認する点検装置が
用いられている。 第６図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 一探法による多重反射パルスを用いる例を示
し、 探触子２が送信する超音波パルスＴの被検材１
３内での多重反射パルスを利用して、底面からの
最初の第１反射パルスB1と２回目の第２反射パ
ルスB2を受信し、両反射パルスの時間間隔を被
検材１３の音速度で校正して厚さを測定する。 このとき同様に第１反射パルスB1と第２反射
パルスB2のレベルを付属のCRT表示器にて観測
して確認する点検装置が用いられている。 第７図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 一探法による遅延材付探触子を用いる例を示
し、 図において、２−２は圧電振動子１１の放射面
に超音波伝搬の遅延を与える部材を設けた遅延材
付探触子、１２はアクリル材などを用いた遅延材
である。 探触子２−２から超音波パルスＴを被検材１３
内へ送信したとき、探触子２−２へは被検材１３
表面からの第１反射パルスS1、底面からの最初の
反射の第２反射パルスB1、底面からの２回反射
の第３反射パルスB2と被検材１３表面からの２
回反射の第４反射パルスS2が受信される。 厚さ測定は第２反射パルスB1と第３反射パル
スB2との時間間隔を被検材１３の音速度で校正
して行われる。このとき同様に第２反射パルス
B1と第３反射パルスB2のレベルを付属のCRT表
示器を用いて観測し確認する点検装置が用いられ
ている。 ［考案が解決しようとする課題］ 上記のような超音波厚さ計用点検装置では、 分割探触子２−１を用いた厚さ測定において
は、被検材１３底面からの第２反射パルスB1の
みによる作動確認の点検が行われ、第１反射パル
スS1の点検が行われていない、 一探法の探触子を用いた厚さ測定における作動
点検は、厚さ測定に用いられるそれぞれの反射パ
ルスのレベルをCRT表示器による観測にて行わ
れており、CRT表示器を付属させるため厚さ計
の構成が複雑で寸法が大きくなる。 上記のとおり、探触子の種類や厚さ測定法によ
り点検装置が異なり、また被検材１３の厚さや材
料の音速度が異る都度CRT表示器を調整しなけ
ればならないという問題点があつた。 この考案はかかる問題点を解決するためになさ
れたもので、被検材の厚さや音速度ならびに探触
子の種類や厚さ測定法が異つても、装置は全く調
整を行うことなく測定に利用されるそれぞれの反
射パルスの点検結果が自動的に表示される超音波
厚さ計用点検装置を得ることを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ この考案に係る超音波厚さ計用点検装置は、被
検材からの反射パルス点検のため、超音波パルス
送信の同期パルスを発生する同期回路と、同期パ
ルスをデータ入力へ与え被検材からの反射パルス
をクロツク入力へ与えて被検材からの第１反射パ
ルスに応答して極性を反転させ出力がラツチされ
る第1FFと、第1FF出力をデータ入力へ与え被検
材からの第２反射パルスに応答して極性を反転さ
せ出力がラツチされる第2FFと、第2FF出力をデ
ータ入力へ与え被検材からの第３反射パルスに応
答して極性を反転させ出力がラツチされる第3FF
と、各FF出力に作動を表示する表示器を設けた
ものである。 ［作用］ この考案においては、同期パルスをFFのデー
タ入力へ与えその出力を次段のFFのデータ入力
に順次与える縦続接続された複数のFFにおいて、
各クロツク入力およびプリセツト入力へそれぞれ
被検材からの反射パルスを与え、各FF出力へ表
示器を設けることにより、 被検材から反射される反射パルスの順序に従い
各FFの出力は順次反転し且つラツチされるので、
FF出力に設けられた表示器の作動により厚さ測
定に係わる各反射パルスの点検が自動的に表示で
きる。 反射パルスの点検により探触子と被検材との圧
接状態、力プラントの油膜、探触子ケーブルの断
線、被検材内における超音波減衰などが正常状態
であることが識別確認でき、超音波厚さ測定が正
しく行える。 ［実施例］ この考案は一実施例を添付図面を参照して詳細
に説明する。 第１図はこの考案の一実施例を示すブロツク図
であり、遅延材付探触子２−２を用いた被検材１
