JPH0519939B2

JPH0519939B2 -

Info

Publication number: JPH0519939B2
Application number: JP23327285A
Authority: JP
Inventors: Yoichi Takagi; Toshio Usui; Masao Takato
Original assignee: Small Business Corp
Current assignee: Small Business Corp
Priority date: 1985-10-21
Filing date: 1985-10-21
Publication date: 1993-03-18
Also published as: JPS6293637A

Description

【発明の詳細な説明】

〔発明の利用分野〕検反機は衣服製造の原材料である反物の表面の
欠点を検査するのに使用する。染色工程の完了時
に、検反を行い工場出荷を行う。反物の受入先で
ある縫製工場でも、受入検査として検反機による
検査を実施している。本発明品はどちらにも使用
可能である。〔発明の背景〕従来技術として特開昭58−46169号がある。こ
れは織布に原因（欠陥別の）に応じて色分けして
インクの吹付けして記憶し、読出して検反するも
のである。しかし本発明のような画像処理による
例はない。〔発明の目的〕本発明は、自動化による高精度・高効率の検反
を可能ならしめる自動検反システムの提供を目的
とするものである。〔発明の概要〕画像処理機能を粗検査と精密検査機能に分ける
ことにより高速高精度な生地の表面の自動検査を
可能としている。粗検査は、ラインセンサにより
とり込んだ画像を単純な画像処理（画像間演算と
２値化程度）だけで欠点の有無を検査する（この
場合、欠点らしきものも欠点とみなすので、この
程度の処理で十分間に合う）。欠点有とみなされ
るとラインスピードを落し、生地表面の詳細な画
像を処理して欠点部の精密な検査を行う。〔発明の実施例〕以下、本発明の一実施例を説明する。 (1) システムの構成と役割第１図に本発明に係る自動検反システムの概略
を示す全体図を示す。１は、被検査物たる反物の
生地の表面の欠点を検出するための検反領域を有
すると共に、該反物の生地に識別可能な指標を適
宜マーキング可能な検反機本体で、２は画像処理
機能を含む欠点検出機、３は検反機１における反
物の生地の送り速度を制御する速度制御装置であ
る。欠点検出装置２には、システムコンソール
４、キーボード５、ハードコピー用タイプライタ
６を接続してあり、マンマシン及び検査結果の出
力に使用する。また、生地表面の画像を入力する
ためラインセンサカメラ１０、ITVカメラ９及
び１１が接続されている。上記ラインセンサ１０
は検反機１の検反領域に設けられて、反物の生地
表面から粗検査用の画像情報を取得、する粗検査
用画像情報取得手段として機能しせ、ITVカメ
ラ９は、反物の生地表面から精密検査用の画像情
報を取得する精密画像情報取得手段として機能さ
せる。ITVカメラ１１は、穴キズ等を検知する
ための透過光による検査に使用する。７は、被検
査対象物で生地をロール状に巻いたもので、検査
開始時ここに置かれる。８は、被検査対象物の巻
取側（リール側）である。４８は、ライン走行中
の被検査対象物でる。１４は第１中間ローラ、１
５は第２中間ローラ、１６は第１ルーパーロー
ラ、１７は第３中間ローラでモータで駆動され
る。１８は第３中間押えローラである。走行中の
生地４８は、２個のローラ１７及び１８によりは
さまれ生地表面とローラ表面にすべりを生じない
ようにしてある。第３中間ローラは、モータによ
り駆動されると共にその回転数を正確にカウント
できるようにモータ軸端にセルシン発信器が取り
付けられている。１９は第４中間ローラで、２０
は第５中間ローラでモータにより駆動される。２
１は、第５中間押えローラである。ここでも走行
中の生地４８は、２個のローラ２０及び２１によ
りはさまれ生地表面とローラ表面にすべりを生じ
ないようにしてある。２２は第２ルーパーローラ
である。ルーパーローラ１６及び２２は、画像処
理により生地表面検査の際、検査部の速度を自由
に変えられるようにするためのループ作成のため
に設けてある。このループにより生地の検査表面
のライン速度が急速に変化させることを可能とし
ている。２３は第６中間ローラである。第２図は
検反機本体側面図、第３図は正面図を示す。６９
は、生地のロールを支えるための軸で、モータ駆
動される。７０は、同じく巻取側の軸でモータ駆
動される。すなわち、上記した各ローラと駆動モ
ータが相互に機能することで、検反機１の検反領
域を通過する反物の生地の速度を可変させ得る走
行手段が構成されるのである。３３は、検反機本
体のフレームを示し、９３，９４はフレームに付
加されたループ用溝である。１２は、平面照明装
置で透過光による検査に使用する照明装置であ
る。２４，２５は、反射光による検査の場合に使
用する照明装置である。３１は、検反機本体１と
速度制御装置３との間のインターフエースであ
り、ルーパー長の情報を速度制御装置３にとり込
むと共に、中間軸１７，２０や生地ロール軸６
９，７０の駆動モータを速度制御するためのイン
ターフエースである。２８はラインセンサカメラ
１０から画像を入力するためのインターフエース
で、２７はITVカメラ９から画像入力するため
のインターフエースである。２９は同じくITV
カメラ１１からの画像入力するためのインターフ
エースである。１３はセルシン発信器で第３中間
ローラ１７の端部又はモータ軸端に取り付けられ
ており、ローラの回転数を計測するためのパルス
発生器である。このセルシン発信器３が走行手段
における第３中間ローラ１７の回転量を検出する
ことで、送り出された反物の生地を送り出し量と
しての位置情報を取得する位置情報取得手段とし
て機能するのである。３４はパルス信号変換器で
ある。３５は、セルシン発信器１３とパルス信号
変換器３４間のインターフエースである。３６，
３７は、パルス信号変換器３４と欠点検出装置間
のインターフエースである。第４図は欠点検出装置２のブロツク図である。
３８はシステムプロセツサCPUで16ビツトマイ
クロプロセツサ68000が使用されている。CPU３
８には、システムコンソールCRT４及びキーボ
ード５が接続されマンマシンに使用される。ハー
ドコピー用タイプライタ６は、コンソールCRT
４の表示内容をタイプ出力できるようにコンソー
ルCRT４に接続してある。３９は主メモリでメ
モリサイズは必要に応じて可変であるがここでは
512KB〜2MB程度が実用的に使用されている。
４０はシステムバスである。４１は外部記憶装置
で、ここではフロツピーデイスクを示している
が、固定デイスクを更に付加することも必要に応
じてあり得る。４２は画像処理プロセツサで、画
像処理機能を高速処理する為、ハードウエア化し
たものである。例えば、すでに世の中でハードウ
エア化され高速化されている機能としては検反に
有効と思われる以下の表１のようなものがある。

