JPH05196657A - 交流電圧のピーク値測定法 - Google Patents
交流電圧のピーク値測定法Info
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- JPH05196657A JPH05196657A JP19128192A JP19128192A JPH05196657A JP H05196657 A JPH05196657 A JP H05196657A JP 19128192 A JP19128192 A JP 19128192A JP 19128192 A JP19128192 A JP 19128192A JP H05196657 A JPH05196657 A JP H05196657A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ノイズ電圧、制限波電圧、方形波電圧、ある
いはそれらの混合波のピーク値を波形の形にかかわら
ず、あたかもアナログ式ピーク値表示装置によって行う
のと同様に時定数による交流電圧の重み付けをして測定
すること。 【構成】 交流電圧のピーク値の測定を下記各ステップ
によりおこなう各構成部を有する：被測定交流電圧がサ
ンプリングによってデイジタル値に変換する、それらの
デイジタル値から振幅ヒストグラムが形成する、上記の
振幅ヒストグラムを積分することによって、交流電圧が
各振幅値を超過する確率（超過確率）に対応するヒスト
グラムの分布関数を決定する、そしてヒストグラムの両
最外側の振幅値の一つの超過確率がゼロより大きい既定
のリミット値に等しいかまたはそれよりも大きくなると
きに、それを最大または最小ピーク値と決定する。
いはそれらの混合波のピーク値を波形の形にかかわら
ず、あたかもアナログ式ピーク値表示装置によって行う
のと同様に時定数による交流電圧の重み付けをして測定
すること。 【構成】 交流電圧のピーク値の測定を下記各ステップ
によりおこなう各構成部を有する：被測定交流電圧がサ
ンプリングによってデイジタル値に変換する、それらの
デイジタル値から振幅ヒストグラムが形成する、上記の
振幅ヒストグラムを積分することによって、交流電圧が
各振幅値を超過する確率（超過確率）に対応するヒスト
グラムの分布関数を決定する、そしてヒストグラムの両
最外側の振幅値の一つの超過確率がゼロより大きい既定
のリミット値に等しいかまたはそれよりも大きくなると
きに、それを最大または最小ピーク値と決定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ノイズ電圧、正弦波電
圧、方形波電圧、あるいは、それらの混合波のごとき交
流電圧のピーク値の測定法に関する。
圧、方形波電圧、あるいは、それらの混合波のごとき交
流電圧のピーク値の測定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】交流電圧の平均値あるいは実効値を測定
するために、まずサンプリングによって被測定交流電圧
をデイジタル値に変換し、これらのデイジタル値から振
幅のヒストグラムをつくり、これから平均値あるいは実
効値が決定されるという方法が従来知られていた（例え
ばヘムバッハ：（Ｈｅｍｂａｃｈ）「測定ならびに制後
技術における特化された応用のためのアナログ−確率符
号化器」，周波数 ：（Ｆｒｅｑｕｅｎｚ）３７（１９
８３）３，５８−６３，ＤＥ ３，３２，８７４）。
するために、まずサンプリングによって被測定交流電圧
をデイジタル値に変換し、これらのデイジタル値から振
幅のヒストグラムをつくり、これから平均値あるいは実
効値が決定されるという方法が従来知られていた（例え
ばヘムバッハ：（Ｈｅｍｂａｃｈ）「測定ならびに制後
技術における特化された応用のためのアナログ−確率符
号化器」，周波数 ：（Ｆｒｅｑｕｅｎｚ）３７（１９
８３）３，５８−６３，ＤＥ ３，３２，８７４）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は交流電
圧のピーク値の測定も可能な特別の方法を提供すること
にある。特定された目的は主たる請求範囲にもとづく方
法によって達成される。それ以外の有利な改良点は従属
請求項によって明らかにされるだろう。
圧のピーク値の測定も可能な特別の方法を提供すること
にある。特定された目的は主たる請求範囲にもとづく方
法によって達成される。それ以外の有利な改良点は従属