３の厚さ測定を示し、 図において、２−２は従来装置と同一のもので
ある。１は超音波パルスＴ送信のタイミングを決
定する同期パルスを発生する同期回路、３は同期
パルスと被検材１３からの第１反射パルスとによ
りFF動作し出力をラツチする遅延FFを用いた第
1FF、４は第1FF３出力と被検材１３からの第２
反射パルスとによりFF動作し出力をラツチする
遅延FFを用いた第2FF、５は第2FF４出力と被
検材１３からの第３反射パルスとによりFF動作
し出力をラツチする遅延FFを用いた第3FF、６
−１、６−２、６−３は各FF出力に設けられた
第１表示器、第２表示器、第３表示器を示してい
る。 上記のように構成された超音波厚さ計用点検装
置において、 例えば遅延材付探触子２−２を用いた底面多重
反射パルスによる厚さ測定は 同期回路１から測定時に高レベルとなる同期パ
ルスを第1FF３のデータ入力即ちD1入力へ与え、
クロツク入力即ちC1入力へ被検材１３表面から
の第１反射パルスS1を与えると、出力Q1の信号
は第１反射パルスS1のタイミングで反転し、D1
入力信号が変化しても出力Q1の信号はラツチさ
れ反転後高レベル出力が保持される。出力Q1を
第１表示器６−１へ表示させ第１反射パルスB1
が所定レベルにて受信されたことを示す。 従つて、超音波パルスの送信回路、探触子ケー
ブル、探触子の機能などが適正であることが確認
される。 第2FF４のD2入力へは第1FF３の出力Q1の高レ
ベル出力が与えられ、C2入力へ探触子２−２か
らの被検材１３底面第２反射パルスB1が与えら
れると、出力Q2は第２反射パルスB1のタイミン
グで反転し出力Q2は反転後高レベルが保持され、
出力Q2を第２表示器６−２へ表示させ第２反射
パルスB1が所定レベルにて受信されたことを示
す。 第２表示器６−２が点灯しない場合には、探触
子の圧接状態、力プラントの油膜切れ、被検材内
における超音波の減衰などが不適正であることが
確認される。 第3FF５のD3入力へは第2FF４の出力Q2の高レ
ベル出力が与えられC3入力へ探触子２−２から
の被検材１３底面の２回目の反射パルス即ち第３
反射パルスB2が与えられると、出力Q3は第３反
射パルスB2のタイミングで反転し出力Q3は反転
後高レベルに保持され、出力Q3を第３表示器６
−３へ表示させ第３反射パルスB2が所定レベル
にて受信されたことを示す。 この点灯により被検材１３内における超音波の
減衰は測定上問題ないことが確認される。 上記のとおり、遅延材付探触子２−２を用いた
厚さ測定において、第1FF３出力Q1により第１反
射パルスS1、第2FF４出力Q2により第２反射パル
スB1、第3FF５出力Q3により第３反射パルスB2
が点検され個別表示されて全て点灯表示されたと
き、厚さ測定に用いられる被検材１３からの超音
波パルスは充分なレベルで受信されていることが
確認できる。 第２図はこの考案の他の実施例を示すブロツク
図であり、 分割探触子２−１を用いた被検材１３の厚さ測
定を示し、 図において、１，３，４，５，６−１，６−
２，６−３は上記実施例とまた２−１，１２−
１，１２−２は従来装置と同一であり、８は第
2FF４のC2入力へ接続される切換器を示してい
る。送信用探触子２−１による被検材１３表面か
らの第１反射パルスS1は、上記動作と同様に第１
表示器６−１に点灯表示される。 第2FF４のD2入力へは第1FF３出力Q1の高レベ
ル出力が与えられ、切換器８を「開」となしプリ
セツト入力P2へは受信用探触子１２−２による
被検材１３底面からの第２反射パルスB1が与え
られる。出力Q2は第２反射パルスB1のタイミン
グで反転し、この出力は第２表示器６−２へ点灯
表示される。 第2FF４の出力Q2は第3FF５へは与えられる
が、分割探触子２−１を用いるとき第３反射パル
スが入力されないので第３表示器６−３は作動し
ない。 分割探触子２−１を用いた厚さ測定において、
第１表示器６−１が点灯表示しない場合は送信出
力の低下や送信用探触子１２−１ケーブルの断線
の恐れがあり、 第１表示器６−１は点灯し第２表示器６−２が
点灯しない場合には探触子の圧接状態、力プラン
トの油膜切れ、被検材１３内における超音波の減
衰、受信用探触子１２−２ケーブルの断線の恐れ