【表】

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明に係る自動検反シ
ステムによれば、以下のような具体的効果を期す
ことが可能になるのである。検反機に粗検査用画像情報取得手段と精密検
査用画像情報取得手段とを設ける構成と、欠点
検出装置に粗検査制御手段と精密検査制御手段
とを設ける構成と、速度制御装置によつて検反
機の走行手段を第１速度あるいは第２速度に変
更制御する構成とを一体不可分の構成としたこ
とにより、通常の検査時には第１速度で粗検査
を行い、欠点候補が検出された時点で行う精密
検査時にのみ、第１速度よりも遅い第２速度に
して検反処理を行うことが可能になる。上記の効果によつて、通常の検査時には比
較的速い速度で粗検査を行い精密検査時には精
密検査に適した速度で精密検査を行うので、検
反の処理速度を著しく落とすことなく、極めて
精度の高いい検反処理を行うことが可能とな
る。検反機に位置情報取得手段とマーキング手段
とを設ける構成と、欠点検出装置にマーキング
制御手段を設ける構成と、速度制御装置によつ
て検反機の走行手段をマーキング手段の動作に
適した第３速度に変更制御させる構成とを一体
不可分の構成とすることによつて、反物の生地
の送り出し量に応じて指標を付することが可能
となる。上記の効果によつて、精密検査によつて欠
点と評価判定された欠点の位置情報を、マーキ
ング手段によつて付された指標に対する相対位
置として得ることが可能となり、反物の生地の
伸縮による欠点位置情報の信頼性低下を可及的
小ならしめることができる。しかも、欠点検出装置の精密検査制御手段に
よつて、粗検査制御手段が検出した欠点候補に
対する評価判定を行うので、従来の人力による
検反行程の如く、審査員の技能差や個人の健康
状態等に左右されるような検査結果のばらつき
が生ずることがない。上記の効果により、一定水準の精度で検反
を長時間継続して行うことができ、検反を高効
率で自動的に行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の自動検反機の一実施例を示
す。第２図は、検反機本体１の側面図、第３図は
正面図である。第４図は、欠点検出装置２のブロ
ツク図である。第５図は、検反機本体の詳細説明
でループ制御機構を示す。第６図は、検反機本体
の速度制御方式の一例を示している。第７図は、
ループ制御機構によるモータ速度制御原理の１例
を示す。第８図は、粗検査、精密検査、印字出力
の３つのモードの関係を説明するための図面であ
る。第９図は、各モードによる中間ローラ駆動用
のモータ速度制御の原理を示す図で、第１０図
は、布地のスケール表示と位置情報の誤差の関係
を定量的に示す図である。第１１図は、欠点位置
の基準点からの相対表示例である。第１２図は、
欠点位置の絶対座標表示例である。第１３図は、
相対座標方式による欠点位置の推定方法を示す図
である。第１４図は、布地の欠点の種類と反射
光、透過光の使い分けについて示す。第１５図
は、透過光による欠点検知機構である。第１６図
は、中間ローラの回転位置取込機構である。第１
７図は、中間ローラの駆動方法の他の１例を示
す。第１８図イ〜ハは、布地へのマークや文字の
出力機構の例である。第１９図は、布地にラベル
貼付を行うための機構の１例である。第２０図
は、布地上への文字又は記号出力の手順の１例を
示す。第２１図は、パルス信号変換器の処理機能
の１例を示す。第２２図は、同じく他の１例を示
す。第２３図は、汚れの欠点画像の１例を第２４
図は、その輝度ヒストグラムの例である。第２５