請求項によって明らかにされるだろう。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明にかかわる交流電
圧のピーク値測定法は下記のステップを具備する：被測
定交流電圧をサンプリングによってデイジタル値（複
数）に変換するステップ、それらのデイジタル値から振
幅ヒストグラムを形成するステップ、上記の振幅ヒスト
グラムを積分することによって、交流電圧が各振幅値を
超過する確率（超過確率）に対応するヒストグラムの分
布関数を決定するステップ、及びヒストグラムの両最外
側の振幅値の一つの超過確率をゼロより大きい所定のリ
ミット値に等しいかまたはそれよりも大きくなったと
き、それを最大または最小ピーク値と決定するステッ
プ。本発明による方法の特徴は、振幅ヒストグラムの両
ピーク値間の振幅値そのものをサンプリングされた交流
電圧の最高あるいは最低ピーク値として決定するのでは
なくて、ヒストグラムの最高ピーク値あるいは最低ピー
ク値の振幅値は、それの超過確率が所定の、一般に小さ
な値の、リミット値に到達したかまたは超過したときの
振幅によって決定されるのである。この所定のリミット
値は測定課題に応じて変更される。また、このリミット
値は、たとえば、ピーク値メーターによって正しく測定
可能な限度ぎりぎりに短い時間一定のピーク値をもつと
考えうるデユーテイタイムの短い方形波電圧を考えて、
そのパルスのデユーテイ比（デユーテイサイクル、デユ
ーテイフアクター）より小さいかまたはそれと等しく設
定するするのが好ましい。このような方法によると、ア
ナログ技術によるピーク値表示装置に対して通常行われ
ているのと同様の仕方で交流電圧の重み付け（例えばデ
ユーテイタイムが異常に短いが振幅が大きいピークの振
幅を最高あるいは最低ピーク値と認めるかどうかの重み
付け）が可能となる。というのは、超過確率のリミット
値の適切な選択によって、アナログ式のピーク値表示装
置の充放電時定数による機能をデイジタル的にシミユレ
ートすることが可能だからである。こうしてはじめて、
アナログピーク値表示装置によって行われるのと同様な
性質の測定がデイジタルなピーク値測定によって可能と
なる。本発明のその他の目的、特徴、利点、その組織、
構造、動作などは、図を参照しつつ行なう以下の詳細な
説明によってよく理解することができる。
圧のピーク値測定法は下記のステップを具備する：被測
定交流電圧をサンプリングによってデイジタル値（複
数）に変換するステップ、それらのデイジタル値から振
幅ヒストグラムを形成するステップ、上記の振幅ヒスト
グラムを積分することによって、交流電圧が各振幅値を
超過する確率（超過確率）に対応するヒストグラムの分
布関数を決定するステップ、及びヒストグラムの両最外
側の振幅値の一つの超過確率をゼロより大きい所定のリ
ミット値に等しいかまたはそれよりも大きくなったと
き、それを最大または最小ピーク値と決定するステッ
プ。本発明による方法の特徴は、振幅ヒストグラムの両
ピーク値間の振幅値そのものをサンプリングされた交流
電圧の最高あるいは最低ピーク値として決定するのでは
なくて、ヒストグラムの最高ピーク値あるいは最低ピー
ク値の振幅値は、それの超過確率が所定の、一般に小さ
な値の、リミット値に到達したかまたは超過したときの
振幅によって決定されるのである。この所定のリミット
値は測定課題に応じて変更される。また、このリミット
値は、たとえば、ピーク値メーターによって正しく測定
可能な限度ぎりぎりに短い時間一定のピーク値をもつと
考えうるデユーテイタイムの短い方形波電圧を考えて、
そのパルスのデユーテイ比（デユーテイサイクル、デユ
ーテイフアクター）より小さいかまたはそれと等しく設
定するするのが好ましい。このような方法によると、ア
ナログ技術によるピーク値表示装置に対して通常行われ
ているのと同様の仕方で交流電圧の重み付け（例えばデ
ユーテイタイムが異常に短いが振幅が大きいピークの振
幅を最高あるいは最低ピーク値と認めるかどうかの重み
付け）が可能となる。というのは、超過確率のリミット
値の適切な選択によって、アナログ式のピーク値表示装
置の充放電時定数による機能をデイジタル的にシミユレ
ートすることが可能だからである。こうしてはじめて、
アナログピーク値表示装置によって行われるのと同様な
性質の測定がデイジタルなピーク値測定によって可能と
なる。本発明のその他の目的、特徴、利点、その組織、