がある。 第３図はこの考案に係る装置の動作波形の一例
を示し、 は超音波パルス送信のタイミングを決定する
同期回路１出力の同期パルス、は分割探触子に
よる厚さ測定に利用される送信用探触子１２−１
の反射パルス、はにおける受信用探触子１２
−２の反射パルス、は第1FF３出力Q1、は第
2FF４出力Q2、は一探法単一反射パルスによる
厚さ測定に利用される反射パルス、は第1FF３
出力Q1、は一探法多重反射パルスによる厚さ
測定に利用される反射パルス、は第1FF３出力
Q1、は第2FF４出力Q2、は一探法遅延材付
探触子による厚さ測定に利用される反射パルス、
は第1FF３出力Q1、は第2FF４出力Q2、は
第3FF出力Q3を示している。 上記のとおり各FFを縦続接続し、第1FF３の
D1入力へ同期パルスを各FFのＣ入力へ被検材１
３からの反射パルスを与えることにより、各FF
は反射パルスが入力される都度順次出力が反転す
る。 従つて、各種厚さ測定法と正しく反射パルスが
得られたとき点灯する表示器との関係は下記のと
おりとなる。
ルスを送信しその反転パルスを用いて被検材の厚
さ測定を行う超音波厚さ計の動作を点検する超音
波厚さ計用点検装置、特に測定に用いられる反射
パルスの点検に関する。 ［従来の技術］ 超音波厚さ計は探触子を被検材へ接触させ超音
波パルスを送信して、被検材からの反射パルスの
伝搬時間より厚さ測定が行われている。このとき
探触子と被検材との接触状態、力プラントの油膜
切れ、被検材表面の粗さによる音響結合、探触子
ケーブルの断線ならびに被検材内における超音波
減衰、超音波送信出力の低下、厚さ計の性能劣化
などを点検する超音波厚さ計用点検装置が用いら
れている。 第４図は従来の超音波厚さ計用点検装置の一例
を示す説明図で、送信ならびに受信用の分割探触
子を用いた例を示し、 図において、２−１は送信用ならびに受信用に
区分され一体構造をなす分割探触子、１１は電気
−音響変換を行う圧電振動子、１２−１は送信用
探触子、１２−２は受信探触子、１３は厚さ測定
される被検材である。 上記のように構成された超音波厚さ計用点検装
置においては、分割探触子２−１を例えば金属材
料よりなる被検材１３表面へ油または水などの力
プラントを用いて圧接し、送信用探触子１２−１
から超音波パルスＴを被検材１３内へ送信したと
き被検材１３表面からの第１反射パルスS1が受信
され、受信用探触子１２−２には被検材１３底面
からの第２反射パルスB1が受信される。 厚さ測定は第１反射パルスS1と第２反射パルス
B1との時間間隔を被検材１３の音速度にて校正
して行われる。このとき測定のため第１反射パル
スS1で立上り第２反射パルスB1にて動作が反射
するFFが用いられる。第２反射パルスB1が所定
レベルにて得られないとき上記FFは反転しない
ので、FFの反転動作の確認により第２反射パル
スB1の点検が行われている。 第５図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 １個の探触子を用いた一探法による単一反射パ
ルスを用いた例を示し、 図において、１１，１３は上記従来例と同一で
あり、２は超音波の送受信を行う探触子、 探触子２の圧電振動子１１を被検材１３へ圧接
し超音波パルスＴを被検材１３へ送信し、内部を
伝搬してその底面からの反射パルスB1を探触子
２にて受信する。被検材１３の厚さ測定は超音波
パルスＴと底面からの反射パルスB1との時間間
隔を被検材１３の音速度にて校正して行う。測定
を正しく行うには反射パルスB1のレベルを付属
のCRT表示器にて観測して確認する点検装置が
用いられている。 第６図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 一探法による多重反射パルスを用いる例を示
し、 探触子２が送信する超音波パルスＴの被検材１
３内での多重反射パルスを利用して、底面からの
最初の第１反射パルスB1と２回目の第２反射パ
ルスB2を受信し、両反射パルスの時間間隔を被
検材１３の音速度で校正して厚さを測定する。 このとき同様に第１反射パルスB1と第２反射
パルスB2のレベルを付属のCRT表示器にて観測
して確認する点検装置が用いられている。 第７図は従来の超音波厚さ計用点検装置の他の