図は、同じく２値化画像、第２６図はラベリング
画像、第２７図はラベリングに対する面積計算例
である。第２８図は、欠点の粗検出処理の１例で
第２９図は、欠点の精密検査処理の１例である。
第３０図は、精密検査に使用される空間積和演算
の説明図である。第３１図は、汚れの検出アルゴ
リズムの例である。第３２図、第３３図は、シエ
ーデイングの説明図である。第３４図は、番手む
らの検出アルゴリズムの１例で、第３５図、第３
６図は、透過方式による欠点検出の１例を示す。
第３７図及び第３８図は、画像処理による検反の
精度についての説明のための図面で、第３７図
は、ラインセンサの布地に対応した配置を、第３
８図は、ラインセンサ方式による解像度説明図を
示している。１……検反機本体、２……欠点検出装置、３…
…検反機本体の速度制御装置、４……システムコ
ンソール、５……キーボード、６……ハードコピ
ー用タイプライタ、７……布（送り出し側）、８
……布（巻取り側）、９……ITVカメラ（精密キ
ズ検知用）、１０……ラインセンサカメラ（粗キ
ズ検知用）、１１……ITVカメラ（透過光検査
用）、１２……平面照明装置、１３……セルシン
発信器、１４……第１中間ローラ、１５……第２
中間ローラ、１６……第１ルーパーローラ、１７
……第３中間ローラ（モータ駆動）、１８……第
３中間押えローラ、１９……第４中間押えロー
ラ、２０……第５中間ローラ、２１……第５中間
押えローラ、２２……第２ルーパーローラ、２３
……第６中間ローラ、２４……照明装置、２５…
…照明装置、２６……カバー、２７……インター
フエース（ITVカメラ）、２８……インターフエ
ース（ラインセンサ）、２９……インターフエー
ス（ITVカメラ）、３１……インターフエース
（速度制御用）、３２……インターフエース（検反
機コントローラ）、３３……検反機本体フレーム、
３４……パルス信号変換器、３５……インターフ
エース（セルシン）、３６……インターフエース
（パルス信号変換器）、３７……インターフエース
（パルス信号変換器）、３８……CPU、３９……
主メモリ、４０……バス、４１……外部記憶メモ
リ（Ｆ／DISC）、４２……画像プロセツサ、４３
……画像メモリ、４４……画像メモリ、４５……
ラインセンサポート、４６……プロセス入出力機
構（Pio）、４７……シリアルインターフエース
機構（UPif）、４８……検反中の生地（布）、４
９……フレーム、５０……フレーム、５１……光
通過用孔、５２……光通過用孔、５３〜５６……
光源、５７〜６０……ビームセンサ機構、６１〜
６４……レンズ機構、６５〜６８……インターフ
エース（ビームセンサ用）、６９……生地ロール
用サポート軸（上側）、７０……生地ロール用サ
ポート軸（下側）、７１〜８２……軸受、８３…
…アンリール軸用駆動モーター、８４……上側中
間軸用駆動モーター、８５……下側中間軸用駆動
モーター、８６……リール軸用駆動モーター、８
７……平面照明装置ケース、８８〜８９……白熱
燈、９０……デイフエーザー、９１……ステージ
ガラス、９２……布地上の欠点部（穴キズ）、９
３……ループ溝、９４……ループ溝、９５……検
査ステージ部、９６……Ｖベルト、９７……イン
クタンク、９８……印字ヘツド、９９……インク
送出管、１００……インク放出孔（多列）、１０
１……インク放出孔（単列）、１０２……フレー
ム、１０３……ラベル用紙、１０４……ラベル用
リール、１０５……ラベル押え付けローラ、１０
６……ナイフ用リンク機構、１０７……ナイフ、
１０８……ナイフガイド、１０９……受けロー
ラ、１１０……入力画像、１１１……布地上の欠
点、１１２……布地上の欠点。