構造、動作などは、図を参照しつつ行なう以下の詳細な
説明によってよく理解することができる。
【０００５】
【実施例】図１は、本発明にもとづく方法を実行するた
めの構成の基本的回路図である。この構成は、通常のア
ナログ−デイジタル変換器１を含む。このアナログ−デ
イジタル変換器１は、その入力端子２に供給されるアナ
ログ交流電圧を所望のサンプリング周波数、たとえば１
８ＭＨｚで、このアナログ値に対応するデイジタル値に
変換する。アナログ−デイジタル変換器１のデータ出力
端子３はデイジタル式のメモリー装置（ＲＡＭ）５のア
ドレス入力端子４に接続されている。模式的に図示され
たメモリー装置５の格納位置６のそれぞれは、入力交流
電圧のそれらに割当てられた対応する振幅値を有してい
る。測定の開始時点において、全ての格納位置６は値０
（ゼロ）を保持している。交流入力電圧をサンプリング
すると、各サンプリング動作に対応して、各デイジタル
値に割当てられているメモリー装置５の各格納位置６の
値が読み出され出力端子７を通して加算器８に供給され
る。加算器８では、各格納位置６のそれぞれから読み出
された各値に加数１が加算される。したがって、いま１
だけ増加されたこの値はメモリー５の元の格納位置に戻
され、そこに格納される。このようにして、最近時にサ
ンプルされた電圧値の振幅値に対応する格納位置の数値
が１だけ増加される。このようなサンプリングが所定の
時間間隔の間繰り返される。やがて、十分の繰り返しを
行った後には、メモリー５の中に交流入力電圧の振幅ヒ
ストグラムが形成される。メモリー５の出力はプロセッ
サー１０にも接続されている。そのプロセッサー１０で
は、メモリーに形成されたヒストグラムが直ちに解析さ
れる。図２、図３、図４は、図１に示した構成のメモリ
ー５に形成されたと考えられる種類の、種々の交流電圧
に対する各種の振幅ヒストグラムＰ（Ｕ）（実線で示し
たバー）を示している。但し図２は雑音波形、図３は正
弦波形、図４は方形波形のそれぞれについてのものであ
る。横軸は被測定交流電圧Ｕを示しており、右端の縦軸
はヒストグラムＰ（Ｕ）の目盛を、また、左端の縦軸は
いわゆる超過確率Ｆ（Ｕ）の目盛を示している。
めの構成の基本的回路図である。この構成は、通常のア
ナログ−デイジタル変換器１を含む。このアナログ−デ
イジタル変換器１は、その入力端子２に供給されるアナ
ログ交流電圧を所望のサンプリング周波数、たとえば１
８ＭＨｚで、このアナログ値に対応するデイジタル値に
変換する。アナログ−デイジタル変換器１のデータ出力
端子３はデイジタル式のメモリー装置（ＲＡＭ）５のア
ドレス入力端子４に接続されている。模式的に図示され
たメモリー装置５の格納位置６のそれぞれは、入力交流
電圧のそれらに割当てられた対応する振幅値を有してい
る。測定の開始時点において、全ての格納位置６は値０
（ゼロ）を保持している。交流入力電圧をサンプリング
すると、各サンプリング動作に対応して、各デイジタル
値に割当てられているメモリー装置５の各格納位置６の
値が読み出され出力端子７を通して加算器８に供給され
る。加算器８では、各格納位置６のそれぞれから読み出
された各値に加数１が加算される。したがって、いま１
だけ増加されたこの値はメモリー５の元の格納位置に戻
され、そこに格納される。このようにして、最近時にサ
ンプルされた電圧値の振幅値に対応する格納位置の数値
が１だけ増加される。このようなサンプリングが所定の
時間間隔の間繰り返される。やがて、十分の繰り返しを
行った後には、メモリー５の中に交流入力電圧の振幅ヒ
ストグラムが形成される。メモリー５の出力はプロセッ
サー１０にも接続されている。そのプロセッサー１０で
は、メモリーに形成されたヒストグラムが直ちに解析さ
れる。図２、図３、図４は、図１に示した構成のメモリ
ー５に形成されたと考えられる種類の、種々の交流電圧
に対する各種の振幅ヒストグラムＰ（Ｕ）（実線で示し
たバー）を示している。但し図２は雑音波形、図３は正
弦波形、図４は方形波形のそれぞれについてのものであ
る。横軸は被測定交流電圧Ｕを示しており、右端の縦軸
はヒストグラムＰ（Ｕ）の目盛を、また、左端の縦軸は
いわゆる超過確率Ｆ（Ｕ）の目盛を示している。
【０００６】そして図２から図４の各図では、振幅ヒス
トグラムＰ（Ｕ）に加えて、それに付随する超過確率Ｆ
（Ｕ）（点線）および、この超過確率についてのリミッ
ト値Ｆｓ（破線）を有している。数学的にいえば、超過