一例を示す説明図で、 一探法による遅延材付探触子を用いる例を示
し、 図において、２−２は圧電振動子１１の放射面
に超音波伝搬の遅延を与える部材を設けた遅延材
付探触子、１２はアクリル材などを用いた遅延材
である。 探触子２−２から超音波パルスＴを被検材１３
内へ送信したとき、探触子２−２へは被検材１３
表面からの第１反射パルスS1、底面からの最初の
反射の第２反射パルスB1、底面からの２回反射
の第３反射パルスB2と被検材１３表面からの２
回反射の第４反射パルスS2が受信される。 厚さ測定は第２反射パルスB1と第３反射パル
スB2との時間間隔を被検材１３の音速度で校正
して行われる。このとき同様に第２反射パルス
B1と第３反射パルスB2のレベルを付属のCRT表
示器を用いて観測し確認する点検装置が用いられ
ている。 ［考案が解決しようとする課題］ 上記のような超音波厚さ計用点検装置では、 分割探触子２−１を用いた厚さ測定において
は、被検材１３底面からの第２反射パルスB1の
みによる作動確認の点検が行われ、第１反射パル
スS1の点検が行われていない、 一探法の探触子を用いた厚さ測定における作動
点検は、厚さ測定に用いられるそれぞれの反射パ
ルスのレベルをCRT表示器による観測にて行わ
れており、CRT表示器を付属させるため厚さ計
の構成が複雑で寸法が大きくなる。 上記のとおり、探触子の種類や厚さ測定法によ
り点検装置が異なり、また被検材１３の厚さや材
料の音速度が異る都度CRT表示器を調整しなけ
ればならないという問題点があつた。 この考案はかかる問題点を解決するためになさ
れたもので、被検材の厚さや音速度ならびに探触
子の種類や厚さ測定法が異つても、装置は全く調
整を行うことなく測定に利用されるそれぞれの反
射パルスの点検結果が自動的に表示される超音波
厚さ計用点検装置を得ることを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ この考案に係る超音波厚さ計用点検装置は、被
検材からの反射パルス点検のため、超音波パルス
送信の同期パルスを発生する同期回路と、同期パ
ルスをデータ入力へ与え被検材からの反射パルス
をクロツク入力へ与えて被検材からの第１反射パ
ルスに応答して極性を反転させ出力がラツチされ
る第1FFと、第1FF出力をデータ入力へ与え被検
材からの第２反射パルスに応答して極性を反転さ
せ出力がラツチされる第2FFと、第2FF出力をデ
ータ入力へ与え被検材からの第３反射パルスに応
答して極性を反転させ出力がラツチされる第3FF
と、各FF出力に作動を表示する表示器を設けた
ものである。 ［作用］ この考案においては、同期パルスをFFのデー
タ入力へ与えその出力を次段のFFのデータ入力
に順次与える縦続接続された複数のFFにおいて、
各クロツク入力およびプリセツト入力へそれぞれ
被検材からの反射パルスを与え、各FF出力へ表
示器を設けることにより、 被検材から反射される反射パルスの順序に従い
各FFの出力は順次反転し且つラツチされるので、
FF出力に設けられた表示器の作動により厚さ測
定に係わる各反射パルスの点検が自動的に表示で
きる。 反射パルスの点検により探触子と被検材との圧
接状態、力プラントの油膜、探触子ケーブルの断
線、被検材内における超音波減衰などが正常状態
であることが識別確認でき、超音波厚さ測定が正
しく行える。 ［実施例］ この考案は一実施例を添付図面を参照して詳細
に説明する。 第１図はこの考案の一実施例を示すブロツク図
であり、遅延材付探触子２−２を用いた被検材１
３の厚さ測定を示し、 図において、２−２は従来装置と同一のもので
ある。１は超音波パルスＴ送信のタイミングを決
定する同期パルスを発生する同期回路、３は同期
パルスと被検材１３からの第１反射パルスとによ
りFF動作し出力をラツチする遅延FFを用いた第
1FF、４は第1FF３出力と被検材１３からの第２
反射パルスとによりFF動作し出力をラツチする
遅延FFを用いた第2FF、５は第2FF４出力と被
検材１３からの第３反射パルスとによりFF動作
し出力をラツチする遅延FFを用いた第3FF、６
−１、６−２、６−３は各FF出力に設けられた
第１表示器、第２表示器、第３表示器を示してい
る。 上記のように構成された超音波厚さ計用点検装
