JPH0519009A - Esdテスト装置 - Google Patents

Esdテスト装置

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Publication number
JPH0519009A
JPH0519009A JP3198820A JP19882091A JPH0519009A JP H0519009 A JPH0519009 A JP H0519009A JP 3198820 A JP3198820 A JP 3198820A JP 19882091 A JP19882091 A JP 19882091A JP H0519009 A JPH0519009 A JP H0519009A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitors
voltage
terminal
output terminal
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP3198820A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Furuya
隆弘 古谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication of JPH0519009A publication Critical patent/JPH0519009A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高電圧の電源を使用する必要がないと共に、
量産に適したESDテスト装置を提供する。 【構成】 リレーRL1 乃至RLm は抵抗R1 を介して
容量C1 乃至CS を入力端子1と接地端子2との間に並
列に接続する。入力端子1と接地端子2との間に電圧を
印加し、この電圧を容量C1 乃至CS に充電する。リレ
ーRL1 乃至RLm を切り替えて容量C1 乃至CS を接
地端子2と出力端子3との間に直列に接続する。これに
より、容量C1 乃至CS に充電された電圧を加算した電
圧が出力端子3に放電される。 【効果】 入力端子1に低電圧を印加しても、出力端子
3に高電圧を放電することができる。従って、高電圧の
電源を使用する必要はないので、装置の軽量化が可能で
ある。また、容量C1 乃至CS の数を選択することによ
り、出力端子3に種々異なる電圧を出力することができ
るので、汎用性を有し、量産に適している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高電圧源を使用しないで
構成されるESD(electro-static discharge)テスト
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来のESDテスト装置を示す回
路図である。充電時電流制限用の抵抗R1 はその一端が
入力端子1に接続されている。リレーRL0 はその接点
aが抵抗R1 の他端に接続され、その接点bが出力端子
3に接続されている。容量C0はその一方の電極がリレ
ーRL0 の極側cに接続され、その他方の電極が接地端
子2に接続されている。出力端子3はリレーRLm+1
至RLn (m,n;任意の正整数)を切り替えることに
より出力端子4乃至nに選択的に接続されるようになっ
ている。なお、入力端子1と接地端子2との間には高電
圧の電源E0 が接続されている。
【0003】次に、上述したESDテスト装置の動作に
ついて説明する。先ず、リレーRL0 の極側cと接点a
とを接続しておき、入力端子1に電源E0 に基づく電圧
を印加することにより、容量C0 に電荷を蓄える。次
に、リレーRL0 を切り替えてその極側cと接点bとを
接続する。これにより、容量C0 に蓄えられた電荷は出
力端子3に放電される。この場合、リレーRLm+1 乃至
RLn を切り替えることにより、容量C0 に蓄えられた
電荷は出力端子4乃至nに選択的に放電される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のESDテスト装置においては、入力電圧を高く
するため、高電圧の電源E0 を設けている。このため、
安全性を考慮して装置を高電圧から保護するための手段
が必要であり、これによりESDテスト装置の重量が重
くなるという問題点がある。また、従来のESDテスト
装置は所定の電圧に対して専用のものであるため、量産
に適しておらず、製造コストが高いという問題点があ
る。
【0005】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、高電圧の電源を使用する必要がないと共
に、量産に適したESDテスト装置を提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るESDテス
ト装置は、その一端が入力端子に接続された第1の抵抗
と、この第1の抵抗の他端と接地端子との間に並列に接
続される複数個の容量と、この複数個の容量の接続状態
を切り替えて前記複数個の容量のうちの少なくとも1個
の容量を前記接地端子と出力端子との間に直列に接続す
る切替手段とを有することを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明においては、充電時の電流を制限する第
1の抵抗を設け、この第1の抵抗の他端と接地端子との
間に複数個の容量を並列に接続した状態で、入力端子に
電圧を印加することにより、前記複数個の容量に電荷を
蓄える。その後、切替手段が前記複数個の容量の接続状
態を切り替えることにより、前記複数個の容量のうちの
少なくとも1個を前記接地端子と出力端子との間に直列
に接続する。この場合、前記出力端子には直列接続され
た前記容量に充電された電荷が放電される。このため、
前記入力端子に低電圧を印加しても、出力端子に高電圧
を放電することができる。従って、本発明に係るESD
テスト装置においては、高電圧の電源を使用する必要は
ないので、装置の軽量化が可能である。また、複数個の
容量に電荷を蓄えた後に、接地端子と出力端子との間に
接続する容量の数を選択することにより、出力端子に種
々異なる電圧を出力することができる。このため、本発
明に係るESDテスト装置は汎用性を有し、量産に適し
ているため、その製造コストが低い。
【0008】なお、本発明においては、前記複数個の容
量と前記出力端子との間に第2の抵抗を接続することが
できる。この場合、前記第2の抵抗の抵抗値に基づいて
出力電圧を設定することができる。
【0009】
【実施例】次に、本発明に実施例について添付の図面を
参照して説明する。
【0010】図1は本発明の第1の実施例に係るESD
テスト装置を示す回路図である。充電時電流制限用の抵
抗R1 はその一端が入力端子1に接続されている。リレ
ーRL1 乃至RLS はその接点aが抵抗R1 の他端に接
続されている。容量C1 乃至CS は夫々その一方の電極
がリレーRL1 乃至RLS の極側cに接続されている。
容量C1 の他方の電極は接地端子2に接続され、容量C