確率はヒストグラムの（統計）分布関数とでも呼ぶべき
ものであり、したがって、ここでの例でいえば、ヒスト
グラムのこのいわゆる分布関数は、交流電圧がそれに対
応する各振幅値を超過する確率に対応する。したがっ
て、超過確率と呼んだのであり、それはヒストグラムＰ
（Ｕ）の積分として得られる。特性カーブＦ１は最大の
ピーク値を決定するための超過確率を示しており、ま
た、Ｆ２は最小のピーク値を決定するための超過確率を
示している。特性カーブＦ１をつくるためには、振幅区
分ｘの超過確率Ｆ（ｘ）の決定に、ヒストグラム中で振
幅区分ｘの右側に来る全てのヒストグラム値Ｐ（Ｕ）を
足し合わせることが必要である。特性カーブＦ２をつく
るためには、上とは逆の操作が必要となる。したがっ
て、特性カーブＦ１はヒストグラム上の負方向への積分
による積分関数であり、最大のピーク値を決定するのに
使われる。 一方、特性カーブＦ２はヒストグラム上の
正方向への積分による積分関数であり、最小のピーク値
を決定するのに使われる。以下の図３と図４では、便宜
上負方向への積分による積分関数のみを示している。な
おこの場合、最小のピーク値を決定するためには、正方
向への積分による積分関数を別途決定しなければならな
い。
トグラムＰ（Ｕ）に加えて、それに付随する超過確率Ｆ
（Ｕ）（点線）および、この超過確率についてのリミッ
ト値Ｆｓ（破線）を有している。数学的にいえば、超過
確率はヒストグラムの（統計）分布関数とでも呼ぶべき
ものであり、したがって、ここでの例でいえば、ヒスト
グラムのこのいわゆる分布関数は、交流電圧がそれに対
応する各振幅値を超過する確率に対応する。したがっ
て、超過確率と呼んだのであり、それはヒストグラムＰ
（Ｕ）の積分として得られる。特性カーブＦ１は最大の
ピーク値を決定するための超過確率を示しており、ま
た、Ｆ２は最小のピーク値を決定するための超過確率を
示している。特性カーブＦ１をつくるためには、振幅区
分ｘの超過確率Ｆ（ｘ）の決定に、ヒストグラム中で振
幅区分ｘの右側に来る全てのヒストグラム値Ｐ（Ｕ）を
足し合わせることが必要である。特性カーブＦ２をつく
るためには、上とは逆の操作が必要となる。したがっ
て、特性カーブＦ１はヒストグラム上の負方向への積分
による積分関数であり、最大のピーク値を決定するのに
使われる。 一方、特性カーブＦ２はヒストグラム上の
正方向への積分による積分関数であり、最小のピーク値
を決定するのに使われる。以下の図３と図４では、便宜
上負方向への積分による積分関数のみを示している。な
おこの場合、最小のピーク値を決定するためには、正方
向への積分による積分関数を別途決定しなければならな
い。
【０００７】本発明によれば、ピーク値として用いられ
るのは、ヒストグラムの最大または最小値ではなくて、
それぞれ、超過確率Ｆ１またはＦ２が既定リミット値Ｆ
ｓに到達または超過するごときヒストグラム上の振幅値
Ｕｓである。上記のリミット値Ｆｓはゼロよりは大きい
が、おおよそ０．１未満である。本発明によるピーク値
メーターの実際的な実施例では、Ｆｓはたとえば、０．
００００１と０．０００１の間に選ばれる。このリミッ
ト値Ｆｓは、種々の測定課題によって変更される。たと
えば図２にしたがってノイズを測定するのには、リミッ
ト値は受け入れ可能な測定時間内に有意な中程度のピー
ク値が測られるように選ばれる。したがって図２によれ
ば、Ｕｓは最短の測定時間後に、最高の確率をもって到
達する最大ピーク値として測定される。リミット値Ｆｓ
の導入によって、このようなピーク値測定は有意味なリ
ミット値の間に設定することができるのである。方形波
電圧を測定するのに、上述のリミット値Ｆｓは方形波電
圧のパルスデューテイ比（デユーテイサイクル、デユー
テイフアクター）Ｔ１／Ｔよりも小さく、またはＴ１／
Ｔに等しくなるよう選択され、しかもそれでもピーク値
メーターのようなものによって正確に測定されうる値で
あるように選ばれる。すなわちリミット値Ｆｓの導入に
よってピーク値測定は、充電容量の放電を補償するよう
入力電圧がピーク値を超過することになっているところ
の、通常のアナログのピーク値表示装置におけると同様
の重み付けをもってなされるようになる。言い換えれ
ば、本発明による方法ではじめてこのようなタイプの表
示装置の充放電時定数が、デイジタル的にシミユレート
できるということである。
るのは、ヒストグラムの最大または最小値ではなくて、
それぞれ、超過確率Ｆ１またはＦ２が既定リミット値Ｆ