置において、 例えば遅延材付探触子２−２を用いた底面多重
反射パルスによる厚さ測定は 同期回路１から測定時に高レベルとなる同期パ
ルスを第1FF３のデータ入力即ちD1入力へ与え、
クロツク入力即ちC1入力へ被検材１３表面から
の第１反射パルスS1を与えると、出力Q1の信号
は第１反射パルスS1のタイミングで反転し、D1
入力信号が変化しても出力Q1の信号はラツチさ
れ反転後高レベル出力が保持される。出力Q1を
第１表示器６−１へ表示させ第１反射パルスB1
が所定レベルにて受信されたことを示す。 従つて、超音波パルスの送信回路、探触子ケー
ブル、探触子の機能などが適正であることが確認
される。 第2FF４のD2入力へは第1FF３の出力Q1の高レ
ベル出力が与えられ、C2入力へ探触子２−２か
らの被検材１３底面第２反射パルスB1が与えら
れると、出力Q2は第２反射パルスB1のタイミン
グで反転し出力Q2は反転後高レベルが保持され、
出力Q2を第２表示器６−２へ表示させ第２反射
パルスB1が所定レベルにて受信されたことを示
す。 第２表示器６−２が点灯しない場合には、探触
子の圧接状態、力プラントの油膜切れ、被検材内
における超音波の減衰などが不適正であることが
確認される。 第3FF５のD3入力へは第2FF４の出力Q2の高レ
ベル出力が与えられC3入力へ探触子２−２から
の被検材１３底面の２回目の反射パルス即ち第３
反射パルスB2が与えられると、出力Q3は第３反
射パルスB2のタイミングで反転し出力Q3は反転
後高レベルに保持され、出力Q3を第３表示器６
−３へ表示させ第３反射パルスB2が所定レベル
にて受信されたことを示す。 この点灯により被検材１３内における超音波の
減衰は測定上問題ないことが確認される。 上記のとおり、遅延材付探触子２−２を用いた
厚さ測定において、第1FF３出力Q1により第１反
射パルスS1、第2FF４出力Q2により第２反射パル
スB1、第3FF５出力Q3により第３反射パルスB2
が点検され個別表示されて全て点灯表示されたと
き、厚さ測定に用いられる被検材１３からの超音
波パルスは充分なレベルで受信されていることが
確認できる。 第２図はこの考案の他の実施例を示すブロツク
図であり、 分割探触子２−１を用いた被検材１３の厚さ測
定を示し、 図において、１，３，４，５，６−１，６−
２，６−３は上記実施例とまた２−１，１２−
１，１２−２は従来装置と同一であり、８は第
2FF４のC2入力へ接続される切換器を示してい
る。送信用探触子２−１による被検材１３表面か
らの第１反射パルスS1は、上記動作と同様に第１
表示器６−１に点灯表示される。 第2FF４のD2入力へは第1FF３出力Q1の高レベ
ル出力が与えられ、切換器８を「開」となしプリ
セツト入力P2へは受信用探触子１２−２による
被検材１３底面からの第２反射パルスB1が与え
られる。出力Q2は第２反射パルスB1のタイミン
グで反転し、この出力は第２表示器６−２へ点灯
表示される。 第2FF４の出力Q2は第3FF５へは与えられる
が、分割探触子２−１を用いるとき第３反射パル
スが入力されないので第３表示器６−３は作動し
ない。 分割探触子２−１を用いた厚さ測定において、
第１表示器６−１が点灯表示しない場合は送信出
力の低下や送信用探触子１２−１ケーブルの断線
の恐れがあり、 第１表示器６−１は点灯し第２表示器６−２が
点灯しない場合には探触子の圧接状態、力プラン
トの油膜切れ、被検材１３内における超音波の減
衰、受信用探触子１２−２ケーブルの断線の恐れ
がある。 第３図はこの考案に係る装置の動作波形の一例
を示し、 は超音波パルス送信のタイミングを決定する
同期回路１出力の同期パルス、は分割探触子に
よる厚さ測定に利用される送信用探触子１２−１
の反射パルス、はにおける受信用探触子１２
−２の反射パルス、は第1FF３出力Q1、は第
2FF４出力Q2、は一探法単一反射パルスによる
厚さ測定に利用される反射パルス、は第1FF３
出力Q1、は一探法多重反射パルスによる厚さ
測定に利用される反射パルス、は第1FF３出力
Q1、は第2FF４出力Q2、は一探法遅延材付
探触子による厚さ測定に利用される反射パルス、
は第1FF３出力Q1、は第2FF４出力Q2、は
第3FF出力Q3を示している。 上記のとおり各FFを縦続接続し、第1FF３の