Claims

【特許請求の範囲】１被検査物たる反物の表面の欠点を検出する検
反領域と、この検反領域を反物の生地が通過する
速度を可変させ得る走行手段と、該走行手段によ
つて送り出した反物の生地の送り出し量としての
位置情報を得る位置情報取得手段と、反物の生地
に識別可能な指標を付するマーキング手段と、上
記検反領域に設けられて粗検査用の画像情報を取
得する粗検査用画像情報取得手段と、上記検反領
域に設けられて精密検査用の画像情報を取得する
精密検査用画像情報取得手段とを備える検反機
と、上記検反機の位置情報取得手段からの位置情報
に基づく反物の生地の送り出し量に応じてマーキ
ング手段を作動させるマーキング制御手段と、粗
検査用画像情報取得手段から入力された画像情報
に基づいて欠点候補を検出する粗検査制御手段
と、該粗検査制御手段が検出した欠点候補を精密
検査用画像情報取得手段から入力された画像情報
に基づいて評価判定すると共に、マーキング手段
によつて生地に付された指標に対する欠点の相対
位置を示す欠点位置情報を含む欠点情報を出力す
る精密検査制御手段とを備える欠点検出装置と、上記欠点検出装置の粗検査制御手段が反物の生
地の粗検査を行つている間は第１速度で、精密検
査制御手段が欠点候補について精密検査を行つて
いる間は上記第１速度よりも遅い第２速度で、マ
ーキング制御手段がマーキング手段を動作させて
いる間はマーキング手段の動作に適した第３速度
で、夫々反物の生地を送るように検反機の走行手
段を制御する速度制御装置と、からなることを特徴とする自動検反システム。