ｓに到達または超過するごときヒストグラム上の振幅値
Ｕｓである。上記のリミット値Ｆｓはゼロよりは大きい
が、おおよそ０．１未満である。本発明によるピーク値
メーターの実際的な実施例では、Ｆｓはたとえば、０．
００００１と０．０００１の間に選ばれる。このリミッ
ト値Ｆｓは、種々の測定課題によって変更される。たと
えば図２にしたがってノイズを測定するのには、リミッ
ト値は受け入れ可能な測定時間内に有意な中程度のピー
ク値が測られるように選ばれる。したがって図２によれ
ば、Ｕｓは最短の測定時間後に、最高の確率をもって到
達する最大ピーク値として測定される。リミット値Ｆｓ
の導入によって、このようなピーク値測定は有意味なリ
ミット値の間に設定することができるのである。方形波
電圧を測定するのに、上述のリミット値Ｆｓは方形波電
圧のパルスデューテイ比（デユーテイサイクル、デユー
テイフアクター）Ｔ１／Ｔよりも小さく、またはＴ１／
Ｔに等しくなるよう選択され、しかもそれでもピーク値
メーターのようなものによって正確に測定されうる値で
あるように選ばれる。すなわちリミット値Ｆｓの導入に
よってピーク値測定は、充電容量の放電を補償するよう
入力電圧がピーク値を超過することになっているところ
の、通常のアナログのピーク値表示装置におけると同様
の重み付けをもってなされるようになる。言い換えれ
ば、本発明による方法ではじめてこのようなタイプの表
示装置の充放電時定数が、デイジタル的にシミユレート
できるということである。
【０００８】図２からわかるように雑音波形のピーク値
を決定するためには、プロセッサーは最初に遭遇する最
大振幅値をピーク値として決定するのではなく、超過確
率Ｆ１が既定のリミット値Ｆｓに到達するか超過すると
きにはじめて振幅値Ｕｓをピーク値として決定するので
ある。図３に示す正弦波に対しては、実際上、ヒストグ
ラム上の最初の振幅値が正しいピーク値である。また、
図４の方形波の場合についても同じことが云えることは
明らかである。なお図５は図４に示された方形波のヒス
トグラムに対応する時間波形である。したがって、プロ
セッサーはメモリーから供給される振幅ヒストグラムＰ
（Ｕ）を積分して適正な超過確率特性カーブを得た後、
最大ピーク値を得るために、プロセッサーは、ヒストグ
ラム特性カーブの一番外側から内側に向ってスタートし
て超過確率を照合し、（たとえば図２のＦ１（Ｕ）カー
ブについては高い電圧の側から低い電圧の側へ）超過確
率リミット値Ｆｓに到達するか超過する振幅値Ｕｓを決
定する。このようにして得られた振幅値Ｕｓが所望の値
（あたい）であり、本発明の定義による入力電圧の最大
ピーク値である。交流電圧の最小ピーク電圧も同様にし
て（図２のＦ２（Ｕ）カーブについては、最大ピーク値
の場合とは逆に低い電圧の側から高い電圧の側へ）プロ
セッサーによって簡単な方法で決定することができる。
を決定するためには、プロセッサーは最初に遭遇する最
大振幅値をピーク値として決定するのではなく、超過確
率Ｆ１が既定のリミット値Ｆｓに到達するか超過すると
きにはじめて振幅値Ｕｓをピーク値として決定するので
ある。図３に示す正弦波に対しては、実際上、ヒストグ
ラム上の最初の振幅値が正しいピーク値である。また、
図４の方形波の場合についても同じことが云えることは
明らかである。なお図５は図４に示された方形波のヒス
トグラムに対応する時間波形である。したがって、プロ
セッサーはメモリーから供給される振幅ヒストグラムＰ
（Ｕ）を積分して適正な超過確率特性カーブを得た後、
最大ピーク値を得るために、プロセッサーは、ヒストグ
ラム特性カーブの一番外側から内側に向ってスタートし
て超過確率を照合し、（たとえば図２のＦ１（Ｕ）カー
ブについては高い電圧の側から低い電圧の側へ）超過確
率リミット値Ｆｓに到達するか超過する振幅値Ｕｓを決
定する。このようにして得られた振幅値Ｕｓが所望の値
（あたい）であり、本発明の定義による入力電圧の最大
ピーク値である。交流電圧の最小ピーク電圧も同様にし
て（図２のＦ２（Ｕ）カーブについては、最大ピーク値
の場合とは逆に低い電圧の側から高い電圧の側へ）プロ
セッサーによって簡単な方法で決定することができる。
【０００９】ヒストグラムが形成された後は、プロセッ
サー１０が解析動作を実行できるためには、メモリーに
それ以上デイジタル値が入ってこないようにすることが
好ましい。ヒストグラムが形成されるまでの所要時間は
それぞれの測定課題、すなわち、それぞれのプロセスす