D1入力へ同期パルスを各FFのＣ入力へ被検材１
３からの反射パルスを与えることにより、各FF
は反射パルスが入力される都度順次出力が反転す
る。 従つて、各種厚さ測定法と正しく反射パルスが
得られたとき点灯する表示器との関係は下記のと
おりとなる。
【表】
本考案は被検材１３の厚さや音速度ならびに探
触子２の種類や厚さ測定法が異つても、簡単な回
路により何等装置の調整を行うことなく各FFは
所定の反射パルスに応答して作動し且つ表示が行
われるので、厚さ測定に係る個別の反射パルスの
点検が自動的に行えてその点検結果が表示でき
る。 特に探触子２と被検材１３との圧接状態、被検
材１３表面の粗さならびに力プラントの油膜切れ
に起因する音響結合の異常、被検材１３内の超音
波減衰、探触子ケーブルの断線、超音波出力の低
下ならびに厚さ計性能の劣化などの作動が個別に
点検できる特長がある。上記点検装置を付属させ
ることにより超音波厚さ計の作動の信頼性が改善
され測定精度が向上できる。 ［考案の効果］ この考案は以上説明したとおり、複数のFFを
縦続接続して第1FFへ同期パルスを与え以後順次
前段FF出力を後段FFへ入力し、また各FFへ被
検材からの反射パルスを与えて各FF出力へ表示
器を設ける簡単な構造により、 分割探触子における被検材表面や底面からの反
射パルス、一探法における被検材底面からの単一
反射パルス、被検材内多重反射パルスおよび遅延
材付探触子における多重反射パルスなどの各種反
射パルスを利用した厚さ測定は、 CRT表示器を付属させてそれぞれ反射パルス
のレベルを観測することなく、 被検材の厚さや材料の音速度ならびに探触子の
種類や厚さ測定法を異つても、本装置は簡単な回
路を用いて調整を全く必要とすることなく常時自
動的に厚さ測定に係る反射パルスが個別に点検で
きるその結果が表示される。 従つて探触子の被検材への圧接状態、力プラン
トの油膜切れ、被検材表面の粗さなどによる音響
結合ならびに被検材内の超音波減衰、超音波送信
回路の故障、探触子ケーブルの断線、厚さ計の性
能劣化などの作動状態が詳細に点検できる。 上記点検により厚さ測定における信頼性が改善
され測定精度が一層向上できる効果がある。
触子２の種類や厚さ測定法が異つても、簡単な回
路により何等装置の調整を行うことなく各FFは
所定の反射パルスに応答して作動し且つ表示が行
われるので、厚さ測定に係る個別の反射パルスの
点検が自動的に行えてその点検結果が表示でき
る。 特に探触子２と被検材１３との圧接状態、被検
材１３表面の粗さならびに力プラントの油膜切れ
に起因する音響結合の異常、被検材１３内の超音
波減衰、探触子ケーブルの断線、超音波出力の低
下ならびに厚さ計性能の劣化などの作動が個別に
点検できる特長がある。上記点検装置を付属させ
ることにより超音波厚さ計の作動の信頼性が改善
され測定精度が向上できる。 ［考案の効果］ この考案は以上説明したとおり、複数のFFを
縦続接続して第1FFへ同期パルスを与え以後順次
前段FF出力を後段FFへ入力し、また各FFへ被
検材からの反射パルスを与えて各FF出力へ表示
器を設ける簡単な構造により、 分割探触子における被検材表面や底面からの反
射パルス、一探法における被検材底面からの単一
反射パルス、被検材内多重反射パルスおよび遅延
材付探触子における多重反射パルスなどの各種反
射パルスを利用した厚さ測定は、 CRT表示器を付属させてそれぞれ反射パルス
のレベルを観測することなく、 被検材の厚さや材料の音速度ならびに探触子の
種類や厚さ測定法を異つても、本装置は簡単な回
路を用いて調整を全く必要とすることなく常時自
動的に厚さ測定に係る反射パルスが個別に点検で
きるその結果が表示される。 従つて探触子の被検材への圧接状態、力プラン
トの油膜切れ、被検材表面の粗さなどによる音響
結合ならびに被検材内の超音波減衰、超音波送信
回路の故障、探触子ケーブルの断線、厚さ計の性
能劣化などの作動状態が詳細に点検できる。 上記点検により厚さ測定における信頼性が改善
され測定精度が一層向上できる効果がある。
第１図はこの考案の一実施例を示すブロツク
図、第２図はこの考案の他の実施例を示すブロツ
ク図、第３図はこの考案に係る装置の動作波形の
一例、第４図は従来の超音波厚さ計用点検装置の