2 乃至CS の他方の電極は夫々リレーRLS+1 乃至RL
m (m=2S−1)の極側cに接続されている。リレー
RLS+1 乃至RLm はその接点aが接地端子2に接続さ
れている。また、リレーRL1 乃至RLS-1 の接点bは
夫々リレーRLS+1 乃至RLm の接点bに接続されてい
る。リレーRLS の接点bは出力端子3に接続されてい
る。
【0011】出力端子3はリレーRLm+1 乃至RLn
一端に接続され、このリレーRLm+ 1 乃至RLn の他端
は出力端子4乃至nに接続されていて、リレーRLm+1
乃至RLn を切り替えることにより出力端子3が出力端
子4乃至nに選択的に接続されるようになっている。
【0012】次に、上述した本実施例に係るESDテス
ト回路の動作について説明する。先ず、リレーRL1
至RLm の極側cと接点aとを接続する。この場合、容
量C1 乃至CS は入力端子1と接地端子2との間に並列
に接続される。そして、入力端子1と接地端子2との間
に電圧を印加することにより、この電圧を容量C1 乃至
S に充電する。次に、リレーRL1 乃至RLm を切り
替えてその極側cと接点bとを接続する。これにより、
容量C1 乃至CS は接地端子2と出力端子3との間に直
列に接続されるので、接地端子2と出力端子3との間に
は容量C1 乃至CS に充電された電圧を加算した電圧が
発生し、この加算電圧が出力端子3に放電される。ま
た、リレーRLm+1 乃至RLn を切り替えることによ
り、容量C1乃至CS に充電された加算電圧は出力端子
4乃至nに選択的に放電される。
【0013】本実施例によれば、入力端子1に低電圧を
印加しても、出力端子3に高電圧を放電することができ
る。従って、本実施例に係るESDテスト装置において
は、高電圧の電源を使用する必要はなく、高電圧から装
置を保護するための手段を設ける必要がないので、装置
の軽量化が可能である。また、リレーRL1 乃至RLm
が接地端子2と出力端子3との間に接続する容量C1
至CS の数を選択することにより、出力端子3に種々異
なる電圧を出力することができる。このため、本実施例
に係るESDテスト装置は汎用性を有し、量産に適して
いる。
【0014】例えば、図3に示す従来のEIAJ方式の
ESDテスト装置において、C0 =200pF、E0
250Vとした場合に得られる出力特性と同等の出力特
性を得ようとする場合、本実施例においては、例えばS
=5とし、容量C1 乃至C5を夫々1000pFにす
る。この場合、入力端子1と接地端子2との間に印加す
る電圧を例えば約50Vにすることにより従来と同等の
出力特性を得ることができる。
【0015】図2は本発明の第2の実施例に係るESD
テスト装置を示す回路図である。なお、本実施例は第1
の実施例の出力部に抵抗R2 を挿入したものであるの
で、図2において図1と同一物には同一符号を付してそ
の部分の詳細な説明は省略する。
【0016】即ち、本実施例においては、最終段の容量
S の接続状態を切り替えるリレーRLS の接点bと出
力端子3との間に抵抗R2 が挿入されている。
【0017】この場合、その動作は第1の実施例の動作
と同様であるが、更に抵抗R2 の抵抗値に基づいて出力
電圧を設定することができる。これにより、MIL方式
のESDテスト装置を構成することができる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、入
力端子と接地端子との間に並列接続された複数個の容量
の接続状態を切り替えて前記複数個の容量のうち少なく
とも1個の容量を前記接地端子と出力端子との間に直列
接続するから、前記入力端子に低電圧を印加しても、出
力端子に高電圧を放電することができる。従って、高電
圧の電源を使用する必要はないので、ESDテスト装置
の軽量化が可能である。また、前記接地端子と前記出力
端子との間に接続する容量の数を選択することにより、
種々異なる出力電圧を得ることができる。このため、本
発明に係るESDテスト装置は汎用性を有し、量産に適
しているため、その製造コストが低い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係るESDテスト装置
を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例に係るESDテスト装置
を示す回路図である。
【図3】従来のESDテスト装置を示す回路図である。
【符号の説明】
1乃至n;端子 C0 乃至CS ;容量 R1 ,R2 ;抵抗 RL1 乃至RLn ;リレー a,b;リレーの接点 c;リレーの極側 E0 ;電源

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その一端が入力端子に接続された第1の
    抵抗と、この第1の抵抗の他端と接地端子との間に並列
    に接続される複数個の容量と、この複数個の容量の接続
    状態を切り替えて前記複数個の容量のうちの少なくとも
    1個の容量を前記接地端子と出力端子との間に直列に接
    続する切替手段とを有することを特徴とするESDテス
    ト装置。
  2. 【請求項2】 前記複数個の容量と前記出力端子との間
    に接続された第2の抵抗を有することを特徴とする請求
    項1に記載のESDテスト装置。
JP3198820A 1991-07-11 1991-07-11 Esdテスト装置 Pending JPH0519009A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3198820A JPH0519009A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 Esdテスト装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP3198820A JPH0519009A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 Esdテスト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0519009A true JPH0519009A (ja) 1993-01-26

Family

ID=16397460

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JP3198820A Pending JPH0519009A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 Esdテスト装置

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JP (1) JPH0519009A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101322556B1 (ko) * 2011-04-27 2013-10-28 샤프 가부시키가이샤 고전압 검사 장치

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