べき測定信号ならびにそのサンプリング周波数によって
変わる。振幅サンプリング数は、超過確率の特性カーブ
がＦｓの付近で十分の情報、すなわち統計的変化に大き
く影響されない情報を提供する限度で、最小にとどめる
ことが必要である。そのサンプリングの周波数は測定結
果に直接の影響をを与えなるものではない。本発明者
は、その発明を図示した実施例を参照しつつ説明してき
たが、本発明の多くの変更や変形が本発明の精神ならび
に請求の範囲から逸脱することなく可能なことは、当該
分野に精通した何人にとっても明らかであろう。したが
って、本発明者は、ここに示した本発明の範囲内で、当
該分野への本発明者の寄与の範囲内に有意味にかつ適正
に含め得るものとして、このような変更や変形を含める
意向である。
サー１０が解析動作を実行できるためには、メモリーに
それ以上デイジタル値が入ってこないようにすることが
好ましい。ヒストグラムが形成されるまでの所要時間は
それぞれの測定課題、すなわち、それぞれのプロセスす
べき測定信号ならびにそのサンプリング周波数によって
変わる。振幅サンプリング数は、超過確率の特性カーブ
がＦｓの付近で十分の情報、すなわち統計的変化に大き
く影響されない情報を提供する限度で、最小にとどめる
ことが必要である。そのサンプリングの周波数は測定結
果に直接の影響をを与えなるものではない。本発明者
は、その発明を図示した実施例を参照しつつ説明してき
たが、本発明の多くの変更や変形が本発明の精神ならび
に請求の範囲から逸脱することなく可能なことは、当該
分野に精通した何人にとっても明らかであろう。したが
って、本発明者は、ここに示した本発明の範囲内で、当
該分野への本発明者の寄与の範囲内に有意味にかつ適正
に含め得るものとして、このような変更や変形を含める
意向である。
【００１０】
【発明の効果】本発明による方法は、振幅ヒストグラム
の両ピーク値間の振幅値をサンプリングされた交流電圧
の最高あるいは最低ピーク値として決定するのではなく
て、ヒストグラムのそれら振幅値を、それの超過確率が
所定リミット値に到達したかまたは超過したときのもの
で決定するのである。このリミット値は測定課題に応じ
て変更される。また、このリミット値は、たとえばピー
ク値メーターによって正しく測定可能な限度の短い時間
一定のピーク値であると考えうるデユーテイタイムの短
い方形波電圧を考えて、そのパルスのデユーテイ比（デ
ユーテイサイクル、デユーテイフアクター）より小さい
かまたはそれと等しく設定するするのが好ましい。この
ような方法によると、アナログ技術によるピーク値表示
装置に対して通常行われているのと同様の仕方で交流電
圧の重み付けが可能となる。というのは、超過確率のリ
ミット値の適切な選択によって、アナログピーク値表示
装置の充放電時定数による機能をデイジタル的にシミユ
レートすることが可能だからである。こうしてはじめ
て、アナログ式のピーク値表示装置によって行われるの
と同様な性質の測定がデイジタルなピーク値測定によっ
て可能となる。
の両ピーク値間の振幅値をサンプリングされた交流電圧
の最高あるいは最低ピーク値として決定するのではなく
て、ヒストグラムのそれら振幅値を、それの超過確率が
所定リミット値に到達したかまたは超過したときのもの
で決定するのである。このリミット値は測定課題に応じ
て変更される。また、このリミット値は、たとえばピー
ク値メーターによって正しく測定可能な限度の短い時間
一定のピーク値であると考えうるデユーテイタイムの短
い方形波電圧を考えて、そのパルスのデユーテイ比（デ
ユーテイサイクル、デユーテイフアクター）より小さい
かまたはそれと等しく設定するするのが好ましい。この
ような方法によると、アナログ技術によるピーク値表示
装置に対して通常行われているのと同様の仕方で交流電
圧の重み付けが可能となる。というのは、超過確率のリ
ミット値の適切な選択によって、アナログピーク値表示
装置の充放電時定数による機能をデイジタル的にシミユ
レートすることが可能だからである。こうしてはじめ
て、アナログ式のピーク値表示装置によって行われるの
と同様な性質の測定がデイジタルなピーク値測定によっ
て可能となる。
【図１】本発明にもとづく方法を実行するための構成の
基本的回路図。
基本的回路図。
【図２】図１に示した構成のメモリー５に形成される種
類の、種々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラム
Ｐ（Ｕ）（実線で示したバー）。
類の、種々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラム
Ｐ（Ｕ）（実線で示したバー）。
【図３】図１に示した構成のメモリー５に形成される種
類の、種々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラム
Ｐ（Ｕ）（実線で示したバー）。
類の、種々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラム
Ｐ（Ｕ）（実線で示したバー）。
【図４】図１に示した構成のメモリー５に形成される種
々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラムＰ（Ｕ）
（実線で示したバー）。
々の交流電圧に対する各種の振幅ヒストグラムＰ（Ｕ）
（実線で示したバー）。
【図５】図４に示された方形波のヒストグラムに対応す
る時間波形図。
る時間波形図。
１ アナログ−デイジタル変換器 ２ 入力端子 ３ データ出力端子 ４ 入力端子 ５ デイジタルメモリー装置 ６ 格納位置 ７ 出力端子 ８ 加算器 ９ 入力端子 １０ プロセツサー
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定交流電圧をサンプリングによって
デイジタル値（複数）に変換するステップ、 それらのデイジタル値から振幅ヒストグラムを形成する
ステップ、 上記の振幅ヒストグラムを積分することによって、交流
電圧が各振幅値を超過する確率（以下超過確率と言う）
に対応するヒストグラムの分布関数を決定するステッ
プ、及びヒストグラムの両最外側の振幅値の一つの超過
確率がゼロより大きい所定のリミット値に等しいかまた
はそれよりも大きくなったとき、それを最大または最小
ピーク値と決定するステップ、 を具備する交流電圧のピーク値測定法。 - 【請求項２】 前記超過確率のリミット値が、ピーク値
を正確に測れる限度ぎりぎりに短いデユーテイタイムの
方形波電圧のパルスのデユーテイ比（デユーテイサイク
ル、デユーテイフアクターとも言う）よりも小さいかま
たはそれに等しいことを特徴とする請求項１の交流電圧
のピーク値測定法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4118978.7 | 1991-06-08 | ||
| DE19914118978 DE4118978A1 (de) | 1991-06-08 | 1991-06-08 | Verfahren und anordnung zum messen der kennwerte wie spitzenwert, mittelwert oder effektivwert einer wechselspannung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05196657A true JPH05196657A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=6433561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19128192A Pending JPH05196657A (ja) | 1991-06-08 | 1992-06-08 | 交流電圧のピーク値測定法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0518116A1 (ja) |
| JP (1) | JPH05196657A (ja) |
| DE (1) | DE4118978A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6418386B1 (en) | 1999-12-06 | 2002-07-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | High and low voltage measurement in waveform analysis |
| DE10002337A1 (de) * | 2000-01-20 | 2001-07-26 | Rohde & Schwarz | Verfahren und Anordnung zum Anzeigen der Amplitudenverzerrungen eines Übertragungskanals |