一例を示す説明図、第５図、第６図、第７図は従
来の超音波厚さ計用点検装置の他の一例を示す説
明図である。 図において、１は同期回路、２は探触子、２−
１は分割探触子、２−２は遅延材付探触子、３は
第1FF、４は第2FF、５は第3FF、６−１，６−
２，６−３は表示器１，２，３である。なお、各
図中同一符号は同一または相当部分を示す。
図、第２図はこの考案の他の実施例を示すブロツ
ク図、第３図はこの考案に係る装置の動作波形の
一例、第４図は従来の超音波厚さ計用点検装置の
一例を示す説明図、第５図、第６図、第７図は従
来の超音波厚さ計用点検装置の他の一例を示す説
明図である。 図において、１は同期回路、２は探触子、２−
１は分割探触子、２−２は遅延材付探触子、３は
第1FF、４は第2FF、５は第3FF、６−１，６−
２，６−３は表示器１，２，３である。なお、各
図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 探触子を被検材に圧接し超音波パルスの送信と
被検材からの反射パルスとの伝搬時間に基づく厚
さ測定の動作を点検する超音波厚さ計用点検装置
において、 超音波パルス送信の同期パルスを発生する同期
回路と、該同期パルスをデータ入力へ与え被検材
からの第１反射パルスをクロツク入力へ与えて前
記第１反射パルスに応答して極性が反転し出力が
ラツチされる第1FFと、該第1FF出力をデータ入
力へ与え被検材からの第２反射パルスに応答して
極性が反転し出力がラツチされる第2FFと、該第
2FF出力をデータ入力へ与え被検材からの第３反
射パルスに応答して極性が反転し出力がラツチさ
れる第3FFと、各FF出力に作動を表示する表示
器を備え被検材からの反射パルスを検出すること
を特徴とする超音波厚さ計用点検装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1406388U JPH0518647Y2 (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | |
| US07/304,445 US5009103A (en) | 1988-02-01 | 1989-01-31 | Ultrasonic thickness measuring method and apparatus |
| DE3903396A DE3903396A1 (de) | 1988-02-01 | 1989-02-01 | Verfahren und vorrichtung zur ultraschall-dickenmessung und pruefeinrichtung fuer letztere |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1406388U JPH0518647Y2 (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01117507U JPH01117507U (ja) | 1989-08-08 |
| JPH0518647Y2 true JPH0518647Y2 (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=31224920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1406388U Expired - Lifetime JPH0518647Y2 (ja) | 1988-02-01 | 1988-02-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0518647Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-02-04 JP JP1406388U patent/JPH0518647Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01117507U (ja) | 1989-08-08 |
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