| US6694462B1 (en) | 2000-08-09 | 2004-02-17 | Teradyne, Inc. | Capturing and evaluating high speed data streams |
| US6829043B2 (en) * | 2002-04-15 | 2004-12-07 | Toolz, Ltd. | Distance measurement device with short distance optics |
| US7143323B2 (en) | 2002-12-13 | 2006-11-28 | Teradyne, Inc. | High speed capture and averaging of serial data by asynchronous periodic sampling |
| US7149651B2 (en) | 2004-05-14 | 2006-12-12 | Agilent Technologies, Inc. | Confidence blanket for randomly-located measurements |
| GB2426066A (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-15 | Agilent Technologies Inc | Apparatus and method for generating a complementary cumulative distribution function (CCDF) curve |
| FR3009087B1 (fr) * | 2013-07-24 | 2015-09-04 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de mesure du module d'une impedance electrique. |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3132874A1 (de) * | 1981-08-20 | 1983-03-03 | Rainer Dipl.-Ing. 6500 Mainz Bermbach | "stochastische effektivwertmessung" |
| DE3435627A1 (de) * | 1984-09-28 | 1986-04-10 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Verfahren und anordnung zum messen des effektivwerts einer wechselspannung |
| US4817158A (en) * | 1984-10-19 | 1989-03-28 | International Business Machines Corporation | Normalization of speech signals |
| DE3825884A1 (de) * | 1988-07-29 | 1990-02-01 | Texas Instruments Deutschland | Verfahren zur erhoehung der aufloesung eines a/d-umsetzers |
-
1991
- 1991-06-08 DE DE19914118978 patent/DE4118978A1/de active Granted
-
1992
- 1992-05-26 EP EP92108814A patent/EP0518116A1/de not_active Withdrawn
- 1992-06-08 JP JP19128192A patent/JPH05196657A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4118978C2 (ja) | 1993-09-02 |
| DE4118978A1 (de) | 1992-12-10 |
| EP0518116A1 (de) | 1992-12-16 